JPH04205934A - 光情報媒体 - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 44
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 44
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 26
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims abstract description 22
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 16
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 15
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 14
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 13
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 13
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 9
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 17
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 claims description 4
- 239000011800 void material Substances 0.000 claims description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 20
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 abstract description 7
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 abstract description 7
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 34
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 23
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 14
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 14
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 12
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 12
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 10
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 10
- 239000000047 product Substances 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 229920002601 oligoester Polymers 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- SWXVUIWOUIDPGS-UHFFFAOYSA-N diacetone alcohol Chemical compound CC(=O)CC(C)(C)O SWXVUIWOUIDPGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 description 3
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 3
- ANRHNWWPFJCPAZ-UHFFFAOYSA-M thionine Chemical compound [Cl-].C1=CC(N)=CC2=[S+]C3=CC(N)=CC=C3N=C21 ANRHNWWPFJCPAZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- KWOLFJPFCHCOCG-UHFFFAOYSA-N Acetophenone Chemical compound CC(=O)C1=CC=CC=C1 KWOLFJPFCHCOCG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N benzoin Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(O)C(=O)C1=CC=CC=C1 ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 2
- GVPWHKZIJBODOX-UHFFFAOYSA-N dibenzyl disulfide Chemical compound C=1C=CC=CC=1CSSCC1=CC=CC=C1 GVPWHKZIJBODOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- RKJUIXBNRJVNHR-UHFFFAOYSA-N indolenine group Chemical group N1=CCC2=CC=CC=C12 RKJUIXBNRJVNHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 2
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M methacrylate group Chemical group C(C(=C)C)(=O)[O-] CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 2
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- QFGLGXAWPPBRHQ-UHFFFAOYSA-N 2,2-dimethylbutane;prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=C.CCC(C)(C)C QFGLGXAWPPBRHQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RXDYOLRABMJTEF-UHFFFAOYSA-N 2-chloro-1,2-diphenylethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(Cl)C(=O)C1=CC=CC=C1 RXDYOLRABMJTEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KMNCBSZOIQAUFX-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxy-1,2-diphenylethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(OCC)C(=O)C1=CC=CC=C1 KMNCBSZOIQAUFX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DIVXVZXROTWKIH-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxy-1,2-diphenylpropan-1-one Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(O)(C)C(=O)C1=CC=CC=C1 DIVXVZXROTWKIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQZJOQXSCSZQPS-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-1,2-diphenylethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(OC)C(=O)C1=CC=CC=C1 BQZJOQXSCSZQPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LWRBVKNFOYUCNP-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-1-(4-methylsulfanylphenyl)-2-morpholin-4-ylpropan-1-one Chemical compound C1=CC(SC)=CC=C1C(=O)C(C)(C)N1CCOCC1 LWRBVKNFOYUCNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUZICZZQJDLXJN-UHFFFAOYSA-N 