JPH0419025B2

JPH0419025B2 -

Info

Publication number: JPH0419025B2
Application number: JP57158751A
Authority: JP
Inventors: Juji Kobayashi; Toshio Myata
Original assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Current assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date: 1982-09-14
Filing date: 1982-09-14
Publication date: 1992-03-30
Also published as: JPS5948160A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、印刷工程を終えて搬送装置上にある
印刷物を走行状態のままで印刷の良否判定を行な
うための検査工程において、印刷物と搬送装置と
の間で発生するずれによる誤動作を補正する方法
に関する。

画像信号処理技術が一般化するにつれて印刷物
の検査にもこのような技法を採り入れ、それによ
り搬送中の印刷物を走行状態のままで正確に、し
かも高速で検査することができる走行印刷物の検
査装置が広く用いられるようになつてきた。

そして、このような検査装置の一例として、従
来から第１図に示す装置が知られている。

図において、１は被検査印刷物（検査対象物）、
２はコンベア、３は送りローラ、４はパルス発生
器、５は光学センサ、６はパターン検査装置、７
はエツジ検出器、８はアドレス発生回路である。

被検査印刷物１はコンベア２によつて矢印方向
に搬送され、エツジ検出器７と光学センサ５の下
を通過してから次の工程に送られるようになつて
いる。

パルス発生器４はコンベア２の送りローラ３に
設けられたロータリーエンコーダなどからなり、
このローラ３の回転に応じてパルス信号ｂを発生
する働きをする。従つて、このパルス信号ｂはコ
ンベア２の走行距離に比例した数のパルスとな
る。

光学センサ５は被検査印刷物１の表面に施こさ
れている印刷パターンを検出し、それに応じたレ
ベルの検出信号ａを発生する働きをする。

パターン検査装置６は光学センサ５からの検出
信号ａをアドレス発生回路８からのアドレスｄに
従つて区分しながら取り込み、パターンとして処
理する。そして、このパターンを予め記憶してあ
る標準パターンの対応する区分のパターンと順次
比較し、両者の一致、不一致により被検査印刷物
１の印刷の良否判定を行なう働きをする。

エツジ検出器７は被検査印刷物６の搬送方向の
前方にある端部を例えば光学的に検出し、エツジ
信号ｃを発生する働きをする。

アドレス発生回路８はパルス信号ｂをカウント
入力とし、エツジ信号ｃをリセツト入力とするカ
ウンタなどを備え、エツジ検出器７により被検査
印刷物１の前端が検出されたあとのパルス信号ｂ
をカウントすることにより印刷物１の位置を表わ
すアドレスｄを発生する働きをする。

従つて、この検査装置によれば、被検査印刷物
１がかなり高速で走行していても、そのままで検
査を行なうことができる。

ところで、この第１図に示した従来の検査装置
においては、被検査印刷物１とコンベア２との
間、或いはコンベア２と送りローラ３との間など
にスリツプを生じると、搬送中の被検査印刷物１
の位置とパルス発生器４から発生されるパルス信
号ｂのパルス数とが対応しなくなり、アドレスｄ
に誤差を生じ、この結果、検査精度の低下や誤動
作を生じ易くなるという欠点があつた。

これを第２図、第３図及び第４図で説明する。

まず、被検査印刷物１から光学センサ５によつ
て読取つた検出信号ａが第２図イのようになつて
いたとし、これに対応してパルス発生器４から発
生されているパルス信号ｂは同図ロに示すように
なり、この結果、アドレスｄは同図ニに示すよう
な関係になつていたとする。

しかして、このとき、被検査印刷物１の前端が
エツジ検出器７で検出されたあとで被検査印刷物
１とコンベア２の間で、或いはコンベア２と送り
ローラ３の間でスリツプを生じ、これによりパル
ス発生器４から発生されているパルス信号ｂに位
相ずれを生じて第２図ハに示すパルス信号b′のよ
うになつたとする。そうすると、アドレスｄも同
図ホにd′で示すようになり、同図イに示した検出
信号ａとの相体位置が変化してしまう。

一方、既に説明したように、この第１図の検査
装置では、検出信号ａをアドレスｄに従つて区分
し、対応する標準パターンの同じ区分ごとに比較
して良否判定を行なつているのであるから、第２
図イに示す検出信号ａに対して同図ニに示すよう
な正しいアドレスｄが対応したときに始めて正確
な動作が期待できるのであり、これが同図ホに示
すようにずれたのでは動作が不正確になつたり、
誤動作を生じるようになつたりしてしまうのであ
る。

これを第３図によつて更に詳しく説明する。

いま、パターン検査装置６によるデータの取り
込みをアドレスｄによつて区分されたパターンの
前端で検出信号ａをサンプリングして行なうよう
になつていたとする。そして、第３図に示すよう
な検出信号ａに対してアドレスｄが対応していた
とすれば、アドレスｄがｎの区分で取り込まれる
データは１、ｎ＋１の区分でのデータは９、ｎ＋
２では同じく９となる。

従つて、パターン検査装置６に記憶してある標
準パターンによるデータも当然、区分ｎでは１、
ｎ＋１では９、ｎ＋２でも９となつている。

ここで、被検査印刷物１がスリツプするなどし
てアドレスｄがd′のようにずれたとすれば、同じ
検出信号ａに対してアドレスd′による区分ｎでの
データは４、ｎ＋１では９、ｎ＋２では８とな
り、このときには被検査印刷物１からのデータと
標準パターンのデータとに不一致を生じ、被検査
印刷物１の印刷パターンに誤りがないのにもかか
わらず、不良と判定されてしまうことになる。

なお、第２図においては、アドレスｄとd′の間
に１区分の長さの1/2のずれ生じた場合を示し、
同じく第３図では1/5のずれを生じた場合につい
て示したが、実際に生じるずれの大きさは極めて
不規則で、かつ量的なバラツキもかなり大きなも
のを示すのが一般的であり、いずれの場合でも検
査性能の低下や誤動作の原因となるのはいうまで
もない。

次に、第４図は検出信号ａをパターンの各区分
範囲ごとに積分し、この積分値を各区分ごとのデ
ータとして取り込むようにした場合について示し
たもので、検出信号ａに対して正しいアドレスｄ
による区分ｎでのデータは0.5、ｎ＋１では1.0、
ｎ＋２では0.8になる。

