JPH04264801A - 同軸誘電体共振器 - Google Patents

同軸誘電体共振器

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Publication number
JPH04264801A
JPH04264801A JP2472791A JP2472791A JPH04264801A JP H04264801 A JPH04264801 A JP H04264801A JP 2472791 A JP2472791 A JP 2472791A JP 2472791 A JP2472791 A JP 2472791A JP H04264801 A JPH04264801 A JP H04264801A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dielectric resonator
short
coaxial
coaxial dielectric
dielectric ceramic
Prior art date
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Pending
Application number
JP2472791A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsunori Ueno
勝範 上野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は高周波フィルター、高周
波発振器等に用いられる同軸誘電体共振器に関するもの
である。 【0002】 【従来の技術】図2は従来の一般的な同軸誘電体共振器
を示したものである。図において、1は誘電体セラミッ
クスであり、中央に円筒状の孔2を有する直方体形状に
焼結される。3は電極層であり、外導体4、内導体5お
よび短絡端6が、銀ペーストの焼付けによって形成され
る。すなわち、銀粉末にガラスフリット、有機バインダ
および溶剤を混合しペースト状に形成した銀ペーストを
、印刷、筆塗りあるいはディップ等の方法で誘電体に付
着させたのち、800℃前後の高温で焼付けされる。 7は電極層を形成しない開放端である。 【0003】ところで、高周波用の誘電体共振器には高
いQが要求される。誘電体共振器の無負荷QをQu誘電
体セラミック材料のQをQd電極の導体損によるQをQ
e、放 射損によるQをQrとすると、Quは次式で示
される。 【0004】 【数1】 【0005】通常、Qdは10,000〜20,000
程度であり、Qeは数百程度である。また、誘電体共振
器が開放端以外の面が全て導体で被われている場合、Q
rは無限大となる。従 って、Qeの値がQuに大きく
影響する。電極を構成する金属の導電率が高いほどQe
は高くなるため、高いQuを実現するためには電極の導
電率を高くする必要がある。 【0006】上述の従来技術においては、銀ペーストは
密着性を得るためにガラスフリットの混入が不可欠であ
り、これにより、銀本来の導電率6.06×105(Ω
−1cm−1)が20〜30%低下するため、Quが低
くなるという欠点がある。また、上述の従来 技術では
、外導体4、内導体5および短絡端6の合計6面に電極
を形成する必要があるが、構造が複雑なため、銀ペース
トを塗布する際の作業性が悪く量産に適さない。さらに
、塗りむらが発生しやすくQuの低下や、素子間でのば
らつきを 生じるという欠点があった。 【0007】このような理由から、例えば特開昭64−
77840号公報(H01J23/20)に記載されて
いる如く、最近では銀ペーストを塗布する代わりに、誘
電体セラミック上に無電解メッキにより銅被膜を形成す
る方法が提案されている。この従来技術では、■誘電体
セラミックの脱脂工程(セラミック表面を洗浄し界面活
性剤により濡れ性をよくする。)■エッチング工程(フ
ッ酸、硝酸、塩酸等の混合液にて表面を粗化する。) ■活性化工程(触媒を付与する。) ■メッキ工程(硫酸銅、EDTA、ホルマリン、NaO
H等を含むメッキ浴。) ■水洗、乾燥工程 等の工程よりなる。 【0008】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来技術に示されるように、無電解メッキにより銅被膜を
形成した誘電体共振器では、以下の理由により、素子間
でQuのばらつきが大き くなるという問題がある。 【0009】すなわち、■の活性化工程により誘電体セ
ラミックは、まず塩化第1錫にて感受性化され、次に塩
化パラジウム等で活性化されるが、いずれも水溶液中に
誘電体セラミックをディッピングし表面に吸着させる事
によって行われる。このとき各々の触媒は誘電体セラミ
ックの全表面に均一には吸着せず、図3に示すように各
面によって形成される稜線部8、9、10には触媒11
があまり吸着しない。このため、メッキ反応に必要な触
媒が十分に得られず、図4に示すように、電極層3が形
成されない部分が生じたり、膜厚のむらが発生したりし
、これらによって導電体損Qeが大きくばらつき、その
結果、各素子間でQuのばらつきが大きくなるのである
。 【0010】 【課題を解決するための手段】本発明は上述の従来技術
の欠点を改善するものであり、高周波用誘電体セラミッ
ク上に無電解メッキによる銅被膜電極を形成してなる同
軸誘電体共振器において、外導体面と短絡端面とによっ
て形成される稜線部および内導体面と短絡端面とによっ
て形成される稜線部に導電体層を設けたことを特徴とす
るものである。 【0011】 【作用】電極層が形成されにくい外導体面と短絡端面と
によって形成される稜線部、および内導体面と短絡端面
とによって形成される稜線部に導電体層を設けることに
より電極層の不形成を補い、これによってQuのばらつ
きを押さえるのである。  【0012】 【実施例】以下本発明の実施例を図面によって説明する
。図1は本発明による同軸誘電体共振器である。図にお
いて、1は誘電体セラミックスであり、中央に円筒状の
孔2を有する直方体形状に焼結される。3は電極層であ
り、従来技術と同様の無電解銅メッキによって全ての面
に形成され、その後、一面の銅箔を研摩剥離することに
よって開放端7を形成している。12は外導体面4と短
絡端面6とによって形成される稜線部、および内導体面
5と短絡端面6とによって形成される稜線部に設けられ
た導電体層である。導電体層12は例えば半田付け、導
電性ペーストの塗布、銅の溶射等によって形成する。 【0013】表1は本発明による同軸誘電体共振器と従
来技術とのQuを比較したものであ る。本実施例、従
来技術とも、誘電体セラミックの材料としてQdが20
,000のも のを用い、焼結後の寸法として、一辺の
長さ3mm、共振器長4.8mmとし、無電解 メッキ
工程により約10μの銅をメッキした。なお、各試料数
は10とした。 【0014】 【表1】 【0015】導電体層を設けていない従来技術による同
軸誘電体共振器では、最小のQuが 343、最大のQ
uは392であり、その差は49と大きい。これに対し
本発明 によるQuの最大と最小の差は7であり、各試
料間でのばらつきが少ない。また 平均のQuも従来技
術に比べて大きい。 【0016】 【発明の効果】本発明による同軸誘電体共振器は、各素
子間でQuのばらつきが少なくなり、 この結果、誘電
体共振器としての高周波特性のばらつきを小さくするこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による同軸誘電体共振器の断面図である
【図2】従来の同軸誘電体共振器の部分断面図である。
【図3】従来の同軸誘電体共振器のメッキ工程を示す断
面図である。
【図4】従来の同軸誘電体共振器の断面図である。
【符号の説明】
1      誘電体セラミック 3      銅被膜電極 4      外導体面 5      内導体面 6      短絡端面 12      導電体層

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  高周波用誘電体セラミック上に無電解
    メッキによる銅被膜電極を形成してなる同軸誘電体共振
    器において、外導体面と短絡端面とによって形成される
    稜線部および内導体面と短絡端面とによって形成される
    稜線部に導電体層を設けたことを特徴とする同軸誘電体
    共振器。
JP2472791A 1991-02-19 1991-02-19 同軸誘電体共振器 Pending JPH04264801A (ja)

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