JPH04199563A - 半導体集積回路用パッケージ - Google Patents

半導体集積回路用パッケージ

Info

Publication number
JPH04199563A
JPH04199563A JP2335356A JP33535690A JPH04199563A JP H04199563 A JPH04199563 A JP H04199563A JP 2335356 A JP2335356 A JP 2335356A JP 33535690 A JP33535690 A JP 33535690A JP H04199563 A JPH04199563 A JP H04199563A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
layer
semiconductor chip
internal
integrated circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2335356A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsumi Nakino
奈木野 勝美
Toshihiko Hori
俊彦 堀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2335356A priority Critical patent/JPH04199563A/ja
Publication of JPH04199563A publication Critical patent/JPH04199563A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/49105Connecting at different heights
    • H01L2224/49109Connecting at different heights outside the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/494Connecting portions
    • H01L2224/4943Connecting portions the connecting portions being staggered
    • H01L2224/49431Connecting portions the connecting portions being staggered on the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/494Connecting portions
    • H01L2224/4943Connecting portions the connecting portions being staggered
    • H01L2224/49433Connecting portions the connecting portions being staggered outside the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits

Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体集積回路用パッケージに関するもの
である。
〔従来の技術〕
第5図は従来の半導体集積回路用パッケージを示す内部
構成図、第6図は第5図の■−■側面部分図である。図
において、半導体チップ(1)は、実際に半導体素子が
動作する能動領域(2)と、外部と電源、入出力信号の
受は渡しをする為の半導体チップ(1)上の表面電極(
3)(以下、ポンディングパッドという)と、点線で示
されるように、能動領域(2)とポンディングパッド(
3)間を接続するのに必要な周辺回路(4)により構成
されている。
また、リードフレームは、半導体チップ(1)を固定す
るダイパッド部(5)と、ポンディングパッド(3)と
電気的に接続を行う内部リード(6)により構成され、
ポンディングワイヤ(8)は、ポンディングバンド(3
)と内部リード(6)とを電気的に配線する為の金属線
である。
半導体チップ(1)は、リードフレームのダイパッド部
(5)に固定するため、ハンダ等によりダイホンディン
グされた後、内部リード(6)とポンディングパッド(
3)は、ボンディングワイヤ(8)を用いて相互に接続
される。
この時、内部リード(6)は、第6図に示されるように
、同一平面上に配置されており、ワイヤボンディング行
程において、隣接する内部リード(6)は、平面的にワ
イヤホンディングされていく。
第7図は第5図の半導体チップ(1)の大きさを変えず
にポンディングパッド(3)を増加させた場合に相当す
る半導体集積回路用パッケージの一部を示す内部構成図
である。
第7図において、限られたチップ面積で、ホンディング
パッド(3)の数を増加させようとすると、図のように
ポンディングパッド(3)を交互に配置する方法が考え
られるか、従来のリードフレームを用いてワイヤポンデ
ィングを行うと、内部リード(6)は同一平面上に配置
されているため、半導体チップ(1)上のポンディング
パッド(3)数の増加に伴って、隣接する内部リード(
6)のピッチ間隔は狭くなっていく。
〔発明か解決しようとする課題〕 従来の半導体集積回路用パッケージは以上のように構成
されているので、隣り合う内部リート(6)間、及びボ
ンディングワイヤ(8)同士が電気的に短絡する可能性
が大きくなり、歩留りの低下に伴う製造原価が上昇する
といった問題点がある。
二の発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、半導体チップ上のポンディングパッド数が増
加した場合、即ち、多ピン化された場合に伴う隣接する
内部リード、及びボンディングワイヤ間の電気的短絡を
防止することかできる半導体集積回路用パッケージを得
ることを目的としている。
〔課題を解決するだめの手段〕
この発明に係る半導体集積回路用パンケージは、半導体
チップ上に形成された表面電極と電気的接続を行うため
の第1層内部リートと、前記第1層内部リートと接続さ
れていない前記半導体チップ上の表面電極と電気的接続
を行うための第2層リートとを備えて、前記第1層内部
り−トと前記第2層内部リードを垂直方向に分離するた
め、その層間に絶縁物を配置したものである。
〔作 用〕
この発明によれば、第1層内部リートと第2層内部リー
トを垂直方向に分離するために、その層間に絶縁物を配
置することにより、隣接する内部リードは上下方向に交
互に分離され、隣り合った内部リード間隔が空間的に拡
がり、半導体チップ上の表面電極と内部リードとを接合
する際、内部リード間の電気的短絡を防止する。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例をリードフレームを使用した
場合について、図面を用いて説明する。
第1図はこの発明の一実施例による半導体集積回路用パ
ッケージの一部を示す内部構成図、第2図は第1図のI
−■側面部分図である。
第1図において、半導体チップ(1)のチップ面積を変
えずに入出力信号ピンを増加させた時、ホンディングパ
ッド(3a)、  (3b)は、図のように交互に配置
される。
一方、リードフレームの形状について、内部リードを図
のように、第1層内部リート(6a)と第2層内部リー
ド(6b)というように垂直方向に交互に割り振って、
第1層内部リード(6a)と第2層内部リード(6b)
との間に、無機材料を用いた絶縁物(7)を配置する。
この時、第1層内部リード(6a)と第2層内部リート
(6b)との位置関係は、絶縁物(7)上であれば、重
ね合わせることも可能である。
次に前記リードフレームを用いて、半導体チップ(1)
上のポンディングパッド(3a)、 (3b)と電気的
な接続を行うワイヤボンディング行程について説明する
半導体チップ(1)上の周辺沿いに配置されているポン
ディングパッド(3a)と、第1層内部リート(6a)
とをボンディングワイヤ(8)により、相互に接続し、
また半導体チップ(1)上の内部側に配置されているポ
ンディングパッド(3b)と、第2層内部リード(6b
)とを相互に接続するようにワイヤボンディングを行う
。以後、この行程を繰り返していくことにより、第1図
、第2図のような構成でワイヤポンディングされる。
第2図を参照すれば明らかなように、隣接するホンディ
ングワイヤ(6)は、交互に段差構成になっているため
、ボンディングワイヤ間の間隔が拡かり、電気的短絡を
防止できるような構造になっている。
なお、上記実施例では、第1層内部リード(6a)と第
2層内部リード(6b)との間に絶縁物(7)を配置し
たリードフレームを用いて、半導体チップ(1)上のボ
ンディングワイヤ(3a)、 (3b)とワイヤホンデ
ィングした例を示したか、他の実施例として、第3図の
ように、ボンディングワイヤ(8)を使用する代わりに
、第1層内部リード(6a)と第2層内部リード(6b
)を、半導体チップ(1)上の表面突起電極(3a)、
 (3b)に、それぞれ直接接合しても良い。
さらに、第4図は第3図の■−■側面部分図であるか、
図のように、第1層内部リード(3a)と第2層内部リ
ード(3b)との間には、有機材料を用いた絶縁物(7
)が配置されており、このような構成にしても、前記一
実施例と同様の効果を奏する。
〔発明の効果〕
この発明によれば、第1@内部リートと第2層内部リー
トどの間に絶縁物を配置した構成であるので、隣接する
内部リート間隔に余裕を持たせることかでき、LS I
(大規模集積回路)の多ビン化に伴うアセンブリ技術の
高精度化に対して、容易にアセンブリすることかできる
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による半導体集積回路用パ
ッケージの一部を示す内部構成図、第2図は第1図のI
−1側面部分図、第3図はこの発明の他の実施例による
半導体集積回路パッケージの一部を示す内部構成図、第
4図は第3図のm−■側面部分図、第5図は従来の半導
体集積回路用パッケージの一部を示す内部構成図、第6
図は第5図の■−■側面部分図、第7図は第5図の半導
体チップのチップ面積は同一で、ボンディングバット数
を増加させた場合に相当する半導体集積回路用パッケー
ジの一部を示す内部構成図である。 図において、(1)は半導体チップ、(2)は半導体素
子か動作する能動領域、(3)、(3a)、 (3b)
は表面電極、(4)は周辺回路、(5)はダイパッド部
、(6)は内部リード、(6a)は第1層内部リード、
(6b)は第2層リード、(7)は絶縁物、(8)はボ
ンディングワイヤである。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代  理  人    大  岩  増  雄第1図 @+vA 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体チップ上に形成された表面電極と電気的接続を行
    うための第1層内部リードと、前記第1層内部リードと
    接続されていない前記半導体チップ上の表面電極と電気
    的接続を行うための第2層リードとを備え、前記第1層
    リードと前記第2層リードを垂直方向に分離するため、
    その層間に絶縁物を配置したことを特徴とする半導体集
    積回路用パッケージ。
JP2335356A 1990-11-28 1990-11-28 半導体集積回路用パッケージ Pending JPH04199563A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2335356A JPH04199563A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 半導体集積回路用パッケージ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2335356A JPH04199563A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 半導体集積回路用パッケージ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04199563A true JPH04199563A (ja) 1992-07-20

