JPH04206749A - 搬送テープ及びその製造方法 - Google Patents

搬送テープ及びその製造方法

Info

Publication number
JPH04206749A
JPH04206749A JP33668890A JP33668890A JPH04206749A JP H04206749 A JPH04206749 A JP H04206749A JP 33668890 A JP33668890 A JP 33668890A JP 33668890 A JP33668890 A JP 33668890A JP H04206749 A JPH04206749 A JP H04206749A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base material
conductive material
openings
hole
pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP33668890A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2731292B2 (ja
Inventor
Satoshi Oda
聡 小田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Microelectronics Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP33668890A priority Critical patent/JP2731292B2/ja
Publication of JPH04206749A publication Critical patent/JPH04206749A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2731292B2 publication Critical patent/JP2731292B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) 本発明は、例えばテープキャリヤ方式による自動ボンデ
ィングシステムに適用され、半導体装置の製造に使われ
る搬送テープ及びその製造方法に関する。
(従来の技術) 従来から半導体装置の製造工程で、予め半導体素子やそ
の他回路素子、あるいはこれら素子で回路を構成したチ
ップを、テストパッドやアウタ−リード等の配線部が形
成されたテープ上に設けておき、この各素子、チップが
設けられたテープを用いて以後の製造工程を、正確かつ
高速に、また容易に製造が行えるようにしたTAB(T
ape Autofllated Bonding)シ
ステムが導入されている。
この様なTABシステムに使われる配線部が形成された
搬送テープについて、第3図を参照して説明する。
図において、1は配線部が形成された搬送テープで、こ
の搬送テープ1は長尺に形成された例えばポリイミドの
フィルム状の基材2を用いて構成されている。この基材
2の上には個々の半導体装置に対応するバタヘン部3が
連続的に形成されている。4は基材2に、長尺の方向に
両辺に沿って所定のピッチ、開口寸法で明けられたスプ
ロケットホールで、基材2の搬送駆動に使用される。5
は各パターン部3毎に所定のピッチ、開孔寸法で基材2
に明けられたツーリングホールである。また6は基材2
に明けられたアウターリードホール、7は基材2に明け
られたデバイスホール、8は基材2の上に張り合された
銅箔をパターニングして形成した配線部で、これにはテ
ストパッドやアウタリードあるいは認識用パターン等が
形成されている。
なお、デバイスホール7の部分に各素子、チップが搭載
される。
茨に配線部が形成された搬送テープ1の従来の製造方法
について、第4図を参照して説明する。
第4図(a)において、例えば厚さ125μm1あるい
は75μmの長尺フィルム状のポリイミドの基材2に、
その片面側の一部に接着剤を塗布する。
次にスプロケットホール4及び第4図には示されていな
いツーリングホール5やアウターリードホール6あるい
はデバイスホール7を所定の位置に形成する。そして基
材2の接着剤を塗布した部分に銅箔9を張り合せる。
同図(b)において、銅箔9の部分に所定の配線部パタ
ーン等のマスクを設定し、通常の露光、現像、エツチン
グにより配線部8のテストパッド10やアウターリード
11を形成する。
この後、配線部8にメツキが施され、テストが実施され
る等して搬送テープ1が完成する。
そして配線部8が形成された搬送テープ1にはそれ以後
の半導体装置の製造工程において、半導体素子やその他
回路素子、あるいはこれら素子で回路を構成したチップ
が、その導電端子をアウターリード11の先端部に接続
されて搭載される。さらにチップ等の樹脂封止やその他
、以後の通常の工程を経て半導体装置は製造される。
しかしながら上記の従来技術においては、各工程におい
て使用する位置決めの基準はそれぞれ異にしている。す
なわち、例えば長尺の基材2を搬送駆動するにはスプロ
ケットホール4を基準に用いており、各パターン部3を
形成する場合、例えば各ホール4. 5.6. 7の形
成及び配線部を形成するためのパターンのマスクの設定
には別々の工程で基材2の辺部分を基準に用い、また半
導体素子等のチップをアウターリード11の先端部に接
続する際、あるいは樹脂封止する際にはスプロケットホ
ール4あるいは基材2の辺部分を基準に用いている。さ
らに半導体装置のテストコンタクトにはツーリングホー
ル5が基準に使用されている。
なお、場合によっては上記の各基準をそれぞれ組合わせ
て用いられる。
このようにポリイミドの基材2の各ホールや辺部分を基
準にした場合では基材2の材厚が薄いため、また繰返し
使用による基材2の形状の変化のために位置精度の維持
が難しく、製造工程で使用する基準の間には各工程毎で
位置ずれを生ずる虞があった。すなわち、例えば製造工
