JPH04206552A - ガラス―セラミック基体 - Google Patents
ガラス―セラミック基体Info
- Publication number
- JPH04206552A JPH04206552A JP2329101A JP32910190A JPH04206552A JP H04206552 A JPH04206552 A JP H04206552A JP 2329101 A JP2329101 A JP 2329101A JP 32910190 A JP32910190 A JP 32910190A JP H04206552 A JPH04206552 A JP H04206552A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass
- filler
- filler particles
- ceramic substrate
- ceramic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 24
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 14
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 80
- 239000000945 filler Substances 0.000 claims abstract description 50
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 29
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 150000004703 alkoxides Chemical class 0.000 claims abstract description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 3
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 7
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 7
- KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 229910052863 mullite Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 7
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 7
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 6
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 5
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- 239000011812 mixed powder Substances 0.000 description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 4
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 4
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 2
- DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N dibutyl phthalate Chemical compound CCCCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCCCC DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 238000009736 wetting Methods 0.000 description 2
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MQIUGAXCHLFZKX-UHFFFAOYSA-N Di-n-octyl phthalate Natural products CCCCCCCCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCCCCCCCC MQIUGAXCHLFZKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N ammonia Natural products N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- -1 for example Substances 0.000 description 1
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 1
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 1
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体または集積回路チップを搭載するため
のガラス−セラミック基体より、具体的には低融点金属
である金、銀または銅を導体材料とし、これと誘電率の
低いガラス−セラミック総合体とを同時に焼成した信号
伝搬遅延の少ない多層配線基板に関する。
のガラス−セラミック基体より、具体的には低融点金属
である金、銀または銅を導体材料とし、これと誘電率の
低いガラス−セラミック総合体とを同時に焼成した信号
伝搬遅延の少ない多層配線基板に関する。
また、本発明はフィラーとガラス粉末が均一に分散した
フィラー・ガラス混合体粉末及び金、銀または銅の微細
な粉末を含む導体ペーストを用いて出発し、いわゆる「
積層クリーンシート」技術によって、金、銀または銅よ
り融点の低い焼成温度でその基板を製造するための工程
及び材料に関する。
フィラー・ガラス混合体粉末及び金、銀または銅の微細
な粉末を含む導体ペーストを用いて出発し、いわゆる「
積層クリーンシート」技術によって、金、銀または銅よ
り融点の低い焼成温度でその基板を製造するための工程
及び材料に関する。
従来、半導体素子を搭載する基板としてはアルミナか基
板材料とした多層回路基板が用いられてきた。アルミナ
は熱伝導性および機械的強度が優れているが焼結温度が
1500℃以上と極めて高く、そのため多層配線を形成
する導体としてはモリングマランなどの高融点金属が用
いられている。
板材料とした多層回路基板が用いられてきた。アルミナ
は熱伝導性および機械的強度が優れているが焼結温度が
1500℃以上と極めて高く、そのため多層配線を形成
する導体としてはモリングマランなどの高融点金属が用
いられている。
しかは、これらり導体材料は電気抵抗が高いので高密度
配線を形成するため配線巾を100μm以下まで細くす
ると導体抵抗が問題となり伝送損失が大きくなる、雑音
の発生を伴うといった欠点を有している。そこでこれら
より固有抵抗の低い銅を導体材料として用いた多層配線
基板に対する要求が高まってきた。
配線を形成するため配線巾を100μm以下まで細くす
ると導体抵抗が問題となり伝送損失が大きくなる、雑音
の発生を伴うといった欠点を有している。そこでこれら
より固有抵抗の低い銅を導体材料として用いた多層配線
基板に対する要求が高まってきた。
さらにアルミナは誘電率が比較的高いので儒号伝送の遅
延を伴うという欠点があり、また、シリコン集積回路チ
ップを半田で直接接続する場合、アルミナとシリコンの
熱膨張係数が一致しないため、熱サイクルによった発生
した応力によりはんだ後続部が破壊するという欠点であ
る。
延を伴うという欠点があり、また、シリコン集積回路チ
ップを半田で直接接続する場合、アルミナとシリコンの
熱膨張係数が一致しないため、熱サイクルによった発生
した応力によりはんだ後続部が破壊するという欠点であ
る。
このような問題を解決するには低誘電率で焼成温度が低
く、かつシリコンと熱膨張係数が一致する材料で基板を
形成すればよい。
く、かつシリコンと熱膨張係数が一致する材料で基板を
形成すればよい。
そこでこのような目的を満たすものとして納品化ガラス
基板、セラミックフィラーを分散したガラス基板が注目
されている。
基板、セラミックフィラーを分散したガラス基板が注目
されている。
本発明は半導体素子を高密度実装するのに適した基板と
してセラミックがガラス相に均一に分散されておりかつ
、基板内のボイドが少なく、かつ焼成を低温で行うこと
が可能なガラスセラミック基体を提供することを目的と
する。
してセラミックがガラス相に均一に分散されておりかつ
、基板内のボイドが少なく、かつ焼成を低温で行うこと
が可能なガラスセラミック基体を提供することを目的と
する。
従来のセラミックフィラを分散したガラス基板の製造に
おいてはセラミックフィラーとガラスの濡れが悪いため
焼結後ガラスセラミック基体の内部にボイドが残留しや
すく機械的強度が低下する、表面の荒さが多いとハラ問
題が生じる。
おいてはセラミックフィラーとガラスの濡れが悪いため
焼結後ガラスセラミック基体の内部にボイドが残留しや
すく機械的強度が低下する、表面の荒さが多いとハラ問
題が生じる。
セラミックフィラとガラスの濡れを良(する方法として
軟化点が低く流動性の良いガラス組成物を用いればよい
が、このようなガラス組成物は熱膨張係数が大きいため
シリコンと熱膨張が整合したガラス−セラミック基体を
うろことができない。
軟化点が低く流動性の良いガラス組成物を用いればよい
が、このようなガラス組成物は熱膨張係数が大きいため
シリコンと熱膨張が整合したガラス−セラミック基体を
うろことができない。
上記目的を達成するために、フィラー粒子の表面を母相
のガラスより軟化点の低いガラス組成物で被覆し、該フ
ィラー粒子と母相となるガラス粒子とを均一に混合、成
型した後、焼成して構成したとものである。
のガラスより軟化点の低いガラス組成物で被覆し、該フ
ィラー粒子と母相となるガラス粒子とを均一に混合、成
型した後、焼成して構成したとものである。
より具体的には目的とした組成のガラスが得られるよう
