JP2000298850A - 光ディスクのフォーカス制御方法および光ディスクのフォーカス制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクの記録層に電気オフセット最小の
状態で正確にフォーカスさせる。 【解決手段】 光ピックアップの対物レンズの位置を光
ディスクの面に対し調整するときにフォーカスエラの生
成バランスを調整して行なう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスクのフォー
カス制御方法および光ディスクのフォーカス制御装置に
係わり、特に光ディスクのディフェクトに対し、迅速か
つ正確にフォーカス制御することができるようにした光
ディスクのフォーカス制御方法および光ディスクのフォ
ーカス制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、光ピックアップの光ディスク
に対するフォーカスサーボではフォーカスエラ検出光学
系としてはシリンドリカルレンズを用いて非点収差法等
で４分割フォトダイオードの受光素子の４つのセルＡ，
Ｂ，Ｃ，Ｄの出力を差動アンプに供給し、フォーカスエ
ラ信号（以下ＦＥ信号と記す）を得ている。

【０００３】このＦＥ信号は合焦点では零に、光ディス
ク面から光ピックアップの対物レンズが遠ざかればマイ
ナスとなり近づくとプラスとなるフォーカスサーボ回路
は図９の様にフォーカスエラ（ＦＥ）信号検出回路６ａ
で検出したＦＥ信号を位相補償ドライブアンプ６ｂを介
してスピンドルモータ６で回転している光ディスクＤの
下側に配設した光ピックアップの対物レンズ２のアクチ
ェータコイルにフィドバックすることでフォーカスサー
ボが行われている。

【０００４】図１０はＦＥ信号の一例を示すＳ字曲線を
示すもので、横軸にフォーカス変位あるいはラジアル変
位をとり、縦軸には夫々の変位に対するＦＥ信号電圧
（Ｖ）をとっている。通常のフォーカスサーボではこの
Ｓ字曲線でＦＥ信号電圧が零となる様なＰ点の選択が成
される。然し、光ピックアップや光ディスクのばらつき
によってＦＥ信号が最小であるＰ点がフォーカス位置、
即ち、対物レンズ２の位置になっているとは限らないた
め、従来ではＦＥ信号に一定のフォーカスバイアスを付
加していた。

【０００５】この様な対物レンズの光ディスクＤに対す
る位置を調整して図１０のＳ字曲線でＰ点からＱ点に移
して最適合焦点を得る方法として、特開平９−７１９３
号公報ではフォーカスバイアス電圧を変化させ、それに
対するジッタの変化を観測してジッタ最小となる最適フ
ォーカス位置、即ち対物レンズ２の最適位置調整を行な
っていた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述の特開平９−７１
３９号公報ではフォーカスバイアスを変動させて、この
変動に対するジッタの変化を検出し、ジッタが最小とな
る対物レンズ２の位置を測定していた。この方法による
と光ピックアップのＳ字曲線のＦＥ信号の電気的出力の
中心位置の電圧Ｐと、対物レンズ２がジッタ最小になる
最適位置に相当する電圧Ｑが異なる場合には、光ピック
アップのＦＥ信号の電気的出力の中心電圧からずれた位
置でフォーカスサーボが動作する。

【０００７】この状態では、光ディスクＤにディフェク
トがあるとＦＥ信号の出力が減衰したとき、ＦＥ信号は
電気的出力の中心電圧まで変動する。通常は光ディスク
Ｄにディフェクトがあってエラ信号の出力が減衰する時
には、サーボが外れないように、サーボをホールドす
る。しかしホールドする直前に、光ピックアップの電気
的出力の中心電圧まで変動し始めるため、本来の対物レ
ンズ２の最適位置から若干ずれたところでサーボがホー
ルドされてしまう。このずれの分を、ディフェクトの部
分を抜けて再びサーボをかけるときにサーボが回復しよ
うとするため、サーボループは大きく暴れる。このた
め、信号を正確に再生できない時間が実質長くなる場合
が生ずる。

【０００８】図１１はＣＤの一倍速で１ｍｍブラックバ
ンドの通過特性である。図１１でＦＥ信号の電気的出力
中心はＳ字曲線のＰ点にあるが、バイアス値はジッタ最
適値に合焦のため−１２２ｍＶを加算している。

