JPH04246B2 - - Google Patents

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JPH04246B2
JPH04246B2 JP58193917A JP19391783A JPH04246B2 JP H04246 B2 JPH04246 B2 JP H04246B2 JP 58193917 A JP58193917 A JP 58193917A JP 19391783 A JP19391783 A JP 19391783A JP H04246 B2 JPH04246 B2 JP H04246B2
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Tsutomu Aoyama
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Mitutoyo Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、載物台上の測定対象物に光を投射
し、該測定対象物からの透過光又は反射光によ
り、測定対象物の影像をスクリーン上に拡大投影
する投影検査機の改良に関する。
従来この種投影機は、載物台上の測定対象物を
平行な光線により照射して、その透過光又は反射
光に基づきスクリーン上に該測定対象物の投影像
を結像させ、この結像から測定対象物の寸法形状
等を測定するものであるが、スクリーンに投影さ
れた画像のエツジ(端部)は一般的にいわゆるに
じみがあり、従つて、載物台上の測定対象物を移
動させ、そのスクリーン上の画像とヘアラインと
の一致から測定値を正確に読み込むことは困難で
ある。
かかる問題点を解消するために、従来は、画像
のエツジを横切つて光電素子を相対移動させるこ
とにより、光電素子の受光面に投影された像の明
部と暗部との面積の割合の変化に基づき光電素子
から出力する電気信号の大きさの変化を、参照電
圧と比較して、投影画像の端部を検出するものが
ある。
しかしながら、この方法は、外乱光等の影響が
大きいと共に、光電素子から得られる信号又は参
照電圧の変動による測定精度の低下が大きいとい
う問題点がある。
更に、スクリーン上の投影画像の境界(エツ
ジ)に対して光電素子を相対移動させ、その時の
出力信号を2段微分して波形信号を得、これと参
照電圧との比較によつてエツジを検出するものが
あるが、光電素子と投影画像との相対移動速度の
大小によつて、検出されるエツジの位置が異なる
ことがあり、更に、前記と同様に参照電圧の変動
による測定精度の低下が大きいという問題点があ
る。
更に、光電素子を2個配置して、これを投影画
像のエツジに対して相対移動させ、これにより得
られた複数の出力信号から波形の信号を得、これ
と参照電圧との比較によつてエツジを検出するも
のがあるが、前記と同様に光電素子から得られた
出力信号と参照電圧との相対変化、レベル変動等
から測定が非常に不安定となり、更に、照射光線
の照度に対する適用範囲が狭く、又、測定態様が
限定され且つ、センサー部あるいは回路部分が複
雑になるという問題点がある。
特に、投影機においては、照射用の光源ランプ
の疲労、投影系のレンズ特性、外乱光によりスク
リーン上の投影画像の明るさが変化し、又、投影
倍率の切替により投影画像の明るさが変化した
り、更には測定者側の条件として、例えば測定者
の瞳の色(人種により異なる)により作業に好適
な明るさが異なるため、これを適宜に選択しなけ
ればならないが、前記のように照射光線の照度に
対する適用範囲が狭いと、結果として投影機の能
力を低下させてしまうことになる。
これに対して、本出願人は特願昭57−56372号
により、透過光又は反射光を検出して、直接的又
は間接的に測定対象物の寸法測定をするための光
学式測定機器におけるエツジ検出装置において、
前記測定対象物との相対移動時に生ずる明暗に基
づき、少なくとも2組の位相ずれ信号を発生する
よう移動面と略平行な面内に配設された4個の受
光素子からなるセンサーと、前記各組の位相ずれ
信号の差を演算する第1及び第2の演算手段と、
これら第1及び第2の演算手段の出力信号の差を
演算する第3の演算手段及び和を演算する第4の