3-azaniumyl-4-hydroxybutanoate Chemical compound OCC(N)CC(O)=O BUZICZZQJDLXJN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YYVYAPXYZVYDHN-UHFFFAOYSA-N 9,10-phenanthroquinone Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C(=O)C3=CC=CC=C3C2=C1 YYVYAPXYZVYDHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- VEWRXOFRWNMLDM-UHFFFAOYSA-N O1CCN(CC1)C1=C(C(=C(S1)C(=O)C=1SC(=C(C1C(C)C)C)N1CCOCC1)C(C)C)C Chemical compound O1CCN(CC1)C1=C(C(=C(S1)C(=O)C=1SC(=C(C1C(C)C)C)N1CCOCC1)C(C)C)C VEWRXOFRWNMLDM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000277269 Oncorhynchus masou Species 0.000 description 1
- 244000028419 Styrax benzoin Species 0.000 description 1
- 235000000126 Styrax benzoin Nutrition 0.000 description 1
- 235000008411 Sumatra benzointree Nutrition 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 150000001252 acrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 1
- PYKYMHQGRFAEBM-UHFFFAOYSA-N anthraquinone Natural products CCC(=O)c1c(O)c2C(=O)C3C(C=CC=C3O)C(=O)c2cc1CC(=O)OC PYKYMHQGRFAEBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004056 anthraquinones Chemical class 0.000 description 1
- 229960002130 benzoin Drugs 0.000 description 1
- RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N benzophenone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1=CC=CC=C1 RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012965 benzophenone Substances 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 239000007857 degradation product Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007756 gravure coating Methods 0.000 description 1
- 235000019382 gum benzoic Nutrition 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000434 metal complex dye Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- LKKPNUDVOYAOBB-UHFFFAOYSA-N naphthalocyanine Chemical compound N1C(N=C2C3=CC4=CC=CC=C4C=C3C(N=C3C4=CC5=CC=CC=C5C=C4C(=N4)N3)=N2)=C(C=C2C(C=CC=C2)=C2)C2=C1N=C1C2=CC3=CC=CC=C3C=C2C4=N1 LKKPNUDVOYAOBB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N phthalocyanine Chemical compound N1C(N=C2C3=CC=CC=C3C(N=C3C4=CC=CC=C4C(=N4)N3)=N2)=C(C=CC=C2)C2=C1N=C1C2=CC=CC=C2C4=N1 IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 150000004053 quinones Chemical class 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000003847 radiation curing Methods 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000982 rare earth metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 150000004763 sulfides Chemical class 0.000 description 1
- 230000000699 topical effect Effects 0.000 description 1
- 229910000687 transition metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 1
- AAAQKTZKLRYKHR-UHFFFAOYSA-N triphenylmethane Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 AAAQKTZKLRYKHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、光情報媒体、特にコンパクトディスク対応の
ライト・ワンス型の光記録ディスクに関する。
ライト・ワンス型の光記録ディスクに関する。
〈従来の技術〉
基板上に反射層を有する光情報媒体として、例えば、コ
ンパクトディスク(以下、CDと略称する)規格に対応
して追記ないし記録を行なうことのできる光記録ディス
クが提案されている(日経エレクトロニクス1989年
1月23日号、No、465.P2O3、社団法人近畿
化学協会機能性色素部会、1989年3月3日、大阪科
学技術センター、5PIE voL 10780pti
cal Data Storage Topical
Meeting、 801989等)。
ンパクトディスク(以下、CDと略称する)規格に対応
して追記ないし記録を行なうことのできる光記録ディス
クが提案されている(日経エレクトロニクス1989年
1月23日号、No、465.P2O3、社団法人近畿
化学協会機能性色素部会、1989年3月3日、大阪科
学技術センター、5PIE voL 10780pti
cal Data Storage Topical
Meeting、 801989等)。
このものは、透明樹脂基板上に、色素層、Au反射層お
よび保護膜をこの順に設層して形成される。 すなわち
、反射層を色素層に密着して設けるものである。
よび保護膜をこの順に設層して形成される。 すなわち
、反射層を色素層に密着して設けるものである。
従来は、色素層にピットを形成するために色素層上に空
気層を設けていたが、この提案では、反射層を色素層に
密着して設ける密着型であるので、CD規格のディスク
全厚1.2mmの構成が可能となっている。
気層を設けていたが、この提案では、反射層を色素層に
密着して設ける密着型であるので、CD規格のディスク
全厚1.2mmの構成が可能となっている。
このような反射層と色素を含有する記録層とを密着して
設ける密着型の媒体の場合には、特に、記録層の記録光
および再生光に対し、60%以上、特にCD規格では7
0%以上の反射率をもつ必要がある。
設ける密着型の媒体の場合には、特に、記録層の記録光
および再生光に対し、60%以上、特にCD規格では7
0%以上の反射率をもつ必要がある。
このため、特開平2−79235号公報に開示されてい
るとおり、反射層には、反射率が高(、しかも耐食性が
良いAu薄膜が使用されている。
るとおり、反射層には、反射率が高(、しかも耐食性が
良いAu薄膜が使用されている。
しかし、Auは高価であるため、Ag、Cu等の比較的
安価な金属薄膜を使用する提案がされている。
安価な金属薄膜を使用する提案がされている。
例えば、特開平2−79235号、同2−87341号
公報には、反射層としてAg薄膜やCu薄膜を使用する
具体例が記載されている。
公報には、反射層としてAg薄膜やCu薄膜を使用する
具体例が記載されている。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、Cu薄膜やAg薄膜等のAu薄膜以外の反射層
