JPH04314117A - 高速cmosバックパネルトランシーバ - Google Patents
高速cmosバックパネルトランシーバInfo
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- JPH04314117A JPH04314117A JP3255996A JP25599691A JPH04314117A JP H04314117 A JPH04314117 A JP H04314117A JP 3255996 A JP3255996 A JP 3255996A JP 25599691 A JP25599691 A JP 25599691A JP H04314117 A JPH04314117 A JP H04314117A
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- Japan
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- voltage
- transistor
- volts
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- transmission line
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/0185—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
- H03K19/018507—Interface arrangements
- H03K19/018521—Interface arrangements of complementary type, e.g. CMOS
- H03K19/018528—Interface arrangements of complementary type, e.g. CMOS with at least one differential stage
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/0185—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
- H03K19/018592—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only with a bidirectional operation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般に、コンピュータデ
ータ転送方式に関し、特に、マイクロプロセッサチップ
での使用に適した、データバスの、データ転送高速化手
段に関する。
ータ転送方式に関し、特に、マイクロプロセッサチップ
での使用に適した、データバスの、データ転送高速化手
段に関する。
【0002】
【従来の技術】相補型モス(CMOS)技術を利用した
、集積回路(IC)チップは、エミッタ結合形論理(E
CL)技術を利用したものに比して、低燃費であるため
、冷却する必要が余りなくしかも建造費が安い等の、多
くの利点を有している。
、集積回路(IC)チップは、エミッタ結合形論理(E
CL)技術を利用したものに比して、低燃費であるため
、冷却する必要が余りなくしかも建造費が安い等の、多
くの利点を有している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、CMOSチッ
プは、チップ内およびチップ間(バックパネル)作動速
度において、ECLチップより劣っている。ECPチッ
プが有する上記の利点は、概して、論理低高レベル(E
CLでは−1.7乃至−0.9ボルト、CMOSでは0
乃至5ボルト)間の、電圧の振れが小さく、かつインピ
ーダンス整合の結果である、伝送線効果が少ないがため
である。
プは、チップ内およびチップ間(バックパネル)作動速
度において、ECLチップより劣っている。ECPチッ
プが有する上記の利点は、概して、論理低高レベル(E
CLでは−1.7乃至−0.9ボルト、CMOSでは0
乃至5ボルト)間の、電圧の振れが小さく、かつインピ
ーダンス整合の結果である、伝送線効果が少ないがため
である。
【0004】従来のCMOSデータ転送方式はデータバ
スの振れをECLレベルに制限する、チップ内通信用で
あり、CMOS−ECL変換器およびECL−CMOS
変換器を使用している。従って、電圧の振れを制限して
、データ転送速度を上げるばかりでなく、設計要件に応
じて、標準的ECLレベル(ただし、CMOSレベル間
にある)以外の論理レベルでも作動し得る、CMOSチ
ップ間データ転送方式が求められている。本発明の目的
は、高速でデータ転送する、ICチップ間データ転送方