演算手段と、この第4の演算手段の出力信号が所
定レベルにある間に生じる、前記第3の演算手段
の出力信号と基準レベルのクロス信号を出力する
検知手段を設けたことを特徴とする光学式測定機
器におけるエツジ検出装置を提案している。
この発明は、測定対象物を照射する光強度、測
定中の外乱光、光電素子の出力信号あるいは参照
電圧の変動等による影響を伴なうことなく、しか
も簡単な構成で、測定対象物のエツジを検出する
ことができるが、これは、投影画像のエツジ部に
一定割合以上の光量変化即ち光傾斜があることを
前提とするものであるため、投影画像がいわゆる
ピンボケの場合、該光傾斜が小さ過ぎて、前記受
光素子からなるセンサによつては正確なエツジの
検出が困難となる場合がある。
ここで、投影画像のピント合わせは、従来の投
影検査機におけると同様に、作業者が載物台を上
下させて、スクリーン上の映像を目視しつつ調整
するものであり、従つて、作業者によつてピント
合わせにばらつきが生じたり、その作業に長い時
間を要することがあるという問題点があつた。
この発明は上記問題点に鑑みてなされたもので
あつて、投影検査機におけるスクリーン上の映像
のピント合わせを半自動又は自動的に行うことが
できるようにした投影検査機を提供することを目
的とする。
この発明は、載物台上の測定対象物に光を投射
し、該測定対象物からの透過光又は反射光によ
り、測定対象物の投影画像をスクリーン上に拡大
投影する投影検査機において、前記スクリーン上
の投影画像との相対移動時に生ずる明暗に基づ
き、2組の位相ずれ信号を発生するよう移動面と
略平行な面内に配設された4個の受光素子からな
るセンサーと、前記センサーが前記スクリーン上
の投影画像のエツジをX方向又はY方向に横切る
とき、先行して前記エツジを横切る受光素子と2
番目及び3番目に横切る受光素子の一方との出力
信号の差を演算する第1の演算手段と、前記2番
目及び3番目に横切る受光素子の他方と4番目に
横切る受光素子との出力信号の差を演算する第1
及び第2の演算手段と、これら第2の演算手段の
出力信号から前記投影画像における明暗の変化率
を演算する第3の演算手段と、この第3の演算手
段の出力信号と基準信号とを比較すると共に、比
較結果を、前記載物台を移動しピント合せを行う
ための駆動信号として出力する比較器と、を含む
ピント検出装置を設けることにより上記目的を達
成するものである。
又この発明は、載物台上の測定対象物に光を投
射し、該測定対象物からの透過光又は反射光によ
り、測定対象物の投影画像をスクリーン上に拡大
投影する投影検査機において、前記スクリーン上
の投影画像との相対移動時に生ずる明暗に基づ
き、2組の位相ずれ信号を発生するよう移動面と
略平行な面内に配設された4個の受光素子からな
るセンサーと、前記センサーが前記スクリーン上
の投影画像のエツジをX方向又はY方向に横切る
とき、先行して前記エツジを横切る受光素子と2
番目及び3番目に横切る受光素子の一方との出力
信号の差を演算する第1の演算手段と、前記2番
目及び3番目に横切る受光素子の他方と4番目に
横切る受光素子との出力信号の差を演算する第1
及び第2の演算手段と、これら第2の演算手段の
出力信号から前記投影画像における明暗の変化率
を演算する第3の演算手段と、この第3の演算手
段の出力信号と基準信号とを比較して、結果を出
力する比較器と、を含むピント検出装置と;この
ピント検出装置の出力信号に応じて、前記載物台
を移動し、前記投影画像のピント合わせを行う駆
動装置と;を設けることにより上記目的を達成す
るものである。
又、前記駆動装置を、前記ピント検出装置にお
ける前記比較器の出力信号が直接入力され、且
つ、この出力信号に基づき前記載物台の移動量を
制御する移動装置を含んで構成することにより上
記目的を達成するものである。
又、前記第3の演算手段を、演算結果の最大値
をホールドするホールド手段を備えて構成するこ
とにより上記目的を達成するものである。
この発明において、スクリーン上の映像のピン
ト合わせは、ピント検出装置の出力信号を参照し
つつ半自動的に又はその出力信号に応じて駆動装
置により載物台を移動して自動的に行うものであ
る。
