JPH04215156A - リストアおよびバックアップ機能の自動試験方法 - Google Patents
リストアおよびバックアップ機能の自動試験方法Info
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- JPH04215156A JPH04215156A JP2402330A JP40233090A JPH04215156A JP H04215156 A JPH04215156 A JP H04215156A JP 2402330 A JP2402330 A JP 2402330A JP 40233090 A JP40233090 A JP 40233090A JP H04215156 A JPH04215156 A JP H04215156A
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- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims abstract description 4
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 27
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 230000006870 function Effects 0.000 claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 7
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 abstract description 4
- 238000013403 standard screening design Methods 0.000 description 21
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 4
- 101100367240 Rattus norvegicus Svs4 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
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- Power Sources (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、揮発性メモリを記憶媒
体とする記憶装置が備えるデータのリストア機能および
バックアップ機能を試験する方法に関する。
体とする記憶装置が備えるデータのリストア機能および
バックアップ機能を試験する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】半導体ディスク装置（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔ
ａｔｅ Ｄｉｓｋ）（以下、「ＳＳＤ」という。）では
、電源切断時に半導体メモリ上のデータをバックアップ
し、電源投入時に半導体メモリにデータをリストアする
処理が必要である。ＳＳＤにおけるリストアおよびバッ
クアップ機能は重要であり、工場から出荷される前に繰
り返して試験される。
ａｔｅ Ｄｉｓｋ）（以下、「ＳＳＤ」という。）では
、電源切断時に半導体メモリ上のデータをバックアップ
し、電源投入時に半導体メモリにデータをリストアする
処理が必要である。ＳＳＤにおけるリストアおよびバッ
クアップ機能は重要であり、工場から出荷される前に繰
り返して試験される。
【０００３】図４は、ＳＳＤの電源供給構成を示すブロ
ック図である。図において、主電源（例えばブレーカ）
４１は、サービスプロセッサ（以下、「ＳＶＰ」という
。）４３および電源制御部４５に接続される。電源制御
部４５は、手動でオン、オフされる電源スイッチ４７を
備え、上位装置へＳＳＤの情報を伝えるディレクタ４９
、バックアップディスクコントローラ５１、半導体メモ
リ５３、バックアップ用ディスク装置５５およびその他
のＳＳＤを構成する各モジュールが接続され、ＳＶＰ４
３の制御にしたがって各モジュールに電源を供給する。
ック図である。図において、主電源（例えばブレーカ）
４１は、サービスプロセッサ（以下、「ＳＶＰ」という
。）４３および電源制御部４５に接続される。電源制御
部４５は、手動でオン、オフされる電源スイッチ４７を
備え、上位装置へＳＳＤの情報を伝えるディレクタ４９
、バックアップディスクコントローラ５１、半導体メモ
リ５３、バックアップ用ディスク装置５５およびその他
のＳＳＤを構成する各モジュールが接続され、ＳＶＰ４
３の制御にしたがって各モジュールに電源を供給する。
【０００４】図５は、ＳＳＤのリストアおよびバックア
ップ機能の試験の流れを説明する図である。以下、図４
および図５を参照し、リストアおよびバックアップ機能
について説明する。ＳＶＰ４３は、主電源４１の投入に
応じて電源制御部４５の電源スイッチ４７のオン、オフ
