JPH0427145A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH0427145A
JPH0427145A JP2132272A JP13227290A JPH0427145A JP H0427145 A JPH0427145 A JP H0427145A JP 2132272 A JP2132272 A JP 2132272A JP 13227290 A JP13227290 A JP 13227290A JP H0427145 A JPH0427145 A JP H0427145A
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JP
Japan
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heat radiation
heat
boards
heat sink
mold
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JP2132272A
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English (en)
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Tetsuya Otsuki
哲也 大槻
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
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    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
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    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 半導体装置の構造にかかり、さらに詳し熱板を有する半
導体装置に関する。
くは放 [従来の技術] 半導体装置は、・半導体チップ2の電気的特性の引き出
しのため、金線3によりリードフレーム4と接続されて
いる。この半導体チップ2.金85の保護を目的として
、通常樹脂1にて封止されている。また、半導体チップ
2からの熱を放出するため、各種方法が取られている。
第4図(α)は放熱フィン形パッケージの断面を示した
図であるが、第4図(α)では、半導体チップ2搭載部
(以下ダイパッド部と称する)をパッケージ側面部から
フィン状に露出させ放熱性を向上させたものである。放
熱フィン1Dは、リードと同一平面上に出されている。
第4図Cb)は放熱板内蔵パッケージ断面を示した図で
あるが、第4図(b)では、ダイパッド部面積を広(取
りパッケージ内部に封止することで放熱性を向上させる
。放熱板11は、面積が広くパッケージに内蔵されてい
る。
第4図(C)は放熱板露出形パッケージ断面を示した図
であるが、第4図(C)では、ダイパッド部を厚(し、
パッケージ表面に露出させ放熱性を向上させたものであ
る。放熱板12は、リードと垂直方向に出されている。
現在、これらのうち放熱性及び製造プロセスの容易性よ
り第4図(a)が広(用いられている。
[発明が解決しようとする課題] 半導体チップは高集積化、高出力化の傾向にあり、それ
に合わせて本来半導体チップの保護を目的とした封止に
おいても、放熱特性の向上要求が高まってきている。そ
のため、封止での放熱特性向上を目的とし、各種の方法
が考えられている。
第4図(α)は、放熱フィン10を用いて放熱性を向上
させるものであるが、放熱フィン1Dがリードと同列に
接地されているため、リードレイアウト上のロスが多く
、多端子出力の半導体チップには不適である。また、放
熱フィン1oがパッケージを横断しているため、樹脂1
と放熱フィン10との密着性低下による品質トラブルも
問題となっている。
第4図Cb)では、放熱板11がパッケージに内蔵され
ていることで、放熱効果を上げるものであり第4図(α
)に比べ、リードレイアウトへのロスがなく改善されて
いる。しかし、放熱板11が放熱性の悪い樹脂1にて包
まれているため高い放熱特性が見込めない。また、樹脂
1と放熱板11との密着性低下による品質トラブルも問
題となっている。
第4図(c)では、放熱板12をパッケージ表面に露出
させたものであり、高い放熱特性を得ることができる。
しかし、放熱板12はリードフレーム4に接着されてい
るのみであるため、機械強度的に弱い。そのため、封止
の際の圧力による放熱板12の傾きや、放熱板12上へ
の樹脂のまわり込みの問題もあった。また、樹脂1と放
