JPH04228137A - 光学ヘッド - Google Patents
光学ヘッドInfo
- Publication number
- JPH04228137A JPH04228137A JP10128591A JP10128591A JPH04228137A JP H04228137 A JPH04228137 A JP H04228137A JP 10128591 A JP10128591 A JP 10128591A JP 10128591 A JP10128591 A JP 10128591A JP H04228137 A JPH04228137 A JP H04228137A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- beam splitter
- photodetector
- polarizing beam
- convex lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 55
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims abstract description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 15
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 7
- 230000015654 memory Effects 0.000 abstract description 6
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000035936 sexual power Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学的に情報を記録再
生する装置である光ディスクメモリーの光学ヘッドに関
するものである。
生する装置である光ディスクメモリーの光学ヘッドに関
するものである。
【0002】
【従来の技術】現代は情報化時代と言われており、その
中核をなす高密度大容量メモリーの技術開発が盛んに行
われている。メモリーに要求される能力としては、前述
の高密度、大容量に加え、高信頼性、高速アクセス、書
換え機能等が挙げられ、それらを満足するものとして、
光磁気ディスク等の光ディスクメモリーが最も注目され
ているが、本発明はその光磁気ディスクメモリーにおけ
る光学ヘッドに関するものである。
中核をなす高密度大容量メモリーの技術開発が盛んに行
われている。メモリーに要求される能力としては、前述
の高密度、大容量に加え、高信頼性、高速アクセス、書
換え機能等が挙げられ、それらを満足するものとして、
光磁気ディスク等の光ディスクメモリーが最も注目され
ているが、本発明はその光磁気ディスクメモリーにおけ
る光学ヘッドに関するものである。
【0003】従来、光磁気ディスク用光学ヘッドに関す
る技術としては、数多くの報告がなされている。
る技術としては、数多くの報告がなされている。
【0004】以下、図面を参照しながら、従来の光磁気
ディスク用の光学ヘッドについて説明を行う。
ディスク用の光学ヘッドについて説明を行う。
【0005】図6は従来の光学ヘッドの概略的な構成図
およびその動作原理を説明する図である。図6において
、1は半導体レーザ、2はコリメートレンズ、3はビー
ムスプリッタ、4は対物レンズ、5はディスク、6は1
/2波長板、7は凸レンズ、28は偏光ビームスプリッ
タ、29は2分割光検出器、30は凸シリンドリカルレ
ンズ、31は4分割光検出器、41および42は光スポ
ットの焦点である。
およびその動作原理を説明する図である。図6において
、1は半導体レーザ、2はコリメートレンズ、3はビー
ムスプリッタ、4は対物レンズ、5はディスク、6は1
/2波長板、7は凸レンズ、28は偏光ビームスプリッ
タ、29は2分割光検出器、30は凸シリンドリカルレ
ンズ、31は4分割光検出器、41および42は光スポ
ットの焦点である。
【0006】以上のように構成された従来例について以
下その動作について説明を行う。半導体レーザ1より発
せられた光は、コリメートレンズ2により平行光に変換
され、ビームスプリッタ3を経て、対物レンズ駆動装置
(図示せず)に組み込まれた対物レンズ4により、ディ
スク5上に直径1ミクロン程度の光スポットとして集光
される。ディスク5からの反射光は、逆の経路をたどり
、ビームスプリッタ3により反射分離されて、1/2波
長板6に入射する。半導体レーザ1は、紙面に平行な偏
光方向となるよう設置されており、1/2波長板6は、
その反射光の偏光方向をほぼ45度回転させるように設
定してある。1/2波長板6を透過した反射光は凸レン
ズ7により収れん光となり、偏光ビームスプリッタ28
により互いに直交する2つの偏光成分に分離され、一方
は透過し、2分割光検出器29に入射し、他方は反射さ
れて、凸シリンドリカルレンズ30を経て4分割光検出
器31に入射する。2分割光検出器29で発生した電気
信号を減算することにより、いわゆるプッシュ法により
トラッキング誤差信号を検出する。
下その動作について説明を行う。半導体レーザ1より発
せられた光は、コリメートレンズ2により平行光に変換
され、ビームスプリッタ3を経て、対物レンズ駆動装置
(図示せず)に組み込まれた対物レンズ4により、ディ
スク5上に直径1ミクロン程度の光スポットとして集光
される。ディスク5からの反射光は、逆の経路をたどり
、ビームスプリッタ3により反射分離されて、1/2波
長板6に入射する。半導体レーザ1は、紙面に平行な偏
光方向となるよう設置されており、1/2波長板6は、
その反射光の偏光方向をほぼ45度回転させるように設
定してある。1/2波長板6を透過した反射光は凸レン
ズ7により収れん光となり、偏光ビームスプリッタ28
により互いに直交する2つの偏光成分に分離され、一方
は透過し、2分割光検出器29に入射し、他方は反射さ
れて、凸シリンドリカルレンズ30を経て4分割光検出
器31に入射する。2分割光検出器29で発生した電気
信号を減算することにより、いわゆるプッシュ法により
トラッキング誤差信号を検出する。
【0007】偏光ビームスプリッタ28により反射され
た光はフォーカス誤差信号検出手段である凸シリンドリ
カルレンズ30により、非点収差を発生する。紙面内で
は、実線の光路となり、焦点41に収れんし、紙面に垂
直な面内では、破線で示した光路となり、焦点42に収
れんする。
た光はフォーカス誤差信号検出手段である凸シリンドリ
カルレンズ30により、非点収差を発生する。紙面内で
は、実線の光路となり、焦点41に収れんし、紙面に垂
直な面内では、破線で示した光路となり、焦点42に収
れんする。
【0008】4分割光検出器31は受光面が焦点41と
焦点42との略中間に位置しており、4つの受光領域で
発生した電気信号の対角同士の和をとり、それらを減算
することにより、いわゆる非点収差法によりフォーカス
誤差信号の検出を行う。
焦点42との略中間に位置しており、4つの受光領域で
発生した電気信号の対角同士の和をとり、それらを減算
することにより、いわゆる非点収差法によりフォーカス