の監視を開始する。
ップ機能の試験の流れを説明する図である。以下、図４
および図５を参照し、リストアおよびバックアップ機能
について説明する。ＳＶＰ４３は、主電源４１の投入に
応じて電源制御部４５の電源スイッチ４７のオン、オフ
の監視を開始する。
【０００５】ＳＶＰ４３は、電源スイッチ４７のオンに
応じて、ディレクタ４９、バックアップディスクコント
ローラ５１、半導体メモリ５３、バックアップ用ディス
ク装置５５およびその他のＳＳＤの各モジュールの電源
を投入し、イニシャル診断、各モジュールのＩＭＰＬ（
Ｉｎｉｔｉａｌ Ｍｉｃｒｏｐｒｏｇｒａｍ Ｌｏａｄ
） を行い、半導体メモリ５３へデータをリストアする
。
応じて、ディレクタ４９、バックアップディスクコント
ローラ５１、半導体メモリ５３、バックアップ用ディス
ク装置５５およびその他のＳＳＤの各モジュールの電源
を投入し、イニシャル診断、各モジュールのＩＭＰＬ（
Ｉｎｉｔｉａｌ Ｍｉｃｒｏｐｒｏｇｒａｍ Ｌｏａｄ
） を行い、半導体メモリ５３へデータをリストアする
。
【０００６】また、ＳＶＰ４３は、電源スイッチ４７を
監視し、電源スイッチ４７がオフされたときに、半導体
メモリ５３上のデータをバックアップ用ディスク装置５
５にバックアップする。バックアップ終了に応じて、デ
ィレクタ４９、バックアップディスクコントローラ５１
、半導体メモリ５３、バックアップ用ディスク装置５５
およびその他のＳＳＤの各モジュールの電源が切断され
る。
監視し、電源スイッチ４７がオフされたときに、半導体
メモリ５３上のデータをバックアップ用ディスク装置５
５にバックアップする。バックアップ終了に応じて、デ
ィレクタ４９、バックアップディスクコントローラ５１
、半導体メモリ５３、バックアップ用ディスク装置５５
およびその他のＳＳＤの各モジュールの電源が切断され
る。
【０００７】上述したように、ＳＶＰ４３は、主電源４
１が投入された後は常時電源スイッチ４７のオン、オフ
を監視し、電源スイッチ４７のオン、オフに応じて、デ
ータのリストア、バックアップ処理を行う。従来のＳＳ
Ｄのリストアおよびバックアップ機能の試験は、人間が
ＳＳＤに付き添い、電源スイッチ４７のオン、オフを手
動で繰り返して複数回のリストア、バックアップ機能の
試験が行われていた。
１が投入された後は常時電源スイッチ４７のオン、オフ
を監視し、電源スイッチ４７のオン、オフに応じて、デ
ータのリストア、バックアップ処理を行う。従来のＳＳ
Ｄのリストアおよびバックアップ機能の試験は、人間が
ＳＳＤに付き添い、電源スイッチ４７のオン、オフを手
動で繰り返して複数回のリストア、バックアップ機能の
試験が行われていた。
【０００８】また、人間が手動で電源スイッチ４７のオ
ン、オフをする代わりにＳＳＤにホストコンピュータを
接続し、ホストコンピュータからオン、オフのコマンド
を送信してリストア、バックアップ試験を行う場合もあ
った。
ン、オフをする代わりにＳＳＤにホストコンピュータを
接続し、ホストコンピュータからオン、オフのコマンド
を送信してリストア、バックアップ試験を行う場合もあ
った。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したリ
ストアおよびバックアップ機能を試験する方法では、Ｓ
ＳＤに人間が付ききりで試験を行うか、ＳＳＤをホスト
コンピュータに接続する必要があり、不便であった。ま
た、ＳＳＤの出荷台数が多いときには、各ＳＳＤに試験
要員を配置するか、各ＳＳＤをホストコンピュータに接
続する必要があり、試験の効率が低下していた。
ストアおよびバックアップ機能を試験する方法では、Ｓ
ＳＤに人間が付ききりで試験を行うか、ＳＳＤをホスト
コンピュータに接続する必要があり、不便であった。ま
た、ＳＳＤの出荷台数が多いときには、各ＳＳＤに試験
要員を配置するか、各ＳＳＤをホストコンピュータに接
続する必要があり、試験の効率が低下していた。
【００１０】本発明は、リストアおよびバックアップ機
能の試験を自動的に繰り返すリストアおよびバックアッ
プ機能の自動試験方法を提供することを目的とする。
能の試験を自動的に繰り返すリストアおよびバックアッ
プ機能の自動試験方法を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】図１は、本発明の原理を
説明する図である。本発明は、揮発性メモリと、装置の
電源状態を示す電源制御レジスタと、電源制御レジスタ
を参照し、電源投入に応じて揮発性メモリにデータをリ
ストアし、電源切断に応じて揮発性メモリ上のデータを
バックアップするサービスプロセッサとを備えた記憶装
置のリストアおよびバックアップ機能を試験する方法に
おいて、サービスプロセッサは、起動フラグのセットに
よりリストアおよびバックアップ機能の試験が指示され
るときに、電源制御レジスタが示す電源投入状態をマス
クして記憶装置を電源切断状態にし、電源切断に応じて
、揮発性メモリ上のデータをバックアップし、バックア
ップ終了に応じて、電源投入状態のマスクを解除し、マ
スク解除による電源投入に応じて、揮発性メモリにデー
