JPH04329338A - 異方性材料の光学主軸判定方法 - Google Patents
異方性材料の光学主軸判定方法Info
- Publication number
- JPH04329338A JPH04329338A JP12858891A JP12858891A JPH04329338A JP H04329338 A JPH04329338 A JP H04329338A JP 12858891 A JP12858891 A JP 12858891A JP 12858891 A JP12858891 A JP 12858891A JP H04329338 A JPH04329338 A JP H04329338A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- optical
- sheet
- principal
- retardation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 14
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光学的異方性を呈するシ
ート状材料の光学主軸の方向を判定する方法に関する。
ート状材料の光学主軸の方向を判定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】延伸したプラスチックシートは複屈折性
を示す。この複屈折の程度によりプラスチックシートの
延伸度合を調べるとか、反対に延伸度合一定のプラスチ
ックシートの厚さを調べることができる。この場合、試
料の光学主軸の方向が判明していると測定操作が簡略化
できる。また場合によっては試料シートの複屈折性の有
無と光学主軸の方向が判明できればよいと云うような場
合もある。
を示す。この複屈折の程度によりプラスチックシートの
延伸度合を調べるとか、反対に延伸度合一定のプラスチ
ックシートの厚さを調べることができる。この場合、試
料の光学主軸の方向が判明していると測定操作が簡略化
できる。また場合によっては試料シートの複屈折性の有
無と光学主軸の方向が判明できればよいと云うような場
合もある。
【０００３】複屈折における光学主軸の判定は通常、偏
光面を平行にして配置した偏光子と検光子との間で試料
を回転させて透過光の強度変化を測定し、透過光強度が
最大になったとき試料の光学主軸が偏光子，検光子の方
位と平行となっていることによって、試料に対する光学
主軸の方向を決定する。しかし試料の複屈折の強度と厚
さとの関係で、試料透過光の常光線と異常光線との位相
差即ちレターデーションが０にとか２πに近い場合、試
料を回わしても透過光強度が殆ど変化せず、複屈折性の
存否検出も光学主軸の判定も困難となる。
光面を平行にして配置した偏光子と検光子との間で試料
を回転させて透過光の強度変化を測定し、透過光強度が
最大になったとき試料の光学主軸が偏光子，検光子の方
位と平行となっていることによって、試料に対する光学
主軸の方向を決定する。しかし試料の複屈折の強度と厚
さとの関係で、試料透過光の常光線と異常光線との位相
差即ちレターデーションが０にとか２πに近い場合、試
料を回わしても透過光強度が殆ど変化せず、複屈折性の
存否検出も光学主軸の判定も困難となる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明はレターデーシ
ョンが０とか２πに近い試料でも簡単に光学主軸を判定
できる方法を提供しようとするものである。
ョンが０とか２πに近い試料でも簡単に光学主軸を判定
できる方法を提供しようとするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】平行ニコルの関係で配置
された偏光子と検光子との間に試料と光学主軸方向の判
明しているシートとを重ねて挿入し、試料とこのシート
との相互の方位を変えながらレターデーションを測定し
、レターデーションが最大になったとき、試料と上記シ
ートの各光学主軸が平行したと判定する。
された偏光子と検光子との間に試料と光学主軸方向の判
明しているシートとを重ねて挿入し、試料とこのシート
との相互の方位を変えながらレターデーションを測定し
、レターデーションが最大になったとき、試料と上記シ
ートの各光学主軸が平行したと判定する。
【０００６】
【作用】試料の直交する二つの光学主軸Ｐ１，Ｐ２方向
の偏光に対する屈折率をｎ１，ｎ２（ｎ１＞ｎ２）とし