式を提供することにある。
スの振れをECLレベルに制限する、チップ内通信用で
あり、CMOS−ECL変換器およびECL−CMOS
変換器を使用している。従って、電圧の振れを制限して
、データ転送速度を上げるばかりでなく、設計要件に応
じて、標準的ECLレベル(ただし、CMOSレベル間
にある)以外の論理レベルでも作動し得る、CMOSチ
ップ間データ転送方式が求められている。本発明の目的
は、高速でデータ転送する、ICチップ間データ転送方
式を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明によると、データ転送バスを介して、第1
および第2論理レベルの信号を内部で使用するICチッ
プ間で、データ転送を行う、高速ICチップ間データト
ランシーバであって、データ転送バスを、第3論理レベ
ルに、プリチャージするプリチャージ手段、およびデー
タ転送バスを、第4論理レベルに引下げる引下げ手段、
から成り、前記第3・第4論理レベル間の、電圧の振れ
が、第1・第2論理レベル間の電圧の振れより小さくな
るようにしたことを特徴とする、高速ICチップ間デー
タトランシーバが提供されている。
めに、本発明によると、データ転送バスを介して、第1
および第2論理レベルの信号を内部で使用するICチッ
プ間で、データ転送を行う、高速ICチップ間データト
ランシーバであって、データ転送バスを、第3論理レベ
ルに、プリチャージするプリチャージ手段、およびデー
タ転送バスを、第4論理レベルに引下げる引下げ手段、
から成り、前記第3・第4論理レベル間の、電圧の振れ
が、第1・第2論理レベル間の電圧の振れより小さくな
るようにしたことを特徴とする、高速ICチップ間デー
タトランシーバが提供されている。
【0006】
【実施例】次に、添付図面を参照して、本発明の詳細を
説明する。図1および図2に、CMOS技術を用いると
共に論理高電圧及び論理低電圧の形でデータを転送する
データ転送バス又は伝送線(102)を用いた、高速I
Cチップ間データ転送方式(100)の、好適実施例を
示す。本実施例において、トランジスタは全て、接合電
界効果型(JFET)であり、pチャネル装置を示すゲ
ートにはバブルがあり、nチャネル装置を示すゲートに
はバブルがない。
説明する。図1および図2に、CMOS技術を用いると
共に論理高電圧及び論理低電圧の形でデータを転送する
データ転送バス又は伝送線(102)を用いた、高速I
Cチップ間データ転送方式(100)の、好適実施例を
示す。本実施例において、トランジスタは全て、接合電
界効果型(JFET)であり、pチャネル装置を示すゲ
ートにはバブルがあり、nチャネル装置を示すゲートに
はバブルがない。
【0007】データ信号を送受信できる、本発明による
同一型トランシーバ(104),(106),(108
)および(110)群は、例えば、100オームの特性
インピーダンス(20)を有する、伝送線(102)に
接続されている。方式(100)内に組み込めるトラン
シーバの数は任意である。トランシーバは全て同一型で
あるためトランシーバ(104)についてのみ、その詳
細を説明する。
同一型トランシーバ(104),(106),(108
)および(110)群は、例えば、100オームの特性
インピーダンス(20)を有する、伝送線(102)に
接続されている。方式(100)内に組み込めるトラン
シーバの数は任意である。トランシーバは全て同一型で
あるためトランシーバ(104)についてのみ、その詳
細を説明する。
【0008】好適実施例によると、伝送線(102)の
論理レベルは、2.5ボルト(論理的に高いもの)、お
よび1.6ボルト(論理的に低いもの)である。このた
め電圧の振れが小さくなるため、2つの論理状態間の、
伝送線遷移時間が早くなる。これは、通常のECL論理
レベル(すなわち−0.9ボルトおよび−1.7ボルト
)とは異なる点に留意されたい。
論理レベルは、2.5ボルト(論理的に高いもの)、お
よび1.6ボルト(論理的に低いもの)である。このた
め電圧の振れが小さくなるため、2つの論理状態間の、
伝送線遷移時間が早くなる。これは、通常のECL論理
レベル(すなわち−0.9ボルトおよび−1.7ボルト
)とは異なる点に留意されたい。
【0009】トランシーバ(104)は、接続点(11
2)で、伝送線(102)に接続されており、100オ
ーム抵抗器(114)で成端されている。抵抗器(R1
)(114)は、2.5ボルト電圧源に接続された、電
圧端子(116)に接続されている。符号(116)で
示す電圧源は、伝送線(102)を、2.5ボルトにプ
リチャージする、伝送線プリチャージの役目をしている
。伝送線(102)の他端にある、接続点(190)、
抵抗器(R2)(192)および端子(194)は、伝
送線を成端する役目をするが、その機能は、それぞれ、
