JPH04227503A - コンピュータ被制御装置の選択的非活性化方法 - Google Patents

コンピュータ被制御装置の選択的非活性化方法

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JPH04227503A
JPH04227503A JP3142449A JP14244991A JPH04227503A JP H04227503 A JPH04227503 A JP H04227503A JP 3142449 A JP3142449 A JP 3142449A JP 14244991 A JP14244991 A JP 14244991A JP H04227503 A JPH04227503 A JP H04227503A
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termination
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JP3142449A
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Deii Sutatsubusu Debitsudo
デビッド・ディー・スタッブス
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Tektronix Japan Ltd
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Sony Tektronix Corp
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    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B17/00Systems involving the use of models or simulators of said systems
    • G05B17/02Systems involving the use of models or simulators of said systems electric
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B15/00Systems controlled by a computer
    • G05B15/02Systems controlled by a computer electric
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンピュータで制御さ
れる装置を制御する方法、特に、動作を行うために用い
る複数のコンピュータ被制御装置を制御する方法に関す
る。なお、本発明の好適な実施例は、被試験装置に種々
の試験を実行するためにプログラマブル試験装置、又は
直接若くは間接コンピュータ被制御試験装置の終了を最
適化する方法を扱う。
【0002】
【従来の技術】スクリーン又は操作者へのその他のプロ
ンプトにより、機器を間接的に制御して、その機器の状
態を変更できる。かかるシステムにおいて、電源や、機
器及び被試験装置間のリンケージ等の機器を、以下単に
装置と呼ぶ。実行する試験に応じて、種々の装置を互い
に結合すると共に被試験装置にも結合して、種々の試験
を行う。
【0003】なお、本発明の対象には、複数の装置を組
み合わせて、試験及び操作を行う任意の一般的なシステ
ムも含まれる。よって、この概念は、流体経路の異なる
組み合わせが存在する流体の流れシステムを制御したり
、他のシステム制御アプリケーションにも利用できる。
【0004】試験機器、信号路装置及び被試験装置の如
きプログラマブル装置のシステムは、コンピュータ上で
動作するソフトウェア・プログラム(試験プログラム)
に応じて、コンピュータが表示するか他の方法で示す指
示に応じて、コンピュータからの信号又は操作者により
直接的に制御される装置を含んでいる。これらシステム
には、問題解決のための書込みが行われ、いくつかの点
を指摘する。これらの点には、総合試験時間、試験シス
テム破損、試験プログラム内での試験モジュール位置の
柔軟さ、試験プログラム及び試験システム間での簡易性
、操作者、試験システム、及び被試験装置の安全性など
がある。
【0005】ほとんどの試験の場合、総合試験時間は、
最短にすべきである。すなわち、被試験装置を試験する
のに要する時間を短くすればするほど、より多くの装置
を試験できる。同時に、試験システムの機械的部品をで
きるだけ少なくするのが望ましい。反復現象は、典型的
には、試験時間を長くし、機械的破損の大きな原因であ
る。
【0006】試験装置及び信号経路の異なるグループと
して反復するこれら装置を、呼び出したり、その使用を
止めたりする。反復とは、信号源又は目的装置のオン及