タをリストアすることを特徴とする。
説明する図である。本発明は、揮発性メモリと、装置の
電源状態を示す電源制御レジスタと、電源制御レジスタ
を参照し、電源投入に応じて揮発性メモリにデータをリ
ストアし、電源切断に応じて揮発性メモリ上のデータを
バックアップするサービスプロセッサとを備えた記憶装
置のリストアおよびバックアップ機能を試験する方法に
おいて、サービスプロセッサは、起動フラグのセットに
よりリストアおよびバックアップ機能の試験が指示され
るときに、電源制御レジスタが示す電源投入状態をマス
クして記憶装置を電源切断状態にし、電源切断に応じて
、揮発性メモリ上のデータをバックアップし、バックア
ップ終了に応じて、電源投入状態のマスクを解除し、マ
スク解除による電源投入に応じて、揮発性メモリにデー
タをリストアすることを特徴とする。
【００１２】
【作用】揮発性メモリを備えた記憶装置は、記憶装置の
電源状態を示す電源制御レジスタを参照し、電源投入に
応じて揮発性メモリにデータをリストアし、電源切断に
応じて揮発性メモリ上のデータをバックアップする機能
を備える。本発明は、リストアおよびバックアップ機能
の試験が指示されるときには、ＳＶＰが電源制御レジス
タの示す電源投入状態をマスク、マスク解除することに
より記憶装置の電源切断、投入を行い、リストアおよび
バックアップ機能を起動する。すなわち、ＳＶＰが記憶
装置の電源投入、切断を繰り返すことにより、リストア
、バックアップが繰り返し起動されるので、リストアお
よびバックアップ機能の試験を自動的に繰り返すことが
可能となる。
電源状態を示す電源制御レジスタを参照し、電源投入に
応じて揮発性メモリにデータをリストアし、電源切断に
応じて揮発性メモリ上のデータをバックアップする機能
を備える。本発明は、リストアおよびバックアップ機能
の試験が指示されるときには、ＳＶＰが電源制御レジス
タの示す電源投入状態をマスク、マスク解除することに
より記憶装置の電源切断、投入を行い、リストアおよび
バックアップ機能を起動する。すなわち、ＳＶＰが記憶
装置の電源投入、切断を繰り返すことにより、リストア
、バックアップが繰り返し起動されるので、リストアお
よびバックアップ機能の試験を自動的に繰り返すことが
可能となる。
【００１３】
【実施例】以下、図面に基づいて実施例の処理の流れに
ついて説明する。図２は、ＳＳＤの構成を示すブロック
図である。図において、ＳＶＰ２１には、読み書き可能
な不揮発性メモリ２３および各種指示が入力される入力
部２５が接続されるとともに、メモリアクセスコントロ
ーラ２７を介して半導体メモリ２９が接続され、バック
アップディスクコントローラ３１を介してバックアップ
用ディスク装置３３が接続される。また、ＳＶＰ２１は
、ディレクタ３５を介して上位装置に接続される。
ついて説明する。図２は、ＳＳＤの構成を示すブロック
図である。図において、ＳＶＰ２１には、読み書き可能
な不揮発性メモリ２３および各種指示が入力される入力
部２５が接続されるとともに、メモリアクセスコントロ
ーラ２７を介して半導体メモリ２９が接続され、バック
アップディスクコントローラ３１を介してバックアップ
用ディスク装置３３が接続される。また、ＳＶＰ２１は
、ディレクタ３５を介して上位装置に接続される。
【００１４】不揮発性メモリ２３は、トグル動作する電
源スイッチがオン、オフのいずれの状態かを示す電源制
御レジスタと、リストアおよびバックアップ機能の試験
を行うことを示す起動フラグと、電源投入状態をマスク
するマスクフラグとを備える。電源制御レジスタは、電
源スイッチのオン、オフの状態を論理「１」、論理「０
」で示す。
源スイッチがオン、オフのいずれの状態かを示す電源制
御レジスタと、リストアおよびバックアップ機能の試験
を行うことを示す起動フラグと、電源投入状態をマスク
するマスクフラグとを備える。電源制御レジスタは、電
源スイッチのオン、オフの状態を論理「１」、論理「０
」で示す。
【００１５】ＳＶＰ２１は、電源制御レジスタのデータ
とマスクフラグのデータとの論理積により電源状態を判
定する構成とする。すなわち、マスクフラグに主電源の
投入に応じて論理「１」をセットし、電源投入状態をマ
スクするときに論理「０」をセットすることにより、通
常の運用状態のときには電源状態の判定に電源制御レジ
スタのデータをそのまま反映し、マスクフラグが論理「
０」にセットされたときには電源制御レジスタのデータ
をマスクし、論理「０」の電源オフの判定を得る構成と
する。
とマスクフラグのデータとの論理積により電源状態を判
定する構成とする。すなわち、マスクフラグに主電源の
投入に応じて論理「１」をセットし、電源投入状態をマ
スクするときに論理「０」をセットすることにより、通
常の運用状態のときには電源状態の判定に電源制御レジ
スタのデータをそのまま反映し、マスクフラグが論理「
０」にセットされたときには電源制御レジスタのデータ
をマスクし、論理「０」の電源オフの判定を得る構成と
する。
【００１６】また、リストアおよびバックアップ試験は