素子(112)(114)及び(116)と等しい。上
記の通り、伝送線特性インピーダンスで、トランシーバ
を成端することにより、データ信号反射及び呼出信号(
ringing)を排除することができる。小さい電圧
の振れに加え、インピーダンス整合により、データ転送
速度が増す。
2)で、伝送線(102)に接続されており、100オ
ーム抵抗器(114)で成端されている。抵抗器(R1
)(114)は、2.5ボルト電圧源に接続された、電
圧端子(116)に接続されている。符号(116)で
示す電圧源は、伝送線(102)を、2.5ボルトにプ
リチャージする、伝送線プリチャージの役目をしている
。伝送線(102)の他端にある、接続点(190)、
抵抗器(R2)(192)および端子(194)は、伝
送線を成端する役目をするが、その機能は、それぞれ、
素子(112)(114)及び(116)と等しい。上
記の通り、伝送線特性インピーダンスで、トランシーバ
を成端することにより、データ信号反射及び呼出信号(
ringing)を排除することができる。小さい電圧
の振れに加え、インピーダンス整合により、データ転送
速度が増す。
【0010】トランシーバ(104)の、2大構成素子
は、送話器(118)と受話器(138)である。トラ
ンシーバへの、全内部電圧源はCMOSレベル、すなわ
ち5ボルト(高論理レベル)および0ボルト(低論理レ
ベル)にある。論理NORゲート(120)は、2つの
トランジスタ(128)(132)と共に、送話器(1
18)を構成している。NORゲート(120)には、
入力線(122)および(124)を介して、それぞれ
「作動可能データ(enable data)」信号
ED1/(低レベル活性信号)および「データ(dat
a)」信号D1が入力される。信号ED1/が高いと、
NORゲート(120)は、線(126)を介して、ト
ランジスタ(128)に、低レベル信号を出力する。こ
れにより、トランジスタ(128)は、オフ(非導通)
状態を保ち、送話器(118)をオフにする。こうして
伝送線(102)は、相対的に高い(2.5ボルト)論
理レベルになり、符号(104)で示す以外のトランシ
ーバは伝送線(102)を介して、自由にデータ伝送で
きるようになる。
は、送話器(118)と受話器(138)である。トラ
ンシーバへの、全内部電圧源はCMOSレベル、すなわ
ち5ボルト(高論理レベル)および0ボルト(低論理レ
ベル)にある。論理NORゲート(120)は、2つの
トランジスタ(128)(132)と共に、送話器(1
18)を構成している。NORゲート(120)には、
入力線(122)および(124)を介して、それぞれ
「作動可能データ(enable data)」信号
ED1/(低レベル活性信号)および「データ(dat
a)」信号D1が入力される。信号ED1/が高いと、
NORゲート(120)は、線(126)を介して、ト
ランジスタ(128)に、低レベル信号を出力する。こ
れにより、トランジスタ(128)は、オフ(非導通)
状態を保ち、送話器(118)をオフにする。こうして
伝送線(102)は、相対的に高い(2.5ボルト)論
理レベルになり、符号(104)で示す以外のトランシ
ーバは伝送線(102)を介して、自由にデータ伝送で
きるようになる。
【0011】しかし、信号ED1/が低レベルになると
、送話器の出力は、信号D1に、直接作用されるように
なる。(D1が高論理レベル(5ボルト)信号であると
すると、送話器は相対的に高い論理レベル(2.5ボル
ト)信号を出力し、反対に、D1が低論理レベル(0ボ
ルト)信号である場合は、相対的に低い論理レベル(1
.6ボルト)信号を出力する。)この作用は、以下の要
領で達成される。D1が、高論理レベル信号である場合
は、トランジスタ(128)が、非導通状態にあるため
、伝送線(102)は相対的に高い論理レベルにある。 D1が、低論理レベル信号である場合は、トランジスタ
(128)は導通状態になる。トランジスタ(132)
のゲートおよびドレンは、接続点(130)に接続され
、ソース電極は、接地(134)されている。先ず、ト
ランジスタ(128)に、2.5ボルト信号が印加され
ることにより、トランジスタ(132)が導通状態にな
り、伝送線の電圧を引下げる。トランジスタ(132)
は、通過電圧が、引下げ(pull−down)効果に
より低下すると、0ボルトではなく、1.6ボルトで、
導通しなくなるように寸法決めされている。従って、好
適実施例では伝送線電圧は、1.6ボルト以下にならな
い。
、送話器の出力は、信号D1に、直接作用されるように
なる。(D1が高論理レベル(5ボルト)信号であると
すると、送話器は相対的に高い論理レベル(2.5ボル
ト)信号を出力し、反対に、D1が低論理レベル(0ボ
ルト)信号である場合は、相対的に低い論理レベル(1
.6ボルト)信号を出力する。)この作用は、以下の要
