JPH04340471A - インサーキット・テスト用プローブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被測定プリント基板の
被測定箇所と電気的に接続して、テストを行なうために
使用するインサ−キット・テスト用プロ−ブに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来のインサ−キット・テスト用プロ−
ブは、実開平１−１７９２８９号公報に記載されている
ように、被測定プリント基板の部品配置および回路構成
に対応して、被測定箇所１つ１つに対して１つのプロ−
ブを配設していた。そのために、１種類の被測定プリン
ト基板のインサ−キット・テストを行なうためには、固
有のプロ−ブの配列が必要であり、異なった部品配置の
他のプリント基板のインサ−キット・テストを行なうた
めには、その都度個々のプロ−ブの配置を変更するか、
前記実開平１−１７９２８９号公報に記載されているよ
うに、中継ピンの配置を変更していた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、類似機能を果
たす複数種類のプリント基板には、回路パタ−ンが部分
的に同一または類似であって、そのプリント基板中にお
ける位置のみを変えて配置することが多かった。それに
もかかわらず、他の類似のプリント基板をインサ−キッ
ト・テストする場合には、一度設定したプロ−ブ群の配
置をすべて別の位置に新しく設定し直すことが必要であ
った。特に、ＩＣ等の半導体素子が実装されている場合
には、半導体素子などのピン配列および回路構成に合わ
せて配置されたプロ−ブ群を１つのブロックとして、ま
とめて移動する方が合理的であるのにも拘わらず、１つ
の測定箇所に対して１つのプロ−ブを用いるという従来
の方法がとられていた。

【０００４】すなわち、従来のプロ−ブは、例えば実開
昭５９−７５７０号公報に記載されているように、その
一端にリ−ド線を半田付けなどによって接続し、そのリ
−ド線をインサ−キット・テスタに直結するように構成
されており、そして、プロ−ブ先端のコンタクト部のみ
を消耗品として交換自在に構成していたが、プロ−ブ自
体を交換するように構成されていなかった。

【０００５】本発明は、このような従来の問題点を解決
するために考えられたもので、複数の接触ピンを所定の
パタ−ンに配置し、これを一体のプロ−ブ群として提供
することを第１の目的としており、また、前記複数の接
触ピンを所定のパタ−ンに配置したプロ−ブ本体をプロ
−ブ・ハウジングに着脱自在に構成し、異なるパタ−ン
で複数の接触ピンを配列した他のプロ−ブ群と容易に交
換可能として、多様な回路パタ−ンに迅速に対応できる
ように構成することを第２の目的とするものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】被測定箇所に対応して配
置された複数の接触ピンと、これらの接触ピンを１群と
して保持する接触ピン・ホルダと、この接触ピン・ホル
ダ内に可撓性線材よりなる導電部材を設け、この導電部
材の一端を接触ピンと接続するとともに、導電部材の他
端の配置を接触ピンの配置と無関係に設定できるように
構成する。

【０００７】一端が接触ピンと接続された導電部材の各
他端が接続された接点を有するプロ−ブ本体と、このプ
ロ−ブ本体の各接点と接触する接点を有し、プロ−ブ本
体を着脱自在に保持するプロ−ブ・ハウジングで構成す
ることもできる。

【０００８】

【作用】本発明では、回路パタ−ンの被測定箇所に対応
して配置された複数の接触ピンを１群として、接触ピン
・ホルダ−により保持しているので、各種のプリント基
板の回路パターンに合わせた接触ピン群を用意しておく
ことにより、テスト対象となるプリント基板が変わって
も、接触ピンを１本づつ配置を変えることなく、１群と
して容易に変更することができる。

【０００９】

【実施例】

（第１の実施例）図１の（ａ）の縦断面図に示すように
、本発明のインサ−キット・テスト用プロ−ブは、複数
の接触ピン３と、これらの接触ピン３を保持する接触ピ
ン・ホルダ２と、この接触ピン・ホルダ２を保持するプ
ロ−ブ本体１と、各接触ピン３とインサ−キット・テス
タとの間を電気的に接続するリ−ド線のような可撓性線
材よりなる導電部材４で構成されている。

【００１０】接触ピン３の配置は、図１の（ｂ）の下面
図に示すように、テストする回路パターンに合わせて配
置にされており、接触ピン・ホルダ２に穿設された孔に
その外筒６が圧入されている。接触ピン３は、従来より
使用されているものでよく、特に内部構造の詳細を示さ
ないが、例えば、実開昭５９−７５７０号公報に記載さ
れているように、内蔵されているバネ（図示せず）によ
り外筒６に対して、コンタクト５が突出する方向に付勢
されて出入自在に構成されている。

【００１１】一方、導電部材４はリ−ド線のような可撓
性の線材であって、その終端は、図１の（ｃ）の上面図
に示すように、接触ピン３の配置とは無関係に定めれば
よく、リ−ド線７に介してインサ−キット・テスタ（図
示せず）に接続されている。

【００１２】（第２の実施例）図１で説明した第１の実
施例における３本の接触ピン３のうち、１本を取り外し
た状態を図２に示すように、同一の構造のプロ−ブであ
っても、接触ピン・ホルダ２に予め接触ピン３の外筒６
を圧入する多数の孔８を穿設しておき、必要な孔８のみ
に触ピン３の外筒６を圧入して配置することにより、所
要の回路パタ−ンに対応したプロ−ブを得ることができ
る。

【００１３】（第３の実施例）第１の実施例のプロ−ブ
においては、導電部材４の後端に、直接リ−ド線７を半
田付けなどにより直接接続しているが、この実施例にお
いては、図３に示すように、専用のプロ−ブ・ハウジン
グ２０によって、プロ−ブ本体１を着脱自在に保持する
ように構成されている。