、レターデーションをδとし、これと重ねるシートの二
つの光学主軸方向Ｐ１’，Ｐ２’における偏光の屈折率
をｎ１’，ｎ２’（ｎ１’＞ｎ２’），レターデーショ
ンをｄとする。試料に重ねるレターデーション既知の上
記シートを以後標準シートと呼ぶ。試料と標準シートの
光学主軸Ｐ１とＰ１’を平行にして重ねたときの全体の
レターデーションはδ＋ｄであり、Ｐ１とＰ２’を平行
にして重ねたときの全体のレターデーションはδ−ｄと
なる。Ｐ１とＰ１’とが平行でないとき、その交角によ
って全体のレターデーションはδ＋ｄとδ−ｄとの間で
変化する。従って二つのシートを重ねたとききの全体の
レターデーションは両方の光学主軸が屈折率最大の主軸
同士平行のとき最大となり、屈折率最大の主軸と最小の
主軸が平行のとき最小となる。
の偏光に対する屈折率をｎ１，ｎ２（ｎ１＞ｎ２）とし
、レターデーションをδとし、これと重ねるシートの二
つの光学主軸方向Ｐ１’，Ｐ２’における偏光の屈折率
をｎ１’，ｎ２’（ｎ１’＞ｎ２’），レターデーショ
ンをｄとする。試料に重ねるレターデーション既知の上
記シートを以後標準シートと呼ぶ。試料と標準シートの
光学主軸Ｐ１とＰ１’を平行にして重ねたときの全体の
レターデーションはδ＋ｄであり、Ｐ１とＰ２’を平行
にして重ねたときの全体のレターデーションはδ−ｄと
なる。Ｐ１とＰ１’とが平行でないとき、その交角によ
って全体のレターデーションはδ＋ｄとδ−ｄとの間で
変化する。従って二つのシートを重ねたとききの全体の
レターデーションは両方の光学主軸が屈折率最大の主軸
同士平行のとき最大となり、屈折率最大の主軸と最小の
主軸が平行のとき最小となる。
【０００７】所で実測から直接求められるのはレターデ
ーションそのものでなく、レターデーションの余弦であ
り、試料のレターデーションδが０とか２πと云った値
に近いときはｃｏｓδは１に近い値で、δの違いによる
ｃｏｓδの変化率が小さく、ｃｏｓδからδを求めると
きの誤差が大きくなる。標準シートを重ねて全体のレタ
ーデーションが最大になるようにすると、全体のレター
デーションはδ＋ｄとなり、ｃｏｓδが１に近いときで
もｃｏｓ（δ＋ｄ）は１から離れた値となり、δ＋ｄの
値が容易正確に求められるようになるので、δ＋ｄの最
大点も求め易くなり、試料の光学主軸の決定が容易正確
にできるようになる。
ーションそのものでなく、レターデーションの余弦であ
り、試料のレターデーションδが０とか２πと云った値
に近いときはｃｏｓδは１に近い値で、δの違いによる
ｃｏｓδの変化率が小さく、ｃｏｓδからδを求めると
きの誤差が大きくなる。標準シートを重ねて全体のレタ
ーデーションが最大になるようにすると、全体のレター
デーションはδ＋ｄとなり、ｃｏｓδが１に近いときで
もｃｏｓ（δ＋ｄ）は１から離れた値となり、δ＋ｄの
値が容易正確に求められるようになるので、δ＋ｄの最
大点も求め易くなり、試料の光学主軸の決定が容易正確
にできるようになる。
【０００８】
【実施例】図１に本発明の一実施例を示す。図で１は偏
光子、２は検光子で夫々は装置に回転自在に取り付けら
れている保持枠に互いに平行ニコルの関係で保持され、
ベルト３，４を介してモータ５により一体的に回転せし
められる。６は光源、７は受光素子で、Ｓが被測定試料
、Ｋが光学主軸の方向既知の標準シートである。標準シ
ートは光学主軸の方向が判明しているものであればよく
、そのレターデーションｄそのものは未知でもよい。 標準シートＫは試料ホルダ８に固定されており、被測定
試料Ｓは試料ホルダ上で方向を変えることができるよう
に保持されている。試料ホルダ８には指標が設けてあり
、標準シートＫは光学主軸の方向がこの指標の示す方向
となるように、試料ホルダに固定されている。試料ホル
ダ８は装置に対しては方向固定で着脱される。９は受光
素子７の出力に対してデータ処理を行いまた偏光子１，
検光子２の回転を制御する制御装置で、１０は測定結果
等の表示装置である。
光子、２は検光子で夫々は装置に回転自在に取り付けら
れている保持枠に互いに平行ニコルの関係で保持され、
ベルト３，４を介してモータ５により一体的に回転せし
められる。６は光源、７は受光素子で、Ｓが被測定試料
、Ｋが光学主軸の方向既知の標準シートである。標準シ
ートは光学主軸の方向が判明しているものであればよく
、そのレターデーションｄそのものは未知でもよい。 標準シートＫは試料ホルダ８に固定されており、被測定