【０００９】図１１で１１は光ピックアップからの反射
信号でありプルイン信号ＰＩを示し、１２はＦＥ信号
を、１３はフォーカス駆動電圧ＦＤＲＶを、１４はトラ
ッキング駆動電圧ＴＤＲＶを示しているが、反射信号１
１の凹部１１ａは光ディスクＤのディフェクト部分を示
すが、このディフェクト１１ａの影響をＦＥ信号でみる
と、ディフェクトがない部分ではサーボが掛かっている
がディフェクト１１ａがあると例えばＳ字曲線のＱ位置
に対物レンズ２が微調整されて配設されていたとすると
Ｑ位置はＰ位置に戻ろうとして、ＦＥ信号１２の１２ａ
で示す段差分だけ変動してホールドされるのでディフェ
クトを抜けた後に再びサーボをかけることでサーボルー
プは暴れて、対物レンズ２は大きく変動している。これ
らはＦＤＲＶ及びＴＤＲＶでも同時に見られている。即
ち図１１ではディフェクト突入時に対物レンズが若干バ
イアス分だけ加速されてしまい、回復時にＦＤＲＶが飽
和するほどの電圧が生じるほどのずれが生じている。Ｒ
Ｆ信号の回復時間を考えれば、この場合の実質のディフ
ェクト長は実際より１．５倍近くもの長さになってい
る。

【００１０】本発明は叙上の課題を解消しようとするも
ので、光ディスクのディフェクトに対して迅速に且つ確
実にフォーカスサーボが掛る様にした光ディスクのフォ
ーカス制御方法及び光ディスクのフォーカス制御装置を
提供しようとするものである。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明の光ディスクのフ
ォーカス制御方法は光ディスクの記録層に光ピックアッ
プからのレーザ光を照射し、レーザ光の反射光からフォ
ーカスエラ信号を抽出して光ディスクのフォーカス制御
を行なう光ディスクのフォーカス制御方法において、フ
ォーカス制御を行なう際にフォーカスエラ信号の生成バ
ランスを変更して成るものである。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の光ディスクのフォ
ーカス制御方法及び光ディスクフォーカス制御装置を図
１乃至図８について詳記する。

【００１３】図１は本発明の光ディスクのフォーカス制
御装置の一形態例を示すブロック図である。図１で光デ
ィスクＤは、スピンドルモータ６により、所定の速度で
回転されるようになされている。光ピックアップ３は、
内蔵するレーザダイオードより出射されたレーザ光を、
対物レンズ２を介して、光ディスクＤに照射し、情報を
記録または再生するようになされている。

【００１４】スレッドモータ７は、ギヤ７ａとスクリュ
ーガイド７ｂを介して、光ピックアップ３をスレッドガ
イド棒５に沿って、光ディスクＤの半径方向に移送する
ようになされている。

【００１５】サーボアンプ８は、光ピックアップ３の出
力するＲＦ信号から、ＦＥ信号、トラッキングエラ信
号、トラバース信号を生成し、サーボプロセッサ９に出
力している。トラバース信号は、トラッキングエラ信号
を基準レベル（ゼロレベル）と比較して生成される信号
である。

【００１６】サーボプロセッサ９は、ＦＥ信号に対し
て、所定の処理を施した後、フォーカスドライブ１５を
介して、ピックアップ３に供給し、対物レンズ２をフォ
ーカス方向に駆動するとともに、トラッキング信号に対
して所定の処理を施した後、トラッキングドライブ１６
を介して、光ピックアップ３に供給し、対物レンズ４を
トラッキング方向に駆動する。

【００１７】サーボプロセッサ９は、トラッキングドラ
イブ出力信号に対応して、この低域成分の電圧信号から
スレッドドライブ信号を生成し、このスレッドドライブ
信号を、スレッドドライブ１７を介して、スレッドモー
タ７に供給し、ギヤ７ａを介して、光ピックアップ３を
スレッドガイド棒５に沿って光ディスクＤの半径方向に
移送させるようになされている。サーボアンプ８はま
た、スピンドルモータ６をスピンドルドライバ１８を介
して制御し、光ディスクＤの回転を制御する。

【００１８】サーボプロセッサ９はシステムコントロー
ラ１０とバス等で連結され、サーボ等の制御は操作部１
を介して制御される。

【００１９】次に、図２を用いてサーボアンプ８内の回
路構成を更に説明する。光ピックアップ３の対物レンズ
２から入射した光ディスクＤからの反射光は４分割フォ
トダイオード等の受光素子８ａ上に照射されて電気信号
に変換される。

