JPH0419303B2 - - Google Patents

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JPH0419303B2
JPH0419303B2 JP61002216A JP221686A JPH0419303B2 JP H0419303 B2 JPH0419303 B2 JP H0419303B2 JP 61002216 A JP61002216 A JP 61002216A JP 221686 A JP221686 A JP 221686A JP H0419303 B2 JPH0419303 B2 JP H0419303B2
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JP
Japan
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chamber
substrate
degassing
film forming
film
Prior art date
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JP61002216A
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English (en)
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JPS62161959A (ja
Inventor
Hidenori Suwa
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Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、インライン式のスパツタリング装置
や蒸着装置等のインライン式成膜装置に関する。
(従来の技術) 従来、前記のようなインライン式成膜装置は、
基本的には仕込室、成膜室及び取出室の3室を仕
切バルブを介して連設した構成を備えるものが一
般である。こうしたインライン式の装置は、成膜
室内を大気にさらさないこと、仕込室に於いて基
板又は基板を取付けした治具の脱ガスや加熱等の
前処理を行なえるので成膜室の雰囲気が悪くなら
ないこと、及びバツチ式の装置に較べて作業者一
人当りの生産量が大きいことなどの利点があるの
で生産装置として多用されている。インライン式
の装置として、連続式インライン装置と、ストツ
カー式インライン装置とが知られている。前者の
ものは、第1図示のように基板又は基板を取付け
た治具aを一枚ずつ大気中より仕込室bに導入し
て真空状態としたのち成膜室cに移送して処理さ
れる。また後者のものは、第2図示のように、仕
込室bに複数の基板aを導入して真空状態とし、
各基板aを一つずつ仕込室bから成膜室cへと送
り、その全数の処理が終えて取出室dにたまつた
時点で大気中へ取出される。
(発明が解決しようとする問題点) 該基板aがプラスチツクの場合、真空中には主
としてH2Oからなるガスを非常に多く放出する
ので、そのガス成分が膜中に混入する等の不都合
が生ずる。この放出ガスは予め仕込室に於いて脱
ガスを充分に行なうことにより防止出来る。
しかし乍ら、連続式のインライン装置では、脱
ガスを充分に行なおうとすると仕込室に於ける滞
在時間が長くなり、それによつてタクト時間即ち
処理された基板が該装置から取出される時間間隔
が長くなつて好ましくない。このタクト時間は基
板が仕込室に取込まれ、仕込室に滞在し、成膜室
に送り込まれ、次の基板が取込まれるまでの時間
間隔でもあり、このタクト時間が短い程生産性の
良い連続式インライン装置であると言える。
また、この脱ガスのために滞在時間を長くすれ
ば、それに合わせて成膜室dでの滞留時間も長く
する必要があるため最適の成膜時間を得にくい。
更にストツカー式のインライン装置に於いても、
脱ガスを充分に行なおうとすると、基板aの全数
が処理されるに要する時間即ちバツチ時間が長び
き、生産性が悪くなる。またストツカー式のもの
は一度に多数の基板aを仕込み、脱ガスするが、
最初に成膜処理される基板aと最後に処理される
基板aとでは脱ガス時間に差が生じてしまうので
1バツチ内で脱ガス効果の異なる製品が生じ、品
質安定性が欠如する。
こうした欠点の改良のために、連続式のインラ
イン装置に於いて、仕込室bの次に脱ガス室を設
けることが考えられるが、タクト時間を長くしな
いで脱ガス時間を長くするには、脱ガス室を長く