誤差信号の検出を行う。
【0009】また、4分割光検出器31の受光量の総和
をとり、2分割光検出器29の受光量の総和をとり、そ
れらの差をとることにより、差動検出法による光磁気デ
ィスク情報信号の検出が可能である。さらに、それらの
和をすべてとることにより、振幅変調ディスク情報信号
やプレピット信号の検出が可能である。
をとり、2分割光検出器29の受光量の総和をとり、そ
れらの差をとることにより、差動検出法による光磁気デ
ィスク情報信号の検出が可能である。さらに、それらの
和をすべてとることにより、振幅変調ディスク情報信号
やプレピット信号の検出が可能である。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成は、機能としては十分であるが、構成部品数が
多いので、光学系の小型化および低価格化を達成するこ
とが困難であるという問題点を有していた。
来の構成は、機能としては十分であるが、構成部品数が
多いので、光学系の小型化および低価格化を達成するこ
とが困難であるという問題点を有していた。
【0011】さらに4分割光検出器31の信号により、
非点収差法によりフォーカス誤差信号の検出を行うが、
非点収差量を決定する凸レンズ7と凸シリンドリカルレ
ンズ30とが、互いに独立であるため信号の変動分を一
定に保つことができない。
非点収差法によりフォーカス誤差信号の検出を行うが、
非点収差量を決定する凸レンズ7と凸シリンドリカルレ
ンズ30とが、互いに独立であるため信号の変動分を一
定に保つことができない。
【0012】また2分割光検出器29と4分割光検出器
31が独立であるため、量産性の高い調整を行うことが
困難であった。
31が独立であるため、量産性の高い調整を行うことが
困難であった。
【0013】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、構成面からは構成部品数を低減できるため低価格化
を実現する。さらに短時間で安定した性能を発揮するた
めの調整が可能なため量産性を向上させる光学ヘッドと
を提供することを目的とする。
で、構成面からは構成部品数を低減できるため低価格化
を実現する。さらに短時間で安定した性能を発揮するた
めの調整が可能なため量産性を向上させる光学ヘッドと
を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の光学ヘッドは、半導体レーザと、半導体レ
ーザからの光を情報記録媒体上に集光させる、対物レン
ズ等で構成される集光手段と、情報記録媒体からの反射
光を分離するビームスプリッタ等からなる光束分離手段
と、情報記録媒体上のフォーカス誤差信号、トラッキン
グ誤差信号および情報信号を検出する検出手段を具備し
、検出手段は、光束分離手段で分離された光束中に置か
れ、偏光面を45度回転させる1/2波長板と、1/2
波長板透過した光束を収れんさせる凸レンズと、凸レン
ズによる収れん光束中に置かれ、入射光を偏光膜で透過
光と反射光の2光束に分離して同方向に出射し、かつ透
過光もしくは反射光のいずれか一方の光束が2次曲面か
らなる略円柱状面で反射もしくは透過する偏光ビームス
プリッタと、偏光ビームスプリッタからの光束を受光す
る多分割光検出器と、多分割光検出器で発生した電気信
号を演算する演算回路から構成され、凸レンズと偏光ビ
ームスプリッタは所定の一定距離に保持されて入射光束
の光軸方向に移動可能である構成を有している。
に、本発明の光学ヘッドは、半導体レーザと、半導体レ
ーザからの光を情報記録媒体上に集光させる、対物レン
ズ等で構成される集光手段と、情報記録媒体からの反射
光を分離するビームスプリッタ等からなる光束分離手段
と、情報記録媒体上のフォーカス誤差信号、トラッキン
グ誤差信号および情報信号を検出する検出手段を具備し
、検出手段は、光束分離手段で分離された光束中に置か
れ、偏光面を45度回転させる1/2波長板と、1/2
波長板透過した光束を収れんさせる凸レンズと、凸レン
ズによる収れん光束中に置かれ、入射光を偏光膜で透過
光と反射光の2光束に分離して同方向に出射し、かつ透
過光もしくは反射光のいずれか一方の光束が2次曲面か
らなる略円柱状面で反射もしくは透過する偏光ビームス
プリッタと、偏光ビームスプリッタからの光束を受光す
る多分割光検出器と、多分割光検出器で発生した電気信
号を演算する演算回路から構成され、凸レンズと偏光ビ
ームスプリッタは所定の一定距離に保持されて入射光束
の光軸方向に移動可能である構成を有している。
【0015】また、1/2波長板を用いる代わりに、偏
光ビームスプリッタおよび多分割光検出器とを偏光ビー
ムスプリッタに入射する光軸を中心として45度回転し
て設置してもよい。
光ビームスプリッタおよび多分割光検出器とを偏光ビー
ムスプリッタに入射する光軸を中心として45度回転し
て設置してもよい。
【0016】また凸レンズと偏光ビームスプリッタとが
一体の光学素子であってもよい。さらに偏光ビームスプ
リッタからの2つの出射光の内、2次曲面からなる略円
柱状面を経た出射光が、多分割光検出器における受光領
域の所定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平面内
で多分割光検出器を位置調整し、かつこの受光領域の所
定位置を中心に、多分割光検出器を回動調整する調整手
段を設けた構成を有している。
一体の光学素子であってもよい。さらに偏光ビームスプ
リッタからの2つの出射光の内、2次曲面からなる略円
柱状面を経た出射光が、多分割光検出器における受光領
域の所定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平面内
で多分割光検出器を位置調整し、かつこの受光領域の所
定位置を中心に、多分割光検出器を回動調整する調整手
段を設けた構成を有している。
【0017】
【作用】この構成によって、構成部品数の低減により低
価格化を実現した上で、光検出器の複数の受光領域で受
光した光量を電気信号に変換し、その複数の電気信号を
演算することにより、光磁気ディスク情報信号、プレピ
ット信号、フォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号
の検出が可能である。また凸レンズと偏光ビームスプリ
ッタは所定の一定距離に保持されて入射光束の光軸方向
に移動可能である構成を有することにより、誤差信号の
変動分を一定に保って、短時間で安定した性能を発揮で
きる調整が可能となり量産性を向上させることができる
。さらに多分割光検出器を2段階で調整する調整手段を
設けることにより、多分割光検出器の調整に関しても短
時間で安定した性能を発揮できる調整が可能となり、一
層の量産性の向上を達成できるという優れた光学ヘッド
を実現できるものである。
価格化を実現した上で、光検出器の複数の受光領域で受
光した光量を電気信号に変換し、その複数の電気信号を
演算することにより、光磁気ディスク情報信号、プレピ
ット信号、フォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号
の検出が可能である。また凸レンズと偏光ビームスプリ
