JPH0432447B2 - - Google Patents

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JPH0432447B2
JPH0432447B2 JP58041842A JP4184283A JPH0432447B2 JP H0432447 B2 JPH0432447 B2 JP H0432447B2 JP 58041842 A JP58041842 A JP 58041842A JP 4184283 A JP4184283 A JP 4184283A JP H0432447 B2 JPH0432447 B2 JP H0432447B2
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    • G—PHYSICS
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    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
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    • G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光学式デジタル・オーデイオ・デイ
スクのように情報信号がピツトの配列によつて螺
旋状のトラツクが形成されて記録された光学式デ
イスクから情報信号を再生する光学式デイスク・
プレーヤーの、特にデイスクに入射される情報信
号の読み取り用の光ビームがトラツク上を正しく
トレースするように制御するトラツキング制御装
置に関する。
背景技術とその問題点 光学式デジタル・オーデイオ・デイスクのよう
な光学式デイスクでは、情報信号がピツトの配列
によつて螺旋状のトラツクが形成されて記録され
ており、そのプレーヤーでは、デイスクの半径方
向に移動する光学ヘツドの光ビームによりデイス
クのトラツクから情報信号が読み取られるが、そ
の際、情報信号の読み取り用の光ビームのデイス
ク上のスポツトのトラツクに対する位置を検出し
て、その検出信号にもとづいて光学ヘツドの集束
レンズないし光学ヘツド全体をデイスクの半径方
向に動かして、情報信号の読み取り用の光ビーム
がトラツク上を正しくトレースするように制御す
るトラツキング制御が必要である。
情報信号の読み取り用の光ビームのデイスク上
のスポツトのトラツクに対する位置の検出方法と
しては、大別して、情報信号の読み取り用の光ビ
ームとは別の２個の専用の光ビームを用いる方法
と、専用の光ビームを用いない方法があるが、後
者の方法の１つとしてヘテロダイン法ないし
DPD法と呼ばれる方法がある。
第１図はこの方法による従来のトラツキング制
御装置の一例で、光学ヘツドには、デイスクに入
射されて、このデイスクで変調された情報信号の
読み取り用の光ビームを検出する、一点の周りに
配された４個の光検出素子１０Ａ，１０Ｂ，１０
Ｃ及び１０Ｄからなる光検出器１０が設けられ、
素子１０Ａ〜１０Ｄの出力が演算回路２０に供給
され、演算回路２０において、素子１０Ａ及び１
０Ｃの出力が加算回路２１で加算されるととも
に、素子１０Ｂ及び１０Ｄの出力が加算回路２２
で加算され、さらに、加算回路２１及び２２の出
力が加算回路２２で加算されるとともに、加算回
路２１及び２２の出力が減算回路２４で減算され
て、加算回路２３よりすべての素子１０Ａ〜１０
Ｄの出力の和の信号RF0が得られるとともに、減
算回路２４より素子１０Ａ及び１０Ｃの出力の和
と素子１０Ｂ及び１０Ｄの出力の和の差の信号
TE0が得られる。
デイスクに入射される情報信号の読み取り用の
光ビームは、デイスク上のトラツクを形成するピ
ツトにより回折されて反射される。従つて、デイ