程で搬送テープ、1を搬送駆動する搬送装置のスプロケ
ットにスプロケットホール4を噛合わせて、まずパター
ン部3が略定められた位置にくるよう制御し、続いて各
パターン部3に銅箔9を配線部8と同時にバターニング
して設けた認識用パターンを検知装置で捕らえ、この認
識用パターンを基にしてパターン部3が、所定の位置に
正確に位置設定されるよう微調整が行われる。しかし基
準とするホール。
辺部分の精度が悪く、位置ずれが大きいために検知装置
が認識用パターンを認識出来なくなり、定めた通りの工
程作業ができなくなる。同様に半導体素子等のチップの
導電端子とアウターリード11等の接続や樹脂封止かで
きないとか、あるいはテスト装置のテストピンとテスト
バッドlOのコンタクトができなくて検査ができなくな
るという問題が生じる。そしてこの様な問題を有するた
め製造歩留を向上させることが難しく、また多ピン化を
進めるうえでは特に問題であった。
(発明が解決しようとする課題) 上記のような状況に鑑みて本発明はなされたもので、そ
の目的とするところは例えば半導体装置の製造工程等で
、それぞれで用いる基準が各工程毎に位置ずれを生ずる
虞がなく、各工程作業を行う上で問題か生じず、製造の
歩留が向上でき、さらに多ピン化にも十分対応できる搬
送テープ及びその製造方法を提供することにある。
[発明の構成コ (課題を解決するための手段) 本発明の搬送テープ及びその製造方法は、長尺フィルム
状の絶縁基材と、この基材上に長手方向に配置された複
数のパターン部と、これらのパターン部に設けられた導
電材料で成る配線部と、パターン部の所定の位置に基材
を貫通して設けられた複数の開孔と、これらの開孔より
外形が大寸法に形成されかつ開孔と略同位置に重ねるよ
うに設けられた導電材料で成るガイド部と、このガイド
部に開孔より小寸法でかつ開孔と略同位置に貫通して設
けた位置決め開孔とを備えて成ることを特徴とするもの
であり、 また、長尺フィルム状の絶縁基材の所定の位置に複数の
開孔を貫通して設ける第1の工程と、基材の少なくとも
一面に箔状の導電材料を張り合せる第2の工程と、導電
材料上の長手方向に、少なくとも一つのパターン部の所
定のパターンのマスクを設定する第3の工程と、マスク
が設定された導電材料をエツチングして、配線部と同時
に、開孔より外形か大寸法で開孔に重なるように位置し
たガイド部と、このガイド部に開孔より小寸法でかつ開
孔と略同位置に位置した位置決め開孔とを形成する第4
の工程とを備えて成ることを特徴とするものである。
(作用) 上記のように構成された搬送テープ及びその製造方法は
、予め所定位置に開孔を形成した長尺の基材上に導電材
料を張り合わせ、この導電材料をエツチングして配線部
と同時に、開孔より小寸法の位置決め開孔を略同位置に
形成しているために、位置決め開孔と配線部との相互の
位置関係は精度よく形成できる。さらに位置決め開孔は
導電材料をエツチングして得ているため孔の精度もよく
、また剛性が高いため繰返して位置決めに使用しても形
状の変化が少なく、位置精度を高く維持することができ
る。
(実施例) 以下、本発明の一実施例を第1図および第2図を参照し
て説明する。
第1図は本実施例を示す平面図であり、第2図は工程図
である。
15は従来の搬送テープ1に相当する搬送テープで、こ
れは長尺の、例えば厚さ75μmのフィルム状ポリイミ
ドの基材16を各加工して構成されている。基材16に
は長尺方向に等ピッチでパターン部17が連続的に設け
らけていて、この一つのパターン部17は製造する一つ
の半導体装置に対応するようになっている。パターン部
17には、中央部に基材1Bを抜き加工で方形に形成し
たデバイスホール18が設けられ、このデバイスホール
18の各辺に沿って略台形状に基材16を同様に抜き加
工で形成したアウターリードホール19が設けられてい
る。
またパターン部17には、基材16の片方面に張り合さ
れた例えば厚さ35μmの銅箔をバターニングして形成
した配線部20が設けられている。この配線部20には
デバイスホール18内に先端部が延出し、アウターリー
ドホール19は架設するようにしてデバイスホール18
の周縁部から放射状に延びる複数のアウターリード21
を設けている。さらに配線部20にはアウターリードホ
ール19の外周辺の近傍にアウターリード21と同時に
銅箔をバターニングして配置形成され、アウターリード
21の他端部を接続したテストバッド22を設けている
。なお、アウターリード21の先端部には半導体装置に
搭載される半導体素子やその他回路素子、あるいはこれ
ら素子で回路を構成したチップの導電端子が接続される
そしてパターン部17には長尺方向の辺部に沿って基材
16に各々所定の位置に、所定のピッチで抜き加工によ
り設けた開孔、例えば2.2m m口の第1の角孔23
と第2の角孔24が形成されている。これらの第1の角
孔23.第2の角孔24が設けられた部分の基材16の
表面には、アウターリード21.テストバッド22の配
線部20と図示しない認識用パターン等と同時に、銅箔
をバターニングして形成した第1のガイド部25と第2
のガイド部26が設けられている。第1のガイド部25
.第2のガイド部2Bは第1の角孔23.第2の角孔2
4と略中心を同じにして、より大きい外形寸法であって
、夫々の中央部には第10角孔23.第2の角孔24よ
り小さい所定寸法の例えば1.981mm’のスプロケ
ットホール27とツーリングホール28が各々対応して
形成されている。すなわち、位置決め開孔として使用さ
れるスプロケットホール27.ツーリングホール28と
第1の角孔23.第2の角孔24の周縁が交差したり、
重なったりしないように配置されている。
次に上記のように構成された搬送テープ15の製造方法
について、第2図を参照して説明する。
第2図(a)において、厚さ75μmの長尺フィルム状
のポリイミドの基材16に、その片面側に接着剤を塗布
する。次にこの基材16に第1の角孔23および第2図
には示されていないが第2の角孔24やアウターリード
ホール19あるいはデバイスホール18を所定の位置に
