JPH04203915A - 大視野画像入力方法および装置 - Google Patents

大視野画像入力方法および装置

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Publication number
JPH04203915A
JPH04203915A JP2328906A JP32890690A JPH04203915A JP H04203915 A JPH04203915 A JP H04203915A JP 2328906 A JP2328906 A JP 2328906A JP 32890690 A JP32890690 A JP 32890690A JP H04203915 A JPH04203915 A JP H04203915A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
mirror
linear sensor
galvano
scanning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2328906A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuji Yokouchi
哲司 横内
Makoto Ariga
有賀 誠
Takashi Okabe
隆史 岡部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2328906A priority Critical patent/JPH04203915A/ja
Publication of JPH04203915A publication Critical patent/JPH04203915A/ja
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  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Image Input (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、半導体装置あるいは他の電子部品等の外観検
査を行うための画像入力装置および方法に関する。
[従来の技術] この種の技術について記載されている例としては、特開
昭55−42013号公報がある。
半導体装置等の製造においては、パッケージの外観が品
質に大きく影響する場合が多い。すなわち、当該製品に
おいてリードを含むパッケージ不良が生じていると視覚
的に印象が悪いというばかりでなく、実装不良あるいは
水分の侵入等による特性劣化を来し易い場合が多い。そ
のために、製造工程の最終段階ではこれらの外観が一定
基準を満たしているかを検査する外観検査工程が行われ
ている。
かかる外観検査に於て、多品種に対応するためには大画
面の入力が必要である。このため、上記の公報にも記載
されているように、リニアセンサとX−Yステージの駆
動による画像入力方法をとっていた。
また、従来のTVカメラ方式の場合、高い分解能で広い
範囲の画面を得るためには、画像をいくつかに分割して
入ツノする必要があった。
ところが、上記公報のような方法では、走査のためのX
−Yステージ、X−Yステージを駆動させる制御部等、
装置構成がかなり大がかりなものとなっていた。また画
像を入力するのに時間がかかっていた。
1’Vカメラで画像を分割入力する方法では、画像処理
的にみて画面のつなき合わせが難しく、また、入力画面
の視野移動機構も複雑になり、全体として大がかりな装
置構成となる。
本発明の1−1的は、大視野の画像を簡単な方法により
、かつ高速で、−度に入力する方法を提供することにあ
る。
〔課題を解決するための手段〕
」二記[1的を達成するために、撮像素子として、20
48画素×1のリニアセンサを使用した。また、走査方
法としては、リニアセンサの光軸上にガルバノミラ−を
入れ、このミラーの角度を変化させることによって行う
ミラーの動作方法については、動作データをl≧AMに
記憶させておき、このデータをD/Δ変換することによ
り、ガルバノモータに電圧を与えて行っている。
[作用] リニアセンサでX軸方向の撮像を行い、プログラマブル
にミラーの角度を変化させることによってY軸方向の走
査を行う。それによって、視野範囲にあわせた画素サイ
ズで分解能25μmの画像が得られる。
[実施例] 第1図は本発明の一実施例である外観検査装置の画像入
力部を示す構成図、第2図はカメラヘッドを示す説明図
、第3図はガルバノインターフェイスポードのブロック
図、第4図は画像入力のブロック図、第5図はミラー動
作角の補正を示す説明図である。
本実施例における外観検査装置の画像入力部は第1図に
示す構成となっている。被検査対象物である半導体装置
6に対して、」ニガにガルバノカメラ1、照明装置5が
、下方に検査ステージ7が設置されており、照明装置5
によって適切に照明された半導体装置6を、ガルバノカ
メラ1によって撮像する。このガルバノカメラlをガル
バノコントローラ2、ガルバノインターフェイス基板3
によって制御する。ガルバノカメラ1より入ツノされた
画像信号は、2o48 x 2048画像処理基板4の
画像メモリ17に格納される。
ガルバノカメラlは第2図に示すようになっており、視
野サイズ51,2 X51.2m %、分解能25μm
を得るために、20/18X Iのりニアセンサ11を
使用している1、このセンサの光軸上に入れたガルバノ
ミラ−9の角度を、第3図に示すガルバノインターフェ
イス基板3のRAM1/Iに記憶されているデータを1
)/Δコンバータ15でL) / A変換し、第5図(
1))のようなこの信号をガルバノモータ8にLj、え
ることによって変化させ、半導体装置6のY11q11
方向の走査を行いリニアセンサ11で撮像する。
また、ミラーの動作はプログラマブルとなっているため
、被検査対象物である半導体装置6のパッケージサイズ
に合わせて必要なたけ走査できるようになっている。し
かし、画像信号を得るには、ガルバノミラ−9とりニア
センサ11の動作を同期させる必要がある。第3図がミ
ラーとセンサを同期させるインターフェイス基板であり
、PLL12を用いてこれを行っている。
走査を行う際、ガルバノミラ−9を等角速度で動作させ
た場合、第5図(a)に示すように角度が大きくなるほ
ど移動料が大きくなるため、画像に歪が生じる。そのた
め第5図(b)のような補正を加えて、移動量が等間隔
になるようにしている。
第4図は画像入力のブロック図を示しており、画像入力
を行うためのソフトウェア】9によって画像を入力して
いる。また、画像を取り込むにはガルバノミラ−9とリ
ニアセンサ11を同期させると同時に、これらと画像メ
モリ17との同期も必要である。そのため、タイミング
コントロール18にT RS (Image Resa
mpling 5equencer)とよばれる専用L
SIを使用している。このIR3を2個、X、yたすき
かけて使用した場合、画像メモリ17のアドレス発生お
よび垂直同期信号の発生が可能であり、この信号を使う
ことによりガルバノミラ−9、リニアセンサII、画像
メモリ17の動作を同期させることができる。IR3は
2048 X 2048画像処理基板4に実装しである
。ガルバノカメラ1により入力された画像信号は、8b
it、A/Dコンバータで量子化され、2048 X 
2048画像処理基板4の画像メモリI7に格納される
以上説明した一連の動作によって得た画像で、画像処理
を行い半導体装置6の外観検査をする。
[発明の効果1 本発明によれば、ミラーの角度を変化させることにより
、lラインごとに撮像を行うので、走査ライン数をかえ
ることによって任意の大きさの画像が得られる。また、
装置の機構としても簡単であり、画像入力時間が短くな
る。また、25μmの分解能が得られ、検査が容易にで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例である外観検査装置の画像入
力部を示す構成図、第2図はカメラヘッドを示す説明図
、第3図はガルバノインタフェイス基板のブロック図、
第4図は画像入力のブロック図、第5図はミラー動作角
の補正を示す説明図である。 1・・・ガルバノカメラ 2・ガルバノコントローラ 3・・ガルバノインターフェイスポード4・・2048
 X 2048画像処理基板5・・・照明装置 6・・・半導体装置     7・・・検査ステージ8
・・・ガルバノモータ   9・・・ガルバノミラ−1
0・・・レンズ       11・・リニアセンサ1
2・ I) L I、       13・・・カウン
タ14・・RAM(DATA) 15・=D/Aコンバータ  16− A m p17
・・・画像メモリ 18・・・タイミングコントロール 纂 1 図 82図 稟 3 図 集 仝 図 稟 5I121 ((1)           (b)X2>×1 :
周迫!