しかして、ずれを生じたときのアドレスd′によ
る区分ｎでは0.68、ｎ＋１では1.0、ｎ＋２では
0.69となり、この場合には検出信号ａの傾斜の大
きなところでデータの差が大きくなる。

この第４図の場合には、区分ｎにおける誤差が
一番大きくなり、全振幅に対して約18％の誤差と
なつている。また、この場合には、区分ｎから明
らかなように、積分値0.5が真の値である場合、
位置ずれの割合（１区分に対するパーセンテー
ジ）と、積分値の誤差の割合（最大値を1.0とし
たときの真値との差のパーセンテージ）とは、誤
差があまり大きくならない範囲ではほぼ係数１の
比例状態となつている。

従つて、第１図に示した従来の検査装置では、
被検査印刷物１によるデータと標準パターンによ
るデータとの差が15％以上になつたとき不良判定
を行なうように設定されていたとすれば、第３
図、第４図いずれの場合にも区分ｎで誤動作して
しまうことになる。

なお、第４図の場合、光学センサ５の被検査印
刷物１の搬送方向における視野長と、各区分の長
さ、つまりデータサンプリング長とが等しい場合
には、光学センサ５から出力される検出信号ａが
そのままで各区分ごとの積分値となるから、特別
な信号処理は不要である。

ところで、この第１図に示すような検査装置の
欠点を除く目的で、従来からパターン検査装置
の、データ取り込み用光学センサの解像力を低下
させることに依つて、位置ずれに対する感度を減
少させる方法（特公昭55−45949）や、標準パタ
ーンと試料パターンを比較する際に、試料パター
ンの一区分と、この区分に対応する標本パターン
の区分の、周辺の複数の区分とを比較し、データ
内容が一致する区分が、上記複数の区分内に含ま
れていれば正常であると判断することに依つて、
位置ずれに対して一種の許容値を設ける方法（特
公昭55−45948、55−45949）などが提案されてい
る。

しかして、これら提案されている方法によれ
ば、とにかく上記した位置ずれによる検査の誤判
定は少なくすることができるものの、同時に検査
精度の低下を伴ない、検査すべき印刷パターンの
微小欠陥や、正常なパターンに類似した異常パタ
ーンを見逃す傾向が強くなつてしまうという欠点
があつた。

本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を除
き、検出装置の検出精度を低下させることなく、
位置ずれによる誤動作の発生を充分に抑えること
ができるようにした印刷物の走行位置補正方法を
提供することにある。

この目的を達成するため、本発明は、被検査印
刷物の印刷パターンを利用し、エツジ信号検出
後、上記印刷パターンの特徴部分を検出して検査
動作中に少なくとも１回、アドレスを正しい値に
補正するようにした点を特徴とする。

以下、本発明による印刷物の走行位置補正方法
を実施例によつて説明する。

第５図は本発明の一実施例を示す概略構成図
で、第１図に示した従来例と同一もしくは同等の
部分には同じ符号を付してあり、さらに、９は基
準検出器、１０はアドレス補正回路であり、な
お、Ｘは被検査印刷物１の印刷パターン中に存在
する絵柄のうちで特に設定した少なくとも１つの
絵柄部分を表わし、ｘはそれらによる補正基準位
置を表わしたものである。

基準検出器９は絵柄部分Ｘを検出し、補正基準
位置ｘが基準検出器９の直下を通過したタイミン
グで基準信号ｅを発生する働きをする。

アドレス補正回路１０は第１図の従来例におけ
るアドレス発生回路８と同様に、パルス発生器４
からのパルス信号ｂと、エツジ検出器７からのエ
ツジ信号ｃによつてアドレスｄを発生する働きを
すると共に、検査すべき印刷パターン中に選定し
た絵柄部分Ｘの基準位置ｘに対応したアドレスを
予め記憶しておき、基準検出器９から基準信号ｅ
が供給されたときに対応したアドレスを読出し、
それによりアドレスｄを置換えてアドレスd″を発
生する働きをする。

次に、この実施例の動作を第６図によつて説明
する。

この第６図において、ロは印刷物１を搬送方向
に引延ばして示したもので、その一部に予め選定
してある絵柄部分Ｘを有し、その他の印刷パター
ンは省略してある。そして、アドレス補正回路１
０のメモリには、この絵柄部分Ｘの前端部を基準
位置ｘとし、それに対応してアドレスｄで表わさ
れている区分の番号ｎ＋２を記憶してある。な
お、この絵柄部分Ｘとしては、印刷パターンの中
で他の絵柄部分から容易に識別して検出し得るよ
うな、例えば濃度が大きく変化している部分など
を予め選定し、基準検出器９により他の絵柄部分
から分離して常に確実に検出し得るような絵柄部
分に選定しておく必要があるのはいうまでもな
い。

いま、第６図イに示すようなパルス信号ｂに対
して印刷物１の位置が同図ロに示すような対応関
係にあり、この結果、アドレスｄは同図ハに示す
ように対応し、この関係が保たれたままで検査が
行なわれたとする。

そうすると、基準検出器９により絵柄部分Ｘが
検出され、基準位置ｘで基準信号ｅが発生する
と、この時点でアドレス補正回路１０はメモリか
ら区分ｎ＋２を表わすアドレスを読出し、それに
よりアドレスｄのその時点におけるアドレス値の
置換える動作を行なう。しかしながら、このとき
には、アドレスｄの値は区分ｎ＋２を表わすもの
となつているから、これを置換えても見掛け上は
何らの変化をも生ぜず、アドレスｄによる検査が
引続いて行なわれるだけとなつている。

しかして、次に、印刷物１と送りローラ３との
間でスリツプを生じ、印刷物１の位置とパルス発
生器４によるパルス信号ｂとにずれが発生し、そ
のため第６図ハに示すような関係にあつたアドレ
スｄが同図ニに示すアドレスd′のようになつたと
する。なお、この第５図の実施例では印刷物１を
送りローラ３で直接搬送するようになつている
が、上記したずれの発生については第１図の従来
例と同じであることはいうまでもない。