する必要があり、スペース及び設備的にデメリツ
トとなる。例えば1時間脱ガスするには、タクト
時間を2分とすると、脱ガス室の長さは、基板の
長さの30倍以上必要となる。
本発明はインライン装置の前記利点を損わずに
プラスチツク等の放出ガスの多い基板aの脱ガス
を充分に行なえる生産性の良い成膜装置をを提供
することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明では、スパツタリング等の成膜処理が施
される基板を外部から取込む仕込室と、該基板に
成膜処理を施す成膜室及び成膜処理された基板を
外部へ取出す取出室を備え、該成膜室の内部で基
板がその板面を搬送方向の側方に向けて搬送され
るようにした装置に於いて、該成膜室の前方に該
成膜室の基板搬送方向に対して略垂直方向に脱ガ
ス室を連設し、該脱ガス室の端部に該仕込室を接
続して設け、該脱ガス室内に該基板の板面を前方
に向けて搬送する搬送装置を設けて前項の問題点
を解決するようにした。
(作 用) 該仕込室には外部から基板が搬送装置により送
り込まれ、該仕込室内が真空状態となると脱ガス
室へ送られる。
脱ガス室内で基板は搬送装置により成膜室へと
送られ、その間に脱ガスされ、成膜室に於いて例
えばスパツタリングによる成膜処理が終ると取出
室を介して外部へと取出される。
該脱ガス室に於いては、基板が板面を前方に向
けて搬送装置により移送されるのでスペース的に
小さく脱ガス室を構成出来、脱ガスを充分行ない
ながらもタクト時間を長くする必要がなく、最適
のタクト時間を取ることが出来る。
(実施例) 本発明の実施例を図面第3図につき説明する
と、同図はスパツタリングにより成膜する実施例
の側面図を示し、符号1は表面に成膜処理が施さ
れる基板、2は外部から未処理の基板1を仕切バ
ルブ3を開いて取込む密閉の仕込室、4は該仕込
室2内を真空ポンプで排気するための排気口であ
る。
基板1はベルトコンベアやローラー搬送による
手段により外部から仕込室2に水平にして搬送さ
れ、該仕込室2内が真空状態になると更に仕切バ
ルブ5を介して脱ガス室6に同様の搬送手段によ
り送り込まれる。7はスパツタカソード8を備え
た成膜室、9は真空ポンプに接続される排気口
で、該成膜室7内へ脱ガス室6からスリツト10
を介して水平に基板1が搬入される。該成膜室7
内には、該基板1を水平即ち成膜されるべき板面
を搬送方向の側方へ向けた状態で搬送するコンベ
アが設けられ、該スリツト10から取出室11の
仕切バルブ12を介して送り出されるまでの間に
該基板1にはスパツタリングにより成膜処理され
る。
脱ガス室6は成膜室7の前方に垂直方向に接続
して設けられ、図示の例では成膜室7に対して上
下の垂直方向に脱ガス室6を接続し、仕込室2を
該脱ガス室6の下端側方に接続して設けるように
した。該脱ガス室6内には仕込室2から水平に送
り込まれる基板1をそのまま受取り、基板1の板
面を前方に向けて上方へ移送するエンドレス形の
搬送装置が設けられる。
13は脱ガス室6に於いて基板1から放出され
る多量の放出ガスを排気する排気口で、これには
大容量の高真空ポンプを接続して高速排気を行な
えるようにし、成膜室7からスリツト10を介し
て脱ガス室6へと気体を流すことによつて成膜室
7内が基板1からの放出ガスで汚染されないよう
にした。
14は取出室11から仕切バルブ15を介して
大気圧の外部に搬出された処理済みの基板1を水
平状態のまま下降させるリターン搬送装置、17
は該リターン用搬送装置14に連続して設けられ
た水平移送用のリターン搬送装置で、処理済の基
板1は未処理の基板との交換を行なうステーシヨ
ン16へと運ばれる。
第3図示の装置に於いて、未処理の基板1は一
枚ずつ仕込室2に送り込まれ、その内部が真空状
態になると脱ガス室6へ仕切バルブ5を介して順
次送り込まれる。該脱ガス室6内の搬送装置は逐
次送り込まれる基板1を受け取り、その板面を進
行方向に向けて搬送し、成膜室7の前方に達する
とスリツト10を介してその室内へ送り込まれ、
スパツタリングにより成膜を終えた基板1から順
に取出室11に送り出される。該取出室11はそ
の内部が真空状態のときに基板1を仕切バルブ1
2を開いて受け入れ、仕切バルブ12を閉じて内
部を大気圧としたのちリターン搬送装置14,1
7へ仕切バルブ15を介して送り出され、ステー
シヨン16に戻される。
脱ガス室6内に設けられる搬送装置は、例えば
第4図のように、基板1の両側に夫々2種類の櫛
歯状のラツク18,19を設け、1対のラツク1
8,18は上下及び前後に往復動自在であり、他