以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
この実施例は、第1図乃至第4図に示されるよ
うに、光源ランプ1からの光をコンデンサレンズ
2を介して載物台3の下方から、あるいは他の光
路を介して載物台3の上方から、該載物台3上の
測定対象物4を照射して、その透過光又は反射光
に基づき、投影レンズ5を介してスクリーン6上
に、測定対象物4の投影画像4Aを結像させ、こ
の投影画像により、間接的に測定対象物4の寸法
測定等をするための投影機Pにおいて、前記測定
対象物4との相対移動時に生ずる明暗に基づき、
2組の位相ずれ信号を発生するよう移動面と略平
行な面内に配設された4個の受光素子7A,7
B,7C,7Dからなるセンサー7と、前記各組
の位相ずれの信号の差を演算する第1及び第2の
演算手段8及び9と、これら第1及び第2の演算
手段8及び9の出力信号の差を演算して、前記投
影画像4Aにおける明暗の変化率を検出する第3
の演算手段10と、この第3の演算手段10の出
力信号と基準信号とを比較する比較器12と、を
含むピント検出装置11と;このピント検出装置
11の出力信号に応じて、前記載物台3を移動
し、前記投影画像4Aのピント合わせを行う駆動
装置13と;を設けたものである。
前記センサー7は、第1図に示されるように、
投影機Pのスクリーン6の上面にこれと平行にか
つ摺動可能に載置された透明板14と一体的に設
けられている。
又、前記センサー7における4個の受光素子7
A乃至7Dは前記投影機Pにおけるスクリーン6
上の、相互に直交する2本の直線即ちX軸及びY
軸上に、その交点の両側に各々2個配置されてい
る。
前記センサー7の受光素子7A乃至7Dの前記
X軸及びY軸上の配列は、受光素子7A及び7D
がX軸上に、又受光素子7B,7CがY軸上にそ
れぞれ配置され、前記受光素子7A,7Bの出力
信号は、前記第1の演算手段に、又受光素子7
C、7Dの出力信号は前記第2の演算手段9に、
それぞれ入力するように接続されている。
又前記透明板14は、センサー7と共に、前記
X軸又はY軸に沿つて移動できるようにされてい
る。
図の符号15はピント検出装置11における基
準信号発生器を示し、前記比較器12はこの基準
信号発生器15からの入力信号と前記第3の演算
手段10からの入力信号の差を演算して前記駆動
装置13に出力するようにされている。
ここで、前記基準信号発生器15は、その出力
信号の値が可変とされている。
前記駆動装置13は、前記ピント検出装置11
における前記比較器12の出力信号が直接入力さ
れ、且つ、この出力信号に基づき前記載物台3の
移動量を制御する制御装置16を含んでいる。
前記駆動装置13は、前記制御装置16と、こ
の制御装置16によつて回転方向及び回転数が制
御されるモータ17と、このモータ17の出力軸
に取付けられた駆動歯車18と、この駆動歯車1
8と噛合つて設けられた被動歯車19と、この被
動歯車19と同軸的に且つ該被動歯車19の中心
に形成されたねじ孔19Aに貫通螺合するスクリ
ユー20とを有してなり、モータ17の回転方向
及び回転数を制御することによつて、ねじ孔19
Aに螺合するスクリユー20をその軸線方向に変
位させ、前記載物台3を上下動させ投影レンズ5
に対する測定対象物4の位置を変えてスクリーン
6上の投影画像4Aのピント合わせをするもので
ある。
前記制御装置16は、比較器21と、ドライバ
22及び前記モータ17の回転位置を検出するロ
ータリーエンコーダ23とから構成されている。
前記比較器21は、前記ピント検出装置11の
比較器12からの出力信号及びロータリーエンコ
ーダ23の出力信号が入力され、これら2つの入
力信号の差を演算してドライバ22に出力するよ
うにされている。
このドライバ22は、比較器21からの出力信
号に基づいて、その出力信号に対応する回転数及
び方向にモータ17を駆動させるものである。
次に上記実施例の作用を説明する。
スクリーン6上に結像された測定対象物4の投
影画像4Aに対して、センサー7を、前記スクリ
ーン6上のX軸及びY軸に沿つて相対的に移動さ
せ、投影画像4Aのエツジがセンサー7を横切る
ようにする。
例えば、投影画像4Aが、第2図aに示される