そうすると、このときには、第６図ロ，ハに示
すように、本来、印刷物１に対してアドレスｄの
関係が保たれているべきなのに同図ニに示すよう
な関係のアドレスd′によつて検査が行なわれてし
まうため、誤動作を生じるようになつてしまう
が、やがて絵柄部分Ｘが基準検出器９によつて検
出され、基準位置ｘで基準信号ｅが発生すると、
上記したように、この時点で基準位置ｘに対応す
る区分番号ｎ＋２を表わすアドレス値がメモリか
ら読出され、それにより、このときのアドレス
d′の値を置換える動作が行なわれるため、結局、
この実施例ではアドレス補正回路１０からパター
ン検査装置６に入力されるアドレスは第６図ホに
示すアドレスd″となり、たとえ上記したずれを生
じても絵柄部分Ｘが検出された時点で正しいアド
レスｄに補正されてしまうため、誤動作の発生を
充分に抑えることができることになる。

なお、このとき、第５図に示すように絵柄部分
Ｘを印刷物１の搬送方向に沿つて１個以上選定し
ておき、それぞれに対応したアドレスを記憶して
おいて、これらを絵柄部分Ｘが検出されるごとに
順番に読出して上記したアドレスの置換えを行な
うようにすれば、第６図のハとホにおけるアドレ
スｄとd″とのずれがさらに短かい期間で順次行な
われるから、ほとんどずれを生じないようにする
ことができ、誤動作の発生は実用上ほとんど完全
に抑えることができる。

ところで、上記したように、絵柄部分Ｘとして
は、印刷パターンの絵柄の中から基準検出器９に
よつて、他の絵柄部分とは明瞭に区別して検出可
能な絵柄部分を選定する必要があるため、それに
よる基準位置ｘが第６図に示すように区分と区分
の境界線に丁度一致するものを選定することは必
ずしも容易ではない。

従つて、実用上は、第７図に示すように、絵柄
部分Ｘとしてその基準位置ｘが区分と区分の境界
線と一致していないものを選定せざるを得ない場
合が多い。なお、この第７図のイ〜ホは第６図の
イ〜ホと同じである。

しかして、この場合には、第７図から明らかな
ように、絵柄部分Ｘの基準位置ｘが検出されたタ
イミングでアドレスd′の区分ｎ＋１が区分ｎ＋２
で置換されるため、補正されたアドレスd″にはｙ
で示した誤差が残つて完全な補正が得られなくな
つてしまう。そして、この残留誤差ｙの最大値は
区分の長さに等しくなつている。

一方、この区分の長さは、パターン検査装置６
におけるデータの取り込み能力やメモリ容量など
により制限を受け、位置補正に必要な精度の面だ
けから短かくするのは困難である。

そこで、この区分の長さを短かくしないで上記
した位置補正に生じる残留誤差を充分に少なくす
るようにした実施例を第８図に示す。

この実施例の場合には、まず、パルス発生器４
（第５図）として送りローラ３が１回転するごと
に発生するパルス数の多いものを用い、第８図イ
に示すようなパルス信号ｂが得られるようにす
る。

そして、このパルス信号ｂを入力とするとカウ
ンタを用い、同図ロに示すパルス信号b′を得、こ
のパルス信号b′により同図ホに示すアドレスｄを
発生するようにしている。従つて、この第８図ロ
に示すパルス信号b′が第６図及び第７図のイに示
したパルス信号ｂに相当するものとなつている。
なお、このとき、送りローラ３が一定角度回転し
たときに得られるパルス信号ｂとb′のパルス数の
関係は整数比をなすようにし、図の場合にはその
比が８に設定してある。

従つて、この実施例においては、被検査印刷物
６が走行するにつれて第８図ニに示すパルス信号
ｂ（同図イ）のカウント値ｆが増加し、このカウ
ント値ｆの所定カウントごとに（この場合には８
カウントごとに）アドレスｄによる区分の数が同
図ホに示すように発生させられ、これを基にして
検査が行なわれてゆくことになる。

一方、予め選定した絵柄部分Ｘに対しては、そ
の基準位置ｘに対応して、そのときの区分の数値
ｎ＋２をメモリに記憶するのではなくて、パルス
信号ｂのカウント値ｆの数値ｍ＋19をメモリに記
憶しておき、これに加えて、基準検出器９（第５
図）が絵柄部分Ｘを検出して基準位置ｘで基準信
号ｅが発生したときにはメモリから読出した数値
によりカウント値ｆが置換されるようにしてお
く。

そうすると、被検査印刷物６の搬送にずれを生
じ、印刷物６に対してカウント値ｆとアドレスｄ
が第８図のハ，ニ，ホに示すような関係にあるべ
きものが同図ヘ，トに示すカウント値f′とアドレ
スd′のように変化し、検査に誤動作を生じるよう
になるが、絵柄部分Ｘの基準位置ｘが検出される
と、このタイミングでカウント値f′はｍ＋19に置
換され、第８図チのカウント値f″で示したように
なる。これによりアドレスｄも同図リに示したよ
うに変化し、この基準位置ｘでアドレスｄに等し
い区分ｎ＋２に補正されてしまうことになり、誤
動作のない正しい検査を行なうことができる。

そして、このとき、第８図から明らかなよう
に、アドレスd′からアドレスd″への変化は、区分
単位で行なわれるのではなくて、カウント値ｆの
数値単位で行なわれるため、絵柄部分Ｘの基準位
置ｘが区分と区分の境界線と一致していないこと
による残留誤差はパルス信号ｂとb′との整数比分
の一に減少（この場合には1/8）することになり、
充分な精度を保つた位置補正を行なうことができ
ることになる。

次に、第５図の実施例による第６図及び第７図
に示した動作をさらに詳しく説明する。

既に、簡単に説明したように、光学センサ５は
被検査印刷物１からの反射光、又は透過光を受光
し、受光量に比例した信号ａを出力し、パターン
検査装置６はこの信号ａを標準パターン又は被検
査パターンとして入力する。また、パルス発生器
４は送りローラ３の回転に伴なつてパルス信号ｂ
を発生するから、このパルス信号ｂは被検査印刷
物１の搬送量に比例したパルス数を有するものと
なつている。

従つて、エツジ検出器７（例えば、ビームスイ
ツチなどからなるもの）によつて、被検査印刷物
１の前端を検出した時点から、パルス発生器４の
検出ｂをカウンタにて計数すれば、上記前端を検
出した時点、即ち、被検査印刷物１がエツジ検出
器７の直下にある時点での位置を零として、被検
査印刷物１の前端の相対位置を決定することがで
きる。

