JPH04324240A - 電子顕微鏡用試料ホルダー及び試料保持法 - Google Patents

電子顕微鏡用試料ホルダー及び試料保持法

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JPH04324240A
JPH04324240A JP9558691A JP9558691A JPH04324240A JP H04324240 A JPH04324240 A JP H04324240A JP 9558691 A JP9558691 A JP 9558691A JP 9558691 A JP9558691 A JP 9558691A JP H04324240 A JPH04324240 A JP H04324240A
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JP
Japan
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mesh
thin plate
holding
electron microscope
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JP9558691A
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Seiichi Suzuki
清一 鈴木
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Jeol Ltd
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Jeol Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、透過電子顕微鏡の試料
ホルダーに関し、特に鏡筒の側面より対物レンズの磁極
片間隙に挿入されるサイドエントリー形の試料ホルダー
及び試料保持法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、図9(イ)、(ロ)に示すような
構成の透過電子顕微鏡の試料ホルダーが知られている。
【0003】図9(イ)において、試料ホルダーの導入
棒41の先端には試料保持部42が設けられ、該試料保
持部42に設けられた凹部43には試料Sを載置したメ
ッシュ44がばねやねじなどの押圧部材45により固定
されている。該試料ホルダーは図示しないゴニオメータ
に保持されており、該ホルダー先端の一部はゴニオメー
タにより磁極片46の間隙の電子線光軸Oの位置まで挿
入されて電子線の照射を受ける。また、前記ゴニオメー
タは、試料を光軸に直交する平面内で移動させたり、光
軸に対して傾斜させたりする機能を備えている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な所謂サイドエントリータイプの試料ホルダーには、複
数の試料を比較観察するために、図9(ロ)に示すよう
に試料保持部42に複数の試料を装着することができる
ものもあるが、その数は高々数個である。それ以上の試
料に対して比較観察を行う場合には、一度試料をホルダ
ーから取り外して交換するか、または試料ホルダーを必
要本数用意することによって行っている。前者のように
試料をホルダーから取り外して交換した場合には、外し
た試料を再び装着する際に前と同じ条件例えば、数万倍
に拡大して観察されるような領域(部位)に関して、手
作業で試料の方位(取り付けの回転角)を再び同じ向き
に取り付け一致させることは不可能である。また、簿片
状の試料では、表裏を誤って取り付けてしまう場合もあ
り、観察条件の再現性に乏しくなることが問題となる。
【0005】また、後者のように使用者が試料ホルダー
を複数本用意するような場合は、装置がコスト高となり
、甚だ不経済である。
【0006】さらに、透過電子顕微鏡用の試料は非常に
薄く、且つメッシュの直径も3mmと小さいため、その
交換作業は至極面倒であり、不慣れな操作者は交換作業
に時間がかかると共に、試料の取り付け作業中に大切な
試料を壊してしまう場合がある。
【0007】本発明は、上記の課題を解決するものであ
って、試料の取り付け作業も簡単に行うことのでき、ま
た、簡単且つ再現性を良く試料交換が行える電子顕微鏡
用試料ホルダー及び試料保持法を提供することを目的と
している。
【0008】
【課題を解決するための手段】そのために本発明の電子
