JPH04337437A - フレネル反射探知システム - Google Patents

フレネル反射探知システム

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JPH04337437A
JPH04337437A JP4026743A JP2674392A JPH04337437A JP H04337437 A JPH04337437 A JP H04337437A JP 4026743 A JP4026743 A JP 4026743A JP 2674392 A JP2674392 A JP 2674392A JP H04337437 A JPH04337437 A JP H04337437A
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JP
Japan
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fiber
fresnel reflection
fresnel
microprocessor
reflection
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JP4026743A
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Jean-Paul Tache
ジヤン−ポール・タツシユ
Christian Forissier
クリステイアン・フオリシエ
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Nexans France SAS
Original Assignee
Alcatel Cable SA
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Publication date
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    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
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    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/071—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using a reflected signal, e.g. using optical time domain reflectometers [OTDR]

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ファイバにおけるフレ
ネル反射の測定システムに係り、該システムは特に光フ
ァイバの長さを測定し、これらのファイバの破損を探知
するために使用され、特に、通信ケーブルの保守に適用
される。
【０００２】
【従来技術及び発明が解決しようとする課題】光ファイ
バを介して光パルスを送信する場合、ファイバの入口で
は次の２種類の反射が生ずる。
【０００３】−シリカ結晶のレベルのレイリー再帰拡散
による反射。これらの反射の最大光出力は入射パルスの
光出力下で約４０ｄＢである。
【０００４】−ファイバの両端（前後面）及びファイバ
に沿って配置された強反射性コネクタによる反射。これ
はフレネル反射であり、これらの反射の最大出力は入射
パルスの光出力下で約１４ｄＢである。
【０００５】光ファイバの長さを測定するため（又は、
結局は同じことであるが、破損の場所を探知するため）
には、被験ファイバの後面によるフレネル反射を検出し
なければならない。
【０００６】この場合、２種類の方法を使用することが
できる。
【０００７】第１の方法はレイリー再帰拡散に基づく反
射光測定原理を使用する。一般に長さが正確にわかって
おり、被験光ファイバの前面に融着される「ファイバ接
続端」を介して被験ファイバに沿って光パルスを注入す
る。実際に、ファイバの前面によるフレネル反射を構成
する光はファイバを透過せず、したがって、実質的に減
衰されていないので、このような反射は非常に大きい振
幅を有する。その結果、反射計の検出システムが飽和し
、デッドゾーンとも呼称される非飽和中に信号は全く検
出され得ず、装置の良好な運転に障害となることは自明