ッタは所定の一定距離に保持されて入射光束の光軸方向
に移動可能である構成を有することにより、誤差信号の
変動分を一定に保って、短時間で安定した性能を発揮で
きる調整が可能となり量産性を向上させることができる
。さらに多分割光検出器を2段階で調整する調整手段を
設けることにより、多分割光検出器の調整に関しても短
時間で安定した性能を発揮できる調整が可能となり、一
層の量産性の向上を達成できるという優れた光学ヘッド
を実現できるものである。
【0018】
【実施例】(実施例1)以下本発明の一実施例について
、図面を参照しながら説明する。
、図面を参照しながら説明する。
【0019】図1において、1は半導体レーザ、2はコ
リメートレンズ、3はビームスプリッタ、4は対物レン
ズ、5は情報記録媒体であるディスク、6は1/2波長
板、7は凸レンズ、8は偏光ビームスプリッタ、8aは
偏光ビームスプリッタ8の接合面である面A、8bは偏
光ビームスプリッタ8の面B、9は光検出器、10は焦
点P、11は焦点Q、12は焦点R、13は光検出器9
上に形成される光スポットT、14は光検出器9上に形
成される光スポットF、13、14は紙面に対して垂直
な面を点線で関連ずけ平面としたもの、15は加算器、
16は減算器、17は凸レンズ7と偏光ビームスプリッ
タ8とを所定の一定距離Lに保ち、光軸方向W1に移動
可能な保持部材である。
リメートレンズ、3はビームスプリッタ、4は対物レン
ズ、5は情報記録媒体であるディスク、6は1/2波長
板、7は凸レンズ、8は偏光ビームスプリッタ、8aは
偏光ビームスプリッタ8の接合面である面A、8bは偏
光ビームスプリッタ8の面B、9は光検出器、10は焦
点P、11は焦点Q、12は焦点R、13は光検出器9
上に形成される光スポットT、14は光検出器9上に形
成される光スポットF、13、14は紙面に対して垂直
な面を点線で関連ずけ平面としたもの、15は加算器、
16は減算器、17は凸レンズ7と偏光ビームスプリッ
タ8とを所定の一定距離Lに保ち、光軸方向W1に移動
可能な保持部材である。
【0020】以上のように構成された光学ヘッドについ
て、以下その動作を説明する。半導体レーザ1より発せ
られた光は、コリメートレンズ2により平行光に変換さ
れ、ビームスプリッタ3を経て、対物レンズ駆動装置(
図示せず)に組み込まれた対物レンズ4により、ディス
ク5上に直径1ミクロン程度の光スポットとして集光さ
れる。ディスク5からの反射光は、逆の経路をたどり、
ビームスプリッタ3により反射分離されて、1/2波長
板6に入射する。半導体レーザ1は、紙面に平行な偏光
方向となるよう設置されており、1/2波長板6は、そ
の反射光の偏光方向をほぼ45度回転させるように設定
してある。
て、以下その動作を説明する。半導体レーザ1より発せ
られた光は、コリメートレンズ2により平行光に変換さ
れ、ビームスプリッタ3を経て、対物レンズ駆動装置(
図示せず)に組み込まれた対物レンズ4により、ディス
ク5上に直径1ミクロン程度の光スポットとして集光さ
れる。ディスク5からの反射光は、逆の経路をたどり、
ビームスプリッタ3により反射分離されて、1/2波長
板6に入射する。半導体レーザ1は、紙面に平行な偏光
方向となるよう設置されており、1/2波長板6は、そ
の反射光の偏光方向をほぼ45度回転させるように設定
してある。
【0021】1/2波長板6を透過した反射光は凸レン
ズ7により収れん光となり、偏光ビームスプリッタ8へ
入射する。偏光ビームスプリッタ8は、入射光を偏光膜
を有する面A8aで透過光と反射光の2光束に分離して
同方向に出射し、かつ面A8aの透過光が2次曲面から
なる略円柱状面B8bを透過する構成となっており、従
来例で示した従来の偏光ビームスプリッタの機能と、シ
リンドリカルレンズの機能を合わせ持っている。本実施
例においては、紙面に平行な面内でレンズ効果を有する
向きに面B8bが形成されているがこれは紙面に垂直な
向きに構成してもよい。
ズ7により収れん光となり、偏光ビームスプリッタ8へ
入射する。偏光ビームスプリッタ8は、入射光を偏光膜
を有する面A8aで透過光と反射光の2光束に分離して
同方向に出射し、かつ面A8aの透過光が2次曲面から
なる略円柱状面B8bを透過する構成となっており、従
来例で示した従来の偏光ビームスプリッタの機能と、シ
リンドリカルレンズの機能を合わせ持っている。本実施
例においては、紙面に平行な面内でレンズ効果を有する
向きに面B8bが形成されているがこれは紙面に垂直な
向きに構成してもよい。
【0022】偏光ビームスプリッタ8へ入射した光束の
うち、S偏光(紙面に垂直な偏光成分)は、面A8aで
反射され、焦点P10に収れんする。また、P偏光(紙
面に平行な偏光成分)は、面A8aを透過後さらに面B
8bを透過し、紙面に平行な面内では面B8bのレンズ
効果により収れんの度合が強められ、焦点Q11に収れ
んする。また、紙面に垂直な面内では、面B8bは平面
であるため、透過後、破線で示した光路を経て焦点R1
2へと収れんする。すなわち偏光ビームスプリッタ8に
より、P偏光は非点収差を発生する。
うち、S偏光(紙面に垂直な偏光成分)は、面A8aで
反射され、焦点P10に収れんする。また、P偏光(紙
面に平行な偏光成分)は、面A8aを透過後さらに面B
8bを透過し、紙面に平行な面内では面B8bのレンズ
効果により収れんの度合が強められ、焦点Q11に収れ
んする。また、紙面に垂直な面内では、面B8bは平面
であるため、透過後、破線で示した光路を経て焦点R1
2へと収れんする。すなわち偏光ビームスプリッタ8に
より、P偏光は非点収差を発生する。
【0023】光検出器9は受光面が焦点Q11と焦点R
12との略中間に位置し、その受光面上では略円形の光
スポットT13と光スポットF14が形成される。光検
出器9の受光面上には、光スポットT13を受光するた
めの略直線状の分割線を有する2つの受光領域と、光ス
ポットF14を受光するための略十字状の分割線を有す
る4つの受光領域が存在する。
12との略中間に位置し、その受光面上では略円形の光
スポットT13と光スポットF14が形成される。光検
出器9の受光面上には、光スポットT13を受光するた
めの略直線状の分割線を有する2つの受光領域と、光ス
ポットF14を受光するための略十字状の分割線を有す
る4つの受光領域が存在する。
【0024】光スポットT13により発生した2系統の
電気信号は、減算器16で減算することにより、いわゆ
るプッシュプル法によりトラッキング誤差信号を検出す
る。光スポットF14により発生した4系統の電気信号
は、4つの受光領域の対角同士を結線して和をとり、そ
れらの差を減算器16でとることにより、いわゆる非点
収差法によってフォーカス誤差信号を検出する。また、
光スポットT13および光スポットF14発生した電気
信号をそれぞれ加算器15で和をとり、それらの差を減
算器16でとることにより、いわゆる差動検出法で光磁
気ディスクの情報信号の検出が、加算器15で和をとる
ことにより、振幅変調ディスクの情報信号やプレピット
信号の検出が可能である。
電気信号は、減算器16で減算することにより、いわゆ
るプッシュプル法によりトラッキング誤差信号を検出す
る。光スポットF14により発生した4系統の電気信号