に複数種のアルコキシドの混合溶液を作り、この混合溶
液を加水分解させて結合反応を起させる際にアルミナ等
のセラミックフィラーを一緒に混入しておくことにより
目的としたガラス組成比の酸化物で覆われたフィラー粉
末の泥しようをうる。このようにして処理した泥しよう
をこのゲルに対応するガラス転移温度で仮焼成し薄いガ
ラスで覆われたフィラーを形成する。
に複数種のアルコキシドの混合溶液を作り、この混合溶
液を加水分解させて結合反応を起させる際にアルミナ等
のセラミックフィラーを一緒に混入しておくことにより
目的としたガラス組成比の酸化物で覆われたフィラー粉
末の泥しようをうる。このようにして処理した泥しよう
をこのゲルに対応するガラス転移温度で仮焼成し薄いガ
ラスで覆われたフィラーを形成する。
次にこのようにして作ったフィラーと母相となるガラス
粒子、例えば硼硅酸ガラスの粉末をホールミル等の混合
機で湿式混合して均一に分散されたフィラーガラス混合
粉を形成する。この混合粉を成型した後、焼成してボイ
ドがほとんどないフィラー粉末が均一に分数したガラス
セラミック基板が得られる。
粒子、例えば硼硅酸ガラスの粉末をホールミル等の混合
機で湿式混合して均一に分散されたフィラーガラス混合
粉を形成する。この混合粉を成型した後、焼成してボイ
ドがほとんどないフィラー粉末が均一に分数したガラス
セラミック基板が得られる。
フィラー/ガラス複合体の焼結過程ではガラス粒子が軟
化・流動し、フィラーを覆った後、ガラスの表面張力に
よる収縮によってボイドが焼結体の外部へ除去されて微
密化が進む。
化・流動し、フィラーを覆った後、ガラスの表面張力に
よる収縮によってボイドが焼結体の外部へ除去されて微
密化が進む。
しかし、シリコンと熱膨張係数が整合するフィラー/ガ
ラス複合体においてはガラス相の熱膨張件数を4X1o
−’、/℃以下にする必要があり、軟化点が上ってしま
い、1000℃以下の低温で焼成すると焼結過程でガラ
スの流動性が悪く、フィラーとガラスの濡れが悪いため
フィラー粒子間をガラスが埋めることができる。空隙と
して残ってしまい、機械的強度が低くなってしまう。
ラス複合体においてはガラス相の熱膨張件数を4X1o
−’、/℃以下にする必要があり、軟化点が上ってしま
い、1000℃以下の低温で焼成すると焼結過程でガラ
スの流動性が悪く、フィラーとガラスの濡れが悪いため
フィラー粒子間をガラスが埋めることができる。空隙と
して残ってしまい、機械的強度が低くなってしまう。
本発明によればフィラーの表面が軟化点の低いガラスで
薄く被覆されているため、フィラー/ガラス複合体の焼
結過程でフィラーの表面が十分流動しており、濡れ性に
とんでいるため、母相となるガラスが流動するとフィラ
ーとガラス相がよく濡れてフィラー粒子間をガラス相が
空隙を生じさせることなくうめるので、空隙やボイドを
生じさせない。また、軟化点の低いガラスはフィラーの
表面を薄く覆っているため、ガラス/フィラー複合体に
おいて母相ガラスに対する被覆ガラスの体積分率が小さ
いため、被覆してないガラス/フィラー複合体と特性が
かわらない、即ち、誘電率、熱膨張係数や機械的性質と
いったガラス/フィラ。
薄く被覆されているため、フィラー/ガラス複合体の焼
結過程でフィラーの表面が十分流動しており、濡れ性に
とんでいるため、母相となるガラスが流動するとフィラ
ーとガラス相がよく濡れてフィラー粒子間をガラス相が
空隙を生じさせることなくうめるので、空隙やボイドを
生じさせない。また、軟化点の低いガラスはフィラーの
表面を薄く覆っているため、ガラス/フィラー複合体に
おいて母相ガラスに対する被覆ガラスの体積分率が小さ
いため、被覆してないガラス/フィラー複合体と特性が
かわらない、即ち、誘電率、熱膨張係数や機械的性質と
いったガラス/フィラ。
−複合体の性質を変えることなく、焼結後のボイドを減
らすことができる。
らすことができる。
以下実施例について説明する。
フィラーとしては粒径数μmのアルミナを用い、一方、
被覆ガラスとしては硼硅酸鉛ガラスを使用し、これは硼
素と硅素と鉛のアルコキシドすなわちB(OC,H6)
、とS i(OC−H−)4とP b (OC2H5)
、とをモル比が2:3:1の割合で混合し塩酸を触媒と
して加水分解を行ないB○と810とPOで被覆された
アルミナを作った。
被覆ガラスとしては硼硅酸鉛ガラスを使用し、これは硼
素と硅素と鉛のアルコキシドすなわちB(OC,H6)
、とS i(OC−H−)4とP b (OC2H5)
、とをモル比が2:3:1の割合で混合し塩酸を触媒と
して加水分解を行ないB○と810とPOで被覆された
アルミナを作った。
さらにこのアルミナを400℃で仮焼して酸化物ケルを
ガラス相にした後粉砕した。
ガラス相にした後粉砕した。
ここでアルミナを被覆したガラス相との重量比率は10
二lとした。このようにして得たガラス被覆フィラーと
母相となる硼硅酸ガラスをガラス被覆アルミナ 30〜
80% 硼硅酸鉛ガラス 20〜70% の割合で配合し、ボールミルで混合してアルミナガラス
の混合粉を得た。
二lとした。このようにして得たガラス被覆フィラーと
母相となる硼硅酸ガラスをガラス被覆アルミナ 30〜
80% 硼硅酸鉛ガラス 20〜70% の割合で配合し、ボールミルで混合してアルミナガラス
の混合粉を得た。