【００２０】このＦＥ信号検出方法は先に説明した非点
収差法によって検出される。即ち、光学的に対物レンズ
のピントが適切な位置にあれば、セルＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに
は均等に光が照射される。しかし、最適なフォーカス位
置から対物レンズ２がずれると、例えば対物レンズ２が
光ディスクＤからはなれている場合にはセルＡ，Ｄに多
くの光があたり、対物レンズ２が光ディスクに近い場合
にはセルＢ，Ｃに多くの光があたるように設計されてい
る。

【００２１】受光素子８ａの各セルＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの夫
々の出力はサーボアンプ８に入力してＬＰＦ８を介して
第１及び第２の加算アンプ８ｄ及び８ｄに供給される。

【００２２】第１の加算アンプ８ｃではセルＢ＋Ｄの信
号を第２の加算アンプ８ｄではセルＡ＋Ｃの信号を生成
する。

【００２３】次に第２の加算アンプ８ｄの出力を利得可
変アンプ８ｅに供給する。この利得可変アンプ８ｅの出
力と第１の加算アンプ８ｃの出力を差動アンプ８ｆに供
給することで差動出力をノイズ抑制用ＬＰＦ８ｇを介し
て（Ｂ＋Ｃ）−Ｋ（Ａ＋Ｄ）のＦＥ信号をサーボプロセ
ッサ９→フォーカスドライブ１５→光ピックアップ３の
アクチェータコイル→サーボアンプ８のフォーカスサー
ボ閉系路に供給して、出力電圧が一定になる様な制御が
なされる。

【００２４】第３の加算アンプ８ｈには第１及び第２の
加算アンプ８ｃ，８ｄの出力が供給され、Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋
Ｄの和信号であるプルイン信号ＰＩをノイズ抑制用ＬＰ
Ｆ８Ｊを介して出力する。これらはＲＦ信号として利用
される。

【００２５】上述の構成に於ける動作を説明する。図２
の利得可変アンプ８ｅの利得ｋをｋ＝１とすれば光ピッ
クアップ３の対物レンズ２を光ディスクＤに対し遠くか
ら近づけた時に得られるＦＥ信号のＳ字曲線は図３
（Ａ）の様になる。

【００２６】この時、ＦＥ信号の電気的なエラ中心はＰ
の電圧位置となる。一方、光ピックアップ３や光ディス
クＤのばらつきによってジッタが最小で最適フォーカス
となる対物レンズ位置Ｑと、電気的なＦＥ信号の中心位
置Ｐとは必ずしも一致しない。

【００２７】然し、図２の利得可変アンプ８ｅの利得可
変ｋを例えばｋ＝０．８とすればＬＰＦ８ｇから得られ
るＦＥ信号（Ｂ＋Ｃ）−ｋ（Ａ＋Ｄ）＝（Ｂ＋Ｃ）−
０．８（Ａ＋Ｄ）となって対物レンズ２を光ディスクＤ
に遠方から近接させたとき、図３（Ｂ）の様なＳ字曲線
を画くことになる。

【００２８】図３（Ｂ）でのＦＥ信号の電気的エラの中
心はｋ倍された分だけＦＥ信号のゼロからプラス、マイ
ナス方向が非対称となる。そして、光学的にジッタが最
小となる最適のフォーカス位置はＱ′の位置になり、こ
れまでＦＥ信号の電気的エラの中心であったＰの位置は
Ｐ′位置にずれることによってＦＥ信号の電気的中心位
置とジッタの最小となる最適のフォーカス位置が略々一
致させられるようになる。

【００２９】従ってＦＥ信号の電圧中心とジッタ最小と
なる最適フォーカス位置が一致されるようになるので利
得可変アンプ８ｅの可変入力部（フォーカスバランス）
８ｍを自動調整して、利得ｋの値を変化させて、それに
対するジッタの変化を観測して、ジッタ最小となる対物
レンズ位置を求める様にすればよい。この場合、ＦＥ信
号の生成バランスを自動的に可変するだけであるので特
開平９−７１９３号公報の様にフォーカスバイアスを変
動させて、それに対するジッタの変化を観測して、ジッ
タ最小となる対物レンズの位置を測定する場合に比べて
バイアス量にしたがってディフェクトの通過特性が悪化
するのが防止され、プレイアビリティ（Playability)が
向上して、フォーカスバイアスを動かすのと同じ効果を
得て、サーボの目標値を無信号時の中心電圧に等しくす
ることが可能となる。