試料Ｓは試料ホルダ上で方向を変えることができるよう
に保持されている。試料ホルダ８には指標が設けてあり
、標準シートＫは光学主軸の方向がこの指標の示す方向
となるように、試料ホルダに固定されている。試料ホル
ダ８は装置に対しては方向固定で着脱される。９は受光
素子７の出力に対してデータ処理を行いまた偏光子１，
検光子２の回転を制御する制御装置で、１０は測定結果
等の表示装置である。
【０００９】被測定試料Ｓの光学主軸決定の操作は次の
ように行われる。試料Ｓを試料ホルダ８に任意の方向で
保持させる。前述したように試料ホルダ８には予め標準
シートＫを取り付けておく。この試料ホルダを装置にセ
ットし、測定動作をスタートさせると、制御装置９はモ
ータ５を駆動し、偏光子１，検光子２を一定角度ずつ回
転させて、各角度に対する受光素子７の出力データを取
込み、偏光子，検光子の一回転の間の受光素子７の出力
の最大と最小との差Ｄｉを算出して表示する。こゝでＤ
の添字ｉは１，２，…の数値で測定の回数を示し、初回
はｉ＝１である。以上で一回の測定を終わると、試料ホ
ルダ８上で試料Ｓを一定角度例えば５°回わして、２回
目の測定を上と同様にして行う。このようにして、試料
の方向の５°間隔毎の受光素子出力の最大最小の差Ｄｉ
が求まる。そこでＤｉと前回測定のＤｉ−１の値を比較
し、Ｄｉ−１＜Ｄｉ＞Ｄｉ＋１なるＤｉが見出された所
で、測定操作を止め。このときＤｉに相当する試料の試
料ホルダ上の指標の示す方向が試料の光学主軸の方向で
ある。この測定では試料は５°飛びに方向を変えている
から光学主軸の方向に±２．５°の範囲の誤差がある。 ５°ずつ回しながらＤｉを求めて、Ｄｉの最大が見出さ
れたら、Ｄｉ−１とＤｉ＋１のうち大きな値を与える側
とＤｉとの間で１°飛びに上と同じ測定操作を行って最
大のＤを求めるようにすれば、方向は±０．５°の精度
で求められる。試料の回転角範囲は最大でも９０°でよ
い。
ように行われる。試料Ｓを試料ホルダ８に任意の方向で
保持させる。前述したように試料ホルダ８には予め標準
シートＫを取り付けておく。この試料ホルダを装置にセ
ットし、測定動作をスタートさせると、制御装置９はモ
ータ５を駆動し、偏光子１，検光子２を一定角度ずつ回
転させて、各角度に対する受光素子７の出力データを取
込み、偏光子，検光子の一回転の間の受光素子７の出力
の最大と最小との差Ｄｉを算出して表示する。こゝでＤ
の添字ｉは１，２，…の数値で測定の回数を示し、初回
はｉ＝１である。以上で一回の測定を終わると、試料ホ
ルダ８上で試料Ｓを一定角度例えば５°回わして、２回
目の測定を上と同様にして行う。このようにして、試料
の方向の５°間隔毎の受光素子出力の最大最小の差Ｄｉ
が求まる。そこでＤｉと前回測定のＤｉ−１の値を比較
し、Ｄｉ−１＜Ｄｉ＞Ｄｉ＋１なるＤｉが見出された所
で、測定操作を止め。このときＤｉに相当する試料の試
料ホルダ上の指標の示す方向が試料の光学主軸の方向で
ある。この測定では試料は５°飛びに方向を変えている
から光学主軸の方向に±２．５°の範囲の誤差がある。 ５°ずつ回しながらＤｉを求めて、Ｄｉの最大が見出さ
れたら、Ｄｉ−１とＤｉ＋１のうち大きな値を与える側
とＤｉとの間で１°飛びに上と同じ測定操作を行って最
大のＤを求めるようにすれば、方向は±０．５°の精度
で求められる。試料の回転角範囲は最大でも９０°でよ
い。
【００１０】図２は試料ホルダ８の一実施例である。長
方形の本体８１が装置に挿入される。本体８１には中央
に円形の窓８２があり、これに円環状の試料取り付け環
８３が適合して着脱および回転可能に嵌着される。試料
取り付け環８３には鍔８４があり、この鍔が本体８１上
面に乗って環８３は抜け落ちないようになっている。鍔
８４に角度目盛８５が切ってあり、本体８１上の指標８
６を基準にして試料の回転角が読取れるようになってい
る。試料Ｓは試料取り付け環８３の上面に押さえ板ばね
８７で固定される。本体８１の下面には図では見えない
凹段があり、そこに標準シートＫが、その光学主軸の方
向を指標８６に一致させて取り付けられる。試料取り付
け環８３は一回の測定毎に手動で回される。
方形の本体８１が装置に挿入される。本体８１には中央
に円形の窓８２があり、これに円環状の試料取り付け環
８３が適合して着脱および回転可能に嵌着される。試料
取り付け環８３には鍔８４があり、この鍔が本体８１上
面に乗って環８３は抜け落ちないようになっている。鍔
８４に角度目盛８５が切ってあり、本体８１上の指標８
６を基準にして試料の回転角が読取れるようになってい