は、4つの受光領域の対角同士を結線して和をとり、そ
れらの差を減算器16でとることにより、いわゆる非点
収差法によってフォーカス誤差信号を検出する。また、
光スポットT13および光スポットF14発生した電気
信号をそれぞれ加算器15で和をとり、それらの差を減
算器16でとることにより、いわゆる差動検出法で光磁
気ディスクの情報信号の検出が、加算器15で和をとる
ことにより、振幅変調ディスクの情報信号やプレピット
信号の検出が可能である。
【0025】保持部材17は、凸レンズ7と偏光ビーム
スプリッタ8とを所定の一定距離Lに保ち光軸方向W1
に移動可能としているため、凸レンズ7と偏光ビームス
プリッタ8の2次曲面からなる略円柱状面B8bとで発
生するフォーカス誤差信号用の非点収差量を常に一定に
保って調整することができる。
スプリッタ8とを所定の一定距離Lに保ち光軸方向W1
に移動可能としているため、凸レンズ7と偏光ビームス
プリッタ8の2次曲面からなる略円柱状面B8bとで発
生するフォーカス誤差信号用の非点収差量を常に一定に
保って調整することができる。
【0026】図2(A)、(B)および(C)は本実施
例におけるフォーカス誤差信号検出の動作を説明するた
めの要部拡大図である。
例におけるフォーカス誤差信号検出の動作を説明するた
めの要部拡大図である。
【0027】図2(A)は図1におけるディスク5が対
物レンズ4の焦点位置にある場合を示している。このと
き、光検出器9上の光スポット14は略円形状となり減
算器16の出力として得られるフォーカス誤差信号は零
となる。図2(B)は図1におけるディスク5が対物レ
ンズ4に接近した場合である。この場合、凸レンズ7へ
入射する光束は発散光となるため、焦点P10、焦点Q
11、焦点R12は共に偏光ビームスプリッタ8から遠
ざかる向きに変位する。したがって光検出器9上の光ス
ポットF14は図2(B)に示すように楕円形となり、
この場合正のフォーカス誤差信号が得られる。図2(C
)は図2(B)と反対に、図1におけるディスク5が対
物レンズ4から遠ざかる向きに変位した場合である。こ
の場合は図2(B)の場合とは逆に、負のフォーカス誤
差信号を得ることができる。
物レンズ4の焦点位置にある場合を示している。このと
き、光検出器9上の光スポット14は略円形状となり減
算器16の出力として得られるフォーカス誤差信号は零
となる。図2(B)は図1におけるディスク5が対物レ
ンズ4に接近した場合である。この場合、凸レンズ7へ
入射する光束は発散光となるため、焦点P10、焦点Q
11、焦点R12は共に偏光ビームスプリッタ8から遠
ざかる向きに変位する。したがって光検出器9上の光ス
ポットF14は図2(B)に示すように楕円形となり、
この場合正のフォーカス誤差信号が得られる。図2(C
)は図2(B)と反対に、図1におけるディスク5が対
物レンズ4から遠ざかる向きに変位した場合である。こ
の場合は図2(B)の場合とは逆に、負のフォーカス誤
差信号を得ることができる。
【0028】以上のように本実施例によれば、ディスク
5からの反射光の偏光面を45度回転させる1/2波長
板6と、1/2波長板6を透過した光束を収れんさせる
凸レンズ7と、凸レンズ7による収れん光束中に置かれ
、入射光を偏光膜を有する面A8aで透過光と反射光の
2光束に分離して同方向に出射し、かつ面A8aの透過
光が2次曲面からなる略円柱状面B8bを透過する構成
であり、従来の偏光ビームスプリッタの機能とシリンド
リカルレンズの機能を合わせ持っている偏光ビームスプ
リッタ8と、複数の受光領域を有する単一の光検出器9
を用いることにより、非常に簡単な構成で、フォーカス
誤差信号、トラッキング誤差信号、光磁気ディスク情報
信号、プレピット信号の検出が可能となる。
5からの反射光の偏光面を45度回転させる1/2波長
板6と、1/2波長板6を透過した光束を収れんさせる
凸レンズ7と、凸レンズ7による収れん光束中に置かれ
、入射光を偏光膜を有する面A8aで透過光と反射光の
2光束に分離して同方向に出射し、かつ面A8aの透過
光が2次曲面からなる略円柱状面B8bを透過する構成
であり、従来の偏光ビームスプリッタの機能とシリンド
リカルレンズの機能を合わせ持っている偏光ビームスプ
リッタ8と、複数の受光領域を有する単一の光検出器9
を用いることにより、非常に簡単な構成で、フォーカス
誤差信号、トラッキング誤差信号、光磁気ディスク情報
信号、プレピット信号の検出が可能となる。
【0029】さらに保持部材17を設けて、凸レンズ7
と偏光ビームスプリッタ8とを所定の一定距離Lに保ち
光軸方向W1に移動可能とすることにより、凸レンズ7
と偏光ビームスプリッタ8の2次曲面からなる略円柱状
面B8bとで発生するフォーカス誤差信号用の非点収差
量を常に一定に保って調整することができる。
と偏光ビームスプリッタ8とを所定の一定距離Lに保ち
光軸方向W1に移動可能とすることにより、凸レンズ7
と偏光ビームスプリッタ8の2次曲面からなる略円柱状
面B8bとで発生するフォーカス誤差信号用の非点収差
量を常に一定に保って調整することができる。
【0030】すなわち、これらの構成によって、構成部
品数の低減により低価格化を実現した上で、誤差信号の
変動分を一定に保って、短時間で安定した性能を発揮で
きる調整が可能となり量産性を向上させることができる
。
品数の低減により低価格化を実現した上で、誤差信号の
変動分を一定に保って、短時間で安定した性能を発揮で
きる調整が可能となり量産性を向上させることができる
。
【0031】なお、本実施例においては偏光ビームスプ
リッタ8における面B8bは光学的に凸の円柱状透過面
としたがこれは凹でも同様の効果を得ることができる。
リッタ8における面B8bは光学的に凸の円柱状透過面
としたがこれは凹でも同様の効果を得ることができる。
【0032】また本実施例のように、1/2波長板6を
用いて、偏光ビームスプリッタ8へ入射する偏光面を回
転させる構成が一般的であるが、これは必ずしも必要で
はなく、その場合は偏光ビームスプリッタ8および光検
出器9の全体を光軸を中心にW3の方向にに45度回転
させて設置すれば同様の効果をさらに少ない部品点数で
得ることが可能である。
用いて、偏光ビームスプリッタ8へ入射する偏光面を回
転させる構成が一般的であるが、これは必ずしも必要で
はなく、その場合は偏光ビームスプリッタ8および光検
出器9の全体を光軸を中心にW3の方向にに45度回転
させて設置すれば同様の効果をさらに少ない部品点数で
得ることが可能である。
【0033】図3は複合化した偏光ビームスプリッタを
示した図である。図3において、82は偏光ビームスプ
リッタ、8cは凸レンズ面であり、他の符号はすべて図
1の構成要素と同一である。偏光ビームスプリッタ82
は図1における凸レンズ7と偏光ビームスプリッタ8と
を一体化した偏光ビームスプリッタであるため、図1に
比べてさらに少ない部品点数で同様の効果を得ることが
できる。他の符号はすべて図1の構成要素と同一である
。
示した図である。図3において、82は偏光ビームスプ
リッタ、8cは凸レンズ面であり、他の符号はすべて図
1の構成要素と同一である。偏光ビームスプリッタ82
は図1における凸レンズ7と偏光ビームスプリッタ8と