を有する光情報媒体の場合、高温・高湿下で使用したり
、長時間保存すると、反射層が部分的に極度に腐食し、
反射層の厚さ方向にピンホールないしスルーホール状の
錆が生じる。
を有する光情報媒体の場合、高温・高湿下で使用したり
、長時間保存すると、反射層が部分的に極度に腐食し、
反射層の厚さ方向にピンホールないしスルーホール状の
錆が生じる。
このため、記録や再生時のエラーレートが太き(、実用
が困難である。
が困難である。
本発明の目的は、耐食性が良い反射層を有し、エラーレ
ートが小さ(、良好な記録や再生を行なうことができる
光情報媒体を提供することにある。
ートが小さ(、良好な記録や再生を行なうことができる
光情報媒体を提供することにある。
く課題を解決するための手段〉
このような目的は下記(1)〜(7)の本発明によって
達成される。
達成される。
(1)基板上に、銅と、窒素および/または酸素とを含
有する薄膜の反射層を有することを特徴とする光情報媒
体。
有する薄膜の反射層を有することを特徴とする光情報媒
体。
(2)前記反射層中の窒素および酸素の含有量が合計0
.5〜2.0at%である上記(1)に記載の光情報媒
体。
.5〜2.0at%である上記(1)に記載の光情報媒
体。
(3)基板上に色素を含有する記録層を有し、この記録
層上に密着して前記反射層を積層して構成され、 記録光を前記記録層に照射してピット部を形成し、再生
光により再生を行なう上記(1)または(2)に記載の
光情報媒体。
層上に密着して前記反射層を積層して構成され、 記録光を前記記録層に照射してピット部を形成し、再生
光により再生を行なう上記(1)または(2)に記載の
光情報媒体。
(4)基板側から再生光を照射したとき、未記録部分の
反射率が60%以上であり、記録部分の反射率が未記録
部分の反射率の60%以下であり、 記録光および再生光の波長における前記記録層の消衰係
数kが0.03〜0.25であり、記録光および再生光
の波長における前記記録層の屈折率nが1.8〜4.0
であり、 記録光および再生光の波長が600〜900nmである
上記(3)に記載の光情報媒体。
反射率が60%以上であり、記録部分の反射率が未記録
部分の反射率の60%以下であり、 記録光および再生光の波長における前記記録層の消衰係
数kが0.03〜0.25であり、記録光および再生光
の波長における前記記録層の屈折率nが1.8〜4.0
であり、 記録光および再生光の波長が600〜900nmである
上記(3)に記載の光情報媒体。
(5)前記ピット部の前記基板と前記記録層の界面部に
は、記録層材質の分解物を含有し、かつ基板材質を実質
的に含有しない層が存在している上記(3)または(4
)に記載の光情報媒体。
は、記録層材質の分解物を含有し、かつ基板材質を実質
的に含有しない層が存在している上記(3)または(4
)に記載の光情報媒体。
(6)前記ピット部には、空隙が形成されている上記(
5)に記載の光情報媒体。
5)に記載の光情報媒体。
(7)前記反射層上に保護膜を有し、この保護膜の25
℃における鉛筆硬度がH〜8Hである上記(3)ないし
く6)のいずれかに記載の光情報媒体。
℃における鉛筆硬度がH〜8Hである上記(3)ないし
く6)のいずれかに記載の光情報媒体。
く作用〉
本発明の光情報媒体の反射層は、銅と、窒素および/ま
たは酸素とを含有する薄膜で構成される。
たは酸素とを含有する薄膜で構成される。
銅と、窒素および/または酸素とを含有させることによ
り、反射層の耐食性が向上し、部分的に極度に腐食して
、反射層の厚さ方向にピンホールあるいはスルーホール
状の錆が生じるのを防止できる。
り、反射層の耐食性が向上し、部分的に極度に腐食して
、反射層の厚さ方向にピンホールあるいはスルーホール
状の錆が生じるのを防止できる。
このため、エラーレートが小さ(、良好な記録や再生を
行なうことができる光情報媒体が実現する。
行なうことができる光情報媒体が実現する。
〈具体的構成〉
以下、本発明の具体的構成について詳細に説明する。
本発明の光情報媒体は、基板上に反射層を有する。
この場合、光情報媒体とは、情報を予め担持している再
生専用の光再生媒体および情報を担持させつる記録層を
有する光記録媒体の双方を指すものである。
生専用の光再生媒体および情報を担持させつる記録層を
有する光記録媒体の双方を指すものである。
ただし、ここでは好適例として第1図に示される光記録
媒体を例に挙げて説明する。
媒体を例に挙げて説明する。
この光記録媒体1は、基板2上に、色素を含有する記録
層3を有し、記録層3に密着して、反射層4、保護膜5
を形成した密着型のものである。
層3を有し、記録層3に密着して、反射層4、保護膜5
を形成した密着型のものである。
基板2は、記録光および再生光(600〜900 nm
程度、特に700〜8000m程度の半導体レーザー光
、特に780 nm)に対し、実質的に透明(好ましく
は透過率80%以上)な樹脂あるいはガラスから形成さ
れる。 これにより、基板裏面側からの記録および再生
が可能となる。
程度、特に700〜8000m程度の半導体レーザー光
、特に780 nm)に対し、実質的に透明(好ましく
は透過率80%以上)な樹脂あるいはガラスから形成さ
れる。 これにより、基板裏面側からの記録および再生
が可能となる。
基板2は、通常のサイズのディスク状であって、CDと
して用いる場合、厚さは1.2mm程度、直径は80な
いし120mm程度とする。
して用いる場合、厚さは1.2mm程度、直径は80な
いし120mm程度とする。
この場合、基板材質としては、樹脂を用いることが好ま
しく、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、アモール
ファスポリオレフィン、TPX等の各種熱可塑性樹脂が
好適である。
しく、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、アモール
ファスポリオレフィン、TPX等の各種熱可塑性樹脂が
好適である。
なお、必要に応じ、基板2の外表面、内表面の少な(と
も一方と、さらに必要に応じ、内・外周面に酸素遮断性
の被膜を形成してもよい。
も一方と、さらに必要に応じ、内・外周面に酸素遮断性
の被膜を形成してもよい。
基板2の記録層3形成面には、トラッキング用のグルー
プが形成されることが好ましい。
プが形成されることが好ましい。
グループは、スパイラル状の連続型グループであること
が好ましく、深さは250〜1800人、幅は0.2〜
1.1−1特に0.3〜0.6−、ランド(隣り合うグ
ループ同士の間の部分)幅は0.5〜1.4−1特に1
.0〜1.3−であることが好ましい。
が好ましく、深さは250〜1800人、幅は0.2〜
1.1−1特に0.3〜0.6−、ランド(隣り合うグ
ループ同士の間の部分)幅は0.5〜1.4−1特に1
.0〜1.3−であることが好ましい。
グループをこのような構成とすることにより、グループ
部の反射レベルを下げることなく良好なトラッキング信
号を得ることができる。
部の反射レベルを下げることなく良好なトラッキング信
号を得ることができる。
なお、グループには、アドレス信号用の凹凸を設けるこ
ともできる。
ともできる。
本発明では、基板がグループを有する場合、記録光はグ
ループ内の記録層に照射されるよう構成されることが好
ましい。 すなわち、本発明の光記録媒体は、グループ
記録の光記録媒体として用いられることが好ましい。
グループ記録とすることにより、記録層の有効厚さを大
きくすることができる。
ループ内の記録層に照射されるよう構成されることが好
ましい。 すなわち、本発明の光記録媒体は、グループ
記録の光記録媒体として用いられることが好ましい。
グループ記録とすることにより、記録層の有効厚さを大
きくすることができる。
また、基板2上に図示しない樹脂層を例えば2P法によ
り設層して、樹脂層にトラッキング用の溝やアドレス信
号用の凹凸を設けてもよい。
り設層して、樹脂層にトラッキング用の溝やアドレス信
号用の凹凸を設けてもよい。
樹脂層を構成する樹脂材質に特に制限はなく、いわゆる
2P法に用いられる公知の樹脂から適宜に選択すればよ
いが、通常、放射線硬化型化合物が用いられる。
2P法に用いられる公知の樹脂から適宜に選択すればよ
いが、通常、放射線硬化型化合物が用いられる。
記録層3は、1種あるいは2種以上の色素を相溶して形
成される。
成される。
この場合、光吸収色素にクエンチャ−を混合してもよ(
、さらに、色素カチオンとクエンチャ−アニオンとのイ
オン結合体を光吸収色素として用いてもよい。
、さらに、色素カチオンとクエンチャ−アニオンとのイ
オン結合体を光吸収色素として用いてもよい。
記録層3の記録光および再生光波長における消衰係数(
複素屈折率の虚部)kは、0.03〜0.25であるこ
とが好ましい。
複素屈折率の虚部)kは、0.03〜0.25であるこ
とが好ましい。
kが0.03未満となると記録層の吸収率が低下し、通
常の記録パワーで記録を行うことが困難である。
常の記録パワーで記録を行うことが困難である。
また、kが0.25をこえると、反射率が60%を下回
ってしまい、CD規格による再生を行うことが困難であ
る。
ってしまい、CD規格による再生を行うことが困難であ
る。
この場合、kが0.04〜0.20、特に0.05〜0
.15であると、きわめて好ましい結果をつる。
.15であると、きわめて好ましい結果をつる。
また、屈折率(複素屈折率の実部)nは、1.8〜4.