びオフを繰り返したり、2個の装置間の信号路を例えば
スイッチ・マトリックスにより閉じたり、開いたりする
ことである。また、反復は、開始から完了までに時間が
かかるので、測定を行う速度や、被試験装置を試験する
速度を低下させる。
【0007】しばしば、試験プログラムを書くことによ
り、モジュール試験又は測定手順(試験モジュール)を
構成する。なお、モジュールは、試験プログラムの履歴
(過去)及び未来の両方から独立している。すなわち、
以前及び次の試験モジュールの実行に影響しない方法で
、試験モジュールが書かれる。
【0008】モジュール化には、いくつかの利点がある
。真のモジュール化の場合、任意のモジュールの内部構
造を変更することなく、試験プログラム内で試験モジュ
ールを実行するシーケンスを交互に行える。この状況の
モジュール化により、試験モジュールを並べ変えること
ができる。例えば、頻繁に起こる被試験装置の故障をす
ばやく検出する試験を実行して、総合試験時間を短縮で
きる。また、モジュール化により、試験モジュールを、
互換性のある形式で書かれた異なる試験プログラムで用
いることができるのみならず、異なるが互換性のある試
験システムで動作する試験プログラムでも用いることが
できる。この小形のモジュール化により、試験を独立に
実行できる。例えば、試験モジュールが作った特定の環
境下での被試験装置の動作を分析できる。また、小形の
モジュール化により、新たな試験プログラムを書き換え
なければならないとき、既に存在する試験モジュールを
再構成する必要がなくなるので、試験プログラムのコス
トを低減できる。
【0009】試験プログラマは、安全な(確実な)プロ
グラムを目指さなければならない。確実な順序を目指す
ために、プログラマは、試験モジュールをアレンジして
、他の装置の破壊を防ぐシーケンスで、被試験装置をオ
ン及びオフする。例えば、ソース装置(信号源、電源)
がオフした後で、信号路を遮断して、この信号路スイッ
チがアークするのを防止する。例えば、モータの電機子
巻線に電力を供給する前に、このモータのシャント巻線
への電力をオフにして、その設計限界より早くモータが
切り替わるのを防止する。危険防止を目指すために、プ
ログラマは、オンになっている総べての危機を迅速に遮
断することにより、システム装置、被試験装置及び試験
システム操作者を突然の危険状態から保護する方法を講
じなければならない。「遮断」は、何が確実で、良好で
、又は安定した状態かを考察するのと等価である。
【0010】試験プログラマは、種々の技法を用いて、
これらの点を目指すことができるが、共通のアプローチ
では、1つ以上の領域で妥協するが、他の領域で利点が
得られる。
【0011】最も簡単な解決法では、試験時間を犠牲に
すると共に、繰り返しによる機器の損傷を犠牲にし、危
険性に対する安全を無視して、完全に位置変更可能で小
形のモジュールを達成するように試験モジュールを書く
。ここでは、装置をオンにするように各試験モジュール
を書く。これは、確実な順序のため、試験の実行のため
、及び確実に装置をオフにするために必要である。この
危険に対する安全を対象とする場合、他の手段が安全を
目指しても、その解決法においてその技術が役目を果た
さないとき、この技術は、問題を無視したことになる。
【0012】2つの解決法により、試験プログラマは、
モジュール化を犠牲にし、危険に対する安全を無視する
ことにより、反復に対してプログラムを最適化できる。
【0013】コマンド対を除去することにより、プログ
ラマは、確実な順序でのオン及びオフ・コマンドを最少
の数とした試験モジュールの固定シーケンスの内部から
、装置を制御する対のオフ及びオン・コマンドを選択的
に除去できる。よって、残ったコードは、装置が一度オ
ンになるとオンに留まるという仮定に影響される。この
アプローチは、しばしば試験モジュールの位置変更可能
なモジュール化を制限すると共に、小形のモジュール化
もできない。例えば、第1試験モジュールを第2試験モ
ジュール後に移動して実行し、この試験モジュールを変
更して反復量を減らすと、削除したコードが両方のモジ
ュールに戻るまで、このプログラムは適切に動作しない
。よって、この試験モジュールは、特定の実効経歴によ
り決まり、これからの特定の実効を予測する。
【0014】特定の場合では、試験モジュールは、反復
を最少に減らし、位置移動可能なモジュール化を限定し
、確実な順序を保証する。また、特定の場合では、小形
のモジュール化がなくなり、危険に対する安全が無視さ
れている。異なる装置の組み合わせをオンとして、複数
の可能な実行履歴内で試験モジュールを実行する場合、
特定の場合では、どの試験モジュールが以前に実行され
、それによって装置を制御したかを判断できる。これら
チェックにより、限定された数の特定の実行履歴が可能
となり、モジュールは、その以前の小さな位置変化に対
して敏感でなくなる。逆に、前のモジュールは、その移
動がこれからの移動に影響を与えない限り、その位置を