【００３０】図４はディフェクトの通過特性を示すもの
で、上述の利得可変アンプ８ｅの利得ｋを一段階ずらす
ことで印加するフォーカスバイアスを略零にしてある状
態にしたもので（この点がジッタの最適点）ある。

【００３１】図４から明らかな様に、図１１と同じディ
フェクトの凹部１１ａを光ピックアップ３が通過したに
もかかわらず、ＦＥ信号１２ではサーボ状態でディフェ
クトに入った段階での段差１２ａを生じていない。従っ
て、ディフェクト通過後のあばれも抑えられている。
又、ＦＤＲＶ，ＴＤＲＶも一見して大きな乱れがなく、
ディフェクトに対しては大きく改善されていることが解
る。

【００３２】上述の構成ではフォーカスサーボループ系
路にフォーカスエラ生成バランスを変更する利得可変ア
ンプ８ｅを設け、利得ｋを可変することでフォーカスサ
ーボループ系路にフォーカスバイアスを付するのと同じ
効果を出す場合を説明したが、特開平９−７１９３号公
報に開示したと同様のフォーカス制御方法を用いた他の
構成を図５を用いて説明する。

【００３３】図５は本発明の光ディスクのフォーカス制
御装置の他の形態例を示すブロック図であり、図１との
対応部分には同一符号を付して重複説明を省略する。

【００３４】図５はフォーカスサーボ系路のみを示して
いるが、このフォーカスサーボではジッタ最小サーチ回
路２０とジッタ計測回路２１、加算器２２並びに最適フ
ォーカス位置記憶回路２５が設けられている。

【００３５】ジッタ計測回路２１はサーボアンプ８から
出力したＲＦ信号からＰＬＬ回路等を通してジッタを検
出している。ジッタ最小サーチ回路２０内にはレベル検
出回路２０ｂ、制御回路２０ａ、オフセット発生回路２
０ｃを有している。

【００３６】レベル検出回路２０ｂはジッタ計測回路２
１が出力するレベルを検出し、ジッタ計測回路２１は、
ＰＬＬ回路が出力する２値化ＲＦ信号と同期クロック信
号の位相差の絶対値を検出し、これをジッタとして、ジ
ッタ最小サーチ回路２０に出力する。このジッタと、フ
ォーカスオフセット（フォーカスバイアス）との関係は
図６（Ａ）の曲線２３に示すようになる。

【００３７】すなわち、図６（Ａ）に示すように、光ピ
ックアップ３の光ディスクＤに対するフォーカスオフセ
ットが最適であるとき、ジッタは最小となり、この最適
な位置からずれると、ジッタは増加する。そこで、この
ジッタの最小値を求めることで、光ピックアップ３の光
ディスクＤに対するフォーカスオフセットの最適点を求
めることができる。

【００３８】ジッタの最小値は、図６（Ｂ）の曲線２４
に示すように、山登り法により求めることができる。す
なわち、サンプリング点をαずつ順次増加していき、中
央のサンプル値が、その左右のサンプル値より小さくな
ったとき、その中央のサンプル値が得られるサンプル点
を最適点として設定している。

【００３９】上述の構成での動作を図７の一形態例で説
明する。図７の構成では光ディスクＤは複数の記録層を
有するものとして説明する。

【００４０】第１ステップＳ１ではディスク起動処理が
行なわれる。本例ではフォーカスサーボ系路についての
み説明する。システムコントローラ１０はフォーカスサ
ーボ回路９を制御しフォーカスサーボを実行させる。光
ピックアップ３は例えばディフォルトのある記録層にレ
ーザ光を照射し、その反射光を受光して、サーボアンプ
８を介してＦＥ信号を生成し、加算器２３を介してフォ
ーカスサーボ回路９に供給し、フォーカスサーボ回路９
の出力は光ピックアップ３のアクチェータのコイルに供
給される。

