JPH0424252U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0424252U JPH0424252U JP6574490U JP6574490U JPH0424252U JP H0424252 U JPH0424252 U JP H0424252U JP 6574490 U JP6574490 U JP 6574490U JP 6574490 U JP6574490 U JP 6574490U JP H0424252 U JPH0424252 U JP H0424252U
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- JP
- Japan
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- electron microscope
- objective aperture
- optical axis
- tilted
- image observation
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- Pending
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Description
第1図は本考案の実施例に係る電子顕微鏡の光
学系の概要と構成を示す図、第2図は従来の電子
顕微鏡によりX線エネルギ分析と像の観察を同時
に行う場合の電子顕微鏡の光学系の概要と構成を
示す図、第3図は第2図の場合に対物絞りを使用
しない場合の構成図である。 1……電子顕微鏡、2……光軸、3……試料、
4……X線、5……電子線、6……X線分光器、
8……像、11……対物絞り。
学系の概要と構成を示す図、第2図は従来の電子
顕微鏡によりX線エネルギ分析と像の観察を同時
に行う場合の電子顕微鏡の光学系の概要と構成を
示す図、第3図は第2図の場合に対物絞りを使用
しない場合の構成図である。 1……電子顕微鏡、2……光軸、3……試料、
4……X線、5……電子線、6……X線分光器、
8……像、11……対物絞り。
Claims (1)
- 像の観察とX線エネルギ分析とを同時に行う電
子顕微鏡において、電子線の対物絞りを、光軸に
対して傾斜させたことを特徴とする電子顕微鏡の
対物絞り装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6574490U JPH0424252U (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6574490U JPH0424252U (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0424252U true JPH0424252U (ja) | 1992-02-27 |
Family
ID=31597845
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6574490U Pending JPH0424252U (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0424252U (ja) |
-
1990
- 1990-06-21 JP JP6574490U patent/JPH0424252U/ja active Pending