熱板12との密着性低下による品質トラブルという問題
点があった。
そこで、本発明はこのような問題点を解決するもので、
その目的は高い放熱特性及び放熱板と樹脂との密着性向
上をはかることのできる半導体装置を提供することにあ
る。
[課題を解決するための手段] 本発明の半導体装置は、半導体素子の電極とリードフレ
ームのインナーリードとをそれぞれワイヤで接続し、前
記半導体素子から発生する熱を放出する放熱板と共に樹
脂等で封止してなる半導体装置において、前記放熱板を
装置上下部もしくは内部に複数枚有することを特徴とす
る。
L実施例] 本発明の詳細な説明するに当り、第3図に示したものと
、同一もしくは相当部分には同符号を使用し、説明を省
略する。
本発明の実施例を示す。第1図(α)は、半導体装置の
断面図であり、半導体チップ2は下面放熱板5bに直接
接着されており、上下の放熱板5a、5bは放熱板上に
複数配列された結合ピン6により接合されている。第1
図(b)は、下面放熱板5bとリードフレーム4の固定
方法及び半導体チップ2.金線5のレイアウトを示して
いる。
下面放熱板5bには、結合ビンとして凸型ピン6bが設
けられており、この凸型ピン6bを使用しリードフレー
ム4の固定を行なう。下面放熱板5bとリードフレーム
4の固定後、半導体チップ2及び金線5の接合を行なう
。第1図(C)は、上面放熱板5αリードフレーム4 
下面放熱板5bの固定方法を示したものである。金線5
による接続終了後、下面放熱板5bの凸ビン6bに上面
放熱板5αの凹ビン6αを合わせ、上下放熱板5α、5
bを結合固定する。第1図(d)は、封止の際の断面図
である。上下の放熱板5α、5bは、それぞれ封止金型
の上型7α下型7bに接し、金型クランプ時に金型内に
固定される。このため、樹脂注入の際の圧力による放熱
板5cL、5bの傾きがなく安定した品質が確保される
。また、放熱板5α、5bは樹脂1との接着力のみでは
な(、結合ビン6により固定されているため、密着性に
おいても向上される。さらに、放熱板が複数構造となっ
ているため放熱効果が向上される。
第2図、第5図に、他の実施例を示す。第2図は上下放
熱板8α、8dに加えダイパッド部に8b、f3dと8
hの間にさらに放熱板8Cを設は一四層構造となってい
る。また、第6図では上下放熱板9α、9cの形状を変
えダイパッド部に放熱板9Cを設けた三層構造のもので
ある。
したがって、放熱板の数、形状については自由に変化さ
せることが可能であり、放熱板の結合固定方法も用途に
応じて、接着、カシメ等可能である。また、放熱板の素
材についても、金属、セラミック、樹脂でも良い。
[発明の効果コ 以上の説明より、本発明では複数の放熱板を使用した半
導体装置を提供することにより、半導体チップから発せ
られる熱を放出する高い放熱性を得られるとともに、高
信頼性、高品質を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(α)は、本発明を示す断面図。第1図Cb)は
放熱板とリードフレームの位置関係を示した平面図。第
1図(C)は、上下放熱板とリードフレームの固定方法
を示した断面図。第1図(d)は、封止金型内での金型
と放熱板の位置関係を示した断面図。第2図は、放熱板
を四枚使用した実施例断面図。第6図は、放熱板を三枚
使用した実施例断面図。第4図(α)は、放熱フィンを
用いた放熱形パッケージを示した断面図。第4図(b)
は、放熱板を内蔵した放熱形パッケージを示す断面図。 第4図(1)は、露出形放熱板を用いた放熱形パッケー
ジを示す断面図。 1・・・・・・−・樹 脂 2・・・−・・・・半導体チップ 6・・・・・・・・・金 線 4・・・・・・・・・リードフレーム 5a・・・・・・放熱板 5b−・・・・・放熱板 6・・・・・・−・結合ピン 6α−・・・・凹ピン 6b−・・・凸ピン 7a−・−封止上型 h  −。 0−・ 1 ・・・ 2 ・・・ ・−封止下型 ・・・放熱板 ・−放熱板 一・放熱板 一放熱板 −・放熱板 −・放熱板 一放熱板 一放熱フィン ・・・放熱板 ・・・放熱板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体素子の電極とリードフレームのインナーリード
    とをそれぞれワイヤで接続し、前記半導体素子から発生
    する熱を放出する放熱板と共に樹脂等で封止してなる半
    導体装置において、前記放熱板を装置上下部もしくは内
    部に複数枚有することを特徴とする半導体装置。
JP2132272A 1990-05-22 1990-05-22 半導体装置 Pending JPH0427145A (ja)

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