0、より好ましくは、2.2〜3.3であることが好ま
しい。
0、より好ましくは、2.2〜3.3であることが好ま
しい。
n〈・1.8では反射率が低下し、CD規格による再生
が困難となる傾向にある。 また、n>4.0とするた
めには、原料色素の入手が難しい。
が困難となる傾向にある。 また、n>4.0とするた
めには、原料色素の入手が難しい。
nおよびkの測定に際しては、所定の透明基板上に配録
層を例えば400〜1000人程度の厚さに実際の条件
にて設層して、測定サンプルを作製する。 次いで、基
板を通しての、あるいは記録層側からの反射率を測定す
る。 反射率は記録再生光波長を用いて鏡面反射(5°
程度)にて測定する。 また、サンプルの透過率を測定
する。 これらの測定値から、例えば、共立全書「光学
」石黒浩三P168〜178に準じ、n、kを算出すれ
ばよい。
層を例えば400〜1000人程度の厚さに実際の条件
にて設層して、測定サンプルを作製する。 次いで、基
板を通しての、あるいは記録層側からの反射率を測定す
る。 反射率は記録再生光波長を用いて鏡面反射(5°
程度)にて測定する。 また、サンプルの透過率を測定
する。 これらの測定値から、例えば、共立全書「光学
」石黒浩三P168〜178に準じ、n、kを算出すれ
ばよい。
用いる光吸収性の色素としては、吸収極大が600〜9
00nm、好ましくは6oo〜8o。
00nm、好ましくは6oo〜8o。
nl11、より好ましくは650〜75onI11であ
れば、他に特に制限はないが、シアニン系、フタロシア
ニン系、ナフタロシアニン系、アントラキノン系、アゾ
系、トリフェニルメタン系、ビリリウムないしチアピリ
リウム塩系、スクワリリウム系、クロコニウム系、金属
錯体色素系等の1種ないし2種以上が好ましい。
れば、他に特に制限はないが、シアニン系、フタロシア
ニン系、ナフタロシアニン系、アントラキノン系、アゾ
系、トリフェニルメタン系、ビリリウムないしチアピリ
リウム塩系、スクワリリウム系、クロコニウム系、金属
錯体色素系等の1種ないし2種以上が好ましい。
シアニン色素としては、インドレニン環、特にベンゾイ
ンドレニン環を有するシアニン色素であることが好まし
い。
ンドレニン環を有するシアニン色素であることが好まし
い。
記録層3の設層方法には特に制限がなく、例えば各種溶
媒等を用いて塗布によって設層したり、蒸着等公知の方
法を用いればよい。
媒等を用いて塗布によって設層したり、蒸着等公知の方
法を用いればよい。
記録層3の厚さは、500〜2000人とすることが好
ましい。 この範囲外では反射率が低下して、CD信号
の再生を行うことが難しくなる。
ましい。 この範囲外では反射率が低下して、CD信号
の再生を行うことが難しくなる。
このような記録層3には、直接密着して反射層4が設層
される。
される。
反射層4は、銅と、窒素および/または酸素とを含有す
る薄膜で構成される。
る薄膜で構成される。
前記の薄膜を用いることにより、Cu薄膜、Ag薄膜、
A℃薄膜等のように、膜が部分的に極度に腐食して、反
射層4の厚さ方向にピンホール状やスルーホール状の錆
が生じな(なる。
A℃薄膜等のように、膜が部分的に極度に腐食して、反
射層4の厚さ方向にピンホール状やスルーホール状の錆
が生じな(なる。
この場合、より好ましくは、銅と、窒素とを含有し、酸
素を含有しない薄膜で反射層4を構成する。
素を含有しない薄膜で反射層4を構成する。
このような薄膜を用いることにより、本発明の効果がよ
り一層向上する。
り一層向上する。
反射層4中の窒素および酸素の含有量は、合計、0.5
〜2.0at%が好ましい。
〜2.0at%が好ましい。
前記範囲をこえると、反射率が低下し過ぎ、媒体再生時
に必要な反射レベルがどれな(なる傾向にある。
に必要な反射レベルがどれな(なる傾向にある。
前記範囲未満では、本発明の効果が得られない傾向にあ
る。
る。
このような理由から、反射層4中の窒素および酸素の含
有量の上限は、より好ましくは1.8at%、さらに好
ましくは1.6at%、特に好ましくは1.4at%が
好ましい。
有量の上限は、より好ましくは1.8at%、さらに好
ましくは1.6at%、特に好ましくは1.4at%が
好ましい。
また、下限は、より好ましくは0.7at%、さらに好
ましくは0.8at%、特に好ましくは0.9at%が
好ましい。
ましくは0.8at%、特に好ましくは0.9at%が
好ましい。
また、反射層4は、Cu、NおよびOに加え、Au2、
Ti、V、Cr、Mn、Fe。
Ti、V、Cr、Mn、Fe。
Co、Ni、Mo、Rh、Pd、Ag、Ta、w、pt
およびAuから選択される添加金属の1種以上を含有し
ていてもよい。
およびAuから選択される添加金属の1種以上を含有し
ていてもよい。
前記添加金属の含有量は、合計20at%以下より好ま
しくは15at%以下、特に好ましくは10at%以下
であることが好ましい。
しくは15at%以下、特に好ましくは10at%以下
であることが好ましい。
添加金属の含有量が、前記範囲をこえると反射率が低下
する傾向にある。
する傾向にある。
このため、反射率の点からは、前記の添加金属を含有し
ない薄膜で反射層4を構成することが好ましい。
ない薄膜で反射層4を構成することが好ましい。
反射層4を形成するには、スパッタリング等の各種気相
成膜法を用いればよい。
成膜法を用いればよい。
そして、特に、Ar中にN2や02を含有する雰囲気下
で反応性スパッタを行なうことが好ましい。
で反応性スパッタを行なうことが好ましい。
この場合、スパッタの方式や使用するスパッタ装置等に
は特に制限がな(、通常のものを用いればよい。
は特に制限がな(、通常のものを用いればよい。
また、動作圧力やスパッタ投入パワー等の諸条件は、ス
パッタ方式等に応じて適宜決定すればよい。
パッタ方式等に応じて適宜決定すればよい。
なお、反応性スパッタを行なう場合、例えば、動作圧力
を0.8〜1.2Pa程度とし、Ar中のN2や02の
含有量を20〜50体積%程度とすればよい。
を0.8〜1.2Pa程度とし、Ar中のN2や02の
含有量を20〜50体積%程度とすればよい。
これにより反射層4の膜組成を適宜制御できる。