、オペレータが通常の運用状態で入力部２５から試験開
始を指示して起動フラグをセットし、一旦電源を切断し
てデータのバックアップを行い、再度電源を投入して開
始するものとする。図３は、実施例の処理の流れを説明
する図である。以下、図２および図３を参照して実施例
の処理の流れについて説明する。
、オペレータが通常の運用状態で入力部２５から試験開
始を指示して起動フラグをセットし、一旦電源を切断し
てデータのバックアップを行い、再度電源を投入して開
始するものとする。図３は、実施例の処理の流れを説明
する図である。以下、図２および図３を参照して実施例
の処理の流れについて説明する。
【００１７】主電源の投入に応じて、マスクフラグが論
理「１」に設定される。電源制御レジスタは論理「０」
を示し、ＳＶＰ２１は電源スイッチのオン待ちとなる。 電源スイッチのオンに応じて、電源制御レジスタが論理
「１」になる。ＳＶＰ２１は、電源スイッチのオンに応
じて、各モジュールの電源投入、イニシャル診断、ＩＭ
ＰＬ、データのリストアの通常の処理を行う。
理「１」に設定される。電源制御レジスタは論理「０」
を示し、ＳＶＰ２１は電源スイッチのオン待ちとなる。 電源スイッチのオンに応じて、電源制御レジスタが論理
「１」になる。ＳＶＰ２１は、電源スイッチのオンに応
じて、各モジュールの電源投入、イニシャル診断、ＩＭ
ＰＬ、データのリストアの通常の処理を行う。
【００１８】ＳＶＰ２１は、データのリストア終了に応
じて起動フラグを参照し、起動フラグがセットされてい
ることから、マスクフラグを論理「０」に設定して電源
制御レジスタの論理「１」をマスクし、電源スイッチが
オフされたかのようにシミュレートする。ＳＶＰ２１は
、この仮想的な「電源オフ」に応じて、半導体メモリ２
９上のデータをバックアップする。
じて起動フラグを参照し、起動フラグがセットされてい
ることから、マスクフラグを論理「０」に設定して電源
制御レジスタの論理「１」をマスクし、電源スイッチが
オフされたかのようにシミュレートする。ＳＶＰ２１は
、この仮想的な「電源オフ」に応じて、半導体メモリ２
９上のデータをバックアップする。
【００１９】ＳＶＰ２１は、データのバックアップ終了
に応じて、ＳＳＤの各モジュールの電源を切断し、電源
スイッチのオン待ちになるとともに、マスクフラグを論
理「１」にして電源制御レジスタのマスクを解除する。 電源制御レジスタのデータとマスクフラグのデータとの
論理積の結果は、マスク解除に応じて、電源制御レジス
タのデータがそのまま反映されて論理「１」になり、あ
たかも電源スイッチがオンされたかのように作用する。
に応じて、ＳＳＤの各モジュールの電源を切断し、電源
スイッチのオン待ちになるとともに、マスクフラグを論
理「１」にして電源制御レジスタのマスクを解除する。 電源制御レジスタのデータとマスクフラグのデータとの
論理積の結果は、マスク解除に応じて、電源制御レジス
タのデータがそのまま反映されて論理「１」になり、あ
たかも電源スイッチがオンされたかのように作用する。
【００２０】ＳＶＰは、この仮想的な「電源オン」に応
じて、再度電源投入時のシーケンスを開始し、データの
リストアを行う。このように、電源スイッチがオンの間
は、ＳＶＰが電源制御レジスタのデータのマスク、マス
ク解除により仮想的な電源スイッチのオン、オフを繰り
返し、このオン、オフに応じてリストア、バックアップ
機能を起動するので、データのリストアおよびバックア
ップ処理が自動的に繰り返され、試験される。
じて、再度電源投入時のシーケンスを開始し、データの
リストアを行う。このように、電源スイッチがオンの間
は、ＳＶＰが電源制御レジスタのデータのマスク、マス
ク解除により仮想的な電源スイッチのオン、オフを繰り
返し、このオン、オフに応じてリストア、バックアップ
機能を起動するので、データのリストアおよびバックア
ップ処理が自動的に繰り返され、試験される。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ＳＶＰが
ＳＳＤの電源投入、切断を繰り返すことにより、データ
のリストア、バックアップ機能を自動的に繰り返して起
動するので、リストアおよびバックアップ機能の試験の
ためにＳＳＤに人間が付ききりになる必要がなくなる。 また、ＳＳＤにホストコンピュータを接続する必要もな
くなる。したがって、工場から出荷する製品数が増えれ
ば増えるほど効率的な試験を行うことが可能となる。
ＳＳＤの電源投入、切断を繰り返すことにより、データ
のリストア、バックアップ機能を自動的に繰り返して起
動するので、リストアおよびバックアップ機能の試験の
ためにＳＳＤに人間が付ききりになる必要がなくなる。 また、ＳＳＤにホストコンピュータを接続する必要もな
くなる。したがって、工場から出荷する製品数が増えれ
ば増えるほど効率的な試験を行うことが可能となる。
【００２２】また、リストアおよびバックアップ機能の
試験を行う際にイニシャル診断、ＩＭＰＬ処理が行われ
るので、これらも自動的に繰り返して試験を行うことが
できる。
試験を行う際にイニシャル診断、ＩＭＰＬ処理が行われ