る。試料Ｓは試料取り付け環８３の上面に押さえ板ばね
８７で固定される。本体８１の下面には図では見えない
凹段があり、そこに標準シートＫが、その光学主軸の方
向を指標８６に一致させて取り付けられる。試料取り付
け環８３は一回の測定毎に手動で回される。
【００１１】今試料Ｓと標準シートＫとを重ねたときの
全体のレターデーションをΔとし、この重ねたもの全体
の見掛けの光学主軸と入射偏光の偏光方向とのなす角を
θとし、Ｓ＋Ｋへの入射光強度をＩｏ、このときのＳ＋
Ｋの透過光強度をＩとすると、 Ｉ＝ＩＯ［ｃｏｓ４θ＋ｓｉｎ２θ＋（ １／
２）ｓｉｎ２ ２θ・ｃｏｓ Δ］θ＝０およびπ／２
のときＩ＝Ｉｏで最大、θ＝π／４のときＩ＝Ｉ０ ［
１／２＋（１／２）ｃｏｓ Δ］でΔ＝０であればＩ＝
Ｉｏであり、Δが０でなければＩ＜ＩｏでＩはθ＝π／
４のとき最小値となる。そこでＩの最大と最小との差を
Ｄとすると、 ｃｏｓ Δ＝１−２Ｄ／Ｔ０ ｃｏｓΔの値が小さい程Δの値は大、即ちＤが大である
程Δは大であり、従って標準シート大に対して試料Ｓを
回し、Ｄが最大になる所を探せばそのときΔは最大で、
Δの最大は試料Ｓと標準シートＫの光学主軸が平行のと
きである。
全体のレターデーションをΔとし、この重ねたもの全体
の見掛けの光学主軸と入射偏光の偏光方向とのなす角を
θとし、Ｓ＋Ｋへの入射光強度をＩｏ、このときのＳ＋
Ｋの透過光強度をＩとすると、 Ｉ＝ＩＯ［ｃｏｓ４θ＋ｓｉｎ２θ＋（ １／
２）ｓｉｎ２ ２θ・ｃｏｓ Δ］θ＝０およびπ／２
のときＩ＝Ｉｏで最大、θ＝π／４のときＩ＝Ｉ０ ［
１／２＋（１／２）ｃｏｓ Δ］でΔ＝０であればＩ＝
Ｉｏであり、Δが０でなければＩ＜ＩｏでＩはθ＝π／
４のとき最小値となる。そこでＩの最大と最小との差を
Ｄとすると、 ｃｏｓ Δ＝１−２Ｄ／Ｔ０ ｃｏｓΔの値が小さい程Δの値は大、即ちＤが大である
程Δは大であり、従って標準シート大に対して試料Ｓを
回し、Ｄが最大になる所を探せばそのときΔは最大で、
Δの最大は試料Ｓと標準シートＫの光学主軸が平行のと
きである。
【００１２】
【発明の効果】本発明によれば、偏光に対する光学主軸
の方向が未知な試料で、レターデーションが小さく光学
主軸の方向が見出し難い場合でも光学主軸の方向が判明
しているシートがあれば正確に光学主軸の方向を決める
ことができ、特別高感度の測定装置を必要としない。本
発明によるときは、例えば、０〜２０ｎｍ程度の微小な
レターデーションの場合でも、光学主軸の判定が可能で
ある。
の方向が未知な試料で、レターデーションが小さく光学
主軸の方向が見出し難い場合でも光学主軸の方向が判明
しているシートがあれば正確に光学主軸の方向を決める
ことができ、特別高感度の測定装置を必要としない。本
発明によるときは、例えば、０〜２０ｎｍ程度の微小な
レターデーションの場合でも、光学主軸の判定が可能で
ある。
【図１】 本発明方法を実行する装置の一実施例の側
面図
面図
【図２】 上記実施例における試料ホルダの斜視図１
偏光子 ２ 検光子 ３，４ ベルト ５ モータ ６ 光源 ７ 受光素子 ８ 試料ホルダ ９ 制御装置 １０ 表示装置 Ｓ 被測定試料 Ｋ 標準シート
偏光子 ２ 検光子 ３，４ ベルト ５ モータ ６ 光源 ７ 受光素子 ８ 試料ホルダ ９ 制御装置 １０ 表示装置 Ｓ 被測定試料 Ｋ 標準シート
Claims (1)
- 偏光子と検光子との間で、偏光子，検光子に対し、被測
定試料と光学主軸の方向が既知である標準シートとを重
ねたものを回転させて、透過光強度の最大と最小との差
Ｄを測定し、被測定試料の標準シートに対する方向を変
えて上記Ｄを測定してＤが最大になったとき、被測定試
料の光学主軸が標準試料の光学主軸と平行であるとする
ことを特徴とする異方性材料の光学主軸判定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12858891A JPH04329338A (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | 異方性材料の光学主軸判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12858891A JPH04329338A (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | 異方性材料の光学主軸判定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04329338A true JPH04329338A (ja) | 1992-11-18 |