また、この被検査印刷物１の前端の相対位置を
示す計数値は、被検査印刷物１をその搬送方向に
沿つて細かく区分し、番地付けした時の番地に相
等し、上記計数値によつてエツジ検出器７の直下
に、被検査印刷物１のどの部位、即ち、何番目の
区分があるかを知ることができる。

この計数値を、アドレスｄとして、パターン検
査装置６に出力すれば、パターン検査装置６は光
学センサ５からの信号ａを、細かく区分したパタ
ーンとして処理することができる。なお、このと
き、パルス発生器４の出力信号ｂの計数値にエツ
ジ検出器７と光学センサ５の間の距離に相当する
パルス数を差し引き、アドレスｄとするような簡
単な処理を施せば、被検査印刷物１が、光学セン
サ５の直下を通過した時点のアドレスｄの値を零
番地とすることができる。

ここで、まず、標準的な印刷物を用意し、それ
を搬送させることによりパターン検査装置６が、
標準パターン（基準データ）を上記アドレスｄの
区分に従つて光学センサ５から入力し、メモリに
記憶したものとする。

次に、被検査パターン（被検査データ）を同様
に光学センサ５より入力し、被検査パターンの各
区分と、メモリに記憶してある標準パターンの対
応する区分とを順次比較して、パターン検査を行
なうのであるが、ここで、被検査印刷物１と搬送
装置の間にスリツプなどにより位置ずれが生ずる
と、第２図、第３図それに第４図で説明したよう
にパターン検査装置６では、標準パターンと被検
査パターンの真に対応した区分を比較できなくな
り、位置ずれによつて、標準パターンと被検査パ
ターンとで異なつた部分の情報が入つている区分
どうしを比較して、パターン検査装置６は誤判定
をしてしまうことになる。

そこで、この第５図に示す実施例では、被検査
印刷物表面に施こされている印刷パターンの濃度
変化の大きい特定の絵柄部分Ｘを、この位置ずれ
を補正する為の補正基準点に選び、この補正基準
点を検出する為の基準検出器９（例えば、ビーム
スイツチなどからなるもの）を有し、これをエツ
ジ検出器７に対して被検査印刷物１の搬送方向と
直角の方向に揃えて設置しておく。

ここで、前述のように、正常なパターンを有す
る標準的な印刷物を搬送させ、その印刷物の前端
をエツジ検出器７で検出し、アドレス補正回路１
０は、エツジ検出信号ｃを入力した時点から、パ
ルス発生器４の出力パルス信号ｂの計数を内蔵す
るカウンタによつて開始する。

同時に、アドレス補正回路１０は、上記カウン
タのパルス計数値からアドレスｄを発生し、パタ
ーン検査装置６へ出力する。

パターン検査装置６は、被検査印刷物１の前端
が光学センサ５の直下を通過した時点から、光学
センサ５の出力信号ａを、アドレスｄに従つて区
分しながら標準パターン（基準データ）として処
理し、パターン検査装置６の内部のメモリに記憶
する。

この操作期間中に、基準検出器９は、少なくと
も１つの絵柄部分Ｘを検出し、基準位置ｘごとの
タイミングで基準信号ｅを発生する。

アドレス補正回路１０は、基準信号ｅを入力す
ると、補正基準位置ｘの番号付けを行ない、基準
信号ｅを入力した時点の上記カウンタ出力値を、
補正基準位置ｘの番号別にアドレス補正回路１０
の内蔵メモリへ標準値（真値）として記憶する。

アドレス補正回路１０のカウンタは、被検査印
刷物１の後端を検出した時点、又は上記カウンタ
のパルス計数値が任意に設定した値に達した時点
で、出力をクリアした状態で計数を停止するよう
にしても良いし、計数を停止する代りに、上記の
時点で検査終了信号をパターン検査装置６に与
え、次の被検査印刷物の前端が、エツジ検出器７
に達する直前で上記カウンタがクリアされるよう
にしても良い。

その後、被検査印刷物１が搬送されてくると、
パターン検査装置６は、被検査パターンを入力
し、パターンの比較による検査を開始する。この
とき、アドレス補正回路１０は、被検査印刷物１
の前端を検出した時点から、パルス信号ｂのカウ
ンタによる計数及びアドレスｄの発生を上述した
場合と同様に行なうが、基準検出器９が補正基準
位置ｘを検出すると、既にアドレス補正回路１０
の内蔵メモリに記憶してある対応する補正基準位
置の標準値（真値）を、上記カウンタにロードす
る。

従つて、アドレスd″は、さきにパターン検査装
置６が標準パターンを入力したときのアドレスｄ
の区分に修正され、第６図又は第８図で説明した
ように、パターン検査装置６は、標本パターンと
試料パターンとの真に対応する区分を比較するこ
とにより、正しいパターン比較を行なうことがで
きる。

ところで、このような検査装置においては、上
記アドレスの補正はいつ行なわれても良いという
わけにはいかず、パターン検査装置６によつて、
一般に、アドレスが変更されてはいけない期間、
即ち、アドレスが安定していなくてはならない期
間が存在する場合がある。

従つて、このような場合には、補正基準位置ｘ
が基準検出器９によつて検出され、パルス発生器
４の出力パルス信号ｂを計数しているアドレス補
正回路１０に内蔵のカウンタの出力が補正される
時点と、パターン検査装置６に与えるアドレスｄ
を補正する時点とに適切なタイミングをとる必要
がある。

そこで、このタイミングをとる方法の一実施例
を示すと、上記パルス発生器４の出力信号ｂを計
数するカウンタとして、パターン検査装置６にア
ドレスｄを出力するカウンタ（カウンタＡ）と、
出力しないカウンタ（カウンタＢ）との２系統の
カウンタを設ける。

そして、１個目の補正基準位置ｘが検出される
までは、カウンタＡとカウンタＢとは同じ計数値
を示すが、補正基準位置が検出されると、上記ア
ドレス補正回路１０内蔵のメモリに記憶された対
応する補正基準位置ｘの標準値（真値）がカウン
タＢのみにロードされ、カウンタＡ，Ｂはそのま
まパルスの計数を続けるようにしておく。

その後、パターン検査装置６が、補正基準位置
ｘを検出する前の、アドレスｄにおける処理と、
その次のアドレスｄに於ける処理との間の期間、
即ち、アドレスｄが変更されても良い期間となつ
た時点で、カウンタＢの出力値をカウンタＡにロ
ードする。