である。この問題を解決するためには、非飽和を可能に
するために十分な長さを有するファイバ接続端を使用す
る。
【０００８】ファイバにより反射される信号から反射光
測定曲線を描くことができる。反射光測定曲線（図１参
照）は距離ｄ（ｋｍ）の関数としてファイバの減衰Ａ（
ｄＢ）を表す。上述した２種類の反射は曲線１上に示さ
れる。平坦部２，３，４はシリカ結晶によるレイリー再
帰拡散に対応する。ピーク６及び７はファイバ又はファ
イバ接続端に沿って配置された反射コネクタによるフレ
ネル反射に対応する。ピーク５はファイバの前面による
フレネル反射に対応する。ピーク８はファイバの破損に
よるフレネル反射に対応する。
【０００９】反射光測定装置は主に光ファイバの減衰特
性を決定するために使用される。フレネル反射を生じた
点を光ファイバに沿って探知するために反射光測定法を
使用することも可能である。しかしながら、この使用に
はいくつかの問題がある。
【００１０】まず第１に、ファイバに注入される結合光
出力は、再帰拡散エネルギ（−４０ｄＢ）を検出できる
ために十分でなければならない。一方、注入される出力
はレーザパルスの表面積に正比例する。レーザにより発
生される出力を無限に増加させることは不可能であるの
で、所望の光出力を得るために広いパルスを使用する必
要がある。一方、パルス幅が小さい場合に装置の距離分
解能は最良である。従って、送信側に最小出力閾値が必
要であるので、距離分解能は並（１ｍのオーダ）であり
、デッドゾーンは約４０ｍとなる。
【００１１】更に、装置のスクリーン上に反射光曲線が
表示されたら、フレネル反射を生じた点を探知するため
に、該当するフレネルピークの上昇始点にカーソルを移
動させなければならない。ところで、図１に示す曲線１
は分かり易くするために実際に得られる曲線の幅を拡大
した図であり、むしろ各フレネルピークのレベルでは図
２に示すような曲線部分を示す。従って、このピークの
上昇始点に正確にカーソルを配置するためには、該当フ
レネルピークのレベルで水平縮尺を拡大することが必要
である。これらの操作を行うと、装置の統合機能により
所望の距離が得られる。
【００１２】フレネル反射を生じた２点間の距離を決定
したい場合、測定原理は２つの該当ピークの各々のレベ
ルに夫々配置された２つのカーソルを使用することによ
り同様に実施される。
【００１３】従って、まず一方では、距離の測定は実時
間でなく、曲線の表示、次いでマイクロプロセッサによ
る処理のために信号のアナログ／ディジタル変換後に実
施され、他方では実施すべき一連の操作は比較的時間が
かかり且つ熟練者を必要とする。更に、装置は、かさ張
り、非常に高価であり、通信ケーブルの保守段階ではま
ず第１に結合の切断の検出（導線の場合の抵抗計に同じ
）が必要であるが、この段階には不要なファイバの特性
（全体収支）を提供するように実際に構成されているの
で、現場で迅速な検査を行うために反射計を使用するの
は不適当である。従って、反射計は最適な装置ではない
。
【００１４】そこでエコー測定の原理に属する第２のフ
レネルピーク検出方法を使用することができる。エコー
測定はフレネルピークのみを検出し、換言するなら所定
の閾値以上の反射のみを検出する。従って、注入される
光出力を反射光測定のように大きくすることはもはや重
要ではない。従って、狭いパルスを使用することができ
、装置に小さいデッドゾーン（２ｍのオーダ）を与え、
良好な距離分解能（２５ｃｍのオーダ）を得ることがで
きる。
【００１５】検出可能な振幅信号のみを維持するので、
精巧な増幅器（バンド幅、利得等）を使用する必要がな
く、従って、反射計よりも装置のコストを削減すること
ができる。
【００１６】エコー計の原理を以下に述べる。
【００１７】ファイバ（例えばシリカ製）又はファイバ
接続端の入口に大振幅の狭いレーザパルスを注入し、同
時にクロックの計数を指令する。最初のフレネル反射が
検出されると計数は停止される。ファイバを構成するシ
リカの屈折率は既知なのでクロックにより指示される時
間を用いて、マイクロプロセッサはファイバの前面とフ
レネル反射を生じるファイバの最初の点との間の距離を
計算する。この測定は実時間（クロックにより計数され
る時間は自動的且つ同時に装置により長さに変換される
）で約１秒間で実施される。
【００１８】このような装置を使用することにより次の
ような問題が生じる。被験ファイバが反射コネクタを含
まない場合、検出されるフレネルピークは確かにその後