顕微鏡用試料ホルダーは、かしめ用のツメを有し試料薄
片または試料を載置したメッシュを保持するため薄板か
らなり、或いは係合用のツメを有する固定カバーと前記
ツメと係合する切り欠き部を有し試料薄片または試料を
載置したメッシュを保持するため薄板からなることを特
徴とする。
【0009】また、試料保持法は、薄板にツメを設け該
ツメをかしめて試料薄片または試料を載置したメッシュ
を保持し、或いは薄板に切り欠き部を設け、該切り欠き
部に固定カバーのツメを係合させて、固定カバーと薄板
との間に挟み込んで試料薄片または試料を載置したメッ
シュを保持することを特徴とする。
【0010】
【作用】本発明の電子顕微鏡用試料ホルダー及び試料保
持法では、かしめ用のツメを有し試料薄片または試料を
載置したメッシュを保持するため薄板や、係合用のツメ
を有する固定カバーと前記ツメと係合する切り欠き部を
有し試料薄片または試料を載置したメッシュを保持する
ため薄板からなるので、治具を使ってかしめ用のツメ押
し付け、或いは固定カバーを押し込むだけで、簡単に薄
板上に試料薄片または試料を載置したメッシュを薄板上
に保持することができる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は本発明の電子顕微鏡用試料ホルダーの1実
施例を示す図である。1は試料保持用の薄板、2は凹部
、3は孔、4はメッシュ、4′はリング、5はツメを示
す。
【0012】図1において、試料保持用の薄板1には、
試料薄片または試料を載置したメッシュ4を固定するた
めの凹部2を設け、凹部2には、電子線光軸に位置する
その中央位置に貫通する孔3を設けると共にその周囲に
ツメ5を設けてメッシュ4を固定する。試料を載置した
メッシュ4の固定は、以下のようにして行われる。
【0013】まず、図1(イ)に示すように試料を載置
したメッシュ4を凹部2のツメ5の内側に装着する。そ
して、図1(ロ)に示すように治具をツメ5の上端に当
てて押圧し、ツメ5を押し潰すことによって、図1(ハ
)に示すようにメッシュ4をツメ5でかしめ固定する。
【0014】なお、ツメ5は、メッシュ4を載置する周
囲の全体に連続して設けたものであってもよいが、円周
上の数カ所に設けたものであってもよい。また、メッシ
ュ4を凹部2に固定する場合には、図(ハ)に示すよう
にメッシュ4の上から直接かしめるのではなく、図(ニ
)に示すようにメッシュ4の上にリング4′を置いて、
その上からツメ5でかしめ固定してもよい。
【0015】図2は本発明の電子顕微鏡用試料ホルダー
の他の実施例を示す図である。図2(イ)は、試料保持
用の薄板1に角孔3′を設けると共に、ツメ7の付いた
試料固定カバー6を用い、角孔3′に試料固定カバー6
のツメ7を押し込み弾性力により食い込ませて試料保持
用の薄板1に試料固定カバー6のツメ7を係合させるこ
とによって、試料保持用の薄板1と試料固定カバー6と
の間に試料を載置したメッシュ4を挟み込み固定するも
のである。なお、試料固定カバー6は、例えば0.2m
m厚程度の薄い板からなるものである。
【0016】また、図2(ロ)、(ハ)に示す例は、メ
ッシュ4を固定する孔3のある部分に窪みを持たせると
共に、これに合わせて試料固定カバー6も窪みを持たせ
たものである。(ロ)が試料固定カバー6のツメ7を試
料保持用の薄板1の角孔3′から外した状態を示し、(
ハ)が試料固定カバー6のツメ7を試料保持用の薄板1
の角孔3′に押し込み、メッシュ4を固定した状態を示
している。このように試料固定カバー6に窪みを持たせ
ることによって、試料保持用の薄板1との間でメッシュ
4を挟み込み固定する際に押圧力を得ることができる。 また、ツメ7は、角孔3′に押し込むことによって図2
(ハ)に示すように先端が試料保持用の薄板1の角孔3
′で外側内壁に食い込み、抜け難くなるようにし簡単か
つ確実に固定できるようにしている。
【0017】角孔3′は、ツメ7の長さより僅かに小さ
くすることによって、ツメ7を角孔3′に押し込んだ場
合に、図(ハ)に示すようにツメ7の先端が根元側より
遅れて入り込む形となる。したがって、逆の引出し方向
では、角孔3′の壁面にツメ7の先端が食い込むように
なり楔作用により保持力が得られる。
【0018】また、角孔3′は、ツメ7を押し込むこと
によって弾性力で食い込ませるようにできればよいので
、角孔3′でなく凹部にツメ7の先端が当接する切り欠
き壁面を形成するものであってもよい。たとえば図2(