【００１４】プロ−ブ本体１の外壁には突起１４が設け
られ、プロ−ブ本体１内の導電部材４の後端は、プロ−
ブ本体１の頂部に設けられた複数の接点９にそれぞれ接
続されている。

【００１５】そして、プロ−ブ本体１内において、接触
ピン・ホルダ２は、上下に摺動自在であり、コイルバネ
１２により上方へ付勢され、プロ−ブ本体１のストッパ
−１３により摺動範囲が制限されている。

【００１６】一方、プロ−ブ・ハウジング２０は、バネ
（図示せず）により内側に向けて付勢されている保持爪
２１と、プロ−ブ本体１の複数の接点９とそれぞれ接触
する複数の弾性接点２２を備えており、各弾性接点２２
には、リ−ド線７が半田付けなどによって接続され、こ
れらのリ−ド線７は、インサ−キット・テスタ（図示せ
ず）に導かれている。

【００１７】図４は、プロ−ブ・ハウジング２０にプロ
−ブ本体１を装着した状態を示す縦断面図であって、両
者を合体させる際には、プロ−ブ・ハウジング２０にプ
ロ−ブ本体１を挿入すると、図３の想像線で示すように
、プロ−ブ・ハウジング２０の保持爪２１が押し開かれ
、さらに、プロ−ブ本体１の接点９がプロ−ブ・ハウジ
ング２０の弾性接点２２と接触するまで押し上げると、
接触ピン・ホルダ２は停止する。

【００１８】さらに、コイルバネ１２の弾力に抗してプ
ロ−ブ本体１を押し上げると、接触ピン・ホルダ２を押
圧して、次に、プロ−ブ本体１の突起１４が、プロ−ブ
・ハウジング２０の保持爪２１に掛止することにより一
体に保持される。

【００１９】プロ−ブ・ハウジング２０よりプロ−ブ本
体１を外す際には、一度プロ−ブ本体１をコイルバネ１
２の弾力に抗して押し上げてから、保持爪２１を開いて
突起１４から外すことによりプロ−ブ本体１を取り外す
ことができる。

【００２０】なお、プロ−ブ・ハウジング２０とプロ−
ブ本体１との結合手段としては、マグネット・チャック
やソレノイドなどを使用した他の着脱手段を用いても良
いことは勿論である。

【００２１】この第３の実施例によれば、コイルバネ１
２によって、弾性接点２２と導電部材４の後端の接点９
とを押圧して電気的に接続しているので、プロ−ブ・ハ
ウジング２０とプロ−ブ本体１とを着脱することで、電
気的にも機械的にも分離または接続することができ、導
電部材４のの後端の接点９の配置をプロ−ブ・ハウジン
グ２０の各弾性接点２２に合わせてたパタ−ンに設定し
ておくことにより、リ−ド線の接続変更のわずらわしさ
がなく、接触ピン３の本数または配列の異なる他のプロ
−ブ本体と容易に交換するができる。

【００２２】

【発明の効果】本発明は、以上で説明したように構成さ
れているので、（１）複数の接触ピン３を所要のパタ−
ンに配置し、１つのプロ−ブとして使用することができ
る。そのため、唯一の接触ピンしか持たない従来のプロ
−ブに比して、一度設定すれば、他の被測定プリント基
板にも使用可能であり、設定のための工数の削減ができ
る、

【００２３】（２）接触ピン・ホルダ２内に導電部材４
を設けることにより、接触ピン３の配置に拘束されるこ
となく、任意に配置された導電部材４およびリ−ド線７
を介してインサ−キット・テスタに接続できる、

【００
２４】（３）専用のプロ−ブ・ハウジング２０を用いる
と、プロ−ブ・ハウジング中の弾性接点２２の配置を予
め特定しておくことにより、弾性接点２２に対応して配
置された接点９を有する他のプロ−ブ本体と容易に交換
できる、などの優れた効果を奏することができ、産業上
極めて有用である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のインサ−キット・テスト用プロ−ブの
第１の実施例を示す図で、（ａ）は縦断面図、（ｂ）は
下面図、（ｃ）は上面図、

【図２】第２の実施例を示す図で、（ａ）は縦断面図、
（ｂ）は下面図、（ｃ）は上面図、

【図３】第３の実施例を示す縦断面図である。

【図４】図３に示した装置の異なる状態を示す縦断面図
である。

【符号の説明】

１　　プロ−ブ本体 ２　　接触ピン・ホルダ ３　　接触ピン ４　　導電部材 ５　　コンタクト ６　　外筒 ７　　リ−ド線 ８　　圧入穴 ９　　接点 １２　　コイルバネ １４　　突起 ２０　　プロ−ブ・ハウジング ２１　　保持爪 ２２　　弾性接点

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　被測定箇所に対応して配置された複数
   の接触ピンと、該接触ピンを１群として保持する接触ピ
   ン・ホルダとを具備することを特徴とするインサ−キッ
   ト・テスト用プロ−ブ。
2. 【請求項２】　　接触ピン・ホルダ内に可撓性線材より
   なる導電部材を設け、該導電部材の一端を接触ピンと接
   続するとともに、前記導電部材の他端の配置を前記接触
   ピンの配置と無関係に設定したことを特徴とする請求項
   １に記載のインサ−キット・テスト用プロ−ブ。
3. 【請求項３】　　一端が接触ピンと接続された導電部材
   の各他端が接続された接点を有するプロ−ブ本体と、前
   記プロ−ブ本体の各接点と接触する接点を有し、前記プ
   ロ−ブ本体を着脱自在に保持するプロ−ブ・ハウジング
   とを具備することを特徴とする請求項２に記載のインサ
   −キット・テスト用プロ−ブ。