反射層4の厚さは500Å以上であることが好ましい。
また、厚さの上限に特に制限はないが、コスト、生産作
業時間等を考慮すると、1200人程度以下であること
が好ましい。
業時間等を考慮すると、1200人程度以下であること
が好ましい。
これにより、反射層4単独での反射率は、85%以上、
媒体の未記録部の基板をとおしての反射率は、60%以
上かえられる。
媒体の未記録部の基板をとおしての反射率は、60%以
上かえられる。
反射層4上には、保護膜5が設層される。
保護膜5は、例えば紫外線硬化樹脂等の各種樹脂材質か
ら、通常は、0.1〜100−程度の厚さに設層すれば
よい。 保護膜5は、層状であってもシート状であって
もよい。
ら、通常は、0.1〜100−程度の厚さに設層すれば
よい。 保護膜5は、層状であってもシート状であって
もよい。
保護膜5は、特に放射線硬化型化合物および光重合増感
剤を含有する塗膜を放射線硬化し7たものであることが
好ましい。
剤を含有する塗膜を放射線硬化し7たものであることが
好ましい。
そして、保護膜5の硬度が、25℃における鉛筆硬度(
JIS K−5400)で、H〜8H1特に2H〜7
Hであるように構成されることが好ましい。
JIS K−5400)で、H〜8H1特に2H〜7
Hであるように構成されることが好ましい。
このように構成することにより、再生出力波形であるア
イパターンが良好になり、ジッターが格段と減少する。
イパターンが良好になり、ジッターが格段と減少する。
また、高温・高温あるいは温湿度変化条件下の保存にお
いても、保護膜と反射層との剥離が生じない。
いても、保護膜と反射層との剥離が生じない。
より具体的には、保護膜の硬度がHより軟らかいとアイ
パターンが乱れ、ジッターが増大し、8Hより硬くなる
と塗膜がもろくなり膜形成能が低下する他、反射層との
接着力が低下する。
パターンが乱れ、ジッターが増大し、8Hより硬くなる
と塗膜がもろくなり膜形成能が低下する他、反射層との
接着力が低下する。
このような保護膜形成に用いる放射線硬化型化合物には
、オリゴエステルアクリレートが含まれることが好まし
い。
、オリゴエステルアクリレートが含まれることが好まし
い。
オリゴエステルアクリレートは、アクリレート基または
メタクリレート基を複数有するオリゴエステル化合物で
ある。 そして好ましいオリボステルアクリレートとし
ては、分子量1000〜t oooo、好ましくは20
00〜7000であって、重合度2〜10、好ましくは
、3〜5のものが挙げられる。 また、これらのうちア
クリレート基またはメタクリレート基を2〜6個、好ま
しくは3〜6個有する多官能オリゴエステルアクリレー
トが好ましい。
メタクリレート基を複数有するオリゴエステル化合物で
ある。 そして好ましいオリボステルアクリレートとし
ては、分子量1000〜t oooo、好ましくは20
00〜7000であって、重合度2〜10、好ましくは
、3〜5のものが挙げられる。 また、これらのうちア
クリレート基またはメタクリレート基を2〜6個、好ま
しくは3〜6個有する多官能オリゴエステルアクリレー
トが好ましい。
また、上記の化合物に加えて、あるいはこれにかえて熱
可塑性樹脂を放射線感応変性することによって得られる
放射線硬化型化合物を用いてもよい。
可塑性樹脂を放射線感応変性することによって得られる
放射線硬化型化合物を用いてもよい。
このような放射線硬化型化合物の保護膜の膜厚は0.1
〜30−1より好ましくは1〜10−である。
〜30−1より好ましくは1〜10−である。
この膜厚が0.1−未満になると、−様な膜を形成しに
<(、湿度が高い雰囲気中での防湿効果が十分でな(、
記録層の耐久性が下がる。
<(、湿度が高い雰囲気中での防湿効果が十分でな(、
記録層の耐久性が下がる。
しかも、ジッター防止効果が低下する。
また、30−をこえると、樹脂膜の硬化の際に伴う収縮
により記録媒体の反りや保護膜中のクラックが生じやす
い。
により記録媒体の反りや保護膜中のクラックが生じやす
い。
このような塗膜は、通常、スピンナーコート、グラビア
塗布、スプレーコート、ディッピング等、種々の公知の
方法を組み合わせて設層すればよい。 この時の塗膜の
設層条件は、塗膜組成の混合物の粘度、目的とする塗膜
厚さ等を考慮して適宜決定すればよい。
塗布、スプレーコート、ディッピング等、種々の公知の
方法を組み合わせて設層すればよい。 この時の塗膜の
設層条件は、塗膜組成の混合物の粘度、目的とする塗膜
厚さ等を考慮して適宜決定すればよい。
本発明において塗膜に照射する放射線としては、紫外線
、電子線等が挙げられるが、紫外線が好ましい。
、電子線等が挙げられるが、紫外線が好ましい。
紫外線を用いる場合には、前述したような放射線硬化型
化合物の中には、通常、光重合増感剤が加えられる。
化合物の中には、通常、光重合増感剤が加えられる。
光重合増感剤としては、例えば、ベンゾインメチルエー
テル、ベンゾインエチルエーテル、α−メチルベンゾイ
ン、α−クロルデオキシベンゾイン等のベンゾイン系、
ベンゾフェノン、アセトフェノン、モルホリノジメチル
メチル−4−メチルチオフェニルケトン、ビスジアルキ
ルアミノベンゾフェノン等のケトン類、アセドラキノン
、フエナントラキノン等のキノン類、ベンジルジスルフ
ィド、テトラメチルチウラムモノスルフィド等のスルフ
ィド類等を挙げることができる。
テル、ベンゾインエチルエーテル、α−メチルベンゾイ
ン、α−クロルデオキシベンゾイン等のベンゾイン系、
ベンゾフェノン、アセトフェノン、モルホリノジメチル
メチル−4−メチルチオフェニルケトン、ビスジアルキ
ルアミノベンゾフェノン等のケトン類、アセドラキノン
、フエナントラキノン等のキノン類、ベンジルジスルフ
ィド、テトラメチルチウラムモノスルフィド等のスルフ
ィド類等を挙げることができる。
そして、このような光重合増感剤と放射線硬化型化合物
を含有する塗膜を紫外線によって硬化させるには、公知
の種々の方法に従えばよい。
を含有する塗膜を紫外線によって硬化させるには、公知
の種々の方法に従えばよい。
たとえば、キセノン放電管、水銀放電管などの紫外線電
球等を用いればよい。
球等を用いればよい。
また、場合によっては電子線を用いることもできる。