変化させる。モジュールの順番の大幅な変化、又はモジ
ュールの付加や除去は、各特定の場合を少なくとも再分
析する。特定の場合の試験モジュールは、特定の1組の
実行履歴で決まり、これからの特定の実行を典型的には
予測する。
【0015】特定の実行履歴を必要としないが、総ての
可能な実行履歴を処理する2つの技法がある。オフ・リ
スト技法では、反復を最少に減らして、位置移動可能な
モジュール化を達成する。小形のモジュール化及び順序
の確実性は相反するものであり、危険に対する安全性を
無視する。各試験モジュールは、そのモジュールが作業
を開始できる前にオフにしなければならない総ての試験
システム装置のリスト、即ち、オフ・リストを提供する
。試験モジュール自体又は試験システム・ユーティリテ
ィ手順は、リスト内でオフと表される各装置を知らせる
。そのリストから選択した装置を除くことにより、これ
ら装置が既にオンならば、これらをオンのまま残せる。 次に、試験モジュールは、必要とする装置をオンにし、
オンになっている装置を冗長的にオンとし、試験を実行
する。特定の履歴に基ずき、装置を確実にオフとするよ
うにオフ・リストを作成するならば、モジュールから位
置変更可能なモジュール化機能がなくなる。そのリスト
が特定の履歴に対して順序よくなっていなければ、前の
モジュールによりオンとされた装置を、確実な順序でオ
フにすることを保証できない。オフ・リストを有する試
験モジュールは、異なる装置を有する試験システムを直
接的に小形化するものではない。その理由は、これら装
置は、そのモジュールのオフ・リスト内に現れないが、
前の試験モジュールによりオンとされている。このオフ
・リスト技法により、試験モジュールは、総ての可能な
実行履歴を扱え、これからのモジュールの実行の影響を
無視し、実行中の試験システム内の総ての装置を知るこ
とを要求する。
【0016】オン・リスト技法においては、反復を最少
に減らし、位置変更可能で小形のモジュール及び危険に
対する安全性を達成するが、順序を確実にすることは可
能でない。各試験モジュールは、オンになり、オンのま
まとなる総ての試験システム装置のリストを提供する。 そして、試験システム・ユーティリティ手順は、オン・
リストにない試験システムが分かっている総ての装置を
オフにできる。試験システム・ユーティリティでの試験
システム内の総ての装置を知る代わりに、試験モジュー
ルが小形にできる。オンであるか、これからオンになる
装置のリストにより、危険に対する安全の手順は、必要
に応じて、これら装置を迅速にオフにできる。このリス
トは、危険な状態であっても、正しい順序で、装置をオ
フにするように確実に並べることができる。しかし、こ
の技法は、完全には、順序を確実にしない。試験システ
ム・ユーティリティが装置のリストをモジュールのオン
・リストと比較する際、試験モジュールのオン・リスト
にない装置をオフにする順序を知る方法がない。このオ
ン・リスト技法により、試験モジュールは、総ての可能
な実行履歴を処理し、これからのモジュールの実行によ
る影響を無視し、利用しない試験システム装置の存在を
無視できる。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】よって、反復を減らす
ことにより、試験の実行時間及び試験システムの損傷を
減少する方法で、試験モジュールを書ける方法及びシス
テムの必要性がある。これは、試験プログラムの位置変
更に対してモジュールであり、他の互換性があるように
書かれた試験プログラム及び試験システムに対して小形
である。また、これは、試験システム内の他の装置に対
して順序を確実にする。さらに、現在オンである試験シ
ステム内の装置の確実に配列したリストを提供すること
により、危険に対する安全性の試験プログラム・サブシ
ステムを援助する。
【0018】したがって、本発明の目的は、自動的に分
析を行う最適化ルーチンと、2個の連続的な試験モジュ
ール又は操作間のインタフェースを制御する装置とを与
えることにより、試験プログラムを準備する従来方法の
欠点を克服した方法の提供にある。
【0019】
【課題を解決するための手段】本発明は、コンピュータ
で制御される装置(以下、コンピュータ被制御装置とい
う)の非活性化を制御する方法及びシステムを提供する
ものである。方法においては、複数のコンピュータ被制
御装置を説明し、操作するコンピュータ・システム・デ
ータを入力するステップと、第1組の複数の装置を用い
て第1動作を決めるデータを入力するステップとを含ん
でいる。データをシステムに入力して、第1組の装置を
使用する第1動作の実行を開始させる。第1組の装置を
用いて第1動作を実行する前は、活性化されているが第
1組にない装置が非活性化され得る。非活性化されてい
る第1組の装置は、活性化される。よって、第1動作の
開始前に活性化状態であり、第1組の一部である装置は
、活性化されたままであり、反復されない。
