JPH04270985A - 高エネルギー電子ビーム測定装置 - Google Patents
高エネルギー電子ビーム測定装置Info
- Publication number
- JPH04270985A JPH04270985A JP5356691A JP5356691A JPH04270985A JP H04270985 A JPH04270985 A JP H04270985A JP 5356691 A JP5356691 A JP 5356691A JP 5356691 A JP5356691 A JP 5356691A JP H04270985 A JPH04270985 A JP H04270985A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron beam
- optical fibers
- current distribution
- detection
- detection portion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 title claims abstract description 43
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 37
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は高エネルギー電子ビーム
の測定装置に関し、とくに電子ビームの電流分布の測定
が可能な電子ビーム測定装置に関する。
の測定装置に関し、とくに電子ビームの電流分布の測定
が可能な電子ビーム測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】高エネルギー電子ビームの形状、さらに
は、電子ビームの電流分布を測定することは、高エネル
ギー電子線を発生させる加算器等の建設・調整に欠くこ
とのできない手段である。この手段として、特開昭６３
−２３８５８６号，特開昭６３−２４１３７５号に新し
い方法が提案されている。その原理は、光ファイバに高
エネルギー電子を照射したとき、光ファイバの素材であ
る石英ガラスのなかでチェレンコフ光が発生するので、
この光を光ファイバに接続したホトダイオードにより電
気信号に変換し検出するというものである。
は、電子ビームの電流分布を測定することは、高エネル
ギー電子線を発生させる加算器等の建設・調整に欠くこ
とのできない手段である。この手段として、特開昭６３
−２３８５８６号，特開昭６３−２４１３７５号に新し
い方法が提案されている。その原理は、光ファイバに高
エネルギー電子を照射したとき、光ファイバの素材であ
る石英ガラスのなかでチェレンコフ光が発生するので、
この光を光ファイバに接続したホトダイオードにより電
気信号に変換し検出するというものである。
【０００３】図３に楕円状の拡がりをもつ電子ビーム１
を複数の光ファイバ２を並行に配列して検出する場合の
一例を示した。光ファイバ２の出力はホトダイオード３
により電気信号に変換し、次段の積分回路４に入力する
。積分回路４ではコンピュータ７からの指令９により、
測定の開始と同時に電気信号の積分を行い、測定の終了
後、積分値を保持する。この積分値をコンピュータ７か
らの指令８によりマルチプレクサ５にて切換えて読出し
、Ａ／Ｄ変換器６へ入力してディジタル信号としコンピ
ュータ７へ取込み、必要な処理を加える。この例で一つ
の光ファイバ２に対し電子ビーム１がある範囲にわたっ
て照射されると、光ファイバ２の出力は電子ビーム１の
存在範囲にわたる積分値を出力することになる。したが
って図３に示した座標系でいえば電子ビーム１のＹ方向
の電流分布は測定できるが、Ｘ方向の電流分布を知るこ
とはできない。
を複数の光ファイバ２を並行に配列して検出する場合の
一例を示した。光ファイバ２の出力はホトダイオード３
により電気信号に変換し、次段の積分回路４に入力する
。積分回路４ではコンピュータ７からの指令９により、
測定の開始と同時に電気信号の積分を行い、測定の終了
後、積分値を保持する。この積分値をコンピュータ７か
らの指令８によりマルチプレクサ５にて切換えて読出し
、Ａ／Ｄ変換器６へ入力してディジタル信号としコンピ
ュータ７へ取込み、必要な処理を加える。この例で一つ
の光ファイバ２に対し電子ビーム１がある範囲にわたっ
て照射されると、光ファイバ２の出力は電子ビーム１の
存在範囲にわたる積分値を出力することになる。したが
って図３に示した座標系でいえば電子ビーム１のＹ方向
の電流分布は測定できるが、Ｘ方向の電流分布を知るこ
とはできない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来技術は、電
子ビームの断面内の一つの方向について電流分布を測定
する手段を与えるが、二次元的な電流分布を知ることは
できない。本発明は、この電子ビームの断面内の二次元
的な電流分布を測定する手段を提供することを目的とす
