JPH04318478A - Ｉｃのハンドリング装置 - Google Patents
Ｉｃのハンドリング装置Info
- Publication number
- JPH04318478A JPH04318478A JP3085636A JP8563691A JPH04318478A JP H04318478 A JPH04318478 A JP H04318478A JP 3085636 A JP3085636 A JP 3085636A JP 8563691 A JP8563691 A JP 8563691A JP H04318478 A JPH04318478 A JP H04318478A
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- JP
- Japan
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- rank
- classification
- storage units
- operations
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- Granted
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- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract 2
- 238000009795 derivation Methods 0.000 claims description 15
- 238000012552 review Methods 0.000 claims description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＩＣの選別工程でＩＣテ
スタと対で使用されるＩＣのハンドリング装置に関する
。
スタと対で使用されるＩＣのハンドリング装置に関する
。
【０００２】
【従来の技術】メモリＩＣなどでは電気的特性に応じて
ランク分類を行うため、ＩＣテスタと接続して被測定Ｉ
Ｃのハンドリング並びに収納分類を行うハンドリング装
置（以下ハンドラと称する）では、収納ユニットを複数
備え、且つ各収納ユニットには個々にランク設定ができ
るようになっている。従来のハンドラでは、被測定ＩＣ
ロットの選別作業開始前に作業者が手動で収納ユニット
に対するランク設定を行っていた。この時各ランクの収
納ユニット数の決め方は、該当品種の設計に基ずくラン
ク派生率の予測で行っている。又前述した収納ユニット
は被測定ＩＣの収納できる数がきまっており、収納数が
この数に達すると収納満杯と称する警報を発し、テスト
システム（テスタとハンドラの構成のシステムを指す）
は一時的に中断し作業者の処置待ちとなり、この間テス
トシステムは稼働損を生じることになる。
ランク分類を行うため、ＩＣテスタと接続して被測定Ｉ
Ｃのハンドリング並びに収納分類を行うハンドリング装
置（以下ハンドラと称する）では、収納ユニットを複数
備え、且つ各収納ユニットには個々にランク設定ができ
るようになっている。従来のハンドラでは、被測定ＩＣ
ロットの選別作業開始前に作業者が手動で収納ユニット
に対するランク設定を行っていた。この時各ランクの収
納ユニット数の決め方は、該当品種の設計に基ずくラン
ク派生率の予測で行っている。又前述した収納ユニット
は被測定ＩＣの収納できる数がきまっており、収納数が
この数に達すると収納満杯と称する警報を発し、テスト
システム（テスタとハンドラの構成のシステムを指す）
は一時的に中断し作業者の処置待ちとなり、この間テス
トシステムは稼働損を生じることになる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】一般にランク派生率は
ロットによって変化する。前述したように従来のハンド
ラでは、ランクに対する収納ユニット数の割り当てかた
次第では満杯警報が頻繁に発生することになり、テスト
システムの稼働率低下の一因となる。本発明の目的は、
複数の分類収納ユニットに対するランク設定が任意の時
点で且つ自動的に行えるＩＣのハンドリング装置を提供
することにある。
ロットによって変化する。前述したように従来のハンド
ラでは、ランクに対する収納ユニット数の割り当てかた
次第では満杯警報が頻繁に発生することになり、テスト
システムの稼働率低下の一因となる。本発明の目的は、
複数の分類収納ユニットに対するランク設定が任意の時
点で且つ自動的に行えるＩＣのハンドリング装置を提供
することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のハンドリング装
置は、それぞれ暫定的に分類ランク割当てがなされた複
数の収納ユニットと、分類ランク派生率の予測計算を行
なうための作業数を設定するモニタ作業数設定部と、こ
の設定された作業数に測定作業数が達した時点で予測派
生率を見直し、前記分類ランク割当てを変更するＣＰＵ
とを備えている。
置は、それぞれ暫定的に分類ランク割当てがなされた複
数の収納ユニットと、分類ランク派生率の予測計算を行
なうための作業数を設定するモニタ作業数設定部と、こ
の設定された作業数に測定作業数が達した時点で予測派