スクで変調されて光検出器１０に達して素子１０
Ａ〜１０Ｄ上にスポツトを形成する光ビームは、
デイスク上のピツトとこれを照射する光ビームの
スポツトとの位置関係に対応した回折パターンを
形成する。
第２図はその様子を示すもので、同図Ａ，Ｂ，
Ｃの各々において、左側はピツトＰとこれを照射
する光ビームのスポツトＳの位置関係を、右側は
その位置関係における素子１０Ａ〜１０Ｄ上の光
ビームのスポツトの回折パターンを、それぞれ示
し、右側の斜線部は光量の少ない部分である。ピ
ツトＰはこれを照射する光ビームのスポツトＳに
対して各々上側の状態から下側の状態へと動いて
いく。そして、同図ＡはピツトＰに対してスポツ
トＳがデイスクの内側にずれた場合であり、同図
ＢはスポツトＳがピツトＰに対してその中央に正
しく位置した場合であり、同図ＣはピツトＰに対
してスポツトＳがデイスクの外側にずれた場合で
ある。
従つて、スポツトＳがピツトＰに対して正しく
位置する場合には、素子１０Ａ〜１０Ｄ上の光ビ
ームのスポツトが素子１０Ａ〜１０Ｄに対して完
全に対称な光量分布になるのに対して、スポツト
ＳがピツトＰに対してデイスクの内側または外側
にずれる場合には、素子１０Ａ〜１０Ｄに対する
光量分布の対称性が崩れ、しかも、内側にずれる
場合と外側にずれる場合とでは対称性の崩れ方が
逆転するとともに、そのずれが大きいほど対称性
が大きく崩れる。
従つて、演算回路２０の減算回路２４より得ら
れる、素子１０Ａ及び１０Ｃの出力の和と素子１
０Ｂ及び１０Ｄの出力の和の差の信号TE0は、ス
ポツトＳのトラツクに対する位置を示す、即ちス
ポツトＳのトラツクに対するずれの向きと量を示
す情報を含むトラツキング・エラー検出信号とな
る。演算回路２０の加算回路２３より得られる、
すべての素子１０Ａ〜１０Ｄの出力の和の信号
RF0は、再生情報信号である。
第３図はデイスク上のスポツトがピツトＰの配
列によつて形成されたトラツクを矢印／で示すよ
うに蛇行しながらトレースする場合を示してお
り、再生情報信号RF0は、第３図の実線で示すよ
うに、スポツトがピツトＰの手前のエツジを横切
る時点で一定レベルV0を負の向きに横切り、ス
ポツトがピツトＰの先のエツジを横切る時点でレ
ベルV0を正の向きに横切るものになる。これに
対して、トラツキング・エラー検出信号TE0は、
第３図の左側に示すように第２図Ａのようにスポ
ツトがトラツクに対してデイスクの内側にずれる
場合には、スポツトがピツトＰの手前のエツジを
横切り、再生情報信号RF0がレベルV0を負の向
きに横切る時点で正のレベルになり、スポツトが
ピツトＰの先のエツジを横切り、信号RF0がレベ
ルV0を正の向きに横切る時点で負のレベルにな
り、第３図の右側に示すように第２図Ｃのように
スポツトがトラツクに対してデイスクの外側にず
れる場合には、逆に、スポツトがピツトＰの手前
のエツジを横切り、信号RF0がレベルV0を負の
向きに横切る時点で負のレベルになり、スポツト
がピツトＰの先のエツジを横切り、信号RF0がレ
ベルV0を正の向きに横切る時点で正のレベルに
なるというように、スポツトがトラツクに対して
デイスクの内側にずれる場合と外側にずれる場合
とでは再生情報信号RF0に対する位相が反転し、
しかもそのずれが大きいほど振幅が大きくなる。
演算回路２０より得られる再生情報信号RF0は
電圧比較回路３１に供給されて上述のレベルV0
と電圧比較されて、第３図Ｘに示すように矩形波
に波形整形された再生情報信号RFzが得られ、こ
の信号RFzがパルス発生回路３２及び３３に供給
されて、同図Ｘに示すように、回路３２よりデイ
スク上のスポツトがピツトＰの先のエツジを横切
る信号RFzの立ち上がりの時点で幅の狭いパルス
SPAが得られるとともに、回路３３よりデイスク
上のスポツトがピツトＰの手前のエツジを横切る
信号RFzの立ち下がりの時点で幅の狭いパルス
SPBが得られる。