【0020】本発明を実現する好適な実施例においては
、複数の試験期間中に、コンピュータ被制御試験装置の
オフを制御するシステムを提供する。ここでは、各試験
に複数組の試験装置の1組を用いる。データを試験機器
制御コンピュータ・システムに入力して、実行すべき試
験を決め、各試験モジュールに必要な1組の試験装置を
定める。命令をこのシステムに入力して、オンである装
置のどれを現在の試験に対してオフにすべきかを適切に
定める。
【0021】好適には、各装置に対するシステムに付加
情報を入力する。この情報には、装置をオフにする幅広
いシステム装置を終了にする手順が含まれる。さらに、
モジュール内の装置の各使用に対して、装置がオフかオ
ンかを示す装置状態指示子を設けると共に、この装置を
オフにできるようにする前に、オフにしなければならな
いモジュールで使用する他の装置のリストを設ける。よ
って、装置をオフにするステップは、装置をオフにする
前に他の装置のリスト内の総ての装置をオフにし、関連
した装置を終了させる手順を用いて装置をオフにし、こ
の利用においてオフの装置を示すように状態指示子を設
定する。その結果、オフにする必要のない装置は、オフ
にならない。
【0022】各試験モジュールを実行する前にこの手順
を必要とすることにより、装置の反復を最少にし、種々
の動作又は試験を実行するのに必要とされるように、装
置を適切に非活性化するか、活性状態にすることがわか
る。
【0023】本発明のこれら及び他の特徴及び利点は、
添付図を参照した好適実施例の以下の詳細説明より明ら
かになろう。
【0024】
【実施例】図1は、本発明により構成したコンピュータ
・システムに結合され、被試験装置を試験するために互
いに結合された複数のコンピュータ被制御試験機器を示
す。システム20は、本発明による方法を実行する。こ
のシステム20は、コンピュータ23への入力装置であ
るキーボード21及びマウス22を含んでいる。コンピ
ュータ23には、メモリ24(図示せず)、プロセッサ
25(図示せず)及びその可視出力装置である表示器2
6を具えている。これらは総て、概略的に27で示すプ
ログラマブル試験機器システムを制御し、電気モータの
如き被試験装置(DUT)28を刺激し、その答を検出
して分析する。
【0025】機器システム27は、インタフェース・バ
ス(IEEE−488)30と、3個の信号発生機器3
2、33、34と、3個の信号検知機器41、42、4
3と、スイッチ・マトリックス38とを含んでおり、こ
れら総ては、バス30に接続されて、システム20から
の制御信号を受ける。機器32、33及び34は、シャ
ント電源、電機子電源及びb電機子電源であり、夫々接
続線35、36及び37によりスイッチ・マトリックス
38に結合されて、接続線39及び40を介してDUT
28に配電する。機器41、42及び43は、回転速度
センサ、温度センサ、及び電圧センサであり、接続線4
4、45及び46を介してスイッチ・マトリックス38
に接続されて、接続線47及び48を介してDUT28
からスイッチ・マトリックス38により選択された信号
を検知する。機器32、33、34、41、42、43
及びスイッチ・マトリックス38の各々を、コンピュー
タ・システム20で制御してもよい。コンピュータ・シ
ステム20は、データ・フローで表すブロック図を作成
及び編集するブロック図エディタ・ソフトウェアを好適
には含んでいる。このソフトウェアは、1989年9月
19日に発行されたジョーダン等の米国特許第4868
785号「電子機器制御用ブロック図エディ及び方法」
(特開昭63−271541号に対応)に開示されてい
る。
【0026】試験プログラムを生成する間、本発明によ
れば、プログラマは、システム内の各装置用の装置終了
手順及びアンサンブル(ひと揃いの)データ構造を定め
る。各調和は、図1に示す機器及び接続の如く、1組の
装置を表す。各アンサンブルは、図2に示す如く、1組
の終了タスク・データ構造を含んでいる。各タスクは、
試験プログラム・モジュール内の他の装置と共に動作可
能な機器、例えば、測定又は試験手順間の接続や機器の
如き装置の使用を表す。さらに、各タスクは、アンサン
ブル内のゼロ又はそれ以上の前のタスクにリンクされて
いる。このリンクは、特定のタスク装置をオフにする前
に、前のタスク装置をオフにする必要があることを表す
。モジュール内において、グループ内の任意の装置にそ
の設定を変更するように、オンとするように、測定を行
うように、又は動作するように命令する前に、プログラ
マは、プログラム・ラインを挿入して、本発明のアンサ
ンブル最適化手順を求めるようにし、ポインタをモジュ
ール・アンサンブル・データ構造に渡す。このアンサン
ブル最適化手順は、どの装置終了手順を求めるべきかを
判断して、それを求める。
【0027】アンサンブル・ポインタがそれ以外のアン
サンブルを指示しているならば、そのシステムは、現在
活性化しているアンサンブル、即ち、現在のアンサンブ