【００４１】第２ステップＳ２では最適フォーカスサー
チ処理が実行される。この最適フォーカスサーチ処理は
ジッタ振幅最小サーチ回路２０の制御回路２０ａが、オ
フセット発生回路２０ｃを制御し、所定のオフセット信
号を加算器２２を介してＦＥ信号に加算させる。フォー
カス状態が適正でないときジッタ計測回路２１が出力す
るジッタの振幅が大きくなり、フォーカス状態が最適な
状態にあるとき、ジッタの振幅は最小となるのでジッタ
の振幅をレベル検出回路２０ｂで検出し、制御回路２０
ａにおいて、最小の振幅のジッタ信号が得られたか否か
を判定する。そして、最小の振幅のジッタ信号が得られ
たと判定された場合、オフセット発生回路２０ｃが発生
しているオフセット値を求める。

【００４２】第３ステップＳ３では、第２ステップＳ２
で求めた最適フォーカスオフセット値を、最適フォーカ
スオフセット位置記憶回路２５に記憶させる。

【００４３】１つの記録層において、最適なフォーカス
オフセット位置が求められたとき、第４ステップＳ４に
進み、その光ディスクＤの全ての記録層について同様の
サーチが行なわれたか否かが判定され、全ての記録層に
ついてサーチが行なわれていない場合においては、第５
ステップＳ５に進み、記録層変更処理が実行される。す
なわち、システムコントローラ１０は、フォーカスサー
ボ回路９を制御し、ＦＥ信号にジャンプパルスを加算さ
せるこのジャンプパルスに対応して光ピックアップ３を
フォーカス方向に駆動し、今までの記録層に集束されて
いたレーザ光を、今度は他の記録層に集束させる。ジャ
ンプパルスの供給が停止されると、再び通常のフォーカ
スサーボループが閉結された状態となり、ＦＥ信号が最
小となるようにサーボを掛けることで、他の記録層に光
ピックアップ３が発生するレーザ光がフォーカスされ
る。

【００４４】そして第２のステップＳ２に戻り、他の記
録層において、最適フォーカスサーチ処理を実行する。
そして、得られた最適フォーカスオフセット値を実行す
る。そして、得られた最適フォーカスオフセット値を第
３ステップＳ３において最適フォーカスオフセット記憶
回路２５に記憶させる。

【００４５】以上のようにして、光ディスクＤにＮ個の
記録層が形成されている場合においては、Ｎ個の最適フ
ォーカスオフセット値が最適フォーカスオフセット位置
記憶回路２５に記憶される。

【００４６】光ディスクＤの全ての記録層の最適フォー
カスオフセット値（位置）が記録されたとき、第４ステ
ップＳ４から第６ステップＳ６に進み、フォーカス位置
が予め設定されているデフォルトの記録層に変更され
る。例えば、システムコントローラ１０は、フォーカス
サーボ回路９を制御し、必要な数のジャンパパルスを発
生させて、ディスク基板１０１に最も近い１つの記録層
にレーザ光を集束させる。

【００４７】このとき、第７ステップＳ７で、ジッタ最
小サーチ回路２０の制御回路２０ａは、最適フォーカス
オフセット位置記憶回路２５に記憶されている１つの記
録層のフォーカスオフセット値を読み出し、オフセット
発生回路２０ｃに供給する。オフセット発生回路２０ｃ
は、このオフセット値に対応するオフセット信号を発生
し、このオフセット信号が、加算器２２において、ＦＥ
信号に加算され、フォーカスサーボ回路９に供給され
る。フォーカスアクチェータコイルが、フォーカスサー
ボ回路９により最適なオフセット値が加算されたＦＥ信
号で駆動されるため、１つの記録層において、最適なフ
ォーカス状態が実現される。

【００４８】次に、第８ステップＳ８に進み、再生すべ
き記録層の変更が指令されるまで待機し、記録層の変更
が指令された場合においては、第９ステップＳ９に進
み、指定された記録層にフォーカス位置を変更する。す
なわち、このとき、制御回路１７は、フォーカスサーボ
回路９を制御し、所定のジャンプパルスを発生して、フ
ォーカス位置を例えば、１つの記録層から他の記録層に
変更させる。

【００４９】次に、第１０ステップＳ１０において、指
定された記録層の最適オフセット読み出し処理が実行さ
れる。すなわち、ジッタ最小サーチ回路２０の制御回路
２０ａは最適フォーカスオフセット位置記憶回路２５に
記録されている他の記録層のオフセット値を読み出し、
オフセット発生回路２０ｃに出力するオフセット回路２
０ｃは、このオフセット値に対応するオフセット信号を
発生し、加算器２２において、ＦＥ信号に加算させる。
フォーカスサーボ回路９は、この加算器２２の出力に対
応してフォーカスアクチェータコイルを駆動するため、
他の記録層において、略最適なフォーカス状態が実現さ
れる。