面に対応するピークであるが、ファイバが後面の前に配
置されたコネクタを有する場合、クロックは第１のコネ
クタによる第１のフレネル反射の返送後にブロックされ
るので、対応するフレネルピークを検出することは不可
能である。
【００１９】従って、本発明の目的は反射コネクタの存
在下で（特に破損を検出するために）特にファイバの長
さを迅速に測定することが可能な光ファイバにおけるフ
レネルピークの探知システムを実現することである。更
に、本発明の目的は例えば光ファイバケーブルの敷設現
場で又はケーブルを敷設した施設の保守のために使用で
きるように、簡単に使用でき、廉価でかさ張らないシス
テムを実現することである。
【００２０】
【課題を解決するための手段】このために、本発明は光
ファイバにおけるフレネル反射の探知システムを提案す
るものであり、該システムは、該ファイバの入力面に結
合された光パルス送信手段と、該ファイバにより反射さ
れた信号を受信し、電気信号に変換する手段と、該電気
信号からフレネル反射に対応する電気信号のみを選択す
る手段と、該選択手段に結合されており、該フレネル反
射から任意に選択されたの１つのランクを翻訳する比較
参照信号を受信する比較手段と、任意に選択された該フ
レネル反射を生じた点を該ファイバ上で位置付けるため
に該比較手段及び該選択手段に結合された評価手段とを
備えることを特徴とする。
【００２１】主要な特徴によると、送信手段は電気パル
スジェネレータにより制御されるレーザと、レーザとフ
ァイバの入力面との間に配置された光結合器とを含み、
ジェネレータの各パルスは更に高周波クロックの計数の
開始を指令する。
【００２２】別の主要な特徴によると、選択手段は電気
信号が比較手段に転送されるために越えなければならな
い最小振幅閾値を受信及び変換手段のレベルに含み、こ
の閾値は最大出力のレイリー再帰拡散に対応する電気信
号の振幅よりも大きい。
【００２３】比較手段がコンパレータに送信される出力
を有する第１のカウンタと、コンパレータに同様に接続
されたマイクロプロセッサとを含めば、非常に有利であ
る。
【００２４】更に、評価手段は、第１の光パルスが送信
されるや否やゲートにパルスを送信するクロックと、受
信及び変換手段に接続されたプレコンディション入力、
比較手段の出力に接続されたプレコンディション設定状
態バリデーション入力、及びゲートに送られる出力を有
するＤ型フリップフロップと、ゲートに接続された入力
及びマイクロプロセッサに接続された出力を有する第２
のカウンタとを含む。
【００２５】第１の動作モードによると、任意に選択さ
れたフレネル反射の１つを探知するために、選択された
フレネル反射の１つ前のフレネル反射のランクＮを２進
語としてコード化及び入力し、第１の光パルスの送信後
にゲートが開くと、Ｎ番目のフレネル反射が検出される
場合、コンパレータはＤ型フリップフロップをバリデー
トし、Ｎ＋１番目のフリップフロップ反射が検出される
場合、対応する電気信号はゲートをブロックし、第２の
カウンタを停止させ、第２のカウンタは出発時から受信
したパルス−クロック数をマイクロプロセッサに転送し
、マイクロプロセッサは選択されたフレネル反射を生じ
た点からファイバの入力面までの距離を計算する。
【００２６】第２の動作モードによると、マイクロプロ
セッサはＮ＋１番目のフレネル反射の探知にひき続き、
新しいフレネル反射のランクＮ＋Ｐについて処理を繰り
返し、次いでＮ＋１番目とＮ＋Ｐ番目との選択されたフ
レネル反射を生じた点の間の距離を決定することにより
、ランクＮ＋Ｐの新しいフレネル反射を探知するための
補助手段を含む。
【００２７】更に、既知の長さのファイバ接続端を光フ
ァイバの入力面に結合することが可能であり、このファ
イバ接続端は光パルスを受信し、被験光ファイバにこれ
を転送する。
【００２８】使用されるＨＦクロックは水晶クロックで
あってもよい。受信及び変換手段はフォトダイオードか
ら構成することができる。更に、該手段はフレネル反射
の選択を実施するために閾値増幅器を備えることができ
る。
【００２９】最後に、本発明のシステムは複数の連続測
定値を平均するサブシステムと、ファイバに注入される
新しい光パルスの送信前毎に再初期化を行う汎用再初期
化手段とを含んでも良い。
【００３０】
【実施例】以下、非限定的な例示として本発明のフレネ
ル反射探知システムを使用する装置を説明することによ
り本発明の他の特徴及び利点を明示する。
【００３１】図中、共通エレメントには同一の参照番号
