JPH04187417A - フィルムシートのプロファイル制御方法 - Google Patents
フィルムシートのプロファイル制御方法Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
って成形するフィルムシートの幅方向における厚さを制
御する方法に係り、特に走査式厚さ計で測定されるフィ
ルムシートのプロファイルデータの測定点に対応するダ
イボルト位置の割付け設定を精度良く行う制御方法に関
する。
御方法として、フィルムシートの送出方向(Machi
ne Direction)に対する厚さ制御(MD副
制御いう)と、フィルムシートの幅方向(Cross
Direction)に対する厚さ制御(CDプロファ
イル制御という)とが知られている。そして、これらM
D ’MJ 61とCDプロファイル制御とはセンサ
(走査式厚さ計)を使用して同時に行われる。
(Tダイという)押出口から押出されたフィルムシート
がキャストロールに到達する間でフィルムシートの両端
が収縮する、所謂ネックイン現象か知られている。この
ネックイン現象はフィールムシート材料の粘弾性によっ
て生じるもので、フィルムシートの収縮量であるネック
イン量もしくはその流線パターンは、材料の種類および
成形条件〔例えば、樹脂温度、ドロー比(=引取速度/
流出速度)、エアギャップ、ロール温度等〕によって種
々変化する。
ィルムシートの幅方向の厚さむらを調整できるようにし
たTダイとして、押出口を形成するダイを固定リップと
可動リップに分割してこれを対向させ、両リップの間隙
で押出口の開口間隙を形成するようにした構成のものが
知られている。この開口間隙の間隙によって押出成形さ
れるフィルムシートの厚さが規定され、前記可動リップ
には幅方向に複数個のダイボルトが配列され、このダイ
ボルトを調整して前記可動リップを可動側ダイのスライ
ド面に沿って移動させることにより、開口間隙の間隙を
調整し、この間隙から押出されるフィルムシートの厚さ
を調整できる。このようなTダイのリップ間隙を適正に
調整するため、走査式厚さ計の測定ヘッドを押出成形さ
れるフィルムシートの幅方向に往復移動させて厚さを計
測し、この計測値に基づいて前記ダイボルトを熱変位及
びサーボモータ等により操作してTダイのリップ間隙を
適正な間隙に設定する自動プロファイル制御システムが
採用されている。
ムにおいて、ダイボルト調整による高精度のシートを成
形するためには、フィルムシートのプロファイル測定デ
ータ、例えば測定ヘッドが押出口の一端からどのくらい
の距離移動して測定したシートの厚さに異常があったか
というデータから、この測定点に対応する第何番目のダ
イボルトを調整すればよいかということが明確でないと
、適正なフィルムシートの厚さの修正ができない、この
ため、ダイボルトの割付け設定が必要となる。近年、コ
ンピュータ利用によるプロファイル監視および制御シス
テムが発達しつつあるが、この場合でも対応ダイボルト
の割付け精度がフィルムシートの厚さの制御精度に大き
な影響を及ぼす、これはシートプロファイルデータの測
定点が流動流体の中にあり、頻繁に変化するネックイン
量に容易に対応でき、簡便かつ精度のよいダイボルトの
割付け方法が未だ確立されていないからである。このた
め、通常は一定のダイボルト割付けパターンを全ての条
件に適用させたり、人為的な熟練と経験とにより定めて
いるのが実状である。
化を厚さ計で測定し、対応関係を精密に定めようとする
試みもなされているか、操作が煩雑であるばかりでなく
、多くの時間と手間を要するため実用的ではない。
を指数関数式で表わし、必要最少限の情報によって、厚
さ計で測定点に対応するダイボルト位置を精度よく、し
かも簡便に割付け設定することができるプロファイル制
御方法を突き止め、特開昭62−286724号として
特許出願を行った。
が明らかとなった。
延伸を行う延伸フィルムシート成形プロセスの場合、T
ダイと厚さ計間で修正する上記プロファイル制御方法で
は、ダイボルトの設定位!と実測位置とが合わないこと
、しかも、そのずれ量はフィルム端部側はど大きく、5
0〜70mm程度になること。