るので、これらも自動的に繰り返して試験を行うことが
できる。
【図１】本発明の原理を説明する図である。
【図２】ＳＳＤの構成を示すブロック図である。
【図３】実施例の処理の流れを説明する図である。
【図４】ＳＳＤの電源供給構成を示すブロック図である
。
。
【図５】リストアおよびバックアップ機能の試験の流れ
を説明する図である。
を説明する図である。
２１、４３ サービスプロセッサ（ＳＶＰ）２３
不揮発性メモリ ２５ 入力部 ２７ メモリアクセスコントローラ ２９、５３ 半導体メモリ ３１、５１ バックアップディスクコントローラ３３
、５５ バックアップ用ディスク装置３５、４９
ディレクタ ４１ 主電源 ４５ 電源制御部 ４７ 電源スイッチ
不揮発性メモリ ２５ 入力部 ２７ メモリアクセスコントローラ ２９、５３ 半導体メモリ ３１、５１ バックアップディスクコントローラ３３
、５５ バックアップ用ディスク装置３５、４９
ディレクタ ４１ 主電源 ４５ 電源制御部 ４７ 電源スイッチ
Claims (1)
- 【請求項１】 揮発性メモリと、装置の電源状態を示
す電源制御レジスタと、前記電源制御レジスタを参照し
、電源投入に応じて前記揮発性メモリにデータをリスト
アし、電源切断に応じて前記揮発性メモリ上のデータを
バックアップするサービスプロセッサとを備えた記憶装
置のリストアおよびバックアップ機能を試験する方法に
おいて、前記サービスプロセッサは、起動フラグのセッ
トによりリストアおよびバックアップ機能の試験が指示
されるときに、前記電源制御レジスタが示す電源投入状
態をマスクして前記記憶装置を電源切断状態にし、前記
電源切断に応じて、前記揮発性メモリ上のデータをバッ
クアップし、前記バックアップ終了に応じて、前記電源
投入状態のマスクを解除し、前記マスク解除による電源
投入に応じて、前記揮発性メモリにデータをリストアす
ることを特徴とするリストアおよびバックアップ機能の
自動試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2402330A JPH04215156A (ja) | 1990-12-14 | 1990-12-14 | リストアおよびバックアップ機能の自動試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2402330A JPH04215156A (ja) | 1990-12-14 | 1990-12-14 | リストアおよびバックアップ機能の自動試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04215156A true JPH04215156A (ja) | 1992-08-05 |
Family
ID=18512150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2402330A Pending JPH04215156A (ja) | 1990-12-14 | 1990-12-14 | リストアおよびバックアップ機能の自動試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04215156A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7171610B2 (en) * | 2002-06-12 | 2007-01-30 | International Business Machines Corporation | Method, system, and article of manufacture for preventing data loss |
| JP2013025400A (ja) * | 2011-07-15 | 2013-02-04 | Toshiba Corp | 揮発性記憶媒体及び不揮発性記憶媒体を含む記憶ドライブを備えたストレージ装置、記憶ドライブ、及び記憶ドライブの電源遮断時データ移動動作を検証する方法 |
-
1990
- 1990-12-14 JP JP2402330A patent/JPH04215156A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7171610B2 (en) * | 2002-06-12 | 2007-01-30 | International Business Machines Corporation | Method, system, and article of manufacture for preventing data loss |
| JP2013025400A (ja) * | 2011-07-15 | 2013-02-04 | Toshiba Corp | 揮発性記憶媒体及び不揮発性記憶媒体を含む記憶ドライブを備えたストレージ装置、記憶ドライブ、及び記憶ドライブの電源遮断時データ移動動作を検証する方法 |
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