ル・ポインタを表すように保持する。また、2つの最適
化手順を選択的に呼び出して、現在のアンサンブル内の
終了タスクが表す装置を適切な順序でオフにする。この
アンサンブルに関連した各終了タスクの終了フラグを設
定して、装置のグループとの出会いに対して終了手順が
実行されなかったことを表す。現在のアンサンブルポイ
ンタがインストールされたように、このアンサンブルに
対するポインタがインストールされて、制御が試験プロ
グラム・モジュールに戻る。
【0028】アンサンブルに関連した2つの最適化手順
がある。これら手順を用いて、現在のアンサンブルのど
の終了タスクが、装置をオフするのに反復的な終了手順
を実行しなければならないかを判断する。「古い装置の
除去を終了」する手順において、「現在」のアンサンブ
ルに使用されているが、新たなアンサンブルでは使用ス
イッチをオフにする。
【0029】「新たな装置のインストールの終了」手順
において、現在及び新たなアンサンブルの両方で用いる
装置は、新たなアンサンブル内の新たな装置をセットア
ップするためにオフにしなければならず、オフとなる。 新たなアンサンブル内での終了タスクが、このタスクの
終わる前に前のタスクが終わることを必要とし、前のタ
スクが現在のアンサンブル内の対応部分(同じロジック
・ユニット識別子又は装置)を備えていれば、対応部分
がその反復的終了手順を実行して、新たな装置をセット
アップしなければならないという仮定を、上述の最適化
技法は基にしている。
【0030】試験プログラムの終了で動作する現在のア
ンサンブル終了手順を用いて、適切な順序で、現在オン
と仮定される装置をオフにする。同様に、現在のアンサ
ンブル終了手順を試験プログラムのいずれからか呼び出
して、総ての装置をオフにしてもよい。反復終了手順は
、現在のアンサンブル・ポインタが指摘するアンサンブ
ルの各終了タスクに対して実行する。
【0031】特に、アンサンブル手順を用いて、現在の
アンサンブル内の装置が新たなアンサンブル内でないの
で、これら装置をオフにしなければならないかを判断す
る。前の装置を反復的にオフにすることにより、これら
装置をオフにする。そして、いずれにしても、これら装
置をオフにする。新たなアンサンブル内の装置をインス
トールできるようにするためにオフにしなければならな
い現在のアンサンブル内の次の装置を決定する。再び、
次の装置を反復的にオフにすることにより、これら装置
をオフにする。そして、いずれにしても、これら装置を
オフにする。試験プログラムの終わりにおいて、プログ
ラマは、ラインを挿入して、現在のアンサンブル終了手
順を呼び出して、適切な順序で、最後のグループの装置
をオフにする。代表的なアンサンブル最適化手順をリス
トにできる。
【0032】本発明を実施する好適な方法としては、ア
ンサンブル最適化手順は、装置終了手順を含んでいる。 この手順を用いて、インタフェース・バス30などの通
信経路を介してコマンドを送ることにより、システム内
の装置をオフにする。また、この手順は、物理的に接続
すべき装置のグループに対する終了タスクの収集であり
、試験モジュールの測定活性化を実行するのに共に用い
る複数のアンサンブル含んでいる。現在のアンサンブル
・ポインタは、初めにゼロ値を保持するアンサンブル最
適化手順に対して利用可能なプログラム・メモリ位置を
与える。最適化手順を実行するとき、このポインタを更
新して、ポインタを現在活性化している装置のグループ
を表すアンサンブル、即ち、現在のアンサンブルとする
【0033】終了タスクと呼ぶデータ構造49は、アン
サンブル内の1つの装置をオフにする必要性を表す。終
了タスクは、この終了タスクが指示するシステム内のど
の装置かを示す論理ユニット識別子を含んでいる。論理
ユニット識別子50の使用により、特定の物理的装置を
オフにできる装置終了手順からこれら物理的装置を効果
的に非結合する。これにより、装置終了手順を用いて、
電源又は機能発生器の如き形式の任意の装置をオフにで
きる。論理ユニット識別子は、機器32、33又は34
の如き特定の装置を指摘する。図2は、「ps1」とし
て示す論理ユニット識別子を例とする終了タスクの要素
を示す。
【0034】また、終了タスクは、図2の「手順アドレ
ス」として示す如く、装置又は機器終了手順ポインタ5
1も含む。このポインタは、その形式の装置をオフにす
る装置終了手順を決定できる。装置終了手順は、上述と
同じ形式の複数の異なる機器に対して、同じにできる。 これら手順は、例えば、上述の米国特許第4、868、
785号に開示された従来技術である。一般的に52で
表す終了フラグ又は指示子は、関連した装置終了手順が
実行されたか否かを示す。すなわち、これは、装置が活
性化状態か非活性化状態かを示す。終了手順が実行され
たならば、これは終了するか、又は非活性化される。試
験モジュールの開始において、フラグは、この手順が実
行されていないことを示すように、初めは定められてい
る。