そして、演算回路２０より得られるトラツキン
グ・エラー検出信号TE0が２個のサンプリング・
ホールド回路４０及び５０のサンプリング用のス
イツチ４１及び５１に供給され、パルス発生回路
３２及び３３より得られるパルスSPA及びSPBが
スイツチ４１及び５１に供給されて、スイツチ４
１及び５１により信号TE0のデイスク上のスポツ
トがピツトＰの先のエツジを横切る時点及び手前
のエツジを横切る時点での値が別々にサンプリン
グされるとともに、それぞれのサンプリング値が
ホールド用のコンデンサ４２及び５２にホールド
される。このコンデンサ４２及び５２の両端の電
圧、即ちサンプリング・ホールド回路４０及び５
０の出力の信号TEA及びTEBが差動増幅回路６０
に供給されて、両者の差の信号TEcが得られる。
この信号TEcは、第３図の実線で示すように、デ
イスク上のスポツトがトラツクに対してデイスク
の内側にずれる場合と外側にずれる場合とで極性
を異にし、かつそのずれが大きいほどレベルが大
きくなるもので、スポツトのトラツクに対する位
置を示す、即ちスポツトのトラツクに対するずれ
の向きと量を示すトラツキング・エラー信号とな
る。
このトラツキング・エラー信号TEcがトラツキ
ング制御信号として光学ヘツドの集束レンズない
し光学ヘツド全体をデイスクの半径方向に動かす
駆動回路７０に供給されて、信号TEcにもとづい
てデイスク上のスポツトのトラツクに対する位置
が制御される。
ところで、この従来のトラツキング制御装置で
は、第３図に示すようにデイスクに欠陥などによ
つて光を反射しない部分２があると、この部分２
のところで、演算回路２０より得られる再生情報
信号RF0が第３図の鎖線で示すように一定の変調
範囲を逸脱して低いレベルVLになり、同図Ｙに
示すように、電圧比較回路３１の出力の信号RFz
がピツトの配列に対応した矩形波にならなくなつ
て、パルス発生回路３２及び３３よりパルスSPA
及びSPBが得られなくなり、サンプリング・ホー
ルド回路４０及び５０の出力の信号TEA及びTEB
が同図の鎖線で示すように部分２の直前における
サンプリング値のまま保たれるために、駆動回路
７０に与えられるトラツキング・エラー信号TEc
も同図の鎖線で示すように部分２の直前における
値のままになつてデイスク上のスポツトのトラツ
クに対する位置を誤つて示すようになり、光ビー
ムのデイスク上のスポツトが内側ないし外側のト
ラツクに飛ぶ、いわゆるトラツク・ジヤンプが生
じやすくなる不都合がある。
発明の目的 本発明は、前述のヘテロダイン法ないしDPD
法と呼ばれる方法によるトラツキング制御装置に
おいて、デイスクの欠陥などによつて光を反射し
ない部分でトラツク・ジヤンプが発生するのを抑
えるようにしたものである。
発明の概要 本発明では、前述のサンプリングされた値をホ
ールドするコンデンサと並列に、このコンデンサ
の電圧をデイスクに記録された情報信号の最大反
転時間より充分に長い一定の時定数で放電する抵
抗、またはサンプリング用のパルスがデイスクに
記録された情報信号の最大反転時間より充分に長
い一定時間以上にわたつて得られないときに瞬間
的に放電するスイツチを接続し、デイスクの欠陥
などによつて光を反射しない部分ではそのコンデ
ンサの電圧を零ないしこれに近い値にする。
実施例 第４図は本発明のトラツキング制御装置の一例
で、コンデンサと並列に抵抗や接続される場合で
ある。即ち、コンデンサ４２，５２と並列に抵抗
４３，５３が接続されて、コンデンサ４２，５２
の電圧がコンデンサ４２，５２の容量と抵抗４
３，５３の値で決まる一定の時定数で零に向けて
放電するようにされた場合である。デイスクに記
録された情報信号の最大反転時間、即ちデイスク
上の隣り合うピツトのエツジ間の最長時間間隔
は、方式により定められてるが、例えば約2.5μ秒
というように短かい。これに対して、デイスクの