そうすれば、この時点でカウンタＡとカウンタ
Ｂのパルス計数値は再び等しくなり、アドレスｄ
が補正されたことになる。

このとき、一般にパターン検査装置６は、与え
られたクロツクパルスに従つて処理を開始し、一
定の時間をもつて処理を終了する。

そこで、このようなパターン検査装置では、処
理が終了すると、次のクロツクパルスを受けるま
でがアドレスを変更しても良い期間となる。

従つて、アドレス補正回路１０でパターン検査
装置６に与えるクロツクパルスを発生させ、それ
により上記一定時間の遅延をもつて、カウンタＢ
の出力値をカウンタＡにロードするようにしても
良いし、パターン検査装置６から上記補正基準位
置ｘが検出される前のアドレスｄに於ける処理が
終了したことを知らせる信号を発生させ、その時
点で、カウンタＢの出力値をカウンタＡにロード
するようにしても良い。

搬送系駆動部の走行距離に比例したパルス数を
発生するためのロータリーエンコーダなどからな
るパルス発生器４としては、送りローラ３の１回
転に対する出力パルス数の大きいものを選択すれ
ばする程被検査印刷物１の区分数も多くすること
ができ、従つて、細かいアドレス補正、即ち、精
密な位置ずれ補正を行なうことができるから、パ
ルス発生器４の１回転当りのパルス数は、この検
査装置全体として要求される位置ずれ補正の精度
によつて任意に選定すればよい。なお、このと
き、既に説明したようにこのパルス数はパターン
検査装置６で要求される被検査印刷物の区分数に
依つても制約を受けるが、一般に、この区分に必
要なパルス数よりも、補正に必要なパルス数の方
がはるかに大きくなるから、このときには第８図
で説明した方法を用いるようにすればよい。

次に、パターン検査装置６が必要とするアドレ
スのビツト数のＭとすれば、このビツト数Ｍは、
パターン検査装置６に内蔵のメモリが要求するア
ドレスのビツト数、又はパターン処理に必要な被
検査印刷物１の区分数（パターンの区分数又は１
区分の移動方向に対する長さ）によつて決定され
る。

従つて、アドレス補正回路１０がパターン検査
装置６へ与えるアドレスｄのビツト数はＭビツト
となり、パルス発生器４の出力パルス信号ｂを計
数するカウンタのビツト数をＮ、そしてＮ＝Ｍ＋
Ａとすると、アドレスｄは、上記カウンタの最下
位ビツト（LSB）より“β”番目から、最上位
ビツト（MSB）より“α”番目、つまり、カウ
ンタ出力の最下位ビツト（LSB）より“β”ビ
ツト目から、“Ｎ−α＋１”ビツト目までとなる。

ここで、Ｎ、Ｍ、Ａ、α、βは、α＋β−２＝
Ａ＝Ｎ−Ｍ、α≧１、β≧１なる正の整数で、α
の値は、パターン検査装置６がパターン処理に必
要な、パターン（被検査印刷物１）の区分間隔に
よつて決定される。

また、Ｍの値は、パターン検査装置６が必要と
するアドレスのビツト数によつて決定され、同様
に、Ｎの値は、アドレス補正回路１０のカウンタ
のビツト数によつて決定されるので、結局、β、
Ａの値は、自動的に決定されることになる。

尚、アドレス補正回路１０のカウンタのビツト
数（Ｎ）は、このカウンタがパターン検査装置６
の検査中にパルス発生器４の出力パルスｂを計数
している間、オーバーフローしない様に選ぶ必要
がある。

ところで、以上の実施例では、検査対象を印刷
物に限定していた。

従つて、上記した補正のための基準位置ｘを印
刷パターンの特定の絵柄部分Ｘに求めていた。

しかして、このため、印刷パターンによつては
特定の絵柄部分Ｘの選定が難しく、その付近から
独立して充分確実に検出可能な絵柄部分が得られ
ない場合があり、このようなときには基準検出器
９が予め選定してある絵柄部分Ｘ以外の部分で動
作し、基準信号ｅを検出してしまつて誤動作を起
こす虞れが生じるようになる。

そこで、このような虞れのある場合には、基準
検出器９の出力である基準信号ｅに何らかのゲー
トを掛け、被検査印刷物１が搬送中、その絵柄部
分Ｘの前後の所定の範囲内でだけ基準信号ｅが取
り出されるようにしてやればよい。そして、その
ためには、例えば、パルス発生器４の出力信号ｂ
を計数するカウンタの出力値と、予め上記した所
定範囲に対応して設定しておいた数値との比較に
よつて開閉制御されるゲート回路を用意し、この
ゲート回路を基準検出器９とアドレス補正回路１
０との間に設けてやればよく、これもまた本発明
の一実施例である。

なお、このことは、エツジ検出器７についても
同様で、必要に応じてゲート回路を設けるように
してやればよい。

次に、アドレス補正回路１０の具体的な一実施
例を第９図によつて説明する。なお、この第９図
にはパルス発生器４、光学センサ５、エツジ検出
器７、基準検出器９も一緒に示してあり、それら
の信号については第５図の実施例と同じ符号を用
いている。

第９図において、２０，２１，２２はゲート回
路、２３，２４，２５はアツプ・ダウン・カウン
タ、２６は検査開始信号発生器、２７は検査終了
信号発生器、２８は検査再開信号発生器、２９は
クロツク発生回路、３０は補正データ設定回路、
３１，３２はラツチ回路、３３はメモリ、３４は
比較器、３５は基準ゲート設定回路、３６はアド
レス補正タイミング設定回路、３７は補正データ
照会回路である。

次に、動作について説明する。

検査動作が開始すると、パルス発生器４は送り
ローラ３（第５図）の回転に応じてパルス信号ｂ
を発生し、それをクロツク発生回路２９に供給す
る。

これによりクロツク発生回路２９は送りローラ
３の正方向回転（第５図の矢印方向）と逆方向回
転の判別が可能なクロツク信号clを発生し、これ
をカウンタ２３，２４，２５のカウント入力に供
給する。

そして、エツジ検出器７が被検査印刷物１の前
端を検出すると、エツジ検出信号ｃがゲート回路
２１を通過してアツプ・ダウン・カウンタ２３に
計数開始信号cbを与える（ゲート回路１６を通
過したエツジ検出信号ｃを計数開始信号cbと呼
ぶ）。