【0035】終了タスクは、代わりに、終了フラグを含
まなくてもよい。その代わり、試験プログラムが求め、
維持するメモリ記憶位置は、各装置の状態に影響し、必
要とするシステム部分にこの情報を供給する。各メモリ
記憶位置は、1つの装置のオン/オフ状態を表す。従来
技術と、試験プログラムが提供するユーティリティ手順
の可能な限り利用することとにより、状態フラグを更新
して、その状態が変化したとき、その関連装置の状態に
影響する。すなわち、装置がオン又はオフしたとき、そ
の装置用の状態フラグを更新して、新たな装置状態に影
響させる。これらフラグを設定し、試験する際、安全な
アクセスを行う技術は、「相互除外」の問題として知ら
れており、多くのコンピュータ科学動作システムの教科
書(例えば、1973年にプレンティス・ホール・イン
クが発行した自動計算に関するプレンティス・ホール・
シリーズ「オペレーティング・システム原理」第77ペ
ージ)に開示されている。
【0036】本発明に関して、反復終了手順は、システ
ムが供給した状態フラグを試験して、装置終了手順が実
行されたかを判断できる。要求されると、装置終了手順
は、典型的には、状態フラグを変更するタスクを推測し
て、装置がオフされたかを示す。装置をオンにするコマ
ンドを送るか判断する際に、システム供給の状態フラグ
を付加的に用いる。しばしば、前の試験モジュールで装
置がオンのままであると、その有用な状態においてその
状態を維持するのに更に何かを行う必要がない。装置の
状態フラグを試験することにより、試験モジュールは、
オン・コマンドを実際に発生する必要があるかを判断で
きる。
【0037】最後に、終了タスクは、この装置がオフに
できる前にオフにしなければならない同じアンサンブル
において、他の装置と関連した前の終了タスクに対する
ポインタのリスト54を含んでいる。一般に図2に示す
タスクの収集により表すように、前のリスト54は、前
にタスクがないように構成しなければならない。すなわ
ち、タスクのグラフは、非反復でなければならない。
【0038】反復終了手順は、終了タスクに関連し、次
の方法により、適切な順序で装置終了手順を実行するこ
とを確実にする。反復終了手順によれば、関連したタス
クが、そのタスクの終了フラグをチェックすることによ
り、関連装置終了手順を既に実行したかを判断する。終
了が実行されたことをこのフラグが示せば(例えば、値
真を含んでいれば)、制御がアンサンブル手順に戻る。 終了が実行されていないことをこのフラグが示せば(例
えば、値偽を含んでいれば)、反復終了手順は、このタ
スクの前のタスクの各々に対するそれ自体(反復)を呼
び出す。このタスクの終了手順ポインタを次に決定し、
関連した装置終了手順を実行する。終了手順を実行した
後、このタスクの終了フラグを真に設定する。
【0039】代わりの反復終了手順は、終了フラグを省
く。代わりに、終了したタスクのリスト(初めは空)を
生成する。オフにする必要のある各タスクに対して実行
するように、このリストを反復終了手順に渡す。リスト
にタスクが存在することは、関連した機器がオフとなり
、これ以上の動作を必要としないことを表す。タスクが
リストにないと、前の手順で説明した如く、この手順は
、装置の終了手順を実行中である。次にこのタスクを終
了リストに付加して、制御をアンサンブル最適化手順に
戻す。
【0040】アンサンブル最適化手順を用いて、次のス
テップが最適化方法を実行しなければならないかを判断
する。試験プログラムの最初におけるように、現在のア
ンサンブル・ポインタがゼロならば、これは、この試験
プログラムが用いる装置の第1グループである。よって
、最適化が必要ない。このアンサンブルに対するポイン
タを現在のアンサンブル・ポインタとしてインストール
し、制御を試験プログラム・モジュールに戻す。
【0041】現在のアンサンブル・ポインタがこのアン
サンブルを指摘すると、これら装置を他の時間でループ
内として一緒に用いる。最適化が必要なければ、制御を
試験プログラム・モジュールに戻す。
【0042】図3〜11、特に図3、5及び9は、本発
明を実施する好適実施例により、3つの異なる装置構成
を用いた3つの機器試験の循環例を示す。図3は、温度
測定を行うように対外に接続された装置の1組56を示
している。電気モータ58は、2個の電源端子60及び
62を具えている。端子60は、電機子巻線用であり、
端子62は、シャント巻線用である。また、モータ58
は、温度測定用の端子64と、回転速度測定用の端子6
6とを具えている。
【0043】図5は、オンのとき、接続線Xを介してシ
ャント電源端子に電力を供給するシャント電源68を示
している。図3では、温度測定装置70を接続線Yによ
り温度端子64に接続する。従来形式のプログラマブル
信号ルーチング装置により、端子X及びYを実現する。 表示は、試験プログラムに用いる論理ユニット識別子に
対応する。これらは、どの特定機器をこの構成に用いる
かを示す。