ように、X軸に沿つて、受光素子7A側からセン
サー7に接近し且つこれを通過した場合は、受光
素子7A乃至7Dにより得られる出力信号は、第
2図cに符号A乃至Dによつて示されるように、
時間軸に沿つてAからDに等しい位相ずれ信号と
なる(BとCは位相ずれはない)。これらの出力
信号は、第2図dに示されるように、第1の演算
手段8及び第2の演算手段9によりA−B及びC
−Dに演算され、それぞれ出力される。
これらA−B及びC−Dの出力信号は、それぞ
れ第3の演算手段によつて差が演算され、その演
算結果の出力信号は第2図eに示されるようにな
る。
第3の演算手段10によつて出力される信号は
比較器12に入力され、この比較器12は基準信
号発生器15からの基準信号Vrefとを比較して、
該Vrefから前記第3の演算手段10から入力さ
れた信号との差をとり、これを駆動装置13にお
ける制御装置16の比較器21に出力する。
この比較器21は、ロータリーエンコーダ23
からフイードバツクされるモータ17の回転位置
信号(最初は零)との差を演算してドライバ22
に出力する。
このドライバ22は、比較器21からの出力信
号に応じて、モータ17を所定の回転方向に所定
の回転数だけ駆動する。
従つて、このモータ17によつて駆動歯車1
8、被動歯車19、ねじ孔19Aを介してスクリ
ユー20が所定量上下され、このスクリユー20
と一体の載物台3は所定量上下されて、比較器2
1の出力信号に対応した量だけ変位し、これによ
つてスクリーン6上の投影画像4Aのピント合わ
せがなされる。
この時、モータ17の回転方向及び回転数即ち
回転位置はロータリーエンコーダ23によつて比
較器21にフイードバツクされるので比較器21
からの出力が零になるまでモータ17が駆動され
て載物台3を所定量移動する。
ここで、前記4つの受光素子7A乃至7Dによ
つて得られる2組の移送ずれ信号は、第2図に示
されるように、投影画像4Aのピントがあつてい
る場合は、同第2図bに示されるようにスクリー
ン6上の明るさの分布は投影画像4Aのエツジ部
分で急な立上がり又は立下がりでもつて変化す
る。
従つて、このエツジ部分を横切つた受光素子7
A乃至7Dの出力信号A乃至Dの立下がりの傾き
は同第2図cに示されるように、大きなものとな
る。
一方、第3図にaに示されるように、スクリー
ン6上の投影画像4Aがいわゆるピンボケ状態の
場合は、そのエツジ部分が不明瞭であるために、
スクリーン6上の明るさの分布が、該投影面像4
Aのエツジ部分での立上がり又は立下がりが同第
3図bに示されるように一定の傾きを有すること
になる。
従つて、該スクリーン6上の投影画像4Aを、
受光素子7A乃至7Dが横切つた場合、これら受
光素子7A乃至7Dの出力信号A乃至Dの立下が
りの傾きは、同第3図cに示されるように小さい
ものとなる。
従つて、これらの信号の差即ちA−B及びC−
Dは、ピントがあつている場合は第2図dに示さ
れるようになり、又、ピントがあつていない場合
は第3図dに示されるようになる。
又これら2組の出力信号の差の更に差の信号波
形は、ピントがあつている場合は第2図e、あつ
ていない場合は第3図eの如くそれぞれ示され
る。
これらの図から判るように、ピントがあつてい
る場合は第3の演算手段10による出力信号の信
号波形の傾きは大きく、又、ピントがあつていな
い場合はその傾きは小さくなり、その最大値及び
最小値の差もピントがあつていない場合はより小
さくなる。
従つて、比較器12は、第3の演算手段10の
出力信号と予め設定される基準信号発生器15か
らの基準信号Vrefとを比較してその差、即ち、
ピントずれ量の信号を制御装置16の比較器21
に出力することになる。
従つて、この実施例においては、スクリーン6
上の被測定物4の投影画像4Aのピント合わせを
全自動的に行うことができる。
なお上記実施例は、第1の演算手段8の演算結
果の出力信号A−Bと第2の演算手段9の演算結
果の出力信号C−Dの差を第3の演算手段10に
よつて求めるようにしたものであるが、本発明は
これに限定されるものでなく、第3の演算手段1
0は、第1の演算手段8及び第2の演算手段9か
らの出力信号に基づいて、センサ7が投影画像4
Aのエツジ部分を横切つた時におけるその受光し