すると、それまで計数値“零”のまま停止して
いたアツプ・ダウン・カウンタ２３が、クロツク
信号clを計数し始める。

検査開始信号発生器２６、検査終了信号発生器
２７、それに検査再開信号発生器２８は、外部の
デジタルスイツチなどによりそれぞれ任意の数値
をあらかじめ設定することができ、アツプ・ダウ
ン・カウンタ２３の出力値（計数値）caが上記
のそれぞれの設定値に達すると、検査開始信号発
生器２６からは検査開始信号ｈが、検査終了信号
発生器２３からは検査終了信号ｉが、そして検査
再開信号発生器２４からは検査再開信号ｇがそれ
ぞれ出力される。

なお、上記デジタルスイツチなどによる設定値
は、検査開始信号発生器２６では、エツジ検出器
７と光学センサ５の距離、又は、これに被検査印
刷物１の前端からパターン検査装置６がパターン
検査を開始する部位までの、被検査印刷物表面上
の間隔（エツジのマスク部分、つまりパターンの
境界部分）を加えた距離に相当する、パルス発生
器４の出力パルス信号ｂのパルス数に設定され、
同様に検査終了信号発生器２７では、被検査印刷
物１の長さ、又は、被検査印刷物前端からパター
ン検査装置６がパターン検査を終了する部位まで
の被検査印刷物表面上の間隔に相当する、出力パ
ルス信号ｂのパルス数に設定され、同じく検査再
開信号発生器２８では、被検査印刷物１の前端か
らこの被検査印刷物の後端と、次に搬送されてく
る被検査印刷物前端の間の任意の部位までの長さ
（搬送系の構造によつては時間）に相当する、出
力パルス信号ｂのパルス数に設定される。

さて、検査開始信号ｈが出力されると、常にク
ロツク信号clを計数しているアツプ・ダウン・カ
ウンタ２４，２５は一旦クリア（出力を零に戻
す）され、それと共に、パターン検査装置６には
検査開始が指令される。従つて、アツプ・ダウ
ン・カウンタ２４，２５は、この後、再び零から
の計数を続ける。

また、パターン検査装置６は、検査開始信号ｈ
を受けると、アドレスd″に従つて光学センサ５か
らの信号ａを区分しながら入力し始める。

一方、検査終了信号ｉが出力されると、パター
ン検査装置６は検査停止を指令される。

そこで、パターン検査装置６は光学センサ５か
らの信号ａの入力を停止し、この時点で、１個の
被検査印刷物に対するパターン処理を終了する。

さらに、検査開始信号ｇが出力されると、アツ
プ・ダウン・カウンタ２３はクリアされ、計数を
停止すると共にゲート回路２１が開放される。

そこで、アツプ・ダウン・カウンタ２３は、次
に計数開始信号cbを受けるまでは出力値を“零”
に保つたまま計数を停止し、他方、ゲート回路２
１は、エツジ検出器７の出力信号ｃを１回通過さ
せると直ちにゲートを閉じ、次の検査再開信号ｇ
を受けるまでは開放されない（但し、電源投入時
には、開放されている）。

この実施例では、アドレスd′（第６図）に対し
て位置ずれの補正を行う為に、予め補正基準位置
に対するゲートの設定、及び、補正基準位置の標
準値（真値）のメモリ書き込みを、初期データの
設定として行なう必要がある。

この補正基準位置に対するゲートを設定するに
は、まず、被検査対象物表面上の補正基準位置が
基準検出器９の直前に到達した時点で、基準ゲー
ト設定回路３５に基準ゲート設定信号acを入力
する。

これにより、基準ゲート設定回路３５は、この
信号acを計数することに依り、補正基準位置に
対するゲートに番号を付け、メモリ３３に記憶命
令信号adを、ゲート回路２２にゲート開放信号
ｐを与える。

すると、記憶命令信号adが示すメモリ３３の
所定の記憶箇所に、クロツク信号clの計数値であ
る、アツプ・ダウン・カウンタ２４の出力aaが
信号経路ｔを通つて供給され、そこにゲート位置
データとして記憶される。

一方、ゲート回路２２はメモリ３３への記憶が
終わると直ちに閉じ、再びゲート開放信号ｐ、又
はゲート開放信号ｋが入力されるまで開放されな
い。

こうして、基準補正点の数だけ、上記のゲート
の設定が行なわれる。

なお、ゲートを設定する為に、基準ゲート設定
信号acを入力する際、基準検出器９の直下と対
応する補正基準位置との間に、基準検出器９が誤
まつて検出してしまうような絵柄部分が存在しな
い位置で入力する必要がある。

この基準補正位置に対するゲートの設定がすべ
て終了するまでは、補正データ照会回路３７、補
正データ設定回路３０、それにアドレス補正タイ
ミング設定回路３６はすべて動作を禁止されてい
る。

上記のゲートの設定がすべて終了すると、次
に、補正基準位置の標準値のメモリ書き込みを行
なう為に、補正データ照会回路３７及び、補正デ
ータ設定回路３０が動作を許され、同時に基準ゲ
ート設定回路３５は動作を禁止される。

なお、この標準値書き込みの間も、アドレス補
正タイミング設定回路３６は動作を禁止されてい
る為、アツプ・ダウン・カウンタ２４と２５の出
力aa及びdnは、常に等しい値となつている。

エツジ検出器７が被検査印刷物の前端を検出
し、計数開始信号cbが補正データ照会回路３７
に与えられると、データ照会信号afがメモリ３３
に与えられ、メモリ３３からは先に設定した、１
個目の補正基準位置に対するゲート位置データが
経路ｕを経てラツチ回路３２に出力される。

同時に、ラツチ回路３２はデータ・ロード信号
ｊを受け、上記のデータを次に再びデータ・ロー
ド信号ｊを受けるまで出力ｒに保持する。

アツプ・ダウン・カウンタ２５の出力dnがラ
ツチ回路３２の出力ｒと等しくなると、比較器３
４はゲート開放信号ｌを出力し、ゲート回路２０
を開放する。

ここで、基準検出器９が補正基準位置を検出す
ると、基準信号ｅがゲート回路２０を通過し、基
準検出信号eaが補正データ照会回路３７、及び
補正データ設定回路３０に与えられる（ゲート回
路２０を通過した基準信号ｅを基準検出信号ea
と呼ぶ）。