【0044】図4は、図3の構成に関連する第1アンサ
ンブル、即ちアンサンブル−1を箱2内に示す。ここで
、ラベルは、図3のプログラマブル装置に関連した終了
タス(「シャント」、X、Y)を示す。温度測定装置7
0は、終了が必要でない試験システム内に一般にある装
置のたぐいである。また、これらラベルは、上述の論理
ユニット識別子に対応する。「シャント」及びX間の線
は、終了順序を示す。すなわち、スイッチ接点又は物理
的接続の他の機構が開き、端子Xを切断する前に、「シ
ャント」をオフにしなければならない。順序は、「シャ
ント」がまだオンの間にXがオフとなる禁止状態を表す
ようになる。
【0045】図3の装置をオンにする前に、アンサンブ
ル最適化手順をアンサンブル−1用に実行する。アンサ
ンブルがそれに先立たないので、現在のアンサンブル・
ポインタは、初めにゼロである。よって、最適化手順を
実行するときに、アンサンブル−1に対するポインタを
現在のアンサンブル・ポインタにインストールする。試
験モジュールの残りを実行して、接続を設定し、電源を
オンにし、温度試験の残りを実行する。
【0046】図5は、試験プログラムに用いる次の構成
74を示す。ここでは、第2電源(「電機子」)76を
接続線Zによりモータの電機子端子60に接続する。端
子Y及び温度測定装置70は、用いない。図6は、図5
に関連したアンサンブルであるアンサンブル−2及びそ
のタスクを示す。
【0047】図5の回転速度試験の開始において、アン
サンブル最適化手順をアンサンブル−2に対して実行す
る。現在のアンサンブル・ポインタがアンサンブル−2
を指摘しないので、この手順は2つの最適化手順を実行
するように判断する。
【0048】古い装置を切り放すための終了手順は、数
式設定減算演算[現在のアンサンブル]−[アンサンブ
ル−2]を実行して、新たなアンサンブル内に対応部分
のない現在のアンサンブル内のタスクを見つける。反復
終了手順をこれらタスクに対して実行する。タスクの対
応部分は、共通論理ユニット識別子を介して同じ装置と
関連するタスクである。
【0049】図7は、2組のタスクのベン図を示す。左
側の部分は、減算の結果を含んでいる。すなわち、タス
クYは、新たなアンサンブル内に対応部分のない現在の
アンサンブル内のタスクのみである。この手順は、タス
クY用の反復終了手順を実行する。図4は、Yが前のも
のがないことを示すので、そのタスクの装置終了手順ポ
インタを決定し、論理ユニット識別子Yにより装置終了
手順を実行して、接続線Yを切断する。
【0050】新たな装置をインストールするための終了
手順は、現在のアンサンブル内のどのタスクを実行する
かを決めて、新たな装置を利用できるようにする。この
手順は、他の設定減算演算[アンサンブル−2]−[現
在のアンサンブル]を実行して、現在のアンサンブル内
に対応部分のない新たなアンサンブル内のタスクを見つ
ける。図7は、ベン図の右側部分内のこれらタスクを示
す。すなわち、タスクである「電機子」、Z及びQは、
、新たな装置用である。図6のアンサンブル−2ボック
ス80は、タスクZ及びQのみが前のものであることを
示す。接続線Zをオフにできる(禁止状態がZ及び「電
機子」でない)前に、電機子電源をオフにするようにZ
が要求するので、この技法は、Zがオンになる前に「電
機子」をオフにしなければならないことを推測する。「
電機子」には、現在のアンサンブル内に対応部分がない
ので、電機子電源76がオフと仮定する。また、タスク
Qは、前のものとして「電機子」を有し、それを同じ理
由で無視する。
【0051】アンサンブル最適化手順は、現在のアンサ
ンブル・ポインタとしての新たなアンサンブルであるア
ンサンブル−2に対するポインタをインストールするこ
とにより完了し、回転速度試験モジュールに戻す。図8
は、回転速度試験が開始するようにシステムを示す。す
なわち、「シャント」は、依然オンであり、Xを介して
モータに接続する。回転速度試験手順は、接続線Z及び
Qを設定し、電機子電源をオンにして、図5の所望構成
を実現する。
【0052】よって、図5は、回転速度試験の完了後の
試験システムの構成を表す。図9は、シャント電圧試験
に必要な構成82を示す。異なる電機子電源「b電機子
」84及び接続線Rを、測定装置V86及び接続線Uと
共に用いる。
【0053】図6は、現在のアンサンブルであるアンサ
ンブル−2を示す。図10は、箱88により、図9の1
グループの装置に関連したアンサンブルであるアンサン
ブル−3を示す。
【0054】古い装置を切り放すための終了手順を用い
て、図11のベン図の左側に示すように、タスクQ、Z
及び「電機子」をオフにすべきかを判断する。図11の
点線及び図6のアンサンブル箱内に示す如く、Q用の反
復終了手順の実行は、前の「電機子」を見つける。タス
ク「電機子」には前のものがないので、それに関連し終
了手順を実行し、「電機子」終端フラグを設定する。
【0055】古い装置を切り放すための終了手順によれ