領で達成される。D1が、高論理レベル信号である場合
は、トランジスタ(128)が、非導通状態にあるため
、伝送線(102)は相対的に高い論理レベルにある。 D1が、低論理レベル信号である場合は、トランジスタ
(128)は導通状態になる。トランジスタ(132)
のゲートおよびドレンは、接続点(130)に接続され
、ソース電極は、接地(134)されている。先ず、ト
ランジスタ(128)に、2.5ボルト信号が印加され
ることにより、トランジスタ(132)が導通状態にな
り、伝送線の電圧を引下げる。トランジスタ(132)
は、通過電圧が、引下げ(pull−down)効果に
より低下すると、0ボルトではなく、1.6ボルトで、
導通しなくなるように寸法決めされている。従って、好
適実施例では伝送線電圧は、1.6ボルト以下にならな
い。
【0012】受話器(138)は、基準電圧発生器(1
40)及び差動受信器又は増幅器(154)を備えてい
る。基準電圧発生器(140)は、周知要領で、線(1
46)に基準又は閾値電圧Vout を発生する、トラ
ンジスタ対(144)(150)で構成されている。図
からわかる様に、トランジスタ(144)は、端子(1
42)で、電圧源(VSS)に接続され、トランジスタ
(150)は、接地(152)されている。閾値電圧は
、好適実施例では2ボルトであり、伝送線電圧の振れの
ほぼ中心に相当する。すなわち、伝送線から受信される
、2ボルト以上の全電圧が、高論理レベル信号を反射し
、2ボルト以下の全電圧が、低論理レベル信号を反射す
るものと思われる。
40)及び差動受信器又は増幅器(154)を備えてい
る。基準電圧発生器(140)は、周知要領で、線(1
46)に基準又は閾値電圧Vout を発生する、トラ
ンジスタ対(144)(150)で構成されている。図
からわかる様に、トランジスタ(144)は、端子(1
42)で、電圧源(VSS)に接続され、トランジスタ
(150)は、接地(152)されている。閾値電圧は
、好適実施例では2ボルトであり、伝送線電圧の振れの
ほぼ中心に相当する。すなわち、伝送線から受信される
、2ボルト以上の全電圧が、高論理レベル信号を反射し
、2ボルト以下の全電圧が、低論理レベル信号を反射す
るものと思われる。
【0013】閾値電圧Vout は次式を用いて計算さ
れる。
れる。
【数1】
【0014】式中、VDDは供給電圧、Vtpはp型チ
ャネルトランジスタ閾値電圧、Vtnはn型チャネルト
ランジスタ閾値電圧、βは利得、βp はp型チャネル
トランジスタの利得、βn はn型チャネルトランジス
タの利得、μは電荷キャリヤの移動度、μp はp型チ
ャネルトランジスタの電荷キャリヤ移動度、μn はn
型チャネルトランジスタの電荷キャリア移動度、εはゲ
ート透過率、toxはゲート酸化物厚、Wはチャネル幅
、Wp はp型チャネルトランジスタのチャネル幅、W
n はn型チャネルトランジスタのチャネル幅、および
Lはチャネル長である。所望に応じて、VDD=5ボル
ト、Vtp=−1.2ボルト、Vtn=0.8ボルト、
Wn =16ミクロン、およびWp =12ミクロンと
置換すると、Vout =2.5ボルトとなる。
ャネルトランジスタ閾値電圧、Vtnはn型チャネルト
ランジスタ閾値電圧、βは利得、βp はp型チャネル
トランジスタの利得、βn はn型チャネルトランジス
タの利得、μは電荷キャリヤの移動度、μp はp型チ
ャネルトランジスタの電荷キャリヤ移動度、μn はn
型チャネルトランジスタの電荷キャリア移動度、εはゲ
ート透過率、toxはゲート酸化物厚、Wはチャネル幅
、Wp はp型チャネルトランジスタのチャネル幅、W
n はn型チャネルトランジスタのチャネル幅、および
Lはチャネル長である。所望に応じて、VDD=5ボル
ト、Vtp=−1.2ボルト、Vtn=0.8ボルト、
Wn =16ミクロン、およびWp =12ミクロンと
置換すると、Vout =2.5ボルトとなる。
【0015】閾値電圧Vout は、主に、トランジス
タ(156)(160)(168)(174)(178
)及び(182)で構成される差動受信器(154)に
供給される。受信器(154)は、線(113)を介し
て、伝送線(102)から受信したデータ信号と、閾値
電圧とを比較することにより、閾値を越えると低レベル
信号を出力し、閾値以下であると高レベル信号を出力す
る。トランジスタ(168)と(174)とはそれぞれ
端子(166)(172)を介して、電圧源Vssに接
続されている。信号ED1/(低レベル活性信号)は「
読出し可能(enable read)」信号であり
、活性時に、受信器(154)が、データ信号を受信で
きるようにし、不活性時に非作動状態にする。
タ(156)(160)(168)(174)(178
)及び(182)で構成される差動受信器(154)に