ロセスの場合も、上記プロファイル制御方法では同様の
ずれか生じやすいこと。
触点以下で行われる処理であるため、この過程ではフィ
ルムシート温度が融点以下であり、Tダイとキャストロ
ール間で生じるようなメルトテンションによる1m縮み
、すなわちネックイン(以下、1次ネックインと称する
)現象が起こらないためであると推定される0発明者等
の調査結果では、縦延伸過程でのネックインはほぼ−様
に収縮している(以下、2次ネックインと称する)こと
が判明した。
め、冷却固化後、走査式厚さ計に到達する過程で温度降
下による−様な幅縮みがかなり生じているものと推定さ
れる。−例としてポリエステルシートの幅2000mm
、温度降下200℃、熱膨張係数15X10m m /
”Cの場合を計算すると、その幅縮み量は60mmに
もなる。
ボルト位置を正しく割付けることができず、プロファイ
ル制御精度があまり良くならないという問題があった。
の実態にあうようネックイン過程に対し1次ネックイン
と2次ネックインを考慮し、ダイボルト位置の割付け設
定精度が高いフィルムシートのプロファイル制御方法を
提供するにある。
、連続的にTダイの間隙から押出成形され、キャストロ
ール上でフィルムシートに成形後、フィルムシートに対
しその幅方向に厚さ計の測定ヘッドを往復移動させて前
記フィルムシートのプロファイルを計測して厚さ制御を
行うフィルムシートのプロファイル制御方法において、 前記Tダイとキャストロール間で生じるフィルムシート
の1次ネックイン量(B1)とキャストロールと前記厚
さ計間で生じるフィルムシートの2次ネックイン量(B
2)とを計測すると共に前記フィルムシートの各ネック
イン影響部分を設定し、 1次ネックイン影響部分に対してTダイのダイボルト間
ピッチに対応する所定の1次ネックイン比(ε)に基づ
くシートピッチの指数関数的関係を算出し、 さらに2次ネックイン影響部分に対してキャストロール
上および厚さ計測定位置での各フィルムシート幅(W+
、W2 )の比例式とした2次ネックイン比(ε′)
を算出し、これら1次ネックイン比および2次ネックイ
ン比の積として演算処理を行い測定プロファイル上の対
応ダイボルト位置を割り付け設定することを特徴とする
。
いて、1次ネックイン比(ε)は、 ε(x)=1−e なる指数関数的関係式を用い、 2次ネックイン比(ε′)は、 ε’ (X)=W2 /w+ なる比例式を用いれば好適である。
よれば、連続的にTダイの間隙から押出成形され、キャ
ストロール上でフィルムシートに成形後、縦延伸を行う
延伸フィルムシートに対するネックイン過程を1次ネッ
クインと2次ネックインに分け、必要最少限の情報とし
てTダイの押出口の全長Xと各ネックイン量B、、B2
の計測値を利用し、しかも各ネックイン過程にそれぞれ
異なる関係式を用いると共にこの関係式の積として演算
処理を行う、これにより、フィルムシートのプロファイ
ルデータ測定点に対応ずタイボルト位置を正しく割付け
設定することができ、フィルムシートのプロファイル制
御精度を高くすることができる。
方法の実施例につき、添付図面を参照しながら以下詳細
に説明する。
制御を行うための押出成形され、キャストロール上でフ
ィルムシートに成形後、縦延伸を行う一軸延伸フィルム
シートの解析モデル図であり、第2図は第1図の解析モ
テルで使用した押出し成形されるフィルムシートの概略
を示す部分斜視図である。第2図に示すようにTダイ1
0の開口間隙がら押出されたフィルムシート12は、キ
ャストロール14を介して図示しない延伸装置により縦
延伸される。第2図中Tダイ1oがらキャストロール1
4のロール−フィルム接触ライン16までの間のネック
イン量を1次ネックイン量B1とし、ロール−フィルム
接触ライン16から図示しないフィルム厚さ計の測定位
置までの間でのネックイン量を2次ネックイン量B2と
する。以下、第1図に示す解析モデル図を用いて説明す
る。
を有する押出口の一端を原点0とし、これからその幅方
向を座標軸Xとする。
インの一端を原点O′とし、これからその幅方向を座標
軸X′とする。1次ネックイン量B、および2次ネック
イン量B2を第1図のようにとると、キャストロール1