を一体化した偏光ビームスプリッタであるため、図1に
比べてさらに少ない部品点数で同様の効果を得ることが
できる。他の符号はすべて図1の構成要素と同一である
。
【0034】(実施例2)以下本発明の第2の実施例に
ついて図面を参照しながら説明する。
ついて図面を参照しながら説明する。
【0035】図4は本発明の第2の実施例の主要部を示
した図であり、他の構成は基本的に図1の構成と同様で
ある。図4において81は偏光ビームスプリッタであり
、偏光ビームスプリッタ81においては、面A8aが偏
光膜が形成された面であり、面B8bが略円柱状反射面
である。
した図であり、他の構成は基本的に図1の構成と同様で
ある。図4において81は偏光ビームスプリッタであり
、偏光ビームスプリッタ81においては、面A8aが偏
光膜が形成された面であり、面B8bが略円柱状反射面
である。
【0036】上記のように構成された光学ヘッドについ
て以下その動作を説明する。 図1におけるディスク5
からの反射光は1/2波長板6を透過し、図4の凸レン
ズ7により収れん光となり、偏光ビームスプリッタ81
へ入射する。偏光ビームスプリッタ81は、入射光を偏
光膜を有する面A8aで透過光と反射光の2光束に分離
して同方向に出射し、かつ面A8aの反射光が2次曲面
からなる略円柱状面B8bで反射する構成となっており
、従来例で示した従来の偏光ビームスプリッタの機能と
、シリンドリカルレンズの機能を合わせ持っている。
て以下その動作を説明する。 図1におけるディスク5
からの反射光は1/2波長板6を透過し、図4の凸レン
ズ7により収れん光となり、偏光ビームスプリッタ81
へ入射する。偏光ビームスプリッタ81は、入射光を偏
光膜を有する面A8aで透過光と反射光の2光束に分離
して同方向に出射し、かつ面A8aの反射光が2次曲面
からなる略円柱状面B8bで反射する構成となっており
、従来例で示した従来の偏光ビームスプリッタの機能と
、シリンドリカルレンズの機能を合わせ持っている。
【0037】偏光ビームスプリッタ81に入射した光束
は、面A8aの偏光膜より、P偏光は透過後、焦点P1
0へ収れんする。また、S偏光は面A8aにより反射後
、面B8bで反射されるが、紙面に平行な面内では凹面
鏡の効果でさらに収れんされて、焦点Q11へ収れんす
る。また、紙面に垂直な面内では、破線で示した光路を
たどり、焦点R12へと収れんする。
は、面A8aの偏光膜より、P偏光は透過後、焦点P1
0へ収れんする。また、S偏光は面A8aにより反射後
、面B8bで反射されるが、紙面に平行な面内では凹面
鏡の効果でさらに収れんされて、焦点Q11へ収れんす
る。また、紙面に垂直な面内では、破線で示した光路を
たどり、焦点R12へと収れんする。
【0038】光検出器9は、図1の場合と同様の配置を
行うことにより、光スポットT13、光スポットF14
が受光領域上に形成される。したがって、1図の場合と
同様に光検出器9の出力信号を演算することによりフォ
ーカス誤差信号、トラッキング誤差信号、光磁気ディス
ク情報信号、プレピット信号の検出が可能である。
行うことにより、光スポットT13、光スポットF14
が受光領域上に形成される。したがって、1図の場合と
同様に光検出器9の出力信号を演算することによりフォ
ーカス誤差信号、トラッキング誤差信号、光磁気ディス
ク情報信号、プレピット信号の検出が可能である。
【0039】以上のように本実施例によれば、ディスク
5からの反射光の偏光面を45度回転させる1/2波長
板6と、1/2波長板6を透過した光束を収れんさせる
凸レンズ7と、凸レンズ7による収れん光束中に置かれ
、入射光を偏光膜を有する面A8aで透過光と反射光の
2光束に分離して同方向に出射し、かつ面A8aの反射
光が2次曲面からなる略円柱状面B8bで反射する構成
であり、従来の偏光ビームスプリッタの機能とシリンド
リカルレンズの機能を合わせ持っている偏光ビームスプ
リッタ81と、複数の受光領域を有する単一の光検出器
9を用いることにより、非常に簡単な構成で、フォーカ
ス誤差信号、トラッキング誤差信号、光磁気ディスク情
報信号、プレピット信号の検出が可能となる。
5からの反射光の偏光面を45度回転させる1/2波長
板6と、1/2波長板6を透過した光束を収れんさせる
凸レンズ7と、凸レンズ7による収れん光束中に置かれ
、入射光を偏光膜を有する面A8aで透過光と反射光の
2光束に分離して同方向に出射し、かつ面A8aの反射
光が2次曲面からなる略円柱状面B8bで反射する構成
であり、従来の偏光ビームスプリッタの機能とシリンド
リカルレンズの機能を合わせ持っている偏光ビームスプ
リッタ81と、複数の受光領域を有する単一の光検出器
9を用いることにより、非常に簡単な構成で、フォーカ
ス誤差信号、トラッキング誤差信号、光磁気ディスク情
報信号、プレピット信号の検出が可能となる。
【0040】さらに保持部材17を設けて、凸レンズ7
と偏光ビームスプリッタ81とを所定の一定距離Lに保
ち光軸方向W1に移動可能とすることにより、凸レンズ
7と偏光ビームスプリッタ81の2次曲面からなる略円
柱状面B8bとで発生するフォーカス誤差信号用の非点
収差量を常に一定に保って調整することができる。
と偏光ビームスプリッタ81とを所定の一定距離Lに保
ち光軸方向W1に移動可能とすることにより、凸レンズ
7と偏光ビームスプリッタ81の2次曲面からなる略円
柱状面B8bとで発生するフォーカス誤差信号用の非点
収差量を常に一定に保って調整することができる。
【0041】すなわち、これらの構成によって、構成部
品数の低減により低価格化を実現した上で、誤差信号の
変動分を一定に保って、短時間で安定した性能を発揮で
きる調整が可能となり量産性を向上させることができる
。なお、本実施例においては偏光ビームスプリッタ81
における面B8bは光学的に凹の円柱状反射面としたが
これは凸でも同様の効果を得ることができる。
品数の低減により低価格化を実現した上で、誤差信号の
変動分を一定に保って、短時間で安定した性能を発揮で
きる調整が可能となり量産性を向上させることができる
。なお、本実施例においては偏光ビームスプリッタ81
における面B8bは光学的に凹の円柱状反射面としたが
これは凸でも同様の効果を得ることができる。
【0042】また図1と同様に、偏光ビームスプリッタ
81および光検出器9の全体を光軸を中心にW3の方向
にに45度回転させて設置すれば同様の効果をさらに少
ない部品点数で得ることが可能である。
81および光検出器9の全体を光軸を中心にW3の方向
にに45度回転させて設置すれば同様の効果をさらに少
ない部品点数で得ることが可能である。
【0043】さらに本実施例においても、図3のように
凸レンズ7と偏光ビームスプリッタ81とを複合化して
一体の光学素子としてもよいことは言うまでもない。
凸レンズ7と偏光ビームスプリッタ81とを複合化して
一体の光学素子としてもよいことは言うまでもない。
【0044】(実施例3)以下本発明の第3の実施例に
ついて図面を参照しながら説明する。
ついて図面を参照しながら説明する。
【0045】図5は本発明の第3の実施例による光検出
器の調整経過を示した図であり、他の構成は基本的に図
1の構成と同様である。
器の調整経過を示した図であり、他の構成は基本的に図