を付した。
【００３２】図３中、ＨＦクロック１３の計数も指令す
る電気パルスジェネレータ１２の作用下でレーザ１１に
より送信される入射光パルス１０は、光結合器１７を介
して光ファイバ１６に溶接されたファイバ接続端１５の
入力前面１４に送信される。得られる反射はその後、結
合器１７により検出及び測定システム１８に向けられる
。
【００３３】検出及び測定ブロック１８はより詳細には
光受信器２０（例えば閾値増幅器を備えるフォトダイオ
ード）、Ｄ型フリップフロップ２１、ゲート２２、２つ
のカウンタ２３及び２４、コンパレータ２５並びにマイ
クロプロセッサ２６を含む。
【００３４】フリップフロップ２１のプレコンディショ
ン入力Ｐは光受信器２０に接続されており、プレコンデ
ィション設定状態バリデーション入力Ｖはコンパレータ
２５の出力に接続されている。
【００３５】以下、本発明をよく理解できるように装置
の２種の動作モードを例示として説明する。
【００３６】まず最初に装置を測定のために使用する前
に、再帰拡散信号を検出しないようにフォトダイオード
の最小検出閾値を固定することが必要である。このため
に、光パルス後に前面１４により再帰拡散される出力を
基準とする。この出力は再帰拡散される最大出力であり
、例えば反射計により測定する。次に、この出力のレベ
ルを越える本発明の装置の検出閾値を厳密に固定する。 こうすると、フレネル反射のみを検出することができる
。その後、装置の所謂使用に移ることができる。
【００３７】第１の動作モードによると、ファイバの前
面（又は長さがわかっているファイバ接続端の前面）に
対する所与のフレネル反射（例えばランクＮ＋１（Ｎ＞
１）のフレネル反射）を探知することができる。
【００３８】次に値Ｎをマイクロプロセッサ２６に記憶
させる。
【００３９】マイクロプロセッサのレベルの手動制御に
より、第１の光パルスはファイバに送られる。同時にゲ
ート２２は開く。
【００４０】こうして、第１の光パルスからクロック１
３はゲート２２を介してカウンタ２４に時間測定パルス
を連続的に転送する。ファイバへの光パルスの注入は、
ファイバの後面による最後のフレネル反射がフォトダイ
オード２０に到達するために十分な周期で周期的に実施
される。
【００４１】第１のフレネル反射がフォトダイオード２
０により検出されると、カウンタ２３（出発時にゼロに
設定）は１増分する。この値はコンパレータ２５のレベ
ルで予め記憶された入力値Ｎをコード化する２進語とし
ての比較基準電気信号に比較される。Ｎは最低限１より
も大きいので、コンパレータ２５の出力は変化せず、従
ってカウンタ２４はクロック１３のパルス下に動作し続
ける。Ｎ−１番目のフレネル反射が検出されるまで動作
は同様である。
【００４２】Ｎ番目のフレネル反射がフォトダイオード
２０により検出されると、コンパレータ２５はフリップ
フロップ２１をバリデートする。次にＮ＋１番目の反射
はゲート２４をブロックし、カウンタ２４はもはやクロ
ック１３から転送されるパルスを受信しない。従って、
カウンタ２４は初期パルスの送信からＮ＋１番目のフレ
ネル反射の検出までの間の時間ｔ１を記録すると停止す
る。この値はその後、マイクロプロセッサ２６により読
み出され、該マイクロプロセッサは被験ファイバの屈折
率及びファイバ接続端の長さに基づき、この時間ｔ１を
ファイバ上の長さｌ１に変換する。各起動前にカウンタ
を再初期化（又はリセット）し、回路を新しい測定に使
用できるようにする。
【００４３】使用されるＤ型フリップフロップの基本的
な役割は、選択されるフレネル反射とその１つ前のフレ
ネル反射との時間間隔により規定される遅延を発生する
ことである。
【００４４】その後、複数（例えば１０回）の他の同様
の測定を実施することができる。マイクロプロセッサは
値ｔ１，．．．，ｔ１０を記憶し、対応する長さｌ１，
．．．，ｌ１０、その平均及び標準偏差を計算し、これ
らの２つの値を表示する。更にマイクロプロセッサは、
標準偏差が最初に固定した限界値を越える場合にエラー
を指示することができる。即ち、探知されたフレネル反
射が測定毎に異なる応答を返送する欠陥コネクタに対応
する場合、標準偏差は限界値を越え、装置はエラーを指
示し、こうして欠陥中継を探測し、これを修復すること
ができる。
【００４５】以上の重要な改良に加え、本発明の装置は
エコー計を使用する場合のように前のフレネル反射によ
り邪魔されることなく所与のフレネル反射（即ちコネク