る。
子ビームの断面内の一つの方向について電流分布を測定
する手段を与えるが、二次元的な電流分布を知ることは
できない。本発明は、この電子ビームの断面内の二次元
的な電流分布を測定する手段を提供することを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明では、複数の光ファイバを並行に配列した電
子ビームの検出部を作製し、この検出部の光ファイバの
方向を変えて電子線ビームを測定してその測定結果から
電子線ビーム断面内の電流分布を計算するという方法を
採用する。この方法はＸ線ＣＴで採用されている画像の
計測，再生の方法と基本的に同一である。
め、本発明では、複数の光ファイバを並行に配列した電
子ビームの検出部を作製し、この検出部の光ファイバの
方向を変えて電子線ビームを測定してその測定結果から
電子線ビーム断面内の電流分布を計算するという方法を
採用する。この方法はＸ線ＣＴで採用されている画像の
計測，再生の方法と基本的に同一である。
【０００６】
【作用】いま、電子ビーム断面内の電流分布を求めるベ
き点をｉで表わし、その点における電流値をｘｉ とす
る。上記の光ファイバから構成される検出部をある方向
に置いたとき、検出部のなかの一つの光ファイバをｊと
いう記号で区別し、このｊによって測定された電子ビー
ム照射時の出力値をｙｊ とする。ｘｉ ，ｙｊ の間
に次の関係がある。 ｙｊ＝Ｗｊ１ｘ１＋……ＷｊＭｘＭ（ｊ＝１，Ｎ）Ｗｊ
ｉは光ファイバの出力値ｙｊ に対する点ｉの寄与を示
し、光ファイバｊと点ｉの幾何学的位置関係から計算に
よって求めることができる。また、細い電子ビームを照
射して測定により求めることもできる。Ｍは電子ビーム
断面内の電流分布を求めるべき点の数、Ｎは検出部のな
かの測定に寄与する光ファイバの数と検出部の方向の設
定数とからきまる数である。Ｍ＜Ｎの関係を満すように
とり、上記の関係式から最小二乗法により電流分布を与
えるｘｉを求める。
き点をｉで表わし、その点における電流値をｘｉ とす
る。上記の光ファイバから構成される検出部をある方向
に置いたとき、検出部のなかの一つの光ファイバをｊと
いう記号で区別し、このｊによって測定された電子ビー
ム照射時の出力値をｙｊ とする。ｘｉ ，ｙｊ の間
に次の関係がある。 ｙｊ＝Ｗｊ１ｘ１＋……ＷｊＭｘＭ（ｊ＝１，Ｎ）Ｗｊ
ｉは光ファイバの出力値ｙｊ に対する点ｉの寄与を示
し、光ファイバｊと点ｉの幾何学的位置関係から計算に
よって求めることができる。また、細い電子ビームを照
射して測定により求めることもできる。Ｍは電子ビーム
断面内の電流分布を求めるべき点の数、Ｎは検出部のな
かの測定に寄与する光ファイバの数と検出部の方向の設
定数とからきまる数である。Ｍ＜Ｎの関係を満すように
とり、上記の関係式から最小二乗法により電流分布を与
えるｘｉを求める。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１，図２により
説明する。この実施例では電子ビームの測定範囲１１を
直径２０ｍｍの円内とし、電流分布を求めるべき点を２
×２ｍｍ２ 角として測定範囲の円内に定義する。電流
分布を求めるべき点の数は８８である。図２は本発明の
中心をなす電子ビームの検出体１２を示す。この検出体
１２は複数の光ファイバ２を並行に配列した検出部１０
を１２層重ねて作製されている。各々の検出部１０内の
光ファイバ２の方向は順次１５゜ずつ向きを変えるよう
に配置されている。これによって光ファイバ２の方向は
０゜〜１８０゜範囲の１２方向に存在することになる。 検出体１２の厚さが大きくなると検出体１２の電子ビー
ムの出射側で電子の散乱により電子ビームの電流分布が
拡がったようになるので、できるだけ薄い検出体１２が
望ましい。したがって光ファイバ２の方向を多くとるこ
とには限界がある。このことにより検出部１０内の光フ
ァイバ２の数にも制限が生ずるが、電子ビームに対する
検出感度を高めるため多数の光ファイバ２を配列し、隣
接する光ファイバ２をまとめて一つのホトダイオード３
に接続するようにする。
説明する。この実施例では電子ビームの測定範囲１１を
直径２０ｍｍの円内とし、電流分布を求めるべき点を２
×２ｍｍ２ 角として測定範囲の円内に定義する。電流
分布を求めるべき点の数は８８である。図２は本発明の
中心をなす電子ビームの検出体１２を示す。この検出体
１２は複数の光ファイバ２を並行に配列した検出部１０
を１２層重ねて作製されている。各々の検出部１０内の
光ファイバ２の方向は順次１５゜ずつ向きを変えるよう
に配置されている。これによって光ファイバ２の方向は
０゜〜１８０゜範囲の１２方向に存在することになる。 検出体１２の厚さが大きくなると検出体１２の電子ビー
ムの出射側で電子の散乱により電子ビームの電流分布が
拡がったようになるので、できるだけ薄い検出体１２が
望ましい。したがって光ファイバ２の方向を多くとるこ
とには限界がある。このことにより検出部１０内の光フ