ロ)、(ハ)の凹部をそのまま角孔3′の部分まで延長
した形状であってもよい。この場合には、試料固定カバ
ー6の中央の窪み深さよりツメ7が低くすればよい。 それは、試料固定カバー6の中央の窪み深さよりツメ7
が高ければ、試料保持用の薄板1において角孔3′をな
くして一様の深さの凹部にした場合、その凹部の底に試
料固定カバー6のツメ7が届いてしまっても、中央部で
試料固定カバー6が試料保持用の薄板1に届かないので
、メッシュ4を押圧保持できないからである。
【0019】さらに、図2(ニ)に示す例は、試料固定
カバー8をリング状にして両側にツメ9を設け、同様の
形状の凹部10を試料保持用の薄板1に設けたものであ
る。そして、ベース試料固定カバー8のツメ9を試料保
持用の薄板1の凹部10に押し込むことによって、図2
(ロ)、(ハ)と同様に食い込ませ、簡単かつ確実に固
定できるように構成したものである。
【0020】上記のように基本的には、試料保持用の薄
板1に角孔3′、凹部10、溝等により切り欠き壁面を
形成し、この壁面に試料固定カバー6のツメ7を係合さ
せればよい。
【0021】次に、本出願人が別途提案している本発明
が適用可能なカートリッジタイプの透過電子顕微鏡用試
料ホルダーの例を説明する。
【0022】図3および図4は本発明が適用可能なカー
トリッジタイプの電子顕微鏡用試料ホルダーの例を説明
するための構成図、図5は試料保持部の取り外し動作を
説明するための図、図6は試料保持用の簿板への試料の
取り付け作業を示す図、図7(イ)、(ロ)は試料保持
用の簿板内に組み込まれた試料傾斜機構を説明するため
の図、図8(イ)、(ロ)は試料保持用の簿板に組み込
まれた試料移動機構の他の実施例を説明するための図で
ある。
【0023】図3及び図4において試料保持用の簿板1
2に設けられた凹部13には試料Sを載置したメッシュ
14が押圧ねじ15により固定されている。この試料保
持用の簿版12の裏面に設けられた受け穴16は導入棒
11の先端部11aに設けられたピン17と嵌合しさら
に簿板12の端部12aは軸18に回転可能に設けられ
た押さえ19によって導入棒の先端部11aとの間に挾
持されている。この押さえ19の回転は導入棒に固定さ
れたばね20の押圧によって規制されている。ここで、
前記試料保持用の簿板12を導入棒11の先端より取り
外す場合は、図5に示すように前記押さえ19を回動す
る。このとき、前記ばね20は押さえ19の移動に応じ
て伸縮するため、その規制が一時的に解除され、前記押
さえ19を位置Aまで開くことがきる。
【0024】さて、従来の試料ホルダーは、導入棒と試
料保持部が一体で長くまた重量のある構造であるため、
試料ホルダーを卓上等に固定した上でピンセット等によ
って掴んだ試料を導入棒の先端へ搬送して取り付けを行
っていた。しかし上述したような導入棒11の先端11
aより取り外された簿板12は、1─2cm2 程度の
面積を有する小形なもので、図6に示すように直接片手
で持った際に取り扱い易い大きさであるため、ピンセッ
ト21によって掴んだ試料やメッシュを該簿板12に設
けられた凹部13に搬送してセットする場合でも簿板1
2側を自在に移動させたり傾けたりすることができるよ
うになるので、従来に比べ簡単に試料の取り付けを行う
ことができる。また、取り外された簿板12は小形であ
るから試料を載置したままの状態でデシケータ等の保存
装置内に収容しておくことができる。
【0025】図7(イ)は試料保持用に簿板内に組み込
まれた試料傾斜機構とその駆動機構を説明するための図
で、図7(ロ)は同図(イ)の上面図である。
【0026】図7(イ)、(ロ)に示す実施例では、簿
板によってフレーム12bを構成し、そのフレーム12
b内に球軸22を介して試料を保持する凹部13を有す
る簿板12cが前記軸22について傾斜可能に設けられ
ている。また、23は導入棒11内部に設けられた駆動
棒、24はフレーム内に設けられたてこ体、25、26
、27は軸、28は簿板12cに常に時計方向への回転
力を与えておくためのばねである。
【0027】図7からもわかるように、駆動棒23を図
面右方向へ前進させると、フレーム12bに設けられた
軸25に取り付けられたてこ体24は該軸25について
反時計方向に回転する。該てこ体の回転によりその作用
点と軸26を介して係合された簿板12cは球軸22に
ついて時計方向に回動されるため、球軸22の軸線上に
配置された試料が傾斜される。
【0028】この試料保持用の簿板を導入棒11の先端