た光の明暗の変化率即ち光傾斜を検出できるもの
であればよく、従つて、該第3の演算手段10は
第1の演算手段8の出力信号A−Bと、第2の演
算手段9の出力信号C−Dの和あるいは、第2の
演算手段9の出力信号から第1の演算手段8の出
力信号を引き算して差を求めるようにしてもよ
い。
又上記実施例は、ピント検出装置11における
比較器12の出力信号を直接駆動装置13におけ
る制御装置16の比較器21に出力するようにし
たものであるが、ピント合わせを半自動的に行う
場合は、比較器12の出力信号を、例えば、第4
図に示されるようにメータによつて表示するよう
にして、このメータ24の表示値に基づいて、作
業者が手動装置25を介して前記制御装置16を
駆動して、載物台を変位させ、投影画像4Aのピ
ント合わせを行うようにしてもよい。
又、上記実施例において、ピント検出装置11
における比較器12は、第3の演算手段10の出
力信号をそのまま基準信号発生器15からの基準
信号Vrefと比較するものであるが、これは、例
えば、第3の演算手段10と比較器12との間に
ピークホールド手段26を設け、このピークホー
ルド手段26によつて、第3の演算手段10から
の出力信号の最大値のみが比較器12に入力され
るようにしてもよい。
この場合は、前記制御装置16における比較器
21からの出力信号が零になつた時、ピークホー
ルド手段26のホールドが解除される信号を出力
する解除信号発生器27を設ける。
又上記実施例において比較器12は基準信号発
生器15からの基準信号Vrefと第3の演算手段
10からの出力信号とを比較するものであるが、
この比較器12は、ウインドコンパレータとし
て、第3の演算手段10からの出力信号が一定幅
の値の範囲にあるか否かを判断するようにしても
よい。
これは、スクリーン6上における投影画像4A
のピントが完全となつた場合でも、該投影画像4
Aのエツジ部分における光傾斜が無限大となるこ
とはないからである。
ここで、前記ピント検出装置11及び駆動装置
13からなる制御系において、比較器12からの
出力に基づいて載物台3を上下動させ、更にこの
時の投影画像4Aをセンサ7によつてピント検出
をするというサイクルを繰返した場合であつて
も、第3の演算手段10からの出力信号即ち光傾
斜の値は、理想的光傾斜の値よりも大きくなるこ
とはないので、この制御系においてハンチングが
生じることはない。
但し、基準信号発生器20における基準信号
Vrefの設定ミスがあつた場合は、この制御系に
よつて、載物台3が更にピントがぼける方向に駆
動される場合があり得るので、基準信号発生器2
0はその出力する基準信号Vrefを所定範囲内に
制限しておくのがよい。
なお上記実施例は、4個の受光素子7A乃至7
Dからの出力信号に基づいてスクリーン6上にお
ける投影画像4Aのピント合わせをするようにし
たものであるが、このようなピント合わせの装置
は、前述の、例えば特願昭57−563725発明におけ
るエツジ検出装置におけるセンサと兼用するよう
にしてもよい。
なお上記実施例においては、センサー7におけ
る受光素子7Aないし7Dの配列は、スクリーン
6のX軸およびY軸に沿つて、これらX軸Y軸の
交点を挾んでそれぞの軸に一対づつ計4個配置し
たものであるが、これは正確にX軸およびY軸上
に配置しなくても、その交点を中心として軸線周
りにずらして配置してもよい。また、測定中に交
点を中心として回転方向にずれても問題はない。
更に前記実施例は、投影画像4Aに対してセン
サー7を移動させるものであるが、これは、例え
ば載物台3を移動させることにより投影画像4A
をセンサー7に対して移動するようにしてもよ
い。
本発明は上記のように構成したので投影機にお
けるスクリーン上の投影画像のピント合わせを半
自動的又は自動的に正確に且つ迅速に行うことが
できるという優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る投影機の実施例を示す一
部断面図を含むブロツク図、第2図及び第3図は
同実施例におけるピント合焦及びピント非合焦状
態での信号処理の過程を示す線図、第4図は本発
明の他の実施例の要部を示すブロツク図である。 1……光源ランプ、3……載物台、4……測定