ァイバ２の数にも制限が生ずるが、電子ビームに対する
検出感度を高めるため多数の光ファイバ２を配列し、隣
接する光ファイバ２をまとめて一つのホトダイオード３
に接続するようにする。
【０００８】図２の実施例では一層の検出部１０を１０
本の光ファイバ２でまとめている。したがって検出体全
体では１２×１０＝１２０の出力信号を観測することに
なる。この結果、１２０の光ファイバ２の出力値を得て
８８の電流値を計算することになる。上記のことを前述
の観測方程式で表わせば次のようになる。 この方程式から最小二乗法によりｘｉ を求めればよい
。 図１は本発明に基づく電子ビーム測定装置を示す。この
装置の動作はコンピュータ７の動作を除いてすでに図３
の従来技術で説明したところと変らないので省略する。 上述の光ファイバの出力値ｙｊ から電子ビーム断面内
の電流分布ｘｉ を求める計算はコンピュータ７で実行
される。
本の光ファイバ２でまとめている。したがって検出体全
体では１２×１０＝１２０の出力信号を観測することに
なる。この結果、１２０の光ファイバ２の出力値を得て
８８の電流値を計算することになる。上記のことを前述
の観測方程式で表わせば次のようになる。 この方程式から最小二乗法によりｘｉ を求めればよい
。 図１は本発明に基づく電子ビーム測定装置を示す。この
装置の動作はコンピュータ７の動作を除いてすでに図３
の従来技術で説明したところと変らないので省略する。 上述の光ファイバの出力値ｙｊ から電子ビーム断面内
の電流分布ｘｉ を求める計算はコンピュータ７で実行
される。
【０００９】
【発明の効果】本発明によれば、以上説明したように、
電子ビーム断面内の電流分布を二次元的に測定すること
ができる。とくに、複数の光ファイバを並行に配列した
検出部を複数層重ねて検出体を構成した場合は電子ビー
ムの測定部として比較的簡単な構成をもつものとなり、
取扱いがし易く応用範囲も広い。しかも電流分布の計算
に必要な測定値を同時に収集することができる。
電子ビーム断面内の電流分布を二次元的に測定すること
ができる。とくに、複数の光ファイバを並行に配列した
検出部を複数層重ねて検出体を構成した場合は電子ビー
ムの測定部として比較的簡単な構成をもつものとなり、
取扱いがし易く応用範囲も広い。しかも電流分布の計算
に必要な測定値を同時に収集することができる。
【図１】本発明の一実施例の電子ビーム測定装置の構成
を示す図。
を示す図。
【図２】図１の電子ビームを検出する機能をもつ検出体
を示す図。
を示す図。
【図３】従来技術による光ファイバによる電子ビーム測
定装置を示す図。
定装置を示す図。
１ 電子ビーム
１′電子ビーム
２ 光ファイバ
３ ホトダイオード
４ 積分回路
５ マルチプレクサ
６ Ａ／Ｄ変換器
７ コンピュータ
８ コンピュータからの制御信号
９ コンピュータからの制御信号
１０ 検出部
１１ 電子ビーム測定装置の測定範囲１２ 検出体
Claims (1)
- 【請求項１】並行に配列した複数の光ファイバからなる
電子ビームの検出部を複数層積重ね、各検出部の光ファ
イバの方向が異なるように配置した電子ビームの検出体
と、光ファイバの出力値を測定し、その測定値から電子
ビームの電流分布を計算する手段とから構成された高エ
ネルギー電子ビーム測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5356691A JPH04270985A (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | 高エネルギー電子ビーム測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5356691A JPH04270985A (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | 高エネルギー電子ビーム測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04270985A true JPH04270985A (ja) | 1992-09-28 |
Family
ID=12946376
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5356691A Pending JPH04270985A (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | 高エネルギー電子ビーム測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04270985A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11271459A (ja) * | 1998-03-26 | 1999-10-08 | Jeol Ltd | ビームの測定方法 |