欠陥などによつて光を反射しない部分の時間間隔
は、一般に0.1ｍ秒前後かそれ以上であり、デイ
スクに記録された情報信号の最大反転時間よりも
かなり長い。そこで、この時定数は、デイスクに
記録された情報信号の最大反転時間よりも充分長
く、かつデイスクの欠陥などによつて光を反射し
ない部分の予想される時間間隔よりも短かい値に
設定される。具体的には、デイスクに記録された
情報信号の最大反転時間の数倍以上ないしデイス
クの欠陥などによつて光を反射しない部分の予想
される時間間隔の数分の１に設定されるもので、
例えば、コンデンサ４２及び５２の容量が
100pF，抵抗４３及び５３の値が100kΩにされ
て、各々の時定数が10μ秒に設定される。
従つて、この第４図の例によると、第６図に示
すようにデイスクに欠陥などによつて光を反射し
ない部分２があると、コンデンサ４２及び５２の
電圧TEA及びTEBと駆動回路７０に与えられるト
ラツキング・エラー信号TEcはそれぞれ同図に示
すように変化し、部分２のところでは電圧TEA及
びTEBと信号TEcがそれぞれ零ないしこれに近い
値になる。即ち、トラツキング・エラー信号TEc
は、部分２のところで光ビームがトラツク上を正
しくあるいはほぼ正しくトレースしていると示す
ものになる。
第５図は本発明のトラツキング制御装置の他の
例で、コンデンサと並列にスイツチが接続される
場合である。即ち、コンデンサ４２，５２と並列
にスイツチ４４，５４が接続されるとともに、パ
ルス発生回路３２，３３より得られるサンプリン
グ用のパルスSPA，SPBが再トリガー形の単安定
マルチバイブレーター３４，３５に供給されて、
パルスSPA，SPBにより単安定マルチバイブレー
ター３４，３５がトリガーされ、この場合、単安
定マルチバイブレーター３４，３５の時定数がτ
が、第４図の例におけるコンデンサ４２，５２の
容量と抵抗４３，５３の値で決まる時定数と同様
に、デイスクに記録された情報信号の最大反転時
間、即ちサンプリング用のパルスSPA，SPBの最
長時間間隔よりも長くされて、第７図に示すよう
に、デイスクの欠陥などによつて光を反射しない
部分２以外の部分では単安定マルチバイブレータ
ー３４，３５の出力の信号RMA，RMBが高いレ
ベルを保つようにされ、この単安定マルチバイブ
レーター３４，３５の出力信号RMA，RMBがパ
ルス発生回路３６，３７に供給されて、デイスク
の欠陥などによつて光を反射しない部分２のとこ
ろでパルスSPA，SPBが得られなくなると、第７
図に示すように、部分２の直前のパルスよりτの
時間経た時点において信号RMA，RMBが高いレ
ベルから低いレベルに立ち下がり、この立ち下が
の時点においてパルス発生回路３６，３７より幅
の狭いパルスSWA，SWBが得られ、このパルス
SWA，SWBがスイツチ４４，５４に供給されて、
パルスSWA，SWBのパルス幅の期間でスイツチ
４４，５４が瞬間的にオンにされる場合である。
従つて、この第５図の例によると、第７図に示
すように、デイスクの欠陥などによつて光を反射
しない部分２の、サンプリング用のパルスSPA，
SPBの部分２の直前のパルスよりτの時間経た時
点以降においては、コンデンサ４２及び５２の電
圧TEA及びTEBと駆動回路７０に与えられるトラ
ツキング・エラー信号TEcが零になり、トラツキ
ング・エラー信号TEcは光ビームがトラツク上を
正しくトレースしているものと示すものになる。
ちなみに、第１図の従来の装置では、電圧TEA及
びTEBと信号TEcは部分２において第７図の鎖線
で示すようになる。
発明の効果 本発明によれば、ヘテロダイン法ないしDPD
法と呼ばれる方法によるトラツキング制御装置に
おいて、演算回路２０より得られるトラツキン
グ・エラー検出信号TE0のスイツチ４１，５１に
よりサンプリングされた値をホールドするコンデ
ンサ４２，５２と並列に、このコンデンサ４２，