対象物、4A……投影画像、5……投影レンズ、
6……スクリーン、7……センサー、7A〜7D
……受光素子、8……第1の演算手段、9……第
2の演算手段、10……第3の演算手段、11…
…ピント検出装置、12……比較器、13……駆
動装置、15……基準信号発生器、16……制御
装置、17……モータ、21……比較器、22…
…ドライバ、24……メータ、26……ピークホ
ールド手段。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 載物台上の測定対象物に光を投射し、該測定
    対象物からの投下光又は反射光により、測定対象
    物の投影画像をスクリーン上に拡大投影する投影
    検査機において、前記スクリーン上の投影画像と
    の相対移動時に生ずる明暗に基づき、2組の位相
    ずれ信号を発生するよう移動面と略平行な面内に
    配設された4個の受光素子からなるセンサーと、
    前記センサーが前記スクリーン上の投影画像のエ
    ツジをX方向又はY方向に横切るとき、先行して
    前記エツジを横切る受光素子と2番目及び3番目
    に横切る受光素子の一方との出力信号の差を演算
    する第1の演算手段と、前記2番目及び3番目に
    横切る受光素子の他方と4番目に横切る受光素子
    との出力信号の差を演算する第2の演算手段と、
    これら第1及び第2の演算手段の出力信号から前
    記投影画像における明暗の変化率を演算する第3
    の演算手段と、この第3の演算手段の出力信号と
    基準信号とを比較すると共に、比較結果を、前記
    載物台を移動しピント合せを行うための駆動信号
    として出力する比較器と、を含むピント検出装置
    を設けたことを特徴とする投影検査機。 2 載物台上の測定対象物に光を投射し、該測定
    対象物からの透過光又は反射光により、測定対象
    物の投影画像をスクリーン上に拡大投影する投影
    検査機において、前記スクリーン上の投影画像と
    の相対移動時に生ずる明暗に基づき、2組の位相
    ずれ信号を発生するよう移動面と略平行な面内に
    配設された4個の受光素子からなるセンサーと、
    前記センサーが前記スクリーン上の投影画像のエ
    ツジをX方向又はY方向に横切るとき、先行して
    前記エツジを横切る受光素子と2番目及び3番目
    に横切る受光素子の一方との出力信号の差を演算
    する第1の演算手段と、前記2番目及び3番目に
    横切る受光素子の他方と4番目に横切る受光素子
    との出力信号の差を演算する第2の演算手段と、
    これら第1及び第2の演算手段の出力信号から前
    記投影画像における明暗の変化率を演算する第3
    の演算手段と、この第3の演算手段の出力信号と
    基準信号とを比較して、結果を出力する比較器
    と、を含むピント検出装置と;このピント検出装
    置の出力信号に応じて、前記載物台を移動し、前
    記投影画像のピント合わせを行う駆動装置と;を
    設けたことを特徴とする投影検査機。 3 前記駆動装置は、前記ピント検出装置におけ
    る前記比較器の出力信号が直接入力され、且つ、
    この出力信号に基づき前記載物台の移動量を制御
    する制御装置を含むことを特徴とする特許請求の
    範囲第2項記載の投影検査機。 4 前記第3の演算手段は、演算結果の最大値を
    ホールドするホールド手段を備えてなることを特
    徴とする特許請求の範囲第2項又は第3項記載の
    投影検査機。
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JPS5099561A (ja) * 1973-12-28 1975-08-07
JPS58160907A (ja) * 1982-03-19 1983-09-24 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 顕微鏡用焦点検出装置

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