Family
ID=14988470
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12858891A Pending JPH04329338A (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | 異方性材料の光学主軸判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04329338A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022105645A (ja) * | 2018-02-13 | 2022-07-14 | 華為技術有限公司 | 保護フィルム並びに、保護フィルムを切断するための方法及び装置 |
-
1991
- 1991-04-30 JP JP12858891A patent/JPH04329338A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022105645A (ja) * | 2018-02-13 | 2022-07-14 | 華為技術有限公司 | 保護フィルム並びに、保護フィルムを切断するための方法及び装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0478137B2 (ja) | ||
| JP5198980B2 (ja) | 光学異方性パラメータ測定方法及び測定装置 | |
| JP4538344B2 (ja) | 軸方位測定装置および方法 | |
| KR100195397B1 (ko) | 복굴절층의 두께측정방법 및 장치 | |
| US6633358B1 (en) | Methods and apparatus for measurement of LC cell parameters | |
| TW440737B (en) | Method and apparatus for measuring cell gap of vertical alignment liquid crystal panel | |
| CN100381877C (zh) | 检出对象的参数检出方法以及检出装置 | |
| US6348966B1 (en) | Measuring method of liquid crystal pretilt angle and measuring equipment of liquid crystal pretilt angle | |
| JPH04329338A (ja) | 異方性材料の光学主軸判定方法 | |
| US20030179375A1 (en) | System for measuring of both circular and linear birefringence | |
| JPH08201277A (ja) | 複屈折測定方法及び装置 | |
| JP2791479B2 (ja) | レターデーション測定方法 | |
| JP5991230B2 (ja) | 位相差測定方法及び装置 | |
| US7746465B2 (en) | Sample holder for an optical element | |
| JP3539006B2 (ja) | 複合層のレターデーション測定方法及び装置 | |
| JP3518313B2 (ja) | レターデーション測定方法及び装置 | |
| JP3246040B2 (ja) | 複屈折測定装置 | |
| JPH05240779A (ja) | 複屈折測定装置の試料ホルダー | |
| JP2789575B2 (ja) | 複屈折測定装置 | |
| JP2956731B2 (ja) | 複屈折測定装置 | |
| JPH02118406A (ja) | 液晶セルギャップ測定装置 | |
| JPH0989761A (ja) | レターデーション測定方法 | |
| JPH06288899A (ja) | フィルムの偏光透過率特性測定方法 | |
| JP2565147B2 (ja) | ツイスト角およびセルギャップの測定方法 | |
| JPH02183142A (ja) | スペクトロポーラリメータ |