供給される。受信器(154)は、線(113)を介し
て、伝送線(102)から受信したデータ信号と、閾値
電圧とを比較することにより、閾値を越えると低レベル
信号を出力し、閾値以下であると高レベル信号を出力す
る。トランジスタ(168)と(174)とはそれぞれ
端子(166)(172)を介して、電圧源Vssに接
続されている。信号ED1/(低レベル活性信号)は「
読出し可能(enable read)」信号であり
、活性時に、受信器(154)が、データ信号を受信で
きるようにし、不活性時に非作動状態にする。
【0016】作動可能(イネーブル)状態において、線
(113)で受信したデータ信号が、閾値以下であると
、トランジスタ(156)はオフにされ、一方トランジ
スタ(178)は閾値電圧でオンされる。受信器は接続
点(158)に出力する。トランジスタ(178)が導
通されると、接続点(176)及び線(170)を介し
てトランジスタ(168)のゲート電圧が引下げられる
ため、トランジスタ(168)はオンになる。こうして
、端子(166)に接続された電圧源(Vss)の5ボ
ルトは、トランジスタ(168)によって、出力点(1
58)に送られる。
(113)で受信したデータ信号が、閾値以下であると
、トランジスタ(156)はオフにされ、一方トランジ
スタ(178)は閾値電圧でオンされる。受信器は接続
点(158)に出力する。トランジスタ(178)が導
通されると、接続点(176)及び線(170)を介し
てトランジスタ(168)のゲート電圧が引下げられる
ため、トランジスタ(168)はオンになる。こうして
、端子(166)に接続された電圧源(Vss)の5ボ
ルトは、トランジスタ(168)によって、出力点(1
58)に送られる。
【0017】線(113)で受信したデータ信号が、閾
値以上である場合は、トランジスタ(156)はオフに
なって、出力点(158)の電圧を引下げ、トランジス
タ(178)(168)をオフにする。ER1/が不活
性である場合、トランジスタ(160)は導通して、出
力点(158)の電圧を引下げる。すなわち、受信器は
、作動不能(ディスエーブル)にされると、一定の低論
理レベル信号を出力する。トランジスタ(182)は、
トランジスタ(156)(160)および(178)を
流れる電流の量を制限する限流器である。
値以上である場合は、トランジスタ(156)はオフに
なって、出力点(158)の電圧を引下げ、トランジス
タ(178)(168)をオフにする。ER1/が不活
性である場合、トランジスタ(160)は導通して、出
力点(158)の電圧を引下げる。すなわち、受信器は
、作動不能(ディスエーブル)にされると、一定の低論
理レベル信号を出力する。トランジスタ(182)は、
トランジスタ(156)(160)および(178)を
流れる電流の量を制限する限流器である。
【0018】インバータ(186)は、受信器(154
)の出力を反転させると共に、約0.9ボルト以下(受
信器の好適実施例に制限があるため)の低電圧を駆動す
る役目もする。該インバータは受信器(154)の出力
線、およびトランシーバ(104)の出力線に接続され
ている。図中、「DINI」は、受話器(138)が出
力するデータ信号である。
)の出力を反転させると共に、約0.9ボルト以下(受
信器の好適実施例に制限があるため)の低電圧を駆動す
る役目もする。該インバータは受信器(154)の出力
線、およびトランシーバ(104)の出力線に接続され
ている。図中、「DINI」は、受話器(138)が出
力するデータ信号である。
【0019】上記の通り、本発明好適実施例を説明した
が、本発明はこれに限定されるものではなく、特許請求
の範囲に記載されたその適用範囲を逸脱せずに、種々に
変形修正することができる。例えば、2.5ボルト以外
の電圧で伝送線をプリチャージできると共に、トランジ
スタ(132)については、1.6ボルト以外の電圧で
オフになるように寸法決めすることができる。さらに、
伝送線の電圧の振れが、好適実施例に示された以外の値
である場合は、基準電圧発生器が発する閾値電圧を2ボ
ルト以外の値にすることができる。
が、本発明はこれに限定されるものではなく、特許請求
の範囲に記載されたその適用範囲を逸脱せずに、種々に
変形修正することができる。例えば、2.5ボルト以外
の電圧で伝送線をプリチャージできると共に、トランジ
スタ(132)については、1.6ボルト以外の電圧で
オフになるように寸法決めすることができる。さらに、
伝送線の電圧の振れが、好適実施例に示された以外の値
である場合は、基準電圧発生器が発する閾値電圧を2ボ
ルト以外の値にすることができる。
【0020】
【発明の効果】本発明によると、電圧の振れを小さくで
きると共に、インピーダンスを整合させることができる
ため、データ転送の高速化を図れるばかりでなく、要件