ば、反復装置終了手順を次のタスクZ用に実行する。 「電機子」を終了するために他の反復的な試みを行う。 「電機子」タスクは、既にフラグがオフとなっているの
で、装置Zを終了する。最後に、古い装置を切り放すた
めの終了タスクを用いて、タスク「電機子」を扱う。こ
れは、既にフラグがオフになっている。よって、手順制
御がアンサンブル最適化手順に戻る。
【0056】図11の右側領域は、新たな装置をインス
トールするための終了手順である「b電機子」、U及び
Rを用いて考察する3つのタスクを示す。図11では、
タスクUが、現在のアンサンブル内に対応部分を有する
前のものを含むことを示す。反復装置終了手順を、対応
部分「シャント」用に実行する。「シャント」は、前の
ものとして「電機子」を有するので、反復収容手順を「
電機子」用に反復的に呼び出す。タスク「電機子」は、
既にオフのフラグを有するので、装置終了手順を「シャ
ント」用に実行する。これにより、装置Uを確実にセッ
トアップできる。Rへの接続線をオンにする前に、「b
電機子」電源をオフにしなければならない。 「b電機子」は現在のアンサンブル内に対応部分を有さ
ないので、その装置(b電機子電源)84がオフである
と仮定する。アンサンブル最適化手順は、、現在のアン
サンブル・ポインタとしての新たなアンサンブルである
アンサンブル−3にポインタをインストールする。この
手順は、電圧測定試験に戻る。電圧測定試験モジュール
が完了すると、現在のアンサンブル終了手順を実行する
ことにより、試験プログラムを完了して、図9に示す現
在オンである装置を適切な順序でオフにする。この手順
を実行することにより、アンサンブル−3の箱88内に
示す如く、現在のアンサンブル・ポインタが指摘するア
ンサンブルの終了タスク用の反復終了手順を実行できる
【0057】アンサンブル・データ構造内で表す制限に
応じて、本発明が、試験プログラム・モジュール間の装
置反復を適切に減らすことが理解できよう。これにより
、プログラマは、異なる測定タスクに向かう試験プログ
ラム・モジュールを生成し、位置決めし、再利用できる
。このモジュールは、変更や、長いプログラム解析する
ことなく、他の試験手順内で、任意の順番や、再利用が
求められる。
【0058】また、この方法は、システム及び操作者の
安全を付加的に測定できる。試験プログラムの実行期間
の任意の時点において、現在のアンサンブル終了手順を
求め、システムを安全な状態に戻せる。例えば、装置の
現在のグループを適切な順序で、直ちにオフにすること
により、操作者の「停止」キーや、失敗又は過負荷装置
からの割り込みを有効に利用できる。
【0059】
【発明の効果】本発明によれば、試験プログラムの総合
実行時間を減らせる。また、装置との通信に費やす時間
及びそれらを処理するのに待つ時間が必要なければ、こ
れら時間の両方を削減できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明により構成したコンピュータ・システム
に結合され、被試験装置を試験するために互いに結合さ
れた複数のコンピュータ被制御試験機器を示すブロック
図である。
【図2】試験モジュール内の装置の利用に関連した終了
タスクを表すデータ構成を示す図である。
【図3】試験装置の構成の代表的なブロック図である。
【図4】図3の試験で用いる装置及び終了順序条件を識
別するアンサンブルを示す図である。
【図5】第2試験構成を示す図3と同様な図である。
【図6】図5の構成用のアンサンブルを示す図である。
【図7】アンサンブル1及び2用の装置のセットの関係
を示すベン図である。
【図8】図3及び図5の構成から遷移期間中に存在する
機器構成を示す図である。
【図9】図3及び図5と同様な第3構成を示す図である
【図10】図9の構成に関連したアンサンブルを示す図
である。
【図11】アンサンブル2及び3に含まれる装置間の関
係を示すベン図である。
【符号の説明】
20  システム 24  メモリ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  各動作に対して関連した1組の装置を
    用いて、この動作のシーケンスを実行するのに用いられ
    るコンピュータ被制御装置を選択的に非活性化する方法
    であって、コンピュータ・メモリ内に各動作に用いる装
    置のリストを蓄積し、現在の動作を実行する前に、蓄積
    した上記リストより、上記現在の動作に用いない装置を
    判断し、上記現在の動作に用いない上記装置を非活性化
    するコマンドを発生することを特徴とするコンピュータ
    被制御装置の選択的非活性化方法。
JP3142449A 1990-05-18 1991-05-17 コンピュータ被制御装置の選択的非活性化方法 Pending JPH04227503A (ja)

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