タ、ファイバ端部又は破損）を探知することができる。 本発明の装置は、以下の従来技術のエコー計の既知の利
点も兼備する。
【００４６】−システムが実時間で動作するため、測定
速度が迅速であり、秒のオーダである。
【００４７】−距離分解能が高い（フレネル反射を生じ
る点は約２５ｃｍの誤差で探知される）。
【００４８】−低価格（反射計の約１０分の１）。
【００４９】−（通常の電圧計に比較して）かさ張らな
い。
【００５０】従って、この第１の動作モードによると、
被験光ファイバの前面に対するフレネル反射を探知する
ことができる。その結果、例えば（ファイバの後面によ
る最後のフレネルピークを検出することにより）ファイ
バの長さを測定することができる。この測定値はそのま
ま使用することもできるし、破損があるか否かを決定す
るために被験ファイバの既知の長さと比較することによ
り使用することもできる。このシステムにより、反射コ
ネクタの場所とその状態を確認することもできる。従っ
て、この第１の動作モードは絶対距離を測定することが
できる。
【００５１】第２の動作モードによると、例えば２つの
コネクタ間、又はコネクタとファイバの端面の一方との
間の相対距離を測定することができる。
【００５２】Ｎ＋１番目とＮ＋Ｐ番目（Ｐ＞１）のフレ
ネル反射を生じた点の間の距離を測定するために、マイ
クロプロセッサに値Ｎを予め記憶させる。計数はファイ
バの前面とＮ＋１番目のフレネル反射を生じた点との間
の距離を決定するために第１の動作モードに従って実施
される。次に結果をマイクロプロセッサ２６に記憶させ
る。次に、同じく第１の動作モードに従って値Ｎ＋Ｐ−
１をマイクロプロセッサに記憶させ、同一の処理を繰り
返し、ファイバの前面とＮ＋Ｐ番目のフレネル反射を生
じた点との間の距離を決定する。この第２の値を同様に
マイクロプロセッサ２６に記憶させる。最後に、マイク
ロプロセッサ２６は記録した２つの値の差により、Ｎ＋
１番目とＮ＋Ｐ番目のフレネル反射を生じた点の間の距
離を計算する。
【００５３】この第２の動作モードの利点は第１の動作
モードの利点と同様である。
【００５４】これらの２種の動作モードでは、探知しよ
うとするフレネル反射の１つ前のフレネル反射でゲート
をバリデートすることが必要である。実際に、回路の種
々の電子コンポーネントの反応時間により、検出すべき
反射レベルで計数を瞬時に停止させることはできない。 ２００ＭＨｚのオーダであるＨＦクロックの周波数を考
慮すると、理論的エラーが生じる。
【００５５】当然のことながら、本発明は上記装置にも
動作モードにも限定されない。
【００５６】特に、第２の動作モードでは、カウンタを
含むＤ型フリップフロップよりも複雑な論理回路を使用
することにより、Ｎ＋１番目とＮ＋Ｐ番目のフレネル反
射の間の距離を直接測定することが可能である。
【００５７】最後に、本発明の範囲内で全手段を等価手
段に置き換えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】距離ｄ（ｋｍ）の関数としてファイバの減衰Ａ
（ｄＢ）を表す反射光測定曲線である。
【図２】図１の曲線のフレネルピークを実際の曲線に近
い割合で示した部分詳細図である。
【図３】本発明の装置の概略ブロック図である。
【図４】図３の検出及び測定ブロックのブロック図であ
る。
【符号の説明】
１１　　レーザ １２　　電気パルスジェネレータ １３　　ＨＦクロック １５　　ファイバ接続端 １６　　光ファイバ １７　　結合器 １８　　フォトダイオード ２０　　光受信器 ２１　　Ｄ型フリップフロップ ２２　　ゲート ２３，２４　　カウンタ ２５　　コンパレータ ２６　　マイクロプロセッサ

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】　　光ファイバにおけるフレネル反射探知
    システムであって、該ファイバの入力面に結合された光
    パルス送信手段と、該ファイバにより反射された信号を
    受信し、電気信号に変換する手段と、該電気信号からフ
    レネル反射に対応する電気信号のみを選択する手段と、
    該選択手段に結合されており、該フレネル反射から任意
    に選択された１つのランクを翻訳する比較参照信号を受
    信する比較手段と、任意に選択された該フレネル反射を
    生じた点を該ファイバ上で位置付けるために該比較手段
    及び該選択手段に結合された評価手段とを備えることを
    特徴とするフレネル反射探知システム。