に応じてECLレベル以外の論理レベルを用いることが
できる。
きると共に、インピーダンスを整合させることができる
ため、データ転送の高速化を図れるばかりでなく、要件
に応じてECLレベル以外の論理レベルを用いることが
できる。
【図1】本発明の好適実施例によるデータ転送方式の詳
細回路図である。
細回路図である。
【図2】本発明好適実施例によるデータ転送方式の概略
的ブロック線図である。
的ブロック線図である。
100 データ転送方式
102 データ伝送線
104,106,108,110 トランジスタ
112 接続点 114 抵抗器 116 電圧端子 118 送話器 120 NORゲート 122,124 入力線 126 線 128 トランジスタ 130 接続点 132 トランジスタ 134 接地点 138 受話器 140 基準電圧発生器 142 端子 144 トランジスタ 150 トランジスタ 152 接地点 154 受信器 156,160,168,174,178,182
トランジスタ 166,172 端子 158,176,190 接続点186
インバータ 192 抵抗器 194 端子
112 接続点 114 抵抗器 116 電圧端子 118 送話器 120 NORゲート 122,124 入力線 126 線 128 トランジスタ 130 接続点 132 トランジスタ 134 接地点 138 受話器 140 基準電圧発生器 142 端子 144 トランジスタ 150 トランジスタ 152 接地点 154 受信器 156,160,168,174,178,182
トランジスタ 166,172 端子 158,176,190 接続点186
インバータ 192 抵抗器 194 端子
Claims (1)
- 【請求項1】 データ転送バスを介して、第1及び第
2論理レベルの信号を内部使用する集積回路(IC)チ
ップ間でデータ転送する高速ICチップ間データトラン
シーバであって、前記データ転送バスを、第3論理レベ
ル電圧にプリチャージするプリチャージ手段、および前
記データ転送バスの電圧を、第4論理レベルに引下げる
引下げ手段から成り、前記第3・第4論理レベル間の電
圧の振れが、前記第1・第2論理レベル間の電圧の振れ
より小さいことを特徴とする高速ICチップ間データト
ランシーバ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/580,017 US5019728A (en) | 1990-09-10 | 1990-09-10 | High speed CMOS backpanel transceiver |
US580017 | 1995-12-20 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04314117A true JPH04314117A (ja) | 1992-11-05 |
Family
ID=24319308
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3255996A Pending JPH04314117A (ja) | 1990-09-10 | 1991-09-09 | 高速cmosバックパネルトランシーバ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5019728A (ja) |
EP (1) | EP0475711B1 (ja) |
JP (1) | JPH04314117A (ja) |
DE (1) | DE69120751T2 (ja) |
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- 1990-09-10 US US07/580,017 patent/US5019728A/en not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-09-09 DE DE69120751T patent/DE69120751T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-09-09 JP JP3255996A patent/JPH04314117A/ja active Pending
- 1991-09-09 EP EP91308226A patent/EP0475711B1/en not_active Expired - Lifetime
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DE69120751D1 (de) | 1996-08-14 |
EP0475711A2 (en) | 1992-03-18 |
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