CN213457326U - 一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，属于电阻检测技术领域，包括：测试座，用于放持待测试产品；设置在测试座上的四个测试端子，四个测试端子分别与待测试产品的电极相对应电连接；与两个测试端子电连接的高阻计，用于检测待测试产品的绝缘电阻，测试座与高阻计组成一闭合回路；与另两个测试端子电连接的电容器，电容器与测试座组成另一闭合回路，且电容器与高阻计并联设置；因此使得高阻计能够测量电容器及位于测试座上待测试产品的电容值总和，因此若高阻计的电容值测量结果小于或等于电容器的电容值，则表明了测试端子与待测试产品接触不良，从而能够及时将这些产品剔除或重新测试，因此提高了测试结果的准确性。

Description

一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统

技术领域

本申请涉及电阻检测技术领域，具体涉及一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统。

背景技术

随着电子信息技术的发展，元器件得到的广泛的应用，其中大多元器件要求其具有较高的绝缘性能，因此出现了多种需要测试绝缘电阻(Cross IR)的元器件，而在元器件出厂的过程中，需要对其绝缘性能进行检测。现有的绝缘检测技术，是通过自动化检测设备来实现元器件的绝缘性能自动化检测，但是，自动化检测过程中会遇到出现测试端子与产品之间接触不良的情况，导致测试错误，从而使得不良品当作良品流向市场。

基于上述情况，市面上出现了检测绝缘电阻的仪器，使用仪器检测绝缘电阻以检测产品的绝缘性能，

上述仪器在使用的过程中，还会通过检测线路电容大小的方式来检测仪器测试端子与产品是否接触不良，但是通常所用的仪器，电容测量精度有限，若电容值在其精度以外，则不能检测出测试端子与产品之间是否存在接触不良的问题，且实际生产过程中是在产品动态状态下测试产品绝缘电阻，若在接触不良的情况下去检测，则会出现仪器测试的是空气的绝缘电阻，因此使用现有的检测绝缘电阻的仪器会影响测试结果的准确性。

发明内容

鉴于此，本申请提供一种测试绝缘电阻检测接触不良的系统，以解决现有的检测绝缘电阻的仪器会影响测试结果的准确性的问题。

本申请提供的一种测试绝缘电阻检测接触不良的系统，包括：测试座，用于放持待测试产品；设置在所述测试座上的四个测试端子，四个所述测试端子分别与待测试产品的电极相对应电连接；与两个所述测试端子电连接的高阻计，用于检测待测试产品的绝缘电阻，所述测试座与所述高阻计组成一闭合回路；与另两个所述测试端子电连接的电容器，所述电容器与所述测试座组成另一闭合回路，且所述电容器与所述高阻计并联设置。

其中，四个所述测试端子分别与高阻计的端口及电容器的两端固定在一起以形成稳定的电连接。

其中，所述电容器为固定容值电容器。

其中，所述高阻计的电容值检测范围为大于或等于0.5pF；所述电容器的电容值大于或等于0.5pF。

其中，所述电容器的电容值为22pF。

其中，所述系统还包括：自动化检测设备，用于对所述测试座上的待测试产品进行自动化检测。

其中，所述高阻计中设置有电容检测元件，高阻计中与测试座对应的测试端子电连接的端口还与所述电容检测元件电连接。

其中，所述高阻计的型号为SM7110。

其中，所述高阻计通过两根导线分别与测试座的两个端子电连接。

其中，所述测试端子为测试探针。

本申请上述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，通过在测试座上使用测试端子同时连接高阻计及电容器，使得高阻计能够测量电容器及位于测试座上待测试产品的电容值总和，因此若高阻计的电容值测量结果小于或等于电容器的电容值，则表明了测试端子与待测试产品接触不良，从而能够及时将这些产品剔除或重新测试，因此提高了测试结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而非全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。在不冲突的情况下，下述各个实施例及其技术特征可以相互组合。

请参阅图1，本申请实施例提供一种测试绝缘电阻检测接触不良的系统，包括：测试座1、四个测试端子4、高阻计2、及电容器A；测试座1用于放持待测试产品3；四个测试端子4均设置在测试座1上，且分别与待测试产品3的电极相对应电连接；高阻计2与其中两个测试端子4电连接，用于检测待测试产品3的绝缘电阻，且测试座1与高阻计2通过两个测试端子4组成一个闭合回路；电容器A与另外两个测试端子4电连接，且电容器A通过两个测试端子4与测试座1组成另一个闭合回路，且电容器A与高阻计2并联设置。

通过在将高阻计2与电容器A并联设置，能够使得高阻计2测量的电容值为待测试产品3及电容器A电容值的总和，而在对待测试产品3进行检测时，在待测试产品3在测试座1上就位后，首先由高阻计2进行接触检查测试电容值，当测试的电容值大于电容器A的电容值时，表明待测试产品3的电极与测试座1接触良好，此时不做任何其他动作，高阻计2继续测试待测试产品3的绝缘电阻值并输出测试结果，根据测试结果判断待测试产品3是良品或不良品。

而在待测试产品3在测试座1上就位后，首先由高阻计2进行接触检查测试电容值，当测试的电容值小于或等于电容器A的电容值时，则表明了高阻计2与待测试产品3接触不良，从而能够及时将这些待测试产品3剔除或重新测试，因此提高了测试结果的准确性。