５２の電圧をデイスクに記録された情報信号の最
大反転時間より充分に長い一定の時定数で放電す
る抵抗４３，５３またはサンプリング用のパルス
SPA，SPBがデイスクに記録された情報信号の最
大反転時間より充分に長い一定時間以上にわたつ
て得られないときに瞬間的に放電するスイツチ４
４，５４を接続し、デイスクの欠陥などによつて
光を反射しない部分２では、コンデンサ４２，５
２の電圧TEA，TEB、従つてトラツキング・エラ
ー信号TEcを零ないしこれに近に値にするので、
トラツキング・エラー信号TEcが光ビームのデイ
スク上のスポツトのトラツクに対する位置を誤つ
て示すようになるのが低減され、この部分２でト
ラツク・ジヤンプが発生するのをかなり抑えるこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第１図は従来のトラツキング制御装置の一例の
系統図、第２図及び第３図はその動作の説明のた
めの図、第４図及び第５図はそれぞれ本発明のト
ラツキング制御装置の一例の系統図、第６図及び
第７図はそれぞれ動作の説明のための図である。 図中、１０は光検出器、１０Ａ〜１０Ｄはその
光検出素子、２０は演算回路、３１は電圧比較回
路、３２及び３３はパルス発生回路、４１及び５
１はサンプリング用のスイツチ、４２及び５２は
コンデンサ、４３及び５３は放電用の抵抗、４４
及び５４は放電用のスイツチ、７０は駆動回路で
ある。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １ 情報信号がピツトの配列によつて螺旋状のト
    ラツクが形成されて記録された光学式デイスクに
    入射されて、このデイスクで変調された情報信号
    の読み取り用の光ビームを検出する複数の光検出
    素子からなる光検出器と、この光検出器の上記複
    数の光検出素子の出力を演算することにより、再
    生情報信号と、上記光ビームの上記デイスク上の
    スポツトの上記トラツクに対するずれの向きに応
    じて上記再生情報信号に対する位相が変化し、か
    つ上記ずれの量に応じて振幅が変化するトラツキ
    ング・エラー検出信号とを得る演算回路と、上記
    再生情報信号にもとづいて上記光ビームの上記デ
    イスク上のスポツトが上記ピツトのエツジを横切
    る時点においてパルスを発生させるパルス発生回
    路と、上記トラツキング・エラー検出信号を上記
    パルスによりサンプリングするスイツと、このス
    イツチによりサンプリングされた値をホールドす
    るコンデンサと、このコンデンサと並列に接続さ
    れ、このコンデンサの電圧をデイスクに記録され
    た情報信号の最大反転時間より充分に長い一定の
    時定数で放電する抵抗、または上記パルスが上記
    最大反転時間より充分に長い一定時間以上にわた
    つて得られないときに瞬間的に放電するスイツチ
    と、上記コンデンサの電圧にもとづいて光学的手
    段を駆動して上記光ビームの上記デイスク上のス
    ポツトの上記トラツクに対する位置を制御する駆
    動回路とからなる、光学式デイスク・プレーヤー
    のトラツキング制御装置。
JP58041842A 1983-03-14 1983-03-14 光学式デイスク・プレ−ヤ−のトラツキング制御装置 Granted JPS59167861A (ja)

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CA (1) CA1212766A (ja)
DE (1) DE3409409A1 (ja)
FR (1) FR2542902B1 (ja)
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