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被撮像対象に対して像を結像するための光学部と、
    画像信号を入力するためのリニアセンサとリニアセンサ
    を動作させるためのリニアセンサドライバとからなるリ
    ニアセンサ部、光学系とリニアセンサとの間に入れた光
    軸の角度を変化させるためのガルバノミラーとミラーを
    振るためのガルバノモータとモータを制御するためのガ
    ルバノコントローラとからなるガルバノミラー部、およ
    びリニアセンサからの画像信号を記憶するための画像入
    力基板と、リニアセンサとガルバノミラーとを同期させ
    るガルバノミラーインターフェース基板とからなること
    を特徴とする大視野画像入力装置。 2、請求項1記載におけるガルバノミラーの動作データ
    をRAMに記憶させることにより、動作をプログラムブ
    ルにすることで、画像に歪が生じないような補正を行え
    ることを特徴とする大視野画像入力方法。 3、請求項1記載におけるガルバノミラーの動作データ
    をRAMに記憶させることにより、動作をプログラムブ
    ルにすることで、被撮像対象の大きさにあわせた画像サ
    イズで画像を得ることを特徴とする大視野画像入力方法
JP2328906A 1990-11-30 1990-11-30 大視野画像入力方法および装置 Pending JPH04203915A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0948196A2 (en) * 1998-04-03 1999-10-06 Sony Corporation Image input device
US6233014B1 (en) 1996-04-17 2001-05-15 Minolta Co., Ltd. Line sensor camera without distortion in photo image

Cited By (5)

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EP1255151A1 (en) * 1998-04-03 2002-11-06 Sony Corporation Image input device
US6917385B1 (en) 1998-04-03 2005-07-12 Sony Corporation Image input device for obtaining 2-D and 3-D images with a linear sensor

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