ゲート回路２０は基準検出信号ｅを通過させる
と直ちに閉じ、次に再びゲート開放信号ｌを受け
るまでは開放しない。

補正データ設定回路３０は、基準検出信号ea
を受けると記憶命令信号ae及び、ゲート開放信
号ｋを出力する。すると、アツプ・ダウン・カウ
ンタ２４の出力aaがゲート回路２２を通過し、
経路ｔを経てデータ照会信号afが示す、メモリ３
３内の所定の記憶箇所へ送られ、それが補正基準
位置の標準値（真値）として記憶される。

このゲート回路２２はメモリ３３への記憶が終
わると直ちに閉じ、次に再びゲート開放信号ｋを
受けるまで開放されない。

補正データ照会回路３７は基準検出信号eaを
同時に受け、データ照会信号af及びデータロード
信号ｊを出力し、メモリ３３よりラツチ回路３２
へ、今度は２番目の補正基準位置に対応するゲー
ト位置データを出力する。

このようにして、補正基準位置の数だけ、補正
基準位置の標準値のメモリ書き込み、及び、次の
補正基準点に対応するゲート位置データの読み出
しを繰り返し、これにより補正基準位置の標準値
の設定を終了する。

なお、実際には、信号ｊ及び信号afが信号aeな
どと競合しない様に、補正データ照会回路３７は
基準検出信号eaを受けてから、出力信号ｊ、afを
発生するまでに、公知の方法を用いて適切な時間
間隔を置く必要がある。

上記の、補正基準位置の標準値の設定は、パタ
ーン検査装置６が、光学センサ５からの信号ａ
を、標準パターン（基準データ）として入力して
いる期間に行なわれる。

こうして、補正基準位置に対するゲートの設定
及び標準値の設定、即ち初期データの設定が終了
すると、補正データ設定回路３０及び基準ゲート
設定回路３５は動作を禁止され、アドレス補正タ
イミング設定回路３６が動作を許され、アドレス
d′に対して位置ずれの補正を行なうことができる
ようになる。この補正動作は、以下の様にして行
なわれる。

エツジ検出器７が被検査印刷物の前端を検出
し、エツジ検出信号ｃがゲート回路２１を通過し
て計数開始信号cbとなり、これが補正データ照
会回路３７に与えられ、補正データ照会回路３７
はデータ照会信号af及び、データロード信号ｊ出
力する。

すると、メモリ３３は、１個目の補正基準位置
に対するゲート位置データを、信号経路ｕを経て
ラツチ回路３２へ、そして１個目の補正基準位置
に対する標準値を、信号経路ｓを経てラツチ回路
３１へそれぞれ出力し、ラツチ回路３２及び３１
は、このメモリ３３から与えられた信号値を、出
力ｒ及びｑへ、次に再びデータロード信号ｊを受
けるまで保持する。

アツプ・ダウン・カウンタ２５の出力値dnが
ラツチ回路３２の出力値ｒに達すると、比較器３
４はゲート開放信号ｌを出力し、ゲート回路２０
を開放する。

基準検出器９が１個目の補正基準位置を検出
し、基準検出信号ｅがゲート回路２０を通過して
基準検出信号eaとなり、これが、アドレス補正
タイミング設定回路３６に与えられ、これにより
アドレス補正タイミング設定回路３６は標準値ロ
ード信号ahを出力する。

また、アツプ・ダウン・カウンタ２４は、標準
値ロード信号ahを受け、ラツチ回路３１が、そ
の出力ｑに保持している、１個目の補正基準位置
の（位置を示す）標準値（真値）をロードする。

一方、アツプ・ダウン・カウンタ２４は、その
ままクロツク信号clを標準値に加算する形で計数
するが、ここで、初期データ設定の際と異なる位
置ずれが発生していると、この時点でのアツプ・
ダウン・カウンタ２４と２５の出力値aaとdnは
異なる値となつている。

アドレス補正タイミング設定回路３６は、標準
値ロード信号ahを出力した後（第５図で説明し
たように）、パターン検査装置６がアドレスd′を
変更されても良い期間となると、補正値ロード信
号agをアツプ・ダウン・カウンタ２５に与える。

すると、アツプ・ダウン・カウンタ２５は、ア
ツプ・ダウン・カウンタ２４の出力aaをロード
し、この時点で、アツプ・ダウン・カウンタ２
４，２５の出力aaとdnは等しい値となり、アド
レスｄは位置ずれの補正をされたことになる。

なお、標準値ロード信号ahは、基準検出信号
eaが出力されると直ちに出力されるが、これに
対して補正値ロード信号agを出力するタイミン
グは、パターン検査装置６より得ても良いし、或
いはパターン検査装置６の、各パターン区分に対
する処理を行なうタイミングを示すクロツク信号
を、アドレスd″と共にパターン検査装置６へ与
え、このクロツク信号（図示せず）とアドレス
d″などの関係から演算して得るようにしても良
い。

また、この時点では、１個目の補正基準位置に
対応する基準検出信号eaを受けた補正データ照
会回路３７が、データ照会信号af及びデータロー
ド信号ｊを出力し、今度は、２番目の補正基準位
置に対するゲート位置データ及び標準値をメモリ
３３より出力させ、それぞれ、ラツチ回路３２及
びラツチ回路３１に保持させる。

なお、実際には、このデータ照会信号af及び、
データロード信号ｊは、標準値ロード信号ahと
競合しないように、アツプ・ダウン・カウンタ２
４が１個目の標準値をロードし終えた後に出力さ
れる。

このように、アツプ・ダウン・カウンタ２５
は、補正基準位置を検出するたびにその補正基準
位置の標準値をロードし、ラツチ回路３１及び３
２は、次の補正基準位置のゲート位置データ及び
標準値をそれぞれ取り込む。そして、適切な変更
タイミングでアドレスd″を補正する。

従つて、アドレスd″は、補正基準点が検出され
るたびに位置ずれの補正を受けることになる。

なお、アドレスd″は、アツプ・ダウン・カウン
タ２５のＮビツトの出力dnの一部のビツトを、
第５図で説明した方法で選んだもので、パターン
検査装置６へ与えられる。