在检测过程中，为了测试端子4与高阻计2或与电容器A之间出现非接触而导致测量结果出现误差，本实施例中四个测试端子4分别与高阻计2的端口及电容器A的两端固定在一起以形成稳定的电连接。

在本实施例中，测试端子4为测试探针，电容器A为固定容值电容器。

固定容值的电容器A，能够防止电容器A的容置变化而使得高阻计2的测量结果发生变化而增加分析测试结果的难度上升的情况发生。

高阻计2的电容值检测范围为大于或等于0.5pF；电容器A的电容值大于0.5pF。

由于绝缘电阻这种元器件作为待测试产品3，而绝缘电阻本身的电容值较小，因此选用较为精确的高阻计2，本实施例使用的高阻计2的电容值检测范围为大于0.5pF，电容器A的电容值只要大于0.5pF即可，在对待测试产品3的测试过程中，高阻计2对非接触不良的良品测试后，电容值大于0.5pF，落在高阻计2的电容值检测范围内，因此增加了检测结果的准确性。

为了便于对高阻计2的测量结果进行读数，本实施例中的电容器A的电容值为22pF。

使用一个在高阻计2的检测范围内，且远大于绝缘电阻本身电容值的电容器A，能够便于观察高阻计2的测量读数。

系统还包括：自动化检测设备，用于对测试座1上的待测试产品3进行自动化检测。

在使用并联了电容器A的高阻计2对待测试产品3进行接触不良检测后，若无接触不良，则能够使用继续自动化检测设备对绝缘电阻的性能进行检测，从而排除了接触不良对自动化检测设备的检测结果的影响，提高了最终检测的准确性。

如背景技术所述，高阻计2用于检测绝缘电阻，同时还可以用于检测电容大小，具体地，这种高阻计2中设有电容检测元件，高阻计中2与测试座1对应测试端子电连接的端口还与该电容检测元件电连接，实现电容检测。高阻计2后续也是通过前述端口及对应测试端子去检测产品的绝缘电阻。

在本实施例中，具体使用的高阻计的型号可为SM7110，这种高阻计能够测量电容值，且其的电容值检测范围为大于或等于0.5pF。

高阻计2通过两根导线分别与测试座的两个端子电连接，从而实现高阻计与测试座之间的电连接。

本申请实施例提供的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其工作原理或过程如下：通过在测试座1上使用测试端子4同时连接高阻计2及电容器A，使得高阻计2能够测量电容器A及位于测试座1上待测试产品3的电容值总和，因此若高阻计2的测试结果小于或等于电容器A的电容值，则表明了测试端子4与待测试产品3接触不良，从而能够及时将这些产品剔除或重新测试，因此提高了测试结果的准确性。

尽管已经相对于一个或多个实现方式示出并描述了本申请，但是本领域技术人员基于对本说明书和附图的阅读和理解将会想到等价变型和修改。本申请包括所有这样的修改和变型，并且仅由所附权利要求的范围限制。特别地关于由上述组件执行的各种功能，用于描述这样的组件的术语旨在对应于执行所述组件的指定功能(例如其在功能上是等价的)的任意组件(除非另外指示)，即使在结构上与执行本文所示的本说明书的示范性实现方式中的功能的公开结构不等同。

即，以上所述仅为本申请的实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，例如各实施例之间技术特征的相互结合，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

另外，在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。另外，对于特性相同或相似的结构元件，本申请可采用相同或者不相同的标号进行标识。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，“示例性”一词是用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何一个实施例不一定被解释为比其它实施例更加优选或更加具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本申请，本申请给出了以上描述。在以上描述中，为了解释的目的而列出了各个细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本申请。在其它实施例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本申请的描述变得晦涩。因此，本申请并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。

Claims (10)

1.一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，包括：

测试座，用于放持待测试产品；

设置在所述测试座上的四个测试端子，四个所述测试端子分别与待测试产品的电极相对应电连接；

与两个所述测试端子电连接的高阻计，用于检测待测试产品的绝缘电阻，所述测试座与所述高阻计组成一闭合回路；

与另两个所述测试端子电连接的电容器，所述电容器与所述测试座组成另一闭合回路，且所述电容器与所述高阻计并联设置。

2.根据权利要求1所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，

四个所述测试端子分别与高阻计的端口及电容器的两端固定在一起以形成稳定的电连接。

3.根据权利要求1所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，

所述电容器为固定容值电容器。

4.根据权利要求2所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，

所述高阻计的电容值检测范围为大于或等于0.5pF；

所述电容器的电容值大于0.5pF。

5.根据权利要求4所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，

所述电容器的电容值为22pF。

6.根据权利要求5所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，

所述系统还包括：

自动化检测设备，用于对所述测试座上的待测试产品进行自动化检测。

7.根据权利要求6所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，

所述高阻计中设置有电容检测元件，高阻计中与测试座对应的测试端子电连接的端口还与所述电容检测元件电连接。

8.根据权利要求7所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，

所述高阻计的型号为SM7110。

9.根据权利要求1所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，

所述高阻计通过两根导线分别与测试座的两个端子电连接。

10.根据权利要求1所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，

所述测试端子为测试探针。

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