| WO2007141895A1 (ja) * | 2006-06-06 | 2007-12-13 | Niigata University | 空気中のラドン及びトロンの測定方法 |
| CN103376460A (zh) * | 2012-04-28 | 2013-10-30 | 中国科学院电子学研究所 | 一种强流电子注分析仪的电子注截面测量系统 |
-
1991
- 1991-02-27 JP JP5356691A patent/JPH04270985A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11271459A (ja) * | 1998-03-26 | 1999-10-08 | Jeol Ltd | ビームの測定方法 |
| WO2007141895A1 (ja) * | 2006-06-06 | 2007-12-13 | Niigata University | 空気中のラドン及びトロンの測定方法 |
| JPWO2007141895A1 (ja) * | 2006-06-06 | 2009-10-15 | 国立大学法人 新潟大学 | 空気中のラドン及びトロンの測定方法 |
| US7642520B2 (en) | 2006-06-06 | 2010-01-05 | Niigata University | Method for measuring randon and thoron in air |
| JP4649670B2 (ja) * | 2006-06-06 | 2011-03-16 | 国立大学法人 新潟大学 | 空気中のラドン及びトロンの測定方法 |
| CN103376460A (zh) * | 2012-04-28 | 2013-10-30 | 中国科学院电子学研究所 | 一种强流电子注分析仪的电子注截面测量系统 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3332932B2 (ja) | 指向性放射線検出装置及び撮像装置 | |
| RU2180439C2 (ru) | Способ получения изображения внутренней структуры объекта с использованием рентгеновского излучения и устройство для его осуществления | |
| JP4338177B2 (ja) | ３次元放射線位置検出器 | |
| JP4619985B2 (ja) | 放射線検出器および放射線検査装置 | |
| JP2014232119A (ja) | ３次元陽子コンピュータ断層撮影のための高性能計算（ｈｐｃ−ｐｃｔ） | |
| US4392057A (en) | Position-sensitive radiation detector | |
| JP6057207B2 (ja) | 放射線位置検出器 | |
| JP3427584B2 (ja) | 広域型放射線検出器 | |
| CN101553880A (zh) | 用于改进初级准直器的系统和方法 | |
| JPS60159675A (ja) | 放射線検出器 | |
| JPS59151043A (ja) | Ｘ−線分析装置 | |
| JPH04270985A (ja) | 高エネルギー電子ビーム測定装置 | |
| JP3220239B2 (ja) | 放射線検出器 | |
| JPH09318757A (ja) | 放射線検出器 | |
| CN205506718U (zh) | 双能探测器装置、系统 | |
| JP5446011B2 (ja) | ガンマ線検出器、放射線診断装置、断層像撮影装置、その解析方法、コンピュータプログラム及び記憶媒体 | |
| JPH06109855A (ja) | Ｘ線検出器 | |
| JPH08606A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JPS6128885A (ja) | 中性子線検出器のフイルタの最適化方法 | |
| JP4519432B2 (ja) | シンチレーション検出器 | |
| JPS6173083A (ja) | 時経過陽電子放射カメラによる放射線検出方法及びその実施に使用するカメラ | |
| JPS62203078A (ja) | 放射線位置検出器 | |
| JP2001255380A (ja) | 放射線検出器とその製造方法及びｘ線ｃｔ装置のデータ補正方法 | |
| WO2012095981A2 (ja) | 放射線検出器の放射線検出位置弁別用応答関数作成方法、装置及び放射線位置弁別方法、装置 | |
| Ho | Experimental studies of electron-positron annihilation into four-lepton final states at center-of-mass energies from 50 to 61. 4 Ge V |