のラツク19は前後にのみ往復動自在として構成
され、ラツク19が基板1に嵌合するときはラツ
ク18が基板1から外れるように移動し、ラツク
18が基板1に嵌合してラツク19が基板1より
離れたとき該ラツク18は上昇して基板1を持ち
上げる。そして再びラツク19が基板1に嵌合す
るとラツク18が基板1から離れると共に下降す
る。これを繰返すことにより複数板の基板1を次
第に上方に搬送し、最上段に達すると押し出され
て、処理室7内に送り込まれる。搬送装置14も
これと同構造に構成してもよい。
成膜室7のスパツタ装置に代え蒸着装置を設備
するようにしてもよい。
また本発明の装置を第3図が平面図であるよう
に構成することも可能であり、この場合には基板
1を垂直に立てて搬送するように、第5図示のよ
うな水平往復動自在の1対の櫛歯状のラツク2
0,20とその中間の昇降自在のこれと同形のラ
ツク21とで構成した搬送装置を使用し、ラツク
20,20が基板を前方に所定ピツチだけ移動中
はラツク21は下方に退去し、該ラツク20が上
昇して基板1を保持するとその間にラツク20,
20が後方移動し、ラツク21が下降して基板1
がラツク20,20に保持させる作動を繰返すこ
とにより基板1を搬送する。
(発明の効果) 以上のように本発明に於ては、成膜室に対して
垂直方向の脱ガス室を設け、その内部に基板の板
面を前方に向けて搬送する搬送装置を設けるよう
にしたので、脱ガス室を設けたことによる成膜装
置のスペースの増大を抑制出来、仕込室から成膜
室まで各基板の脱ガス時間を一定にして移送出来
るので基板を同一条件で処理し得る。また開閉の
回数の多い仕込室を脱ガスのために高真空にする
必要がなく、仕込室の排気時間が短くなるため基
板の仕込み時間の間隔を短く出来、タクト時間が
従来装置よりも短縮され、例えば光磁気デイスク
や光デイスクのような、その基板からの放出ガス
が多くしかもその放出ガスにより膜質が悪くなり
易い希土類を含んだ物質、Alなどの膜を形成し
た製品の品質を安定させ大量生産する場合に好都
合である。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は従来例の截断側面図、第3
図は本発明の実施例の截断側面図、第4図及び第
5図は搬送装置の斜視図である。 1…基板、2…仕込室、6…脱ガス室、7…成
膜室、11…取出室。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 スパツタリング等の成膜処理が施される基板
    を外部から取込む仕込室と、該基板に成膜処理を
    施す成膜室及び成膜処理された基板を外部へ取出
    す取出室を備え、該成膜室の内部で基板がその板
    面を搬送方向の側方に向けて搬送されるようにし
    た装置に於いて、該成膜室の前方に該成膜室の基
    板搬送方向に対して略垂直方向に脱ガス室を連設
    し、該脱ガス室の端部に該仕込室を接続して設
    け、該脱ガス室内に該基板の板面を前方に向けて
    搬送する搬送装置を設けて成るインライン式成膜
    装置。
JP221686A 1986-01-10 1986-01-10 インライン式成膜装置 Granted JPS62161959A (ja)

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JP221686A JPS62161959A (ja) 1986-01-10 1986-01-10 インライン式成膜装置

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JPS62161959A JPS62161959A (ja) 1987-07-17
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100945429B1 (ko) 2007-10-05 2010-03-05 한국원자력연구원 대량의 기판 장착 및 탈착 시스템을 이용한 양산형박막증착 장치

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS506195A (ja) * 1972-11-21 1975-01-22
JPS5814337A (ja) * 1981-07-17 1983-01-27 Pioneer Electronic Corp デイスク等の被処理物の連続メタライジング装置

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