また、ゲート回路２０及び２１に簡単な変更を
施すだけで、エツジ検出器７と基準検出器９を一
つの検出器で済ますこともできる。

さらに、被検査印刷物のエツジに代わる適切な
部位を決定すれば、シート状の印刷物に限らず、
連続した印刷物を対象とした検査を行なうように
することもできる。

次に、以上の実施例による位置補正効果につい
て説明する。

既に簡単に説明したように、このような検査装
置においては、一般に、搬送装置と被検査印刷物
間のスリツプ、搬送装置の送りローラと、その他
の駆動機構間のスリツプ等による位置ずれは、被
検査印刷物の移動方向に対して一方向に発生す
る。つまり、被検査印刷物が移動方向に対し、後
にずれる形で位置ずれが発生する場合が多い。

これを第１０図で説明すると、この図は横軸に
搬送量Ｚを、そして縦軸に位置ずれの量Ｙをとつ
たものであり、これにより上記した位置ずれは直
線Ａのような特性を示すことになり、このときの
直線Ａの傾きは搬送機構や印刷物の状態によつて
定まつてくる。

そこで、印刷物の搬送方向の長さをＬとすれ
ば、この長さＬの間に位置ずれの量が累積される
ため、何も補正を行なわないとすれば、この間に
y₀という大きな位置ずれを生じ、検査装置は当然
誤判定してしまうことになる。

一方、一点鎖線Ｂで示した特性は本発明の実施
例によつた場合のもので、z₁、z₂、z₃は補正基準
位置を表わし、この位置に達するごとに位置ずれ
の量Ｙは“零”に戻される。この結果、位置ずれ
量の最大値をy₁に抑えることができるのが判る。

なお、以上の実施例では、印刷に欠陥のない標
準的な印刷物を搬送させ、それにより取り込んだ
標準パターンのアドレスを位置ずれが“零”のも
のとして補正を行なうようになつている。従つ
て、この標準パターンを取り込んだときにもスリ
ツプなどによる位置ずれ発生が当然予想される
為、第１０図における特性Ａは図示のように単純
な右上りのものとなるとは限らない。しかしなが
ら、縦軸Ｙを位置ずれのバラツキ量とすれば、ほ
ぼ第１０図で示すような特性Ａと考えることがで
きる。

そこで、補正を行なわないときに生じる最大の
位置ずれ量をy₀、補正基準位置の数をｎとし、さ
らに、このｎ個の補正基準位置を被検査印刷物の
各印刷パターンの長さに対して等間隔に設定して
補正を行なつた場合に残留する位置ずれの量y₁
は、ほぼ次式で表わされる。

y₁＝y₀／ｎ＋１従つて、この実施例によれば、充分な位置ずれ
補正が得られ、誤判定の発生を実用状完全に除く
ことができることになる。

なお、以上の実施例では、検査対象物を印刷物
に限つて説明したが、本発明は印刷物に限ること
なく、一般に同じパターンが施こされている物体
の検査なら検査対象物がどのようなものであつて
も適用可能なことはいうまでもなく、従つて、以
上の説明における被検査印刷物もそのように解す
べきであることはいうまでもないところである。

以上説明したように、本発明によれば、位置ず
れによる標準パターンと被検査パターンの対応ず
れの発生を最小限度に抑えることができるから、
従来技術の欠点を除き、被検査パターンの微小な
欠陥にも正確に応動し、しかも誤判定が発生する
虞れのない検査装置を得ることができる印刷物の
走行位置補正方式を容易に提供することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は走行印刷物検査装置の従来例を示す概
略構成図、第２図イ〜ホは第１図の従来例におけ
る位置ずれによる問題点を示す説明図、第３図及
び第４図は同じく位置ずれによる誤判定の発生を
示す説明図、第５図は本発明による印刷物の走行
位置補正方法の一実施例を示す概略構成図、第６
図イ〜ホ及び第７図イ〜ホはそれぞれ第５図の実
施例における補正動作の一実施例を示す説明図、
第８図イ〜リは同じく第５図の実施例による補正
動作の他の一実施例を示す説明図、第９図は第５
図の実施例におけるアドレス補正回路の具体的な
一実施例を示すブロツク図、第１０図は本発明に
よる効果を示す説明図である。１……被検査印刷物（検査対象物）、３……送
りローラ、４……パルス発生器、５……光学セン
サ、６……パターン検査装置、７……エツジ検出
器、９……基準検出器、１０……アドレス補正回
路。

Claims

【特許請求の範囲】１搬送装置により走行する被検査印刷物の印刷
パターンの境界部分が所定位置に達したときを初
期値とし、上記搬送装置が一定距離走行するごと
に歩進する計数値を求め、この計数値により上記
印刷パターンの搬送方向に沿つて複数に分割され
た各領域ごとのアドレスを検出し、上記被検査印
刷物の印刷パターンから上記各領域ごとに読取つ
たデータを上記アドレスにより標準印刷パターン
の対応する領域ごとのデータと順次比較して印刷
の良否判定を行なう方式の走行印刷物の検査方法
において、検査に先だつて、予め正常な印刷パタ
ーンを有する標準的な印刷物を搬送させ、該印刷
物の印刷パターンの境界部分から搬送方向に沿つ
た特定の位置の検出が可能な少なくとも一つの絵
柄部分を選定してそのアドレスを表わす計数値を
標準値としてメモリに記憶させておき、印刷物の
検査中、上記絵柄部分を含む所定の範囲を選定
し、この所定の範囲内で上記絵柄部分が検出され
るごとにそのアドレスに対応した上記標準値を上
記メモリから読出し、この読出した標準値で上記
アドレスを表わす計数値を置換することにより上
記搬送装置と被検査印刷物との位置ずれによつて
発生する良否判定の誤動作を補正するようにした
ことを特徴とする印刷物の走行位置補正方法。２特許請求の範囲第１項において、上記各領域
ごとのアドレスを細分化し、この細分化したアド
レスに対応して上記計数値及び上記標準値を発生
させることにより上記補正の精度を上げるように
したことを特徴とする印刷物の走行位置補正方
法。３特許請求の範囲第１項又は第２項の発明にお
いて、上記計数値を求めるための手段として、上
記各領域のアドレス検出用の計数値を発生させる
ための第１の手段と、上記絵柄部分が検出される
ごとに行なわれる標準値による置換動作の対象と
なる計数値を発生するための第２の手段ととの２
系統の手段を用い、上記絵柄部分が検出されたと
きのタイミングとは異なる所定のタイミングにお
いて上記第２の手段によつて得られている計数値
で上記第１の手段によつて得られている計数値を
置換することにより、上記補正が行なわれるタイ
ミングを任意に選定し得るようにしたことを特徴
とする印刷物の走行位置補正装置。