このような構成の光記録媒体lに記録ないし追記を行な
うには、例えば780 nmの記録光を、基板2をとお
してパルス状に照射する。
うには、例えば780 nmの記録光を、基板2をとお
してパルス状に照射する。
これにより、記録層3が光を吸収して発熱し、同時に基
板2も加熱される。 この結果、基板2と記録層3との
界面近傍において、色素等の記録層材質の融解や分解が
生じ、記録層3と基板2との界面に圧力が加わり、グル
ープの底壁や側壁を変形させることがある。
板2も加熱される。 この結果、基板2と記録層3との
界面近傍において、色素等の記録層材質の融解や分解が
生じ、記録層3と基板2との界面に圧力が加わり、グル
ープの底壁や側壁を変形させることがある。
この場合記録層3の融解物や分解物を含有する分解物層
61が、通常グループ23の底部および境界を覆うよう
な形状に残存する。
61が、通常グループ23の底部および境界を覆うよう
な形状に残存する。
分解物層61の材質は、実質的に基板材質を含まない材
質であり、記録層材質の分解物あるいは記録層材質の分
解物と、記録層材質との混合物によって構成される。
質であり、記録層材質の分解物あるいは記録層材質の分
解物と、記録層材質との混合物によって構成される。
分解物層61は、記録層3の厚さの通常30〜90%程
度の厚さである。
度の厚さである。
そして、通常、分解物層61上には、反射層との界面に
空隙63が形成され、分解物層61と、空隙63とがピ
ット部6に形成される。
空隙63が形成され、分解物層61と、空隙63とがピ
ット部6に形成される。
空隙63は、記録層3の厚さの通常10〜70%程度の
厚さである。
厚さである。
また、このような記録過程において、基板2は変形しな
い場合もあるが、通常、基板2のピット部6は、加熱時
の圧力によって凹状にへこむことになる。 基板2のへ
こみ量は、ピット部6の寸法が大きい程大きく、通常0
〜300人程度の以下である。
い場合もあるが、通常、基板2のピット部6は、加熱時
の圧力によって凹状にへこむことになる。 基板2のへ
こみ量は、ピット部6の寸法が大きい程大きく、通常0
〜300人程度の以下である。
また、空隙63上には、反射層4に密着して微少膜厚に
て記録層3ないしその分解物等が残存することもある。
て記録層3ないしその分解物等が残存することもある。
このように、ピット部6の基板2と記録層3との界面部
には、実質的に基板材質を含有しない層が形成される。
には、実質的に基板材質を含有しない層が形成される。
なお、記録光のパワーは通常、5〜9mW程度、基板回
転線速度は1.2〜1.4m/s程度とすればよい。
転線速度は1.2〜1.4m/s程度とすればよい。
このようにしてピット部6を形成したのち、例えば78
0nwの再生光を、基板2をとおして照射すると、ピッ
ト部6により光の位相差を生じ、反射率が未記録部分の
60%以下、特に50%以下、さらには40%以下に低
下する。
0nwの再生光を、基板2をとおして照射すると、ピッ
ト部6により光の位相差を生じ、反射率が未記録部分の
60%以下、特に50%以下、さらには40%以下に低
下する。
一方、未記録部では、60%以上の高反射率を示す。
再生光のパワーは、0.1〜lomW程度とする。
なお、前記の光記録媒体は、本発明の光情報媒体の1例
であり、このほか、変調された熱ビームあるいは変調さ
れた磁界により、情報が磁気的に記録され、記録情報は
磁気−光変換して再生される、いわゆる光磁気記録媒体
であってもよい。
であり、このほか、変調された熱ビームあるいは変調さ
れた磁界により、情報が磁気的に記録され、記録情報は
磁気−光変換して再生される、いわゆる光磁気記録媒体
であってもよい。
この場合、記録層は、光磁気記録が行なえるものであれ
ばその材質に特に制限はないが、希土類金属元素を含有
する合金、特に希土類金属と遷移金属との合金を、スパ
ッタ、蒸着法、イオンブレーティング法等により、非晶
質膜として形成したものであることが好ましい。
ばその材質に特に制限はないが、希土類金属元素を含有
する合金、特に希土類金属と遷移金属との合金を、スパ
ッタ、蒸着法、イオンブレーティング法等により、非晶
質膜として形成したものであることが好ましい。
また、本発明は、光学式ビデオディスク、コンパクトデ
ィスク等の再生専用の光再生媒体であってもよい。
ィスク等の再生専用の光再生媒体であってもよい。
ただ、好ましくは、前述したように色素を含有する記録
層上に密着して反射層を積層して構成した光記録媒体で
ある。
層上に密着して反射層を積層して構成した光記録媒体で
ある。
〈実施例〉
実施例1
連続グループを有する120mmφ、厚さ1.2mmの
ポリカーボネート樹脂基板上に色素を含有する記録層を
設層した。 この記録層上に、反応性スパッタリングに
より10 Q O入庫の反射層を形成し、さらに、オリ
ゴエステルアクリレートを含有する紫外線硬化型樹脂を
塗布した後紫外線硬化して5−厚の保護膜とし、光記録
ディスクサンプルNo、 1を得た。
ポリカーボネート樹脂基板上に色素を含有する記録層を
設層した。 この記録層上に、反応性スパッタリングに
より10 Q O入庫の反射層を形成し、さらに、オリ
ゴエステルアクリレートを含有する紫外線硬化型樹脂を
塗布した後紫外線硬化して5−厚の保護膜とし、光記録
ディスクサンプルNo、 1を得た。
サンプルNo、 1の記録層に含有される色素を下記
に示す。
に示す。
記録層の設層は、基板を500〜3000 rpmで回
転させながらスピンコード塗布により行なった。 塗布
溶液としては、3.5wt%ジアセトンアルコール溶液
を用いた。 記録層の厚さはグループ部で1400人、
ランド部で1000人であった。
転させながらスピンコード塗布により行なった。 塗布
溶液としては、3.5wt%ジアセトンアルコール溶液
を用いた。 記録層の厚さはグループ部で1400人、
ランド部で1000人であった。
サンプルNo、 1の記録層に含有される色素A1の
含有量は90wt%、−重項酸系クエンチャーの含有量
は10wt%であり、記録層の屈折率(n)は2.6、
消衰係数(k)は、0.06であった。
含有量は90wt%、−重項酸系クエンチャーの含有量