11aより取り外す場合は、先述した実施例の場合と同
様に押さえ19を回動すれば良い。このとき、フレーム
12b内の傾斜機構に機械的に係合される駆動棒23が
導入棒側に残され、傾斜機構を備えた簿板のみが取り外
される。
【0029】図8(イ)及び(ロ)は試料保持用の簿板
内に組み込まれた試料移動機構の他の実施例を説明する
ための図で、いずれも簿板を裏面から見た図である。図
8(イ)に示される実施例は、図7に示される試料傾斜
機構と略同じ機構であるが、てこ体24に駆動力を与え
るための駆動棒に代えて、フレーム12bとてこ体24
との間に電歪素子30を設けている。この電歪素子30
に電圧を印加して電歪素子を伸縮させることによって、
てこ体に回転力を与え試料を傾斜させるようにしている
。また、図8(ロ)に示される実施例において、31は
電歪素子による平面内回転機構で例えば、超音波モータ
や圧電素子によるウォーカ等に寄って構成されている。 図8(イ)、(ロ)に示される各素子への駆動電圧また
は駆動用の制御信号の供給には簿板端部12aに印刷さ
れた配線32等が用いられており、該配線の端部32a
は導入棒11の端部11aとの接面で該導入棒内部を通
して配線された供給線の端部と接続されるように構成さ
れている。
【0030】上記の薄板12がそのまま図1、図2で説
明した試料保持用の薄板1と置き換えられる。
【0031】なお、上述した実施例は本発明の1実施例
に過ぎず、本発明は種々変形して実施することができる
。例えば、上述した実施例において、導入棒にフレーム
を取り付けた際に、該導入棒側に設けられた駆動棒に機
械的に係合される試料移動機構は、試料傾斜機構であっ
たが、該試料移動機構は平面内回転機構等であっても良
いし、その他複数の移動機構を同時に備えたものであっ
てもよい。
【0032】また、フレーム内に複数の移動機構を設け
た場合は、導入棒内に駆動棒を複数備えておき、前記フ
レームに備えられた試料移動機構がいずれかの駆動棒に
係合するようにしておけばよい。この場合、駆動棒側に
は複数の駆動棒を設けておく必要があるが、1本の導入
棒に対して試料を載置する簿板を選ぶことによって種々
の試料移動を行うことができるので、高価な試料ホルダ
ーを必要本数用意することは不要となり経済的である。 また、試料導入棒の先端部に取り出された供給線端にフ
レームに印刷された配線を接続して電気的に電歪素子等
を駆動する場合も同様である。
【0033】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
による電子顕微鏡用試料ホルダー及び試料保持法は、治
具を使ってかしめ用のツメ押し付け、或いは固定カバー
を押し込むだけで、簡単に薄板上に試料薄片または試料
を載置したメッシュを薄板上に保持することができる。 しかも、試料簿片または試料を載置したメッシュを保持
するための簿板と、その先端部に前記簿板の端部を着脱
自在に挾持する手段を有する導入棒とを接続して一体に
形成することによって、試料を簿板から外すことなく交
換することができるため簡単に試料交換ができると共に
、再装着時の試料の方位(取り付けの回転角)の再現性
が保たれる。
【0034】また、該簿板は直接片手で持った際に取り
扱い易い大きさであるため、ピンセット等によって掴ん
だ試料やメッシュを該簿板に設けられた凹部に搬送して
セットする場合でも簿板側を自在に移動させたり傾けた
りすることができるので、従来に比べ簡単に試料の取り
付けを行うことができる。
【0035】さらに、発明による試料ホルダーの場合、
移動機構の有無に係わらず、1本の試料導入棒に対して
、小形な試料を載置した簿板のみを交換することができ
るため、試料ホルダーを複数本用意するような場合に比
べ装置のコストを低く押さえることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】  本発明の電子顕微鏡用試料ホルダーの1実
施例を示す図である。
【図2】  本発明の電子顕微鏡用試料ホルダーの他の
実施例を示す図である。
【図3】及び
【図4】  本発明が適用可能なカートリッジタイプの
電子顕微鏡用試料ホルダーの例を説明するための構成図
である。
【図5】  試料保持部の取り外し動作を説明するため
の図である。
【図6】  試料保持用の簿板への試料の取り付け作業
を示す図である。
【図7】  試料保持用の簿板内に組み込まれた試料傾
斜機構を説明するための図である。
【図8】  試料保持用の簿板に組み込まれた試料移動