  2. 【請求項２】　　該送信手段が電気パルスジェネレータ
    により制御されるレーザと、該レーザと該光ファイバの
    入力面との間に配置された光結合器とを含み、ジェネレ
    ータの各パルスが更に高周波クロックの計数の開始を指
    令することを特徴とする請求項１に記載のシステム。
  3. 【請求項３】　　該選択手段が、該比較手段に転送され
    るために該電気信号が越えなければならない最小振幅閾
    値を該受信及び変換手段のレベルに含んでおり、該閾値
    が最大出力のレイリー再帰拡散に対応する電気信号の振
    幅よりも大きいことを特徴とする請求項１又は２に記載
    のシステム。
  4. 【請求項４】　　該比較手段が、コンパレータに送信さ
    れる出力を有する第１のカウンタと、該コンパレータに
    同様に接続されたマイクロプロセッサとを含むことを特
    徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載のシステ
    ム。
  5. 【請求項５】　　該評価手段が、第１の光パルスに伴い
    ゲートにパルスを送信するクロックと、該受信及び変換
    手段に接続されたプレコンディション入力、該比較手段
    の出力に接続されたプレコンディション設定状態バリデ
    ーション入力、及び該ゲートに送られる出力を有するＤ
    型フリップフロップと、該ゲートに接続された入力及び
    マイクロプロセッサに接続された出力を有する第２のカ
    ウンタとを含むことを特徴とする請求項１から４のいず
    れか一項に記載のシステム。
  6. 【請求項６】　　任意に選択された該フレネル反射を探
    知するために、該選択されたフレネル反射の１つ前のフ
    レネル反射のランクＮを該マイクロプロセッサに２進語
    として入力及びコード化し、第１の光パルスの送信後に
    該ゲートが開くと、Ｎ番目のフレネル反射が検出される
    場合、該コンパレータは該Ｄ型フリップフロップをバリ
    デートし、Ｎ＋１番目のフリップフロップ反射が検出さ
    れる場合、対応する電気信号は該ゲートをブロックし、
    第２のカウンタを停止させ、第２のカウンタは出発時か
    ら受信したパルス−クロック数を該マイクロプロセッサ
    に転送し、該マイクロプロセッサは該選択されたフレネ
    ル反射を生じた点から該ファイバの入力面までの距離を
    計算することを特徴とする請求項４又は５に記載のシス
    テム。
  7. 【請求項７】　　該マイクロプロセッサが、該Ｎ＋１番
    目のフレネル反射の探知にひき続き、新しいフレネル反
    射のランクＮ＋Ｐについて処理を繰り返し、次いで該Ｎ
    ＋１番目とＮ＋Ｐ番目との選択されたフレネル反射を生
    じた点の間の距離を決定することにより、ランクＮ＋Ｐ
    の新しいフレネル反射を探知するための補助手段を含む
    ことを特徴とする請求項６に記載のシステム。
  8. 【請求項８】　　既知の長さの光ファイバ接続端が該光
    ファイバの該入力面に結合されており、該光パルスを受
    信し、該光ファイバにこれを転送することを特徴とする
    請求項１から７のいずれか一項に記載のシステム。
  9. 【請求項９】　　該ＨＦクロックが水晶クロックである
    ことを特徴とする請求項２又は５に記載のシステム。
  10. 【請求項１０】　　該受信及び変換手段がフォトダイオ
    ードから構成されることを特徴とする請求項１から９の
    いずれか一項に記載のシステム。
  11. 【請求項１１】　　該受信及び変換手段が該選択を実施
    するために閾値増幅器を備えることを特徴とする請求項
    １から１０のいずれか一項に記載のシステム。
  12. 【請求項１２】　　複数の連続測定値を平均するサブシ
    ステムを含むことを特徴とする請求項１から１１のいず
    れか一項に記載のシステム。
  13. 【請求項１３】　　新しい光パルスの送信前毎に再初期
    化を行う汎用再初期化手段を含むことを特徴とする請求
    項１から１２のいずれか一項に記載のシステム。
JP4026743A 1991-02-13 1992-02-13 フレネル反射探知システム Pending JPH04337437A (ja)

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