プレス加工等で貫通開孔させる。このとき第1の角孔2
3.第2の角孔24の開孔寸法はスプロケットホール2
7.ツーリングホール28の所定開孔寸法より大きくす
る。
同図(b)において、基材16の接着剤を塗布した面に
厚さ35μmの銅箔29を張り合せる。
同図(C)において、銅箔29の上に、所定の配線部等
と共に第1のガイド部25.第2のガイド部26が描か
れたパターンのマスクを設定し、通常の露光、現像、エ
ツチングを行う。これにより配線部20のテストバッド
22やアウターリード21あるいは図示しない認識用パ
ターンを形成すると同時に、第1のガイド部25.第2
のガイド部26を形成し所定開孔寸法のスプロケットホ
ール27.ツーリングホール28を形成する。
この様に構成することによって、エツチング加工で同時
に形成した配線部20のテストバッド22やアウターリ
ード21あるいは認識用パターン、さらには第1のガイ
ド部25.!2のガイドi28のスプロケットホール2
7.ツーリングホール28の相互間には位置ずれがなく
、所望のパターン通りの位置関係に各配置される。そし
てスプロケットホール27、ツーリングホール28が基
材16よりも剛性の高い銅箔で形成されるために、繰返
し使用によってもその形状の変化が少なくて位置精度の
維持が成される。このため基材1Bを直接位置決めの基
準とせず、スプロケットホール27.ツーリングホール
28を位置決めの基準として用いることによって十分な
位置精度が得えられ、検知装置での認識用パターンの検
出洩れがなく各工程での定めた通りの作業が行える。同
様に半導体素子等のチップの導電端子とアウターリード
2I等の接続や樹脂封止、およびテスト装置のテストピ
ンとテストバッド22のコンタクトができなくて検査が
できなくなる等の問題は生じなくなる。また従来必要に
応じ、同じ箇所を繰返し位置決め用として使用しないよ
うにするため、所要とする工程に合せて基材に貫通して
設けていた位置決め専用の開孔が不要となり、基材の反
り等が生じ難くなり位置決めがより精度を上げて行える
。さらに配線部2oのパターンがより細かく繊細なもの
、例えば多ビン化したものにおいても十分な工程作業が
行える。
尚、上記の実施例においてはツーリングホール28をテ
ストコンタクトの位置決めの基準として設けているが、
これはスプロケットホール27を兼用させてもよく、そ
の他要旨を逸脱しない範囲内で適宜変更して本発明は実
施し得るものである。
[発明の効果] 以上の説明から明らかなように、本発明は、予め所定位
置に開孔を形成した長尺の基材上に導電材料を張り合わ
せ、この導電材料をエツチングして配線部と同時に、開
孔より小寸法の位置決め開孔を略同位置に形成する構成
としたことにより、位置決め開孔と配線部との相互の位
置精度は向上し、また位置決め開孔を位置決めの基準と
して繰返し使用しても、形状の変化が少なく位置精度を
高く維持できる。このため、例えば半導体装置の製造工
程の各工程作業を行う上でも、位置ずれの問題を生ずる
虞がなく、製造の歩留を向上させることができ、さらに
多ピン化にも十分対応できるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す平面図、第2図は第1
図に係わる工程図、第3図は従来例を示す平面図、第4
図は第3図に係わる工程図である。 15・・・搬送テープ、    16・・・基材、17
・・・パターン部、    20・・・配線部、23・
・・第1の角孔(開孔)、25・・・第1のガイド部、
27・・・スプロケットホール(位置決め開孔)。 代理人  弁理士  大 胡 典 失 策1図 (b) 第2図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)長尺フィルム状の絶縁基材と、この基材上に長手
    方向に配置された複数のパターン部と、これらのパター
    ン部に設けられた導電材料で成る配線部と、前記パター
    ン部の所定の位置に前記基材を貫通して設けられた複数
    の開孔と、これらの開孔より外形が大寸法に形成されか
    つ該開孔と略同位置に重ねるように設けられた導電材料
    で成るガイド部と、このガイド部に前記開孔より小寸法
    でかつ該開孔と略同位置に貫通して設けた位置決め開孔
    とを備えて成ることを特徴とする搬送テープ。
  2. (2)長尺フィルム状の絶縁基材の所定の位置に複数の
    開孔を貫通して設ける第1の工程と、前記基材の少なく
    とも一面に箔状の導電材料を張り合せる第2の工程と、 前記導電材料上の長手方向に、少なくとも一つのパター
    ン部の所定のパターンのマスクを設定する第3の工程と
    、 前記マスクが設定された前記導電材料をエッチングして
    、配線部と同時に、前記開孔より外形が大寸法で該開孔
    に重なるように位置したガイド部と、このガイド部に前
    記開孔より小寸法でかつ該開孔と略同位置に位置した位
    置決め開孔とを形成する第4の工程とを備えて成ること
    を特徴とする搬送テープの製造方法。
JP33668890A 1990-11-30 1990-11-30 搬送テープ及びその製造方法 Expired - Fee Related JP2731292B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33668890A JP2731292B2 (ja) 1990-11-30 1990-11-30 搬送テープ及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33668890A JP2731292B2 (ja) 1990-11-30 1990-11-30 搬送テープ及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04206749A true JPH04206749A (ja) 1992-07-28
JP2731292B2 JP2731292B2 (ja) 1998-03-25