機構の他の実施例を説明するための図である。
【図9】  透過電子顕微鏡の試料ホルダーの従来例を
示す図である。
【符号の説明】

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  かしめ用のツメを有し試料薄片または
    試料を載置したメッシュを保持するため薄板からなるこ
    とを特徴とする電子顕微鏡用試料ホルダー。
  2. 【請求項2】  薄板にツメを設け該ツメをかしめて試
    料薄片または試料を載置したメッシュを保持することを
    特徴とする電子顕微鏡用試料保持法。
  3. 【請求項3】  係合用のツメを有する固定カバーと前
    記ツメと係合する切り欠き部を有し試料薄片または試料
    を載置したメッシュを保持するため薄板からなることを
    特徴とする電子顕微鏡用試料ホルダー。
  4. 【請求項4】  薄板に切り欠き部を設け、該切り欠き
    部に固定カバーのツメを係合させて、固定カバーと薄板
    との間に挟み込んで試料薄片または試料を載置したメッ
    シュを保持することを特徴とする電子顕微鏡用試料保持
    法。
JP9558691A 1990-11-30 1991-04-25 電子顕微鏡用試料ホルダー及び試料保持法 Withdrawn JPH04324240A (ja)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000513135A (ja) * 1997-03-12 2000-10-03 ガタン・インコーポレーテッド 電子顕微鏡のための超高傾斜試験片低温移送ホルダ
JP2005294182A (ja) * 2004-04-05 2005-10-20 Jeol Ltd バルク断面試料ホルダ
JP2009087842A (ja) * 2007-10-02 2009-04-23 Jeol Ltd 電子顕微鏡用カートリッジ
EP1939923A3 (en) * 2006-12-26 2010-01-06 Jeol Ltd. Specimen holder for electron microscope
JP2015056395A (ja) * 2013-09-13 2015-03-23 日立ハイテクノロジーズコリア株式会社 試料の断面観察に用いられる試料ホルダー及びその制御方法
CN106153622A (zh) * 2015-04-22 2016-11-23 北京大学深圳医院 玻璃化冷冻观察装置及其应用
JP2021057169A (ja) * 2019-09-30 2021-04-08 日本電子株式会社 試料チップ作業台及びリテーナ

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000513135A (ja) * 1997-03-12 2000-10-03 ガタン・インコーポレーテッド 電子顕微鏡のための超高傾斜試験片低温移送ホルダ
JP2005294182A (ja) * 2004-04-05 2005-10-20 Jeol Ltd バルク断面試料ホルダ
EP1939923A3 (en) * 2006-12-26 2010-01-06 Jeol Ltd. Specimen holder for electron microscope
US7800077B2 (en) 2006-12-26 2010-09-21 Jeol Ltd. Specimen holder for electron microscope
JP2009087842A (ja) * 2007-10-02 2009-04-23 Jeol Ltd 電子顕微鏡用カートリッジ
JP2015056395A (ja) * 2013-09-13 2015-03-23 日立ハイテクノロジーズコリア株式会社 試料の断面観察に用いられる試料ホルダー及びその制御方法
CN106153622A (zh) * 2015-04-22 2016-11-23 北京大学深圳医院 玻璃化冷冻观察装置及其应用
JP2021057169A (ja) * 2019-09-30 2021-04-08 日本電子株式会社 試料チップ作業台及びリテーナ
US11679489B2 (en) 2019-09-30 2023-06-20 Jeol Ltd. Sample chip worktable and retainer

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