次に成形型に入れ150℃、200MPaの圧力で成形
してシートを作り、Cuペーストを用いて配線パターン
を作り、かかるシートを積層し、先し同じ圧力で加圧し
一体化した後、900℃で2時間焼成することにより多
層基板を得ることができた。
してシートを作り、Cuペーストを用いて配線パターン
を作り、かかるシートを積層し、先し同じ圧力で加圧し
一体化した後、900℃で2時間焼成することにより多
層基板を得ることができた。
次に本発明の別の実施例を説明する。
フィラとしては粒径数μmのムライトを用い、一方、被
覆ガラスとしては硼硅酸ガラスを使用しこれは硼素と硅
素のアルコキシドすなわちB(OC,Hs)、と5i(
OC,H6)4とをモル比が3=5の割合になるように
混合し、アンモニア水を触媒として加水分解を行ないB
−0−8−0で被覆されたムライトを作った。さらにこ
のムライトを600℃で仮焼して酸化物ゲルをガラスに
した後、粉砕し、粒子分離を行なった。
覆ガラスとしては硼硅酸ガラスを使用しこれは硼素と硅
素のアルコキシドすなわちB(OC,Hs)、と5i(
OC,H6)4とをモル比が3=5の割合になるように
混合し、アンモニア水を触媒として加水分解を行ないB
−0−8−0で被覆されたムライトを作った。さらにこ
のムライトを600℃で仮焼して酸化物ゲルをガラスに
した後、粉砕し、粒子分離を行なった。
ここでムライトと被覆したガラスとの重量比率は10:
1とした。このようにして得たガラス被覆ムライトを母
相となるガラスと ガラス被覆ムライト 30〜80% 硼硅酸ガラス 20〜70% の割合で配合し、ボールミルで混合して、ムライトガラ
スの混合粉を得た。
1とした。このようにして得たガラス被覆ムライトを母
相となるガラスと ガラス被覆ムライト 30〜80% 硼硅酸ガラス 20〜70% の割合で配合し、ボールミルで混合して、ムライトガラ
スの混合粉を得た。
次に適当な有機バインダおよび溶剤とともに混合し、成
型可能なスラリを得た。バインダとしては例えばフタル
酸ジブチルまたはフタル酸ジオクチル等の可塑剤を含む
ポリヒンルプチラール樹脂がある。溶剤としてはトリク
レン、パークレンとワーブタノールの混合液を用いた。
型可能なスラリを得た。バインダとしては例えばフタル
酸ジブチルまたはフタル酸ジオクチル等の可塑剤を含む
ポリヒンルプチラール樹脂がある。溶剤としてはトリク
レン、パークレンとワーブタノールの混合液を用いた。
このようにして用意したスラリーをドクターブレード技
術を用いて薄い生シートに成型した。
術を用いて薄い生シートに成型した。
成型したシートは切断装置で必要な大きさに切す揃え、
穿孔機を用いて必要な位置に貫通孔をあけた。
穿孔機を用いて必要な位置に貫通孔をあけた。
ついでスクリーン印刷法により個々のグリーンシートの
貫通孔中に金、銀または銅の導体ペーストを充填した。
貫通孔中に金、銀または銅の導体ペーストを充填した。
そのあと個々のグリーンシートに必要な導体パターンを
スクリーン印刷した。
スクリーン印刷した。
これらのグリーンシートを積層プレマ中で積層圧積した
。
。
この積層体を焼結温度まで加熱し、バインダを除去し、
ガラス粒子を溶融させて、フィラー粒子間をガラスで埋
め、導体パターン中の金属粒子を焼結させて金属配線お
よび貫通孔を形成した。
ガラス粒子を溶融させて、フィラー粒子間をガラスで埋
め、導体パターン中の金属粒子を焼結させて金属配線お
よび貫通孔を形成した。
〔発明の効果]
本発明のよればアルミナ等のセラミックフィラーの表面
が濡れ性にすくれたガラス相で覆われているため、焼成
過程でセラミックフィラと母相となるガラス相がよく融
合し、母相ガラスに熱膨張係数が低く、軟化点の高いガ
ラスを用いてもボイドがなく、機械的強度の高いガラス
ーセラミック基体が得られる。
が濡れ性にすくれたガラス相で覆われているため、焼成
過程でセラミックフィラと母相となるガラス相がよく融
合し、母相ガラスに熱膨張係数が低く、軟化点の高いガ
ラスを用いてもボイドがなく、機械的強度の高いガラス
ーセラミック基体が得られる。
Claims (5)
- 1.ガラスとセラミックフィラーとからなり、該フイラ
ー粒子の表面を該ガラスの軟化点より低いガラスを薄く
覆った後、該フィラー粒子と該ガラス粒子を混合、成形
し、焼結したことを特徴とするガラス−セラミック基板 - 2.前記被覆ガラスが母相のガラスより軟化点が50℃
以上低くしたガラス組成物で構成された請求項第1項記
載のガラス−セラミック基板 - 3.被覆ガラスの母相ガラスに対する割合が体積百率で
1/3以下になるよう構成された請求項第1項記載のガ
ラス−セラミック基板 - 4.前記セラミックフィラーの粒径が1〜5μmの範囲
にある請求項第1項のガラス−セラミック基体 - 5.フィラー粒子への薄いガラスの被覆法としてフィラ
ー粒子を浸漬した金属アルコキシド溶液を加水分解し、
酸化物ケルで被覆したフィラー粒子を加処理して形成し
た請求項第1項のガラス−セラミック基板
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2329101A JPH04206552A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | ガラス―セラミック基体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2329101A JPH04206552A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | ガラス―セラミック基体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04206552A true JPH04206552A (ja) | 1992-07-28 |
Family
ID=18217622
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2329101A Pending JPH04206552A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | ガラス―セラミック基体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04206552A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07173410A (ja) * | 1993-10-07 | 1995-07-11 | Heraeus Kulzer Gmbh | 残留性無機フィラーおよびその製造法 |
JP2001342074A (ja) * | 2000-05-31 | 2001-12-11 | Kyocera Corp | 複合粒子 |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2329101A patent/JPH04206552A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07173410A (ja) * | 1993-10-07 | 1995-07-11 | Heraeus Kulzer Gmbh | 残留性無機フィラーおよびその製造法 |
JP2001342074A (ja) * | 2000-05-31 | 2001-12-11 | Kyocera Corp | 複合粒子 |
JP4702979B2 (ja) * | 2000-05-31 | 2011-06-15 | 京セラ株式会社 | 複合粒子 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4861646A (en) | Co-fired metal-ceramic package | |
KR100798263B1 (ko) | 마이크로파 어플리케이션에서의 ltcc 테이프를 위한후막 전도체 페이스트 조성물 | |
JPS63358A (ja) | 超小型電子技術装置の製造に使用する誘電率の低い材料、及びその製造方法 | |
JPS6232695A (ja) | セラミツクス回路基板 | |
US20060234021A1 (en) | Multi-layer ceramic substrate, method for manufacturing the same and electronic device using the same | |
JPH04314394A (ja) | ガラスセラミック回路基板とその製造方法 | |
JPH0492497A (ja) | 銀系配線セラミック基板 | |
KR100744855B1 (ko) | 높은 열적 사이클 전도체 시스템 | |
JPH04206552A (ja) | ガラス―セラミック基体 | |
JPH0613755A (ja) | セラミック多層配線基板とその製造方法 | |
JPS62206861A (ja) | セラミツクス多層回路板及び半導体実装構造 | |
JPH1116418A (ja) | 銅メタライズ組成物及びそれを用いたガラスセラミック配線基板 | |
JPH1153940A (ja) | 銅メタライズ組成物及びそれを用いたガラスセラミック配線基板 | |
KR970004545B1 (ko) | 금 전도체 조성물 | |
JP2000044332A (ja) | 配線基板用ガラスセラミック組成物および半導体素子収納用パッケージ | |
JPH06120633A (ja) | セラミック配線基板 | |
JP3934811B2 (ja) | 高熱膨張ガラスセラミック焼結体およびその製造方法、配線基板ならびにその実装構造 | |
JPS60215569A (ja) | ガラス―セラミツクス複合基板の製造方法 | |
JP2005191307A (ja) | 配線基板 | |
JPH0450141A (ja) | ガラス―セラミック基体 | |
JPH02125728A (ja) | 複合基板およびその製造方法 | |
JP3441318B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH0451059B2 (ja) | ||
JPS62144345A (ja) | ガラスセラミツク基板の製造方法 | |
JP4497627B2 (ja) | ガラスセラミック焼結体およびその製造方法、配線基板ならびにその実装構造 |