は10wt%であり、記録層の屈折率(n)は2.6、
消衰係数(k)は、0.06であった。
nおよびkは、上記色素を含有する溶液を測定用基板上
に乾燥膜厚1000人に成膜して被検記録層とし、この
被検記録層のnおよびkを測定することにより求めた。
に乾燥膜厚1000人に成膜して被検記録層とし、この
被検記録層のnおよびkを測定することにより求めた。
なお、この測定は、「光学」 (石黒浩三著、共立全
書)第168〜178ページの記載に準じて行なった。
書)第168〜178ページの記載に準じて行なった。
また、上記色素Alを含有する記録層の測定に際して
は、溶媒にジアセトンアルコール、測定用基板にポリカ
ーボネート基板を用いた。
は、溶媒にジアセトンアルコール、測定用基板にポリカ
ーボネート基板を用いた。
反射層の成膜は、Cuターゲットを用い、Ar中にN2
を30体積%含有する雰囲気下で、下記の条件で行なっ
た。
を30体積%含有する雰囲気下で、下記の条件で行なっ
た。
スパッタ圧カニ1.OPa
投入パワー: 3 、 OW/am2
反射層の組成を、X線マイクロアナライザー分析にて求
めたところ、Cu□N+(at%)であった。
めたところ、Cu□N+(at%)であった。
また、保護膜は、下記の放射線硬化型化合物および光重
合増感剤を含む塗布組成物をスピンナーコートで設層し
た。
合増感剤を含む塗布組成物をスピンナーコートで設層し
た。
(塗布組成物)
多官能オリゴエステルアクリレート[オリゴエステルア
クリレート(3官能以上)30重量%、トリメチルプロ
パンアクリレート70重量%、商品名アロニックスM−
8030,東亜合成社製] 100重量部 光重合増感剤(商品名IRGACURE 907゜日本
チバガイギー社製) 5重量部 このような塗布組成物を設層後、120 W/cmの紫
外線を15sec照射し架橋硬化させ、硬化膜とした。
クリレート(3官能以上)30重量%、トリメチルプロ
パンアクリレート70重量%、商品名アロニックスM−
8030,東亜合成社製] 100重量部 光重合増感剤(商品名IRGACURE 907゜日本
チバガイギー社製) 5重量部 このような塗布組成物を設層後、120 W/cmの紫
外線を15sec照射し架橋硬化させ、硬化膜とした。
この膜の鉛筆硬度は2Hであった。
得られたサンプルNo、 1に対し、波長780nm
、7mWのレーザーにてコンパクトディスク信号の記録
を行ない、次いで市販のコンパクトディスクプレーヤで
再生を行なった。
、7mWのレーザーにてコンパクトディスク信号の記録
を行ない、次いで市販のコンパクトディスクプレーヤで
再生を行なった。
この結果、S/N比が高く、良好な再生を行なうことが
できた。
できた。
なお、未記録部で60%以上の反射率が得られ、記録部
の反射は未記録部の反射率の60%以下であった。
の反射は未記録部の反射率の60%以下であった。
また、比較用サンプルとして、Ar雰囲気下でスパッタ
リングを行なってCu薄膜の反射層を形成したほかは同
様として、サンプルNo、 2を製造した。
リングを行なってCu薄膜の反射層を形成したほかは同
様として、サンプルNo、 2を製造した。
両サンプルに対し、下記の評価を行なった。
1)C1エラー
サンプル対し、波長780 nm、7n+Wのレーザー
にてコンパクトディスク信号の記録を行なった後、市販
のコンパクトディスクプレーヤで再生を行なって01エ
ラーを測定した。
にてコンパクトディスク信号の記録を行なった後、市販
のコンパクトディスクプレーヤで再生を行なって01エ
ラーを測定した。
次いで、サンプルを温度60℃、湿度90%RHの環境
中に600時間放置した後、同様にC1エラーを測定し
た。
中に600時間放置した後、同様にC1エラーを測定し
た。
この場合、C1エラーのCD規格は、220(カウント
7秒)以内である。
7秒)以内である。
評価基準
O・・・C1エラー220(カウント7秒)以内×・・
・C1エラー220(カウント7秒)超結果は表1に示
されるとおりである。
・C1エラー220(カウント7秒)超結果は表1に示
されるとおりである。
なお、60℃、90%RHに500時間放置した後の両
サンプルの反射層を目視および光学顕微鏡にて観察した
ところ、サンプルNo、 2(比較)には、ピンホー
ル状の錆が部分的に生じていた。
サンプルの反射層を目視および光学顕微鏡にて観察した
ところ、サンプルNo、 2(比較)には、ピンホー
ル状の錆が部分的に生じていた。
これに対し、サンプルNo、 1 (本発明)には、
ピンホール状の錆はなかった。
ピンホール状の錆はなかった。
表 1
No、 (at%)
1(本発明) Cu−N、 02(比
較) Cu X表1に示される
結果から本発明の効果が明らかである。
較) Cu X表1に示される
結果から本発明の効果が明らかである。
なお、本発明のサンプルNo、 1につき、MEGU
RO社製CDジッターメーターMJM−631で測定し
たところ、30ns未満であり、ジッターも少なかった
。
RO社製CDジッターメーターMJM−631で測定し
たところ、30ns未満であり、ジッターも少なかった
。
さらに、再生出力波形であるアイパターンをオシロスコ
ープを用いて観察したところ良好であった。
ープを用いて観察したところ良好であった。
これに対し、サンプルNo、 1において保護膜の鉛
筆硬度を下げたところ、再生出力波形のアイパターンの
エンベロープが少し乱れ、ジッターの増加がみられた。
筆硬度を下げたところ、再生出力波形のアイパターンの
エンベロープが少し乱れ、ジッターの増加がみられた。
また、反射層中のNの含有量をかえた各種サンプルを作
製し、前記と同様の評価を行なったところほぼ同等の結
果が得られた。
製し、前記と同様の評価を行なったところほぼ同等の結
果が得られた。
また、CuとOから成る薄膜の反射層やCuとOとNか
ら成る薄膜の反射層を有する各種サンプル、さらには、
Cuと、Nおよび/または0と、Au2、Ti、V、C
r、Mn、Fe。
ら成る薄膜の反射層を有する各種サンプル、さらには、
Cuと、Nおよび/または0と、Au2、Ti、V、C
r、Mn、Fe。
C01Ni、Mo、Rh、Pd、Ag、Ta。
w、ptおよびAuから選ばれる1種以上とを含有する
