JPH04203974A - チップタイプコンデンサの測定方法 - Google Patents
チップタイプコンデンサの測定方法Info
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- JPH04203974A JPH04203974A JP2334365A JP33436590A JPH04203974A JP H04203974 A JPH04203974 A JP H04203974A JP 2334365 A JP2334365 A JP 2334365A JP 33436590 A JP33436590 A JP 33436590A JP H04203974 A JPH04203974 A JP H04203974A
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- Japan
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- mode
- measurement
- capacitance
- measured
- contact resistance
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- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 27
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 9
- 231100000817 safety factor Toxicity 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明はチップタイプコンデンサの真の容量値を測定
するための測定方法に関する。
するための測定方法に関する。
〈従来の技術〉
従来より小容量コンデンサは、並列コンダクタンスが損
失の主な要素であり、容量値を測定する場合の測定モー
ドはパラレルモード（Ｃｐモードという）で測定するの
が一般的という概念がある。
失の主な要素であり、容量値を測定する場合の測定モー
ドはパラレルモード（Ｃｐモードという）で測定するの
が一般的という概念がある。
そのため、リード端子付きコンデンサの容量を測定する
場合は、ｃｐモードで測定しているが、この場合はリー
ド端子と測定端子間に接触抵抗が入りにくいため、特に
問題は発生していなかった。
場合は、ｃｐモードで測定しているが、この場合はリー
ド端子と測定端子間に接触抵抗が入りにくいため、特に
問題は発生していなかった。
なぜならば、容量測定に使用する容量メータは、オート
モードを選択しても小容量域は自動的にＣｐモードにな
るように設定されているものが多いと共に、リード端子
と測定端子の接触端子圧を高（して支障がな（、接触抵
抗が発生しないためである。
モードを選択しても小容量域は自動的にＣｐモードにな
るように設定されているものが多いと共に、リード端子
と測定端子の接触端子圧を高（して支障がな（、接触抵
抗が発生しないためである。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、チップタイプコンデンサの場合は、測定
端子２の測定端子圧を高くすると、コンデンサ自体にク
ラックが入ったり、外部電極にきずがつ（恐れがあるた
め、測定端子圧をそれ程高くすることができず、これが
原因でチップコンデンサの外部電極と測定端子間に無視
できない接触抵抗が発生する場合がある。
端子２の測定端子圧を高くすると、コンデンサ自体にク
ラックが入ったり、外部電極にきずがつ（恐れがあるた
め、測定端子圧をそれ程高くすることができず、これが
原因でチップコンデンサの外部電極と測定端子間に無視
できない接触抵抗が発生する場合がある。
第３図のように、Ｃｐモードの場合、この接触抵抗（Ｒ
ｓ）が入ると、次式の関係により、測定容量値が真の容
量値より低目に測定されることになる。
ｓ）が入ると、次式の関係により、測定容量値が真の容
量値より低目に測定されることになる。
Ｃｏ：真の容量
ω：角速度（＝２πｆ）
Ｒ８：接触抵抗
例えば、Ｃｏ＝１０００Ｐ Ｆ、 ｆ ＝ Ｉ ＭＨｚ
、Ｒｓ＝１５Ωの場合、Ｃｓ ＝９９１．１ Ｐ Ｆと
なり、真の容量より低目に測定されることになる。
、Ｒｓ＝１５Ωの場合、Ｃｓ ＝９９１．１ Ｐ Ｆと
なり、真の容量より低目に測定されることになる。
即ち、第１図のように、チップタイプコンデンサにおけ
る容量の良品範囲には上限と下限に安全率が設定され、
上下安全率間に入る容量の製品が良品と見なされるが、
上記のように測定容量値が真の容量値より低目に測定さ
れると、選別上限を越える物が良品判定されることにな
り、良品中に容量大製品が混入することになる。
る容量の良品範囲には上限と下限に安全率が設定され、
上下安全率間に入る容量の製品が良品と見なされるが、
上記のように測定容量値が真の容量値より低目に測定さ
れると、選別上限を越える物が良品判定されることにな
り、良品中に容量大製品が混入することになる。
また、下限ぎりぎりの良品が容量小判定されることにな
る。
る。
そこで、この発明は上記のような問題点を解決するため
、接触抵抗が入ったとしても真の容量値をそのまま決定
でき、安全率の幅を狭くして良品率をアップすることが
できるチップタイプコンデンサの測定方法を提供するこ
とを目的とする。
、接触抵抗が入ったとしても真の容量値をそのまま決定
でき、安全率の幅を狭くして良品率をアップすることが
できるチップタイプコンデンサの測定方法を提供するこ
とを目的とする。
〈課題を解決するための手段〉
上記のような課題を解決するため、この発明はチップタ
イプコンデンサの容量値の決定をシリーズモードで行な
う方法を採用したものである。
イプコンデンサの容量値の決定をシリーズモードで行な
う方法を採用したものである。
く作用〉
チップタイプコンデンサの容量測定をシリーズモードで
行なうと、測定時の接触抵抗が入ったとしても真の容量
値がそのまま測定され、測定端子圧を減少して測定精度
を向上させることができる。
行なうと、測定時の接触抵抗が入ったとしても真の容量
値がそのまま測定され、測定端子圧を減少して測定精度
を向上させることができる。
〈実施例〉
以下、この発明の詳細な説明する。
チップタイプコンデンサの容量測定時に接触抵抗が入っ
た場合の等価回路は第２図のようになり、先ず第２図の
場合において、第３図で示すｃｐモードで容量を測定し
ようとすると次のようになる。