Family

ID=18301779

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33668890A Expired - Fee Related JP2731292B2 (ja) 1990-11-30 1990-11-30 搬送テープ及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2731292B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JP2731292B2 (ja) 1998-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100555337B1 (ko) 테이프 캐리어
US6555200B2 (en) Method of making semiconductor devices, semiconductor device, circuit board, and electronic apparatus
US4209355A (en) Manufacture of bumped composite tape for automatic gang bonding of semiconductor devices
US5184207A (en) Semiconductor die packages having lead support frame
JPH04206749A (ja) 搬送テープ及びその製造方法
JP4010796B2 (ja) 順送用打抜き金型及び順送用打抜き装置
JP3306996B2 (ja) フレキシブル基板の製造方法
JP4332994B2 (ja) 実装用電子部品及びその製造方法
JP3263863B2 (ja) ハイブリッドic用基板とこれを用いたハイブリッドicの製造方法
KR200243279Y1 (ko) 반도체장치용써킷테이프
JPH01287937A (ja) フィルムキャリアテープ
KR20010039753A (ko) 전자부품 실장용 필름 캐리어 테이프의 제조방법 및제조장치
JPS6359595A (ja) 携帯可能媒体における実装方法
JP2009226557A (ja) 打抜き金型及びフィルムキャリアテープの製造方法
JPS59152656A (ja) 半導体装置
JPH0497537A (ja) 半導体装置の実装方法
JP2836208B2 (ja) フィルムキャリアテープ
JP2867547B2 (ja) 導電突起の形成方法
JP3903367B2 (ja) 順送用打抜き金型及び順送用打抜き装置
JPH06252206A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2586736B2 (ja) Tab型半導体装置用キャリアテープ
JP2003340790A (ja) 順送用打抜き金型及び順送用打抜き装置
JPH0653288A (ja) タブテープ及びタブテープの実装方法
JPH03148845A (ja) フィルムキャリア製造用のフィルム材
JPH083510B2 (ja) フィルムキャリア半導体装置の電気選別装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071219

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081219

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091219

Year of fee payment: 12

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees