JPH0419830A - トラッキング制御装置 - Google Patents
トラッキング制御装置Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
に追従するように、トラックと光ビームスボンドとの位
置関係を検出してこの検出結果に基づいてトラッキング
制御を行うトラッキング制御系のゲイン調整装置に関し
、例えば、レーザ光源を利用して光学的に記録媒体上に
信号を記録すると共にこの記録された信号を再生する光
学式記録再生装置において利用される。
例えば特開平1−89034号公報に記載されているよ
うに、制御系の中にゲイン調整手段を介在させ、一定の
外乱信号に対する応答信号により、ループゲイン或いは
位相差を直接求めてこれらが規定の値となるように調整
するものがある。第10図はこのような従来のトラッキ
ング制御系のゲイン調整装置の構成を示すブロック図で
ある。以下これを用いて従来のトラッキング制御につい
て説明する。
ップリングレンズ2で平行光にされた後、偏光ビームス
プリッタ3で反射され、λ/4板4(λは光ビームの波
長)を通過し、対物レンズ5によって集光され、モータ
6によって回転している光デイスク7上に照射される。
レンズ5、λ/4板4、及び偏光ビームスプリンタ3を
通過し、集光レンズ9を介し分割ミラー10で2方向に
分割される。分割された一方の光ビーム11は2分割構
造の光検出器12に入力される。光検出器12の出力A
、Bは各々プリアンプ13A、13Bで増幅された後、
差動増幅器14に入力され、プンシュブル法により、差
動増幅器14の出力からトラッキングずれ信号(応答信
号)を得ることができる。
、2分割構造の光検出器16に入力されており、この光
検出器の出力C,Dの差出力をとるように構成すれば、
ディスク7上の光ビームが合焦状態になるように制御す
るためのフォーカスずれ信号を得ることができるが、本
発明とは直接関係しないので説明を省略する。
償するための位相補償回路17、制御系のゲインを調整
するための合成回路18およびゲイン調整回路19、電
力増幅するための駆動回路20を介し、トラッキング制
御素子21に入力されている。トラッキング制御素子2
1は、光デイスク7上の光ビームスボンドが正しくトラ
ックを追従するように対物レンズ5をトラッキング方向
(光ディスクの半径方向)に駆動する。
インの調整について説明する。
されると、光ディスク7が回転し、光源1から光ビーム
8が照射され、フォーカス制御及びトラッキング制御が
かかる。
8に入力し、制御系に外乱を加える。その外乱信号及び
応答信号をA/D変換器22.23を介してマイクロコ
ンピュータ24に取り込ム。
し、入力した外乱信号とその応答信号の比(以下、ルー
プゲインと称する)或いは入力した外乱信号とその応答
信号の位相差(以下、位相差と称する)を測定する。そ
の測定したループゲイン或いは位相差に応じて、ゲイン
調整回路19を動作させ、トラッキング制御系が所定の
ループゲインとなるように調整を行っていた。
と応答信号により直接にループゲイン或いは位相差を求
めてゲイン調整を行っていた。
ノイズの影響を小さクシ調整精度をあげるために、高速
フーリエ変換(以下、FFTと呼ぶ)を適用しおり、そ
の演算式は、以下に示す通りである。
プリングした信号の虚数部 N =サンプル数 Wj:サンプリングデータ(外乱信号のサンプル値或い
は応答信号のサンプル値)この結果よりループゲイン及
び位相差を求めると、ループゲインPは また位相差Qは Q=TAN−’ (AV/BY) AN (Ax/Bx) ・・・第4式 但し、係数yは応答信号、係数Xは外乱信号を示す。
演算の他に平方根および対数計算が必要であり、また位
相差Qを求める場合も逆正接関数の計算が必要である。
実現するためには、数値計算用の専用ハードウェアを内
蔵するか、或いは外付けで具備するか、又は関数テーブ
ルをROM上に作成しなければならない。ハードウェア
を具備する方法は装置のコストの点で、あるいは回路の
実装の点で制約を受けるため、容易に実現することは困
難であり、また関数テーブルを作成する場合においても
、メモリ容量が増加して実際に動作させる調整プログラ
ムが制約を受け、さらに計算を行う都度ROMにアクセ
スしなければならないため、調整時間が長くかかるとい
う欠点を有していた。
調整装置は、光ビームスポットが光記録媒体上のトラッ
クに追従するように、トラックと光ビームスポットとの
位置関係を検出してこの検出結果に基づいてトラッキン
グ制御を行うトラッキング制御系において、前記トラッ
キング制御系に対し、当該制御系のループゲインが最適
とした場合に外乱信号と応答信号との位相差が略−90
°となる周波数の外乱信号を加える外乱印加手段と、外
乱信号に対する前記トラッキング制御系の応答信号を測
定する信号測定手段と、この応答信号と前記外乱信号と
に基づき前記制御系における伝達関数の実数部を算出す
る実数部算出手段と、この算出された実数部が略Oにな
るようにループゲインを切替え制御する制御手段とを備
えていることを特徴としている。
ゲイン調整装置は、光ビームスポットが光記録媒体上の
トラックに追従するように、トラックと光ビームスポッ
トとの位置関係を検出してこの検出結果に基づいてトラ
ンキング制御を行うトラッキング制御系において、前記
トラッキング制御系に対し、当該制御系のループゲイン
が最適とした場合に外乱信号と応答信号との位相差が略
90°となる周波数の外乱信号を加える外乱印加手段と
、外乱信号に対する前記トラッキング制御系の応答信号
を測定する信号測定手段と、この応答信号と前記外乱信
号とに基づき前記制御系における伝達関数の虚数部を算
出する虚数部算出手段と、この算出された虚数部が略所
定値になるようにループゲインを切替え制御する制御手
段とを備えていることを特徴としている。
達関数の実数部或いは虚数部を求め、その値が略O或い
は略所定値になるようにループゲインを切り替えて、ル
ープゲインを調整しでいる。
を直接求めることをしない。
上記の伝達関数における実数部或いは虚数部を求める演
算式においでは、演算する項目が少なくなったため、演
算速度が速くなり、ループゲインの調整時間を短縮する
ことができる。また平方根、逆正接関数の演算のための
専用ハードウェアを具備する必要はなく、標準的なマイ
クロコンピュータを適用して容易にトラッキング制御系
のループゲインの自動調整を実現することができる。
は、当該制御系に固有のものとして定まっている。
づいて説明すれば、以下の通りである。
略構成図である。なお、トラッキング制御系については
、従来と同様の構成を有するので、説明の重複を避ける
ため、同一の部材には同一の符号を付記してその説明を
省略している。また、本実施例では反射光を検出してト
ラッキング制御しているが、透過光を検出するようにし
てもよい。
問わず、光学的に信号の記録再生ができる光記録媒体で
あればよい。
を内蔵し、そのボートAよりトラッキング制御系のルー
プゲインが最適とした場合に外乱信号と応答信号との位
相差が略−90°となる周波数fAO外乱信号を合成回
路18を介してトランキング制御系に印加すると共に、
前記の外乱信号に対する前記トラッキング制御系の応答
信号をA/D変換器22によりサンプリング測定する。
御系における伝達関数の実数部を算出し、この算出され
た実数部が略0となるようにゲイン切替回路25におけ
るスイッチ群25a・・・を切り替えて所定の抵抗値を
選択してループゲインを切り替えるようになっている。
号によって求められるトラッキング制御系の閉ループ伝
達関数の周波数特性を、ボード線図上に表すと第2図の
ようになる。またこれをナイキスト線図上に表すと第3
図のようになる。トラッキング制御系が最適なループゲ
インのとき、所定の周波数fAで一90°の位相になる
ので、周波数fAの信号を入力したとき、第2図上及び
第3図上の点Aに位置するようにゲインを調整すればよ
い。
線図上では実数部はOとなり、虚数部は所定値となる。
なくても簡単に調整点f見つけることができる。
び虚数部は下記に示すFFTの演算式より求めることが
できる。
プリングした信号の虚数部 N :サンプル数 Zj:サンプリングデータ(外乱信号χ或いは応答信号
Yjのサンプル値) ここで、外乱信号をA X + B X i 、応答信
号をAV+BYiで表すと閉ループの伝達関数GはG=
(AV+BVi)/ (AX+BXi)= (Ax
Av+BxBy + (A+]3y BxAv )i
)/ (A、2−BX” )・・・第7式と展開でき
る。
数(12=−1)を示す。
、伝達関数の実数部は0となるので、マイクロコンピュ
ータ24゛によってへ。、BX、AV、B、の各々の値
を第5式及び第6式を用いて求め、Ax Av +BX
BY ’−0となるようにトラッキング制御系のルー
プゲインを変化させて調整する。
せて調整する処理を示すフローチャートであり、第4図
、第5図はループゲインの調整を完了するまでのトラッ
キング制御系の伝達関数の周波数特性の変化をボード線
図及びナイキスト線図でそれぞれ示したものである。ま
た、第6図は、最適なループゲインの状態で一90°の
位相となる周波数でのループゲイン変化に対する実数部
の値の変化を示したものである。これらの図面を用いて
、ループゲイン調整の手順についてさらに詳しく説明す
る。
ラッキング制御系のゲインを調整するようプログラムさ
れているとする。この電源投入時若しくは光ディスク7
の交換時、マイクロコンビ1−夕24°は先ず初期設定
を行う(Sl)。マイクロコンピュータ24′は、周波
数fAO外乱信号を合成回路18を介してトラッキング
制御系に印加すると共に、この外乱信号をサンプリング
する(S2)。印加された信号はトラッキング制御系を
一巡し、差動増幅器14の出力よりトラッキングずれ信
号として応答があられれる。この応答信号は、位相余裕
を確保してトラッキング制御系を安定させるための位相
補償回路17を通過し、A/D変換器22によってサン
プリングされる(S3)。サンプリングされた各々のデ
ータはマイクロコンピュータ24゛に入力され、マイク
ロコンピュータ24°は前記の外乱信号における第5式
および第6式の演算を実行すると共に、前記入力した応
答信号における第5式および第6式の演算を実行する(
34〜S7)。次に、サンプリング回数であるjをイン
クリメントしくS8)、jがN−1になるまでステップ
2〜7を繰り返す(S9)。そして、ステップlOにお
いて、伝達関数Gの実数部を求める演算を実行する。こ
の演算結果において、例えば、トラッキング制御系のル
ープゲインが最適な状態から小さい方にずれているとす
る。このとき周波数特性は、例えば、第4図及び第5図
上のaのような特性を示している。
に対応する点がA1点の位置にあることを訂識する。
めた実数部の値が略0より小さいので、その差に応じた
信号をゲイン切替手段25に出力し、トラッキング制御
系のループゲインを大きくなる方向に変化させる(Sl
l)。この操作は、ゲイン切替回路25の抵抗値を選択
することで行うことができる。
をA/D変換器22によってサンプリングし、同様の演
算を実行し、伝達関数Cの実数部を求める。このとき周
波数fAに対応する点は今度は例えばA2点の位置にあ
り、第5図中のbのような周波数特性となり、求めた実
数部の値はOより大きいので、その差に応じた信号をゲ
イン切替手段25に出力し、トラッキング制御系のルー
プゲインが小さくなる方向に変化させる(312)。こ
の処理を繰り返すことで、トラッキング制御系のゲイン
を変化させ、周波数fAに対応する点はA3、A4、A
5と移動していき、目標位置であるA5点に達する。A
5点は、伝達関数Gの実数部の値が略0に等しくなった
点である。このとき周波数特性は、第5図上のeのよう
な特性を示しており、周波数fAで位相は略−90°に
等しくなるので、調整を完了する。
化は、第6図に示すように調整の目標点であるA5点付
近ではA5点を通る直線にほぼ近位できる。したがって
略0になる点を、前記のステップを何回も繰り返すこと
で捜し出さなくとも、実数部の絶対値の等しい2点A3
、A4の中点を求めれば、その中点は実数部の値が0に
なる点に略一致する。よってその中点に対応するループ
ゲインを設定し調整するようにすれば、速やかに精度良
<調整点を算出することができる。
に基づいて説明する。なお、第1実施例で用いた第1図
乃至第5図をここで再び用いることとする。
伝達関数Gにおける虚数部を演算し、その値が所定値に
となるように制御するものであり、マイクロコンピュー
タ24“内部での演算において、第1実施例で示したA
XBY−BXAアを算出するようになっている。
上では、前述の通り実数部は0となり、一方、虚数部は
所定値にとなる。また、最適なループゲインの状態で一
90’の位相となる周波数でのゲイン変化に対する虚数
部の値の変化は第8図のようになる。
伝達関数の虚数部はKとなるので、Ax、Bx 、Av
、BYの各々の値を第5式及び第6式を用いて求め、
AX Bv Bx Av ”=にとなるようにトラ・ノ
キング制御系のゲインを変化させて調整する。
におけるゲイン調整の手順についてさらに詳しく説明す
る。
交換時にトラッキング制御系のゲインを調整するようプ
ログラムされているとする。この電源投入時、或いは光
ディスク7の交換時、マイクロコンピュータ24゛は先
ず初期設定を行う(S21)。マイクロコンピュータ2
4°は、周波数fAO外乱信号を合成回路18を介して
トランキング制御系に印加すると共に、この外乱信号を
サンプリングする(S22)。印加された信号はトラッ
キング制御系を一巡し、差動増幅器14の出力よりトラ
ッキングずれ信号として応答があられれる。この応答信
号は、位相補償回路17を通過し、A/D変換器22に
よってサンプリングされる(S23)。サンプリングさ
れた各々のデータはマイクロコンピュータ24′に入力
され、マイクロコンピュータ24′は前記の外乱信号に
おける第5式および第6式の演算を実行すると共に、前
記入力した応答信号における第5式および第6式の演算
を実行する(324〜27)。次に、サンプリング回数
であるjをインクリメントしく32B)、jがN−1に
なるまでステップ22〜27を繰り返す(S29)。そ
して、ステップ30において、伝達関数Gの虚数部を求
める演算を実行する。この演算結果において、例えば、
トラッキング制御系のループゲインが最適な状態から小
さい方にずれているとする。このとき周波数特性は、例
えば、第4図及び第5図上のaのような特性を示してい
る。その結果よりマイクロコンピュータ24°は周波数
fAに対応する点がA1点の位置にあることを認識する
。
めた虚数部の値が略により大きいので、その差に応じた
信号をゲイン切替回路25に出力し、トラッキング制御
系のループゲインを大きくなる方向に変化させる(S3
1)。
をA/D変換器22によってサンプリングし、同様の演
算を実行し、伝達関数Gの虚数部を求める。このとき周
波数fAに対応する点は今度は例えばA2点の位置にあ
り、第5図中のbのような周波数特性となり、求めた虚
数部の値はKより小さいので、その差に応じた信号をゲ
イン切替回路25に出力し、トラッキング制御系のルー
プゲインを小さくなる方向に変化させる(332)。こ
の処理を繰り返すことで、トラッキング制御系のゲイン
を変化させ、周波数fAに対応する点はA3、A4、A
5と移動していき、目標位置であるA5点に達する。A
5点は、伝達関数Gの虚数部の値が略Kに等しくなった
点である。このとき周波数特性は、第5図上のeのよう
な特性を示しており、周波数fAで位相は略−90°に
等しくなるので、調整を完了する。
ュータ24°自体がその外乱印加手段24“aにてその
ポートから外乱信号を制御系に加えるように構成してい
るので、外乱信号のデータはマイクロコンピュータ24
°が認識しており、従来例で示したA/D変換器23で
取り込まなくてもマイクロコンピュータ24’内部で処
理することで演算を実行できる。また、トラッキング制
御系に加える外乱信号のデータをマイクロコンピュータ
24”の内部に、実数部、虚数部の値でテーブル状に格
納しておけば、外乱信号のFFTの演算を省略すること
ができるので、ループゲイン調整時間を一層短縮するこ
とができる。
ュータ24′に入力される各々のサンプリング点の振幅
値の平均、あるいは演算後の実数部或いは虚数部の値の
平均をとり、その平均値によって調整を行うことにより
調整精度を向上させることができる。また、マイクロコ
ンピュータ24“のボートより外乱信号を制御系に入力
するように構成したが、FFTの演算を実行することに
よって矩形波状の外乱信号を入力しても、求める実数部
あるいは虚数部の値は正弦波状の外乱信号を入力した場
合と略等しく、精度良く調整を実現できる。
、光ディスク7の交換時にトラッキング制御系のループ
ゲインの調整を実行するように構成したが、マイクロコ
ンピュータ24°の持っ時間計測機能を用いて、装置が
起動した後の所定の時間毎に、または所定の時間、図示
しないホストCPUより記録再生の命令が送られてこな
かったとき、ループゲインの調整を実行するように構成
してもよい。
たときに、或いは記録媒体上に記録すべき信号を正しく
記録できなかったり、又は記録されている信号を再生で
きなかったときに、ループゲインの調整を実行し、この
ループゲインの調整後に、再度信号の記録又は再生を行
うように構成すれば、より安定した記録、再生を行うこ
とが可能となる。
等の温度センサを、光デイスク装置に取り付け、上記セ
ンサによって当該装置に振動、衝撃が加わったことを検
出した時に、又は装置内の温度が変化したことを検出し
た時に、ループゲインの調整を実行するように構成すれ
ば、装置の使用時の温度変化、外部からの振動や衝撃等
により調整の状態がずれても速やかに対応することがで
きる。
ンの切替えは、ゲイン切替回路25によって実現してい
るが、デジタル制御系においては演算結果に応じてデジ
タルフィルタの係数を変えることで、さらに容易にルー
プゲインの切替えが行なえる。即ち、他のループゲイン
切替手段を用いる場合でも、本発明は適用できるもので
ある。
制御系のループゲインの調整を行うこ4゜ とができ、調整のための専用の演算回路あるいはメモリ
等のハードウェアを削減することができる。
くすることができる。これにより標準のマイクロコンピ
ュータによって簡単に自動調整を実現することが可能と
なり、低コストで信頼性の高い装置を提供することがで
きる。
って、第1図はトラッキング制御系のゲイン調整装置の
構成を示すブロック図、第2図は第1図のトラッキング
制御系の閉ループの伝達関数の周波数特性を示すボード
線図、第3図はトラッキング制御系の閉ループの伝達関
数の周波数特性を示すナイキスト線図、第4図は調整に
よる周波数特性の推移を説明するためのボード線間、第
5図は調整による周波数特性の推移を説明するためのナ
イキスト線図、第6図は調整による実数部の値の推移を
示す特性図、第7図はゲイン調整装置における処理の流
れを示すフローチャート、第8図および第9図は本発明
の他の実施例を示すものであって、第8図は調整による
虚数部の値の推移を示す特性図、第9図はゲイン調整装
置における処理の流れを示すフローチャート、第10図
は従来のゲイン調整装置の構成を示すプロ・ツク図であ
る。 1・・・光源、2・・・カップリングレンズ、3・・・
偏光ビームスプリッタ、4・・・λ/4板、5・・・対
物し7ズ、6・・・モータ、7・・・光ディスク、9・
・・集光レンズ、10・・・分割ミラー 12.16・
・・光検畠器、13A・・・プリアンプ、13B・・・
プリアンプ、14・・・差動増幅器、17・・・位相補
償回路、18・・・合成回路、20・・・駆動回路、2
2・・・A/D変換器、24゛・・・マイクロコンピュ
ータ、25・・・ゲイン切替回路。 代理人 ; 弁理士 中島 司朗 第 図 A 第 図 第4図 r牧郭 第6 図 第 図 第8 図 第10図
Claims (9)
- (1)光ビームスポットが光記録媒体上のトラックに追
従するように、トラックと光ビームスポットとの位置関
係を検出してこの検出結果に基づいてトラッキング制御
を行うトラッキング制御系において、 前記トラッキング制御系に対し、当該制御系のループゲ
インが最適とした場合に外乱信号と応答信号との位相差
が略−90゜となる周波数の外乱信号を加える外乱印加
手段と、 外乱信号に対する前記トラッキング制御系の応答信号を
測定する信号測定手段と、 この応答信号と前記外乱信号とに基づき前記制御系にお
ける伝達関数の実数部を算出する実数部算出手段と、 この算出された実数部が略0になるようにループゲイン
を切替え制御する制御手段と、 を備えていることを特徴とするトラッキング制御系のゲ
イン調整装置。 - (2)光ビームスポットが光記録媒体上のトラックに追
従するように、トラックと光ビームスポットとの位置関
係を検出してこの検出結果に基づいてトラッキング制御
を行うトラッキング制御系において、 前記トラッキング制御系に対し、当該制御系のループゲ
インが最適とした場合に外乱信号と応答信号との位相差
が略−90゜となる周波数の外乱信号を加える外乱印加
手段と、 外乱信号に対する前記トラッキング制御系の応答信号を
測定する信号測定手段と、 この応答信号と前記外乱信号とに基づき前記制御系にお
ける伝達関数の虚数部を算出する虚数部算出手段と、 この算出された虚数部が略所定値になるようにループゲ
インを切替え制御する制御手段と、を備えていることを
特徴とするトラッキング制御系のゲイン調整装置。 - (3)トラッキング制御系を具備した装置の電源投入時
或いは光記録媒体の交換時に、トラッキング制御系のル
ープゲインを調整することを特徴とした請求項第1項又
は請求項第2項に記載のトラッキング制御系のゲイン調
整装置。 - (4)時間測定手段を有し、所定の時間毎にトラッキン
グ制御系のループゲインを調整することを特徴とした請
求項第1項又は請求項第2項に記載のトラッキング制御
系のゲイン調整装置。 - (5)時間測定手段を有し、信号の記録あるいは再生を
行わない時間が所定時間を越えたときにトラッキング制
御系のループゲインを調整することを特徴とした請求項
第1項又は請求項第2項に記載のトラッキング制御系の
ゲイン調整装置。 - (6)光記録媒体上に記録されている信号を再生できな
かったときにトラッキング制御系のループゲインを調整
した後、前記の記録されている信号の再生を再度行うよ
うにしたことを特徴とした請求項第1項又は請求項第2
項に記載のトラッキング制御系のゲイン調整装置。 - (7)光記録媒体上に記録すべき信号を正しく記録でき
なかったときにトラッキング制御系のループゲインを調
整した後、前記の記録すべき信号の記録を再度行うよう
にしたことを特徴とした請求項第1項又は請求項第2項
に記載のトラッキング制御系のゲイン調整装置。 - (8)トラッキング制御系を具備した装置に加わる振動
、衝撃を検出する加速度検出手段を有し、加速度検出手
段の加速度信号が所定の大きさをこえたときにトラッキ
ング制御系のループゲインを調整することを特徴とした
請求項第1項又は請求項第2項に記載のトラッキング制
御系のゲイン調整装置。 - (9)トラッキング制御系を具備した装置内部の温度を
検出する温度検出手段を有し、温度検出手段により温度
が所定値を上回ったことを検出したときにトラッキング
制御系のゲインを調整することを特徴とした請求項第1
項又は請求項第2項に記載のトラッキング制御系のゲイ
ン調整装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2122194A JP2575925B2 (ja) | 1990-05-11 | 1990-05-11 | トラッキング制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2122194A JP2575925B2 (ja) | 1990-05-11 | 1990-05-11 | トラッキング制御装置 |
Publications (2)
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JPH0419830A true JPH0419830A (ja) | 1992-01-23 |
JP2575925B2 JP2575925B2 (ja) | 1997-01-29 |
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Family Applications (1)
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JP2122194A Expired - Lifetime JP2575925B2 (ja) | 1990-05-11 | 1990-05-11 | トラッキング制御装置 |
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JP (1) | JP2575925B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7719931B2 (en) | 2004-04-22 | 2010-05-18 | Panasonic Corporation | Optical disk device, loop gain setting method, and loop gain setting program |
US20130327354A1 (en) * | 2010-11-11 | 2013-12-12 | Homareproducts Corporation | Brush for cleaning inside of implant |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6489034A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical disk drive controller |
-
1990
- 1990-05-11 JP JP2122194A patent/JP2575925B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6489034A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical disk drive controller |
Cited By (2)
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US7719931B2 (en) | 2004-04-22 | 2010-05-18 | Panasonic Corporation | Optical disk device, loop gain setting method, and loop gain setting program |
US20130327354A1 (en) * | 2010-11-11 | 2013-12-12 | Homareproducts Corporation | Brush for cleaning inside of implant |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JP2575925B2 (ja) | 1997-01-29 |
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