生率を見直し、前記分類ランク割当てを変更するＣＰＵ
とを備えている。
【０００５】
【実施例】本発明について図面を参照して説明する。図
１は本発明の一実施例のハンドラ収納部概略図である。 被測定ＩＣロットの測定作業開始前に、モニタ作業数設
定部２に分類ランク派生率の予測計算するための作業数
を設定し、又各収納ユニット１ａ〜１ｆには暫定的なラ
ンク設定をしておき測定を開始する。測定結果のランク
に応じて測定済ＩＣは、そのランクが設定されている収
納ユニット１ａ〜１ｆに収納されると同時にランクカウ
ンタ３ａ〜３ｃをカウントアップし、この一連の動作を
測定作業数がモニタ作業数設定部２の数と同数になるま
で繰り返し、同数になったらその時点の作業数とランク
カウンタ３ａ〜３ｃの数から図示しないＣＰＵ等にて派
生率計算を行い、この結果より現測定ロットの予測派生
率が判明するため、最も効率的な派生率に応じて収納ユ
ニット１ａ〜１ｆのランク割り振り数を求め、且つ自動
的にランク設定の変更を行い、以後ロットの終了までは
この新たなランク設定の収納ユニット１ａ〜１ｆに分類
収納される。
１は本発明の一実施例のハンドラ収納部概略図である。 被測定ＩＣロットの測定作業開始前に、モニタ作業数設
定部２に分類ランク派生率の予測計算するための作業数
を設定し、又各収納ユニット１ａ〜１ｆには暫定的なラ
ンク設定をしておき測定を開始する。測定結果のランク
に応じて測定済ＩＣは、そのランクが設定されている収
納ユニット１ａ〜１ｆに収納されると同時にランクカウ
ンタ３ａ〜３ｃをカウントアップし、この一連の動作を
測定作業数がモニタ作業数設定部２の数と同数になるま
で繰り返し、同数になったらその時点の作業数とランク
カウンタ３ａ〜３ｃの数から図示しないＣＰＵ等にて派
生率計算を行い、この結果より現測定ロットの予測派生
率が判明するため、最も効率的な派生率に応じて収納ユ
ニット１ａ〜１ｆのランク割り振り数を求め、且つ自動
的にランク設定の変更を行い、以後ロットの終了までは
この新たなランク設定の収納ユニット１ａ〜１ｆに分類
収納される。
【０００６】さらに具体的に数値を当てはめて本実施例
を説明する。説明の便宜上、各収納ユニット１ａ〜１ｆ
は測定済ＩＣが１０個収納されたら満杯になるものとす
る。当然ながら満杯になった収納ユニット１ａ〜１ｆは
そのユニットから測定済ＩＣを取り出し、図示しないカ
ウンタのクリアー操作等にて再度収納が可能になるもの
である。モニタ作業数設定部２には、３０、つまり３０
個測定作業した時点でそのロットのランク派生率を予測
する。又ランク数は３ランクとする。今測定開始前の各
収納ユニット１ａ〜１ｆに対するランク設定を、図２の
ように収納ユニット１ａ、１ｂはランク１、収納ユニッ
ト１ｃ、１ｄはランク２、収納ユニット１ｅ、１ｆはラ
ンク３とし測定を開始する。図中、斜線部は測定済ＩＣ
が収納されていることを表わし、また斜線部の長さは収
納数量の数の大きさを表わしている。作業数が３０個に
達した時、ランクカウンタ３ａ〜３ｃにはそれぞれ１１
、１８、１がセットされていると、派生率はランク１よ
り順に３７％、６０％、３％となり、仮に派生率がこの
まま推移したとすると１００個の作業完了時ではランク
１が３７個、ランク２が６０個、ランク３が３個となっ
て、収納ユニット１ａ〜１ｆに対するランク設定が作業
開始前のままだと、ランク２が設定されている収納ユニ
ット１ｃ、１ｄは３回収納満杯警報が発せられテストシ
ステムは３回中断することになる。
を説明する。説明の便宜上、各収納ユニット１ａ〜１ｆ
は測定済ＩＣが１０個収納されたら満杯になるものとす
る。当然ながら満杯になった収納ユニット１ａ〜１ｆは
そのユニットから測定済ＩＣを取り出し、図示しないカ
ウンタのクリアー操作等にて再度収納が可能になるもの
である。モニタ作業数設定部２には、３０、つまり３０
個測定作業した時点でそのロットのランク派生率を予測
する。又ランク数は３ランクとする。今測定開始前の各
収納ユニット１ａ〜１ｆに対するランク設定を、図２の
ように収納ユニット１ａ、１ｂはランク１、収納ユニッ
ト１ｃ、１ｄはランク２、収納ユニット１ｅ、１ｆはラ
ンク３とし測定を開始する。図中、斜線部は測定済ＩＣ
が収納されていることを表わし、また斜線部の長さは収
納数量の数の大きさを表わしている。作業数が３０個に
達した時、ランクカウンタ３ａ〜３ｃにはそれぞれ１１
、１８、１がセットされていると、派生率はランク１よ
り順に３７％、６０％、３％となり、仮に派生率がこの
まま推移したとすると１００個の作業完了時ではランク
１が３７個、ランク２が６０個、ランク３が３個となっ
て、収納ユニット１ａ〜１ｆに対するランク設定が作業
開始前のままだと、ランク２が設定されている収納ユニ
ット１ｃ、１ｄは３回収納満杯警報が発せられテストシ
ステムは３回中断することになる。
【０００７】本実施例のハンドラでは、前述したように
作業数が３０個に達した時点で予測派生率に応じて収納
ユニット１ａ〜１ｂのランク設定を見直す。つまりこの
例ではランク１は６×０．３７で２ユニットの割り当て
、ランク２は６×０．６で３ユニットの割り当て、ラン
ク３は６×０．０３で１ユニットの割り当てとなり、３
０個の作業終了時点で収納ユニット１ａ〜１ｅには既に
測定済ＩＣが収納されているため、ここでは収納ユニッ
ト１ｆをランク３の設定からランク２の設定に変更し、
その後の測定を続ける。つまりランク２の収納数量は、
それまで２０個であったのが３０個に増加されたため、
前述のように作業数が１００個に達した時のランク２の
収納満杯警報は２回しか発せられず、システムの中断回
数が減少することになる。
作業数が３０個に達した時点で予測派生率に応じて収納
ユニット１ａ〜１ｂのランク設定を見直す。つまりこの
例ではランク１は６×０．３７で２ユニットの割り当て
、ランク２は６×０．６で３ユニットの割り当て、ラン
ク３は６×０．０３で１ユニットの割り当てとなり、３
０個の作業終了時点で収納ユニット１ａ〜１ｅには既に
測定済ＩＣが収納されているため、ここでは収納ユニッ
ト１ｆをランク３の設定からランク２の設定に変更し、
その後の測定を続ける。つまりランク２の収納数量は、
それまで２０個であったのが３０個に増加されたため、
前述のように作業数が１００個に達した時のランク２の
収納満杯警報は２回しか発せられず、システムの中断回
数が減少することになる。
【０００８】
【発明の効果】以上説明したように本発明のハンドリン
グ装置によれば、ロットの途中でランク派生率を推定し
、その結果に基づいて複数の収納ユニットへのランク設
定をより効率的に自動的に設定変更することができるた
め、テストシステムの中断回数が減少し稼働率向上の効
果が期待できる。
グ装置によれば、ロットの途中でランク派生率を推定し
、その結果に基づいて複数の収納ユニットへのランク設
定をより効率的に自動的に設定変更することができるた
め、テストシステムの中断回数が減少し稼働率向上の効
果が期待できる。
【図１】本発明の一実施例のハンドリング装置収納部概
略図である。
略図である。
【図２】図１の具体的説明の模式図である。
１ａ〜１ｆ 収納ユニット
２ モニタ作業数設定部
３ａ〜３ｃ ランクカウンタ
Claims (1)
- 【請求項１】 ＩＣテスタからの分類情報に基づき、
被測定ＩＣの分類収納を行うハンドリング装置において
、それぞれ暫定的に分類ランク割当てがなされた複数の
収納ユニットと、分類ランク派生率の予測計算を行なう
ための作業数を設定するモニタ作業数設定部と、この設
定された作業数に測定作業数が達した時点で予測派生率
を見直し、前記分類ランク割当てを変更するＣＰＵとを
備えたことを特徴とするＩＣのハンドリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3085636A JP3016269B2 (ja) | 1991-04-18 | 1991-04-18 | Ｉｃのハンドリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3085636A JP3016269B2 (ja) | 1991-04-18 | 1991-04-18 | Ｉｃのハンドリング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04318478A true JPH04318478A (ja) | 1992-11-10 |
| JP3016269B2 JP3016269B2 (ja) | 2000-03-06 |
Family
ID=13864319
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3085636A Expired - Lifetime JP3016269B2 (ja) | 1991-04-18 | 1991-04-18 | Ｉｃのハンドリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3016269B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001356145A (ja) * | 2000-06-13 | 2001-12-26 | Advantest Corp | 試験済み電子部品の分類制御方法 |
| JP2003075506A (ja) * | 2001-09-07 | 2003-03-12 | Yamaha Motor Co Ltd | 部品試験装置における部品収納方法および部品試験装置 |
-
1991
- 1991-04-18 JP JP3085636A patent/JP3016269B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001356145A (ja) * | 2000-06-13 | 2001-12-26 | Advantest Corp | 試験済み電子部品の分類制御方法 |
| JP4570208B2 (ja) * | 2000-06-13 | 2010-10-27 | 株式会社アドバンテスト | 試験済み電子部品の分類制御方法 |
| JP2003075506A (ja) * | 2001-09-07 | 2003-03-12 | Yamaha Motor Co Ltd | 部品試験装置における部品収納方法および部品試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3016269B2 (ja) | 2000-03-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19991124 |