【００５０】本例では、更に第１１ステップＳ１１に進
んでオフセット値（バイアス値）に応じた生成バランス
の設定を利得可変アンプ８ｅの利得ｋを変えて変化させ
る。

【００５１】次に、第１２ステップＳ１２でもう１回、
オフセット値を変動させて、それに対するジッタの変化
を観測して、ジッタの最小となる対物レンズ２の位置を
微調整する様にする。

【００５２】その後は第８ステップＳ８に戻り、それ以
降の処理を繰り返し実行すればよい。この方法によれば
利得可変アンプ８ｅの利得ｋのとり得る設定数が少なく
て、設定がおおまかになる場合に有効である。

【００５３】尚、図２で説明したフォーカスエラ生成バ
ランスを変更する場合の図７と同様の光ディスク起動時
からのフローチャートを図８に示す。図８で図７との違
いは第１０ステップＳ１０′だけであり、第１０ステッ
プＳ１０′では指定された記録層の最適生成バランス読
み出しを行なった後に第８ステップＳ８に戻す様に成せ
ばよい。

【００５４】

【発明の効果】従来の様にフォーカスの最適点調整を行
なうためにフォーカスバイアスを加えて、フォーカスサ
ーボの目標値を変化させる機能を持たせ、入力したフォ
ーカスエラにバイアスを与える構成にすると、簡単に高
精度な調整ができるがディフェクトの通過特性が、バイ
アス量に従って非常に悪化する問題がある。そこでプレ
イアビリティ（Playability)を向上させるため、フォー
カスバランス調整を取り入れる。これはＳ字曲線を生成
する際のマトリックスで（Ｂ＋Ｃ）−ｋ（Ａ＋Ｄ）の利
得ｋを可変にすることで、フォーカスバイアスを動かす
のと同じ効果を得て、同時にサーボの目標値を無信号時
の中心電圧に等しくすることができてディフェクトの通
過特性は大幅に改善される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ディスクのフォーカス制御装置の一
形態を示すブロック図である。

【図２】本発明に用いるサーボアンプの内部構成の一部
を示すブロック図である。

【図３】フォーカスエラのＳ字波形とフォーカス最適点
の関係説明図である。

【図４】本発明のディフェクトの影響説明図である。

【図５】本発明の光ディスクのフォーカス制御装置の他
のブロック図である。

【図６】ジッタとフォーカスオフセット特性図である。

【図７】本発明の光ディスクのフォーカス制御方法のフ
ローチャートである。

【図８】本発明の光ディスクのフォーカス制御方法の他
のフローチャートである。

【図９】従来のフォーカスサーボのブロック図である。

【図１０】従来のフォーカスエラ信号（Ｓ字曲線）であ
る。

【図１１】従来のディフェクトの影響説明図である。

【符号の説明】

Ｄ‥‥光ディスク、２‥‥対物レンズ、３‥‥光ピック
アップ、８‥‥サーボアンプ、８ｅ‥‥利得可変アン
プ、９‥‥サーボプロセッサ、１５‥‥フォーカスドラ
イブ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクの記録層に光ピックアップか
   らのレーザ光を照射し、該レーザ光の反射光からフォー
   カスエラ信号を抽出して該光ディスクのフォーカス制御
   を行なう光ディスクのフォーカス制御方法において、 上記フォーカス制御を行なう際に上記フォーカスエラ信
   号の生成バランスを変更して成ることを特徴とする光デ
   ィスクのフォーカス制御方法。
2. 【請求項２】 指定された記録層の最適オフセットを読
   み出すステップと、 上記オフセットに応じた生成バランスを設定するステッ
   プと、 更に、オフセットを微調整するステップとから成ること
   を特徴とする光ディスクのフォーカス制御方法。
3. 【請求項３】 光ディスクの記録層に光ピックアップか
   らのレーザ光を照射し、該レーザ光の反射光からフォー
   カスエラ信号を抽出して該光ディスクのフォーカス制御
   を行なう光ディスクのフォーカス制御装置において、 上記フォーカス制御を行なうサーボ系路に上記フォーカ
   スエラ信号の生成バランスを変更する生成バランス変更
   手段を具備して成ることを特徴とする光ディスクのフォ
   ーカス制御装置。