薄膜の反射層を有する各種サンプルを作製し、前記と同
様の評価を行なったところCu薄膜よりも良好な結果が
得られた。
薄膜の反射層を有する各種サンプルを作製し、前記と同
様の評価を行なったところCu薄膜よりも良好な結果が
得られた。
〈発明の効果〉
本発明の光情報媒体では、反射層の、耐食性、耐湿性が
良いため、高温、高温下での使用や長期保存を行なって
もエラーレートが小さく、良好な記録や再生を行なうこ
とができる。
良いため、高温、高温下での使用や長期保存を行なって
もエラーレートが小さく、良好な記録や再生を行なうこ
とができる。
また、本発明の密着型の光記録媒体によれば、高反射率
で、しかもピット部での大きな反射率低下を示すので、
CD規格による再生を行なうことのできる良好な光記録
が可能となる。
で、しかもピット部での大きな反射率低下を示すので、
CD規格による再生を行なうことのできる良好な光記録
が可能となる。
しかも、良好なアイパターンが得られ、ジッターも少な
い。
い。
第1図は、本発明の光記録媒体を示す部分断面図である
。 符号の説明 1・・・光記録媒体 2・・・基板 21・・・ランド部 23・・・グループ 3・・−記録層 4・・・反射層 5・・・保護膜 6・・・ピット部 61・・・分解物層 63・・・空隙 出 願 人 ティーデイ−ケイ株式会社代 理 人
弁理士 石 井 陽 −同 弁
理士 増 1) 達 哉F 工 G、 1 ブ
。 符号の説明 1・・・光記録媒体 2・・・基板 21・・・ランド部 23・・・グループ 3・・−記録層 4・・・反射層 5・・・保護膜 6・・・ピット部 61・・・分解物層 63・・・空隙 出 願 人 ティーデイ−ケイ株式会社代 理 人
弁理士 石 井 陽 −同 弁
理士 増 1) 達 哉F 工 G、 1 ブ
Claims (7)
- (1)基板上に、銅と、窒素および/または酸素とを含
有する薄膜の反射層を有することを特徴とする光情報媒
体。 - (2)前記反射層中の窒素および酸素の含有量が合計0
.5〜2.0at%である請求項1に記載の光情報媒体
。 - (3)基板上に色素を含有する記録層を有し、この記録
層上に密着して前記反射層を積層して構成され、 記録光を前記記録層に照射してピット部を形成し、再生
光により再生を行なう請求項1または2に記載の光情報
媒体。 - (4)基板側から再生光を照射したとき、未記録部分の
反射率が60%以上であり、記録部分の反射率が未記録
部分の反射率の60%以下であり、 記録光および再生光の波長における前記記録層の消衰係
数kが0.03〜0.25であり、記録光および再生光
の波長における前記記録層の屈折率nが1.8〜4.0
であり、 記録光および再生光の波長が600〜900nmである
請求項3に記載の光情報媒体。 - (5)前記ピット部の前記基板と前記記録層の界面部に
は、記録層材質の分解物を含有し、かつ基板材質を実質
的に含有しない層が存在している請求項3または4に記
載の光情報媒体。 - (6)前記ピット部には、空隙が形成されている請求項
5に記載の光情報媒体。 - (7)前記反射層上に保護膜を有し、この保護膜の25
℃における鉛筆硬度がH〜8Hである請求項3ないし6
のいずれかに記載の光情報媒体。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2334920A JPH04205934A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 光情報媒体 |
US07/779,184 US5325351A (en) | 1990-10-22 | 1991-10-21 | Optical recording medium having a reflective layer made of Cu-Ag or Cu-Au alloy |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2334920A JPH04205934A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 光情報媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04205934A true JPH04205934A (ja) | 1992-07-28 |
Family
ID=18282716
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2334920A Pending JPH04205934A (ja) | 1990-10-22 | 1990-11-30 | 光情報媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04205934A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5871881A (en) * | 1995-04-27 | 1999-02-16 | Hitachi, Ltd. | Multilayer optical information medium |
JP2004209970A (ja) * | 2002-12-16 | 2004-07-29 | Canon Inc | 液体タンクおよび記録装置 |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2334920A patent/JPH04205934A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5871881A (en) * | 1995-04-27 | 1999-02-16 | Hitachi, Ltd. | Multilayer optical information medium |
JP2004209970A (ja) * | 2002-12-16 | 2004-07-29 | Canon Inc | 液体タンクおよび記録装置 |
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