Family

ID=18287616

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2335356A Pending JPH04199563A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 半導体集積回路用パッケージ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04199563A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5557143A (en) * 1993-09-16 1996-09-17 Rohm Co., Ltd. Semiconductor device having two staggered lead frame stages
US5726490A (en) * 1994-09-26 1998-03-10 Nec Corporation Semiconductor device
US5905300A (en) * 1994-03-31 1999-05-18 Vlsi Technology, Inc. Reinforced leadframe to substrate attachment
US6040984A (en) * 1996-02-27 2000-03-21 Fuji Machinery Mfg. & Electronics Co., Ltd. Printed circuit board with opposed bonding shelves for semiconductor chip wire bonding at different levels
US6251768B1 (en) * 1999-03-08 2001-06-26 Silicon Integrated Systems Corp. Method of arranging the staggered shape bond pads layers for effectively reducing the size of a die

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5557143A (en) * 1993-09-16 1996-09-17 Rohm Co., Ltd. Semiconductor device having two staggered lead frame stages
US5905300A (en) * 1994-03-31 1999-05-18 Vlsi Technology, Inc. Reinforced leadframe to substrate attachment
US5726490A (en) * 1994-09-26 1998-03-10 Nec Corporation Semiconductor device
US6040984A (en) * 1996-02-27 2000-03-21 Fuji Machinery Mfg. & Electronics Co., Ltd. Printed circuit board with opposed bonding shelves for semiconductor chip wire bonding at different levels
US6251768B1 (en) * 1999-03-08 2001-06-26 Silicon Integrated Systems Corp. Method of arranging the staggered shape bond pads layers for effectively reducing the size of a die

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5715147A (en) Semiconductor device having an interconnecting circuit board
JP4674113B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
US6300685B1 (en) Semiconductor package
JPH06151685A (ja) Mcp半導体装置
JP2001156251A (ja) 半導体装置
JPH03263334A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH04199563A (ja) 半導体集積回路用パッケージ
JPS59136963A (ja) 記憶装置の多層実装構造
JP2810626B2 (ja) 半導体装置
JP3090115B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH01272144A (ja) 半導体装置とその組立方法
JPS593857B2 (ja) 半導体装置
JP2000260931A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2001237346A (ja) 半導体素子搭載基板、及び半導体装置の製造方法
JPS629654A (ja) 集積回路装置実装パツケ−ジ
JP2747260B2 (ja) セラミック複合リードフレーム及びそれを用いた半導体 装置
JPH0414503B2 (ja)
JPH01206660A (ja) リードフレームおよびこれを用いた半導体装置
KR100601760B1 (ko) 스택형 패키지 및 그 제조 방법
JPH0334337A (ja) 半導体集積回路
JPH06326235A (ja) 半導体装置
JPS62123744A (ja) 半導体装置
JPH02192155A (ja) 半導体装置
JPH04124844A (ja) 半導体装置のボンディングパッド電極の構造
JP3041849B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法