1の構成と同様である。
【0046】図5において、9は光検出器、13は光ス
ポットT、14は光スポットF、18は4分割受光領域
、19は2分割受光領域である。
ポットT、14は光スポットF、18は4分割受光領域
、19は2分割受光領域である。
【0047】以上のように構成された光学ヘッドについ
て、以下その動作を説明する。図1におけるディスク5
からの反射光は凸レンズ7により収れん光となり、偏光
ビームスプリッタ8へ入射する。ここで、本実施例は偏
光ビームスプリッタ8および光検出器9の全体を光軸を
中心にW3の方向に45度回転させて設置した場合とす
る。
て、以下その動作を説明する。図1におけるディスク5
からの反射光は凸レンズ7により収れん光となり、偏光
ビームスプリッタ8へ入射する。ここで、本実施例は偏
光ビームスプリッタ8および光検出器9の全体を光軸を
中心にW3の方向に45度回転させて設置した場合とす
る。
【0048】偏光ビームスプリッタ8に入射する光束の
動作については図1と全く同一であって、偏光ビームス
プリッタ8へ入射した光束のうち、S偏光(紙面に垂直
な偏光成分)は、面A8aで反射され、焦点P10に収
れんし、光検出器9上にトラッキング誤差信号用の光ス
ポットT13を形成する。また、P偏光(紙面に平行な
偏光成分)は、面A8aを透過後さらに面B8bを透過
し、紙面に平行な面内では面B8bのレンズ効果により
収れんの度合が強められ、焦点Q11に収れんする。ま
た、紙面に垂直な面内では、面B8bは平面であるため
、透過後、破線で示した光路を経て焦点R12へと収れ
んする。すなわち偏光ビームスプリッタ8により、P偏
光は非点収差を発生し、光検出器9上にフォーカス誤差
信号用の光スポットF14を形成する。効果としても図
1と全く同一であって、構成部品数の低減により低価格
化を実現した上で、誤差信号の変動分を一定に保って、
短時間で安定した性能を発揮できる調整が可能となり量
産性を向上させることができる。
動作については図1と全く同一であって、偏光ビームス
プリッタ8へ入射した光束のうち、S偏光(紙面に垂直
な偏光成分)は、面A8aで反射され、焦点P10に収
れんし、光検出器9上にトラッキング誤差信号用の光ス
ポットT13を形成する。また、P偏光(紙面に平行な
偏光成分)は、面A8aを透過後さらに面B8bを透過
し、紙面に平行な面内では面B8bのレンズ効果により
収れんの度合が強められ、焦点Q11に収れんする。ま
た、紙面に垂直な面内では、面B8bは平面であるため
、透過後、破線で示した光路を経て焦点R12へと収れ
んする。すなわち偏光ビームスプリッタ8により、P偏
光は非点収差を発生し、光検出器9上にフォーカス誤差
信号用の光スポットF14を形成する。効果としても図
1と全く同一であって、構成部品数の低減により低価格
化を実現した上で、誤差信号の変動分を一定に保って、
短時間で安定した性能を発揮できる調整が可能となり量
産性を向上させることができる。
【0049】ここで、図5は図1の光検出器9のW2矢
視図であり、光検出器9の調整経過を示している。すな
わち図5(A)は、光検出器9を調整する前の状態を示
す図である。光スポットT13,F14と、2分割受光
領域19,4分割受光領域18との位置関係を示してい
る。この状態では光スポットF14を用いた非点収差法
による安定したフォーカス誤差信号と、光スポットT1
3を用いたプッシュプル法による安定したトラッキング
誤差信号を得ることができない。
視図であり、光検出器9の調整経過を示している。すな
わち図5(A)は、光検出器9を調整する前の状態を示
す図である。光スポットT13,F14と、2分割受光
領域19,4分割受光領域18との位置関係を示してい
る。この状態では光スポットF14を用いた非点収差法
による安定したフォーカス誤差信号と、光スポットT1
3を用いたプッシュプル法による安定したトラッキング
誤差信号を得ることができない。
【0050】図5(B)は、第1調整段階を示す図であ
る。偏光ビームスプリッタ8からの2つの出射光の内、
2次曲面からなる略円柱状面B8bを経た出射光による
光スポットF14が、光検出器9における4分割受光領
域18の所定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平
面内で光検出器9を位置調整した状態である。ここで図
示のように、4分割受光領域18の所定位置とは、光ス
ポットF14の中心に、4分割受光領域18の2本の分
割線の交点が一致する位置である。この状態では光スポ
ットF14を用いた非点収差法による安定したフォーカ
ス誤差信号を得ることができる。
る。偏光ビームスプリッタ8からの2つの出射光の内、
2次曲面からなる略円柱状面B8bを経た出射光による
光スポットF14が、光検出器9における4分割受光領
域18の所定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平
面内で光検出器9を位置調整した状態である。ここで図
示のように、4分割受光領域18の所定位置とは、光ス
ポットF14の中心に、4分割受光領域18の2本の分
割線の交点が一致する位置である。この状態では光スポ
ットF14を用いた非点収差法による安定したフォーカ
ス誤差信号を得ることができる。
【0051】図5(C)は、第2調整段階を示す図であ
る。図(B)の状態では、素子精度、取り付け精度など
によって、光スポットT13,F14と、2分割受光領
域19,4分割受光領域18との位置関係が所望の位置
関係にない。すなわち図(B)の調整によって、光スポ
ットF14を用いた非点収差法による安定したフォーカ
ス誤差信号を得ることができるが、光スポットT13の
中心と2分割受光領域の分割線とは一致せず、光スポッ
トT13を用いたプッシュプル法による安定したトラッ
キング誤差信号を得ることができない。そこで図5(C
)に示すように、図5(B)の光スポットF14の中心
に、4分割受光領域18の2本の分割線の交点が一致す
る位置した所定の位置を中心に、光検出器9を回動調整
した状態である。この状態で、光スポットF14を用い
た非点収差法による安定したフォーカス誤差信号と、光
スポットT13を用いたプッシュプル法による安定した
トラッキング誤差信号を得ることができる。
る。図(B)の状態では、素子精度、取り付け精度など
によって、光スポットT13,F14と、2分割受光領
域19,4分割受光領域18との位置関係が所望の位置
関係にない。すなわち図(B)の調整によって、光スポ
ットF14を用いた非点収差法による安定したフォーカ
ス誤差信号を得ることができるが、光スポットT13の
中心と2分割受光領域の分割線とは一致せず、光スポッ
トT13を用いたプッシュプル法による安定したトラッ
キング誤差信号を得ることができない。そこで図5(C
)に示すように、図5(B)の光スポットF14の中心
に、4分割受光領域18の2本の分割線の交点が一致す
る位置した所定の位置を中心に、光検出器9を回動調整
した状態である。この状態で、光スポットF14を用い
た非点収差法による安定したフォーカス誤差信号と、光
スポットT13を用いたプッシュプル法による安定した
トラッキング誤差信号を得ることができる。