た場合の等価回路は第２図のようになり、先ず第２図の
場合において、第３図で示すｃｐモードで容量を測定し
ようとすると次のようになる。
故に、Ｃｐモードでの容量測定時に接触抵抗が入った場
合、従来技術の項で述べたような問題が発生する。
合、従来技術の項で述べたような問題が発生する。
これに対して、この発明はチップタイプコンデンサの容
量測定をシリーズモード（Ｃｓモード）で行なう。
量測定をシリーズモード（Ｃｓモード）で行なう。
上記容量測定なＣｓモードで行なうと、Ｃ５＝Ｃｏ （
真の容量）となり、コンデンサ自身のもつ真の容量を正
確に測定できる。
真の容量）となり、コンデンサ自身のもつ真の容量を正
確に測定できる。
具体的にＣｓモードにするには、Ｃｓモード付きの容量
メータにおいて、Ｃｓモードを選択すればよい。
メータにおいて、Ｃｓモードを選択すればよい。
オートモードは小容量域では自動的にＣｐモードにセッ
トされている場合が多いのでオートモードを選択しない
ようにする。
トされている場合が多いのでオートモードを選択しない
ようにする。
ちなみに、接触抵抗の原因としては、測定端子面の汚れ
やチップタイプコンデンサの外部電極表面の酸化皮膜が
考えられ、接触抵抗はその都度変化するため、Ｒｓ（接
触抵抗）を一定とみなすことはできないが、容量決定を
Ｃｓモードにすることにより、接触抵抗の変化に関係な
（、真の容量値をそのまま測定することができる。
やチップタイプコンデンサの外部電極表面の酸化皮膜が
考えられ、接触抵抗はその都度変化するため、Ｒｓ（接
触抵抗）を一定とみなすことはできないが、容量決定を
Ｃｓモードにすることにより、接触抵抗の変化に関係な
（、真の容量値をそのまま測定することができる。
なお、チップタイプコンデンサの誘電損失の選別精度は
Ｃｓモード、Ｃｐモードの何れにおいても、接触抵抗が
入れば測定誤差が生じることになる。
Ｃｓモード、Ｃｐモードの何れにおいても、接触抵抗が
入れば測定誤差が生じることになる。
く効果〉
以上のように、この発明によると、チップタイプコンデ
ンサの容量測定をシリーズモードで行なうようにしたの
で、接触抵抗が入っても測定値は基本的に変わらないた
め、測定時の測定端子圧を高（する必要がなく、測定端
子圧の減少により、コンデンサ自体のクラックの発生や
外部電極の傷の発生を防止できる。
ンサの容量測定をシリーズモードで行なうようにしたの
で、接触抵抗が入っても測定値は基本的に変わらないた
め、測定時の測定端子圧を高（する必要がなく、測定端
子圧の減少により、コンデンサ自体のクラックの発生や
外部電極の傷の発生を防止できる。
また、真の容量値をそのまま測定できるので、測定精度
が向上し、容量人品の良品への混入や良品の容量小判定
を防止することができる。
が向上し、容量人品の良品への混入や良品の容量小判定
を防止することができる。
ちなみに、シリーズモードで測定することにより、出検
後の容量大返品率が従来のパラレルモード測定が０．７
６％であったものを０．２３％と減少した。
後の容量大返品率が従来のパラレルモード測定が０．７
６％であったものを０．２３％と減少した。
尚、残り０．２３％は選別容量メータと出検容量メータ
のずれや測定系の浮遊インビダンスが原因と考えられる
。
のずれや測定系の浮遊インビダンスが原因と考えられる
。
更に、真の容量値を測定できるため、良品の上限と下限
に設けていた安全率の幅を狭（でき、良品率がアップす
る。
に設けていた安全率の幅を狭（でき、良品率がアップす
る。
ちなみに、上限と下限の安全率を０．４％から０．１％
に低減したとすると、このことにより良品率は正規分布
仮定で２，４％アップすることになる。
に低減したとすると、このことにより良品率は正規分布
仮定で２，４％アップすることになる。
第１図はチップタイプコンデンサの容量測定と良品の範
囲を示す説明図、第２図は容量測定時に接触抵抗が入っ
た場合の等価回路図、第３図はパラレルモードでの測定
による等価回路図である。
囲を示す説明図、第２図は容量測定時に接触抵抗が入っ
た場合の等価回路図、第３図はパラレルモードでの測定
による等価回路図である。
Claims (1)
- チツプタイプコンデンサの容量値の測定をシリーズモ
ードで行なうことを特徴とするチップタイプコンデンサ
の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2334365A JPH04203974A (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | チップタイプコンデンサの測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2334365A JPH04203974A (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | チップタイプコンデンサの測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04203974A true JPH04203974A (ja) | 1992-07-24 |
Family
ID=18276562
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2334365A Pending JPH04203974A (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | チップタイプコンデンサの測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04203974A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63118672A (ja) * | 1986-11-06 | 1988-05-23 | Murata Mfg Co Ltd | チツプ状電子部品の電気特性測定装置 |
-
1990
- 1990-11-29 JP JP2334365A patent/JPH04203974A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63118672A (ja) * | 1986-11-06 | 1988-05-23 | Murata Mfg Co Ltd | チツプ状電子部品の電気特性測定装置 |
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