【0052】以上のように本実施例によれば、図1,図
2で述べた、構成部品数の低減により低価格化を実現し
た上で、誤差信号の変動分を一定に保って、短時間で安
定した性能を発揮できる調整が可能となり量産性を向上
させることができるという効果に加え、光検出器9の調
整に関しても短時間で安定した性能を発揮できる調整が
可能となり、一層の量産性の向上を実現できる。
2で述べた、構成部品数の低減により低価格化を実現し
た上で、誤差信号の変動分を一定に保って、短時間で安
定した性能を発揮できる調整が可能となり量産性を向上
させることができるという効果に加え、光検出器9の調
整に関しても短時間で安定した性能を発揮できる調整が
可能となり、一層の量産性の向上を実現できる。
【0053】なお本実施例では、光検出器9の調整手段
に関しては言及していないが、図5(A),(B),(
C)の段階を経る調整であれば、特に限定されるもので
はない。
に関しては言及していないが、図5(A),(B),(
C)の段階を経る調整であれば、特に限定されるもので
はない。
【0054】
【発明の効果】以上のように本発明は、半導体レーザと
、半導体レーザからの光を情報記録媒体上に集光させる
、対物レンズ等で構成される集光手段と、情報記録媒体
からの反射光を分離するビームスプリッタ等からなる光
束分離手段と、情報記録媒体上のフォーカス誤差信号、
トラッキング誤差信号および情報信号を検出する検出手
段を具備し、検出手段は、光束分離手段で分離された光
束中に置かれ、偏光面を45度回転させる1/2波長板
と、1/2波長板透過した光束を収れんさせる凸レンズ
と、凸レンズによる収れん光束中に置かれ、入射光を偏
光膜で透過光と反射光の2光束に分離して同方向に出射
し、かつ透過光もしくは反射光のいずれか一方の光束が
2次曲面からなる略円柱状面で反射もしくは透過する偏
光ビームスプリッタと、偏光ビームスプリッタからの光
束を受光する多分割光検出器と、多分割光検出器で発生
した電気信号を演算する演算回路から構成され、凸レン
ズと偏光ビームスプリッタは所定の一定距離に保持され
て入射光束の光軸方向に移動可能な構成である。
、半導体レーザからの光を情報記録媒体上に集光させる
、対物レンズ等で構成される集光手段と、情報記録媒体
からの反射光を分離するビームスプリッタ等からなる光
束分離手段と、情報記録媒体上のフォーカス誤差信号、
トラッキング誤差信号および情報信号を検出する検出手
段を具備し、検出手段は、光束分離手段で分離された光
束中に置かれ、偏光面を45度回転させる1/2波長板
と、1/2波長板透過した光束を収れんさせる凸レンズ
と、凸レンズによる収れん光束中に置かれ、入射光を偏
光膜で透過光と反射光の2光束に分離して同方向に出射
し、かつ透過光もしくは反射光のいずれか一方の光束が
2次曲面からなる略円柱状面で反射もしくは透過する偏
光ビームスプリッタと、偏光ビームスプリッタからの光
束を受光する多分割光検出器と、多分割光検出器で発生
した電気信号を演算する演算回路から構成され、凸レン
ズと偏光ビームスプリッタは所定の一定距離に保持され
て入射光束の光軸方向に移動可能な構成である。
【0055】また、1/2波長板を用いる代わりに、偏
光ビームスプリッタおよび多分割光検出器とを偏光ビー
ムスプリッタに入射する光軸を中心として45度回転し
て設置してもよい。
光ビームスプリッタおよび多分割光検出器とを偏光ビー
ムスプリッタに入射する光軸を中心として45度回転し
て設置してもよい。
【0056】また凸レンズと偏光ビームスプリッタとが
一体の光学素子であってもよい。さらに偏光ビームスプ
リッタからの2つの出射光の内、2次曲面からなる略円
柱状面を経た出射光が、多分割光検出器における受光領
域の所定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平面内
で多分割光検出器を位置調整し、かつこの受光領域の所
定位置を中心に、多分割光検出器を回動調整する調整手
段を設けた構成である。
一体の光学素子であってもよい。さらに偏光ビームスプ
リッタからの2つの出射光の内、2次曲面からなる略円
柱状面を経た出射光が、多分割光検出器における受光領
域の所定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平面内
で多分割光検出器を位置調整し、かつこの受光領域の所
定位置を中心に、多分割光検出器を回動調整する調整手
段を設けた構成である。
【0057】これらの構成とすることにより、構成部品
数の低減により低価格化を実現した上で、光検出器の複
数の受光領域で受光した光量を電気信号に変換し、その
複数の電気信号を演算することにより、光磁気ディスク
情報信号、プレピット信号、フォーカス誤差信号、トラ
ッキング誤差信号の検出が可能とする。また凸レンズと
偏光ビームスプリッタは所定の一定距離に保持されて入
射光束の光軸方向に移動可能であるため、誤差信号の変
動分を一定に保って、短時間で安定した性能を発揮でき
る調整が可能となり量産性を向上させることができる。 さらに多分割光検出器を2段階で調整する調整手段を設
けることにより、多分割光検出器の調整に関しても短時
間で安定した性能を発揮できる調整が可能となり、一層
の量産性の向上を達成できるという優れた光学ヘッドを
実現できるものである。
数の低減により低価格化を実現した上で、光検出器の複
数の受光領域で受光した光量を電気信号に変換し、その
複数の電気信号を演算することにより、光磁気ディスク
情報信号、プレピット信号、フォーカス誤差信号、トラ
ッキング誤差信号の検出が可能とする。また凸レンズと
偏光ビームスプリッタは所定の一定距離に保持されて入
射光束の光軸方向に移動可能であるため、誤差信号の変
動分を一定に保って、短時間で安定した性能を発揮でき
る調整が可能となり量産性を向上させることができる。 さらに多分割光検出器を2段階で調整する調整手段を設
けることにより、多分割光検出器の調整に関しても短時
間で安定した性能を発揮できる調整が可能となり、一層
の量産性の向上を達成できるという優れた光学ヘッドを
実現できるものである。
【図1】本発明の第1の実施例における光学ヘッドの概
略図
略図
【図2】第1の実施例におけるフォーカス誤差信号検出
の動作説明ための要部拡大図
の動作説明ための要部拡大図
【図3】第1の実施例において複合化した偏光ビームス
プリッタを示す図
プリッタを示す図
【図4】本発明の第2の実施例の主要部を示した図
【図
5】本発明の第3の実施例による光検出器の調整経過を
示した図
5】本発明の第3の実施例による光検出器の調整経過を
示した図
【図6】従来の光学ヘッドの概略図
1 半導体レーザ
2 コリメートレンズ
3 ビームスプリッタ
4 対物レンズ
5 ディスク
6 1/2波長板
7 凸レンズ
8、81、82、28 偏光ビームスプリッタ8a、
8b 面 9 光検出器 10、11、12、41、42 焦点13、14
光スポット 15 加算器 16 減算器 17 保持部材 18、31 4分割受光領域 19、29 2分割受光領域 30 凸シリンドリカルレンズ
8b 面 9 光検出器 10、11、12、41、42 焦点13、14
光スポット 15 加算器 16 減算器 17 保持部材 18、31 4分割受光領域 19、29 2分割受光領域 30 凸シリンドリカルレンズ
Claims (4)
- 【請求項1】 半導体レーザと、前記半導体レーザか
らの光を情報記録媒体上に集光させる、対物レンズ等で
構成される集光手段と、前記情報記録媒体からの反射光
を分離するビームスプリッタ等からなる光束分離手段と
、前記情報記録媒体上のフォーカス誤差信号、トラッキ
ング誤差信号および情報信号を検出する検出手段を具備
し、前記検出手段は、前記光束分離手段で分離された光
束中に置かれ、偏光面を45度回転させる1/2波長板
と、前記1/2波長板透過した光束を収れんさせる凸レ
ンズと、前記凸レンズによる収れん光束中に置かれ、入
射光を偏光膜で透過光と反射光の2光束に分離して同方
向に出射し、かつ前記透過光もしくは反射光のいずれか
一方の光束が2次曲面からなる略円柱状面で反射もしく
は透過する偏光ビームスプリッタと、前記偏光ビームス
プリッタからの光束を受光する多分割光検出器と、前記
多分割光検出器で発生した電気信号を演算する演算回路
から構成され、前記凸レンズと前記偏光ビームスプリッ
タは所定の一定距離に保持されて入射光束の光軸方向に
移動可能であることを特徴とする光学ヘッド。 - 【請求項2】 半導体レーザと、前記半導体レーザか
らの光を情報記録媒体上に集光させる、対物レンズ等で
構成される集光手段と、前記情報記録媒体からの反射光
を分離するビームスプリッタ等からなる光束分離手段と
、前記情報記録媒体上のフォーカス誤差信号、トラッキ
ング誤差信号および情報信号を検出する検出手段を具備
し、前記検出手段は、前記光束分離手段で分離された光
束を収れんさせる凸レンズと、前記凸レンズによる収れ
ん光束中に置かれ、入射光を偏光膜で透過光と反射光の
2光束に分離して同方向に出射し、かつ前記透過光もし
くは反射光のいずれか一方の光束が2次曲面からなる略
円柱状面で反射もしくは透過する偏光ビームスプリッタ
と、前記偏光ビームスプリッタからの光束を受光する多
分割光検出器と、前記多分割光検出器で発生した電気信
号を演算する演算回路から構成され、前記偏光ビームス
プリッタは、前記多分割光検出器と共に、前記偏光ビー
ムスプリッタへ入射する光束の光軸を中心として前記光
束の偏光面に対し45度回転して設けられ、前記凸レン
ズと前記偏光ビームスプリッタは所定の一定距離に保持
されて入射光束の光軸方向に移動可能であることを特徴
とする光学ヘッド。 - 【請求項3】 凸レンズと偏光ビームスプリッタとが
一体の光学素子であることを特徴とする請求項1もしく
は請求項2記載の光学ヘッド。 - 【請求項4】 偏光ビームスプリッタからの2つの出
射光の内、2次曲面からなる略円柱状面を経た出射光が
、多分割光検出器における受光領域の所定位置に入射す
る位置に、前記出射光に垂直な平面内で前記多分割光検
出器を位置調整し、かつ前記出射光が入射した前記多分
割光検出器における受光領域の前記所定位置を中心に、
前記多分割光検出器を回動調整する調整手段を設けたこ
とを特徴とする請求項1、請求項2もしくは請求項3記
載の光学ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10128591A JPH04228137A (ja) | 1990-05-14 | 1991-05-07 | 光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12343090 | 1990-05-14 | ||
JP2-123430 | 1990-05-14 | ||
JP2-338121 | 1990-11-30 | ||
JP33812190 | 1990-11-30 | ||
JP10128591A JPH04228137A (ja) | 1990-05-14 | 1991-05-07 | 光学ヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04228137A true JPH04228137A (ja) | 1992-08-18 |
Family
ID=27309426
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10128591A Pending JPH04228137A (ja) | 1990-05-14 | 1991-05-07 | 光学ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04228137A (ja) |
-
1991
- 1991-05-07 JP JP10128591A patent/JPH04228137A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5172369A (en) | Optical pickup, optical information recording carrier and recording and reproducing apparatus thereof | |
JP2539350B2 (ja) | 光ヘツド装置 | |
JP2559011B2 (ja) | 光ヘッド | |
US6888786B2 (en) | Optical device and optical storage device | |
JP2000268391A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JPH04228137A (ja) | 光学ヘッド | |
US6396638B1 (en) | Optical pickup device capable of stable tracking | |
JPS586534A (ja) | 再生装置の光学装置 | |
JPH01290127A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JPS62129944A (ja) | 光学ヘツド | |
JP2544639B2 (ja) | 光ピックアップ | |
JPH05258380A (ja) | 光学ヘッド | |
JP2659239B2 (ja) | 光ヘッド | |
JPH0743833B2 (ja) | 光学式記録再生装置 | |
JPH06259790A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JPS63279448A (ja) | 光磁気記録再生装置 | |
JPH0836781A (ja) | 光学ヘッド | |
JPH06124463A (ja) | 光学式記録再生装置 | |
JPH02173937A (ja) | 光記録再生装置 | |
JPH087325A (ja) | 光ヘッド装置 | |
JPH0413229A (ja) | 光学的情報記録再生装置 | |
JPH02168469A (ja) | 光磁気ディスク用光学ヘッド | |
JPH103683A (ja) | 光学ヘッド及びそれに適する光学素子及び保持部材 | |
JPS63175236A (ja) | 光ヘツド装置 | |
JPH01235043A (ja) | 光ヘッド及び光情報処理装置 |