4上のフィルムシート幅W1はX−2B、、厚さ計測点
での幅W2はX 2 (B= +B2 )で表される
。Tダイ10の押出口での微小幅dx+はフィルムシー
ト12が形成されて行く過程で、1次ネックイン影響部
においてdxtに収縮変化し、さらに縦延伸されて2次
ネックイン影響部を通り厚さ計測点ではdxxになるも
のとする。
すことができる。
(1)を変形して次式を(2)を得る。
)ここで1次ネックイン比ε(X)を一般式のXの開数
f (x>で表すと、次式(3)を得る。
こで、本実施例においては、前記関数f (x)が指数
関数である方がより実測データに近似することから、指
数式を利用すれば次式【4)を得ることができる。
ックイン五B+およびネックインパタ−ンは第1図に示
すようにTダイ押出口の両端で全く中央部に対して対象
と仮定し、前記式(2)におけるd X 2を原点0(
x=O)から中央部(x=X/2)*で積分して次式(
5)x==Oにおいてd X 2 = O、前記式(1
)よりε(x)=O1従って前記式(4)からεo=0
となり、式(4)は次式で表される。
(6)式を(5)式に代入すると =(X/2)−B、 ・・・(7)前記
式(7)を変形して次式(9)を得る。
であり、境界条件はTダイの全長Xと1次ネックイン量
B1が変更される都度(8)式を満足する数値を試行錯
誤的に算出する。常数kが求められたら、次にTダイの
開口間隙を調節するX軸上の図示しないダイボルトに対
するX′軸上の対応位置を求める。
′)を次式(9)により決定する。
トに対するX′軸上の対応位置を求めた後は、ロール−
フィルム接触ラインを過ぎた後厚さ計測点までの2次ネ
ックイン過程を考慮することにより最終的な計測点に対
応するダイボルト位置を次のように決定する。縦延伸過
程での2次ネックイン現象は前述したように一様に収縮
していることから、2次ネックイン比ε′ (X)を次
の比例式で表す。
l / <x 2B+ )”W2 /W
+ ・・・(10)
但し、ここでW、はキャストロール14上でのフィルム
シート幅であり、W2は厚さ針位置でのシート幅である
。
ボルト位置X+′は、そのまま相似的に2次ネックイン
過程で収縮するとして、 X + ” ・W 2 / W 1− (11)により
ダイボルトの対応位置を最終決定し、ダイボルトの割付
け設定をすればよい。
PPフィルム成形機に適用した場合を示す、成形プロセ
スの代表値は、以下の通りである。
本数 : 36本 ダイボルトピッチ: 36mm 1次ネックイン量:B+=35mm (W+ = 1230 mm ) 2次ネックイン量: B2 =65mm(W2 = 1
100 mm) なお、装置構成は従来通りであり、演算処理に関するソ
フトを修正することにより実施した。第3図は、この適
用結果を示したものである。従来方法による演算処理の
ソフト(旧ソフト)と本発明に係る演算処理のソフト(
新ソフト)を使用してそれぞれ求めた対応ダイボルト位
置のネックイン量と、実測した対応ダイボルト位置のネ
ックイン量とを比較して示している。旧ソフトはTダイ
開口部から厚さ計測部までのネックインを指数式で近似
したものであり、新ソフトはTダイ開口部からキャスト
ロール迄を12次ネックインとして指数式で近似し、キ
ャストロールから厚さ計測部までは2次ネックインとし
て比例式で近似して求めたものである。第3図より、ダ
イボルト位置の最大ずれ量は、従来方法の50mmから
5mm以内に激減している。第4図は、このフィルムシ
ートの目標厚さに対するばらつきをダイボルト位置番号
に対応させて示した図であり、(A)図は旧ソフトによ
るプロファイル制御を行った場合、(B)図は上記新ソ
フトによるプロファイル制御を行った場合である。これ
より、本発明の方法を適用することでフィルムシートの
厚さばらつきは±5%から±2%に改善され、本発明の
制御方法はプロファイル制御精度の高いものであること
が理解される。
シートのプロファイル制御方法によれば、Tダイから押
出成形され、さらに縦延伸されたフィルムシートのネッ
クイン現象を伴うプロファイル制御に際し、1次ネック
イン現象および2次ネヅクイン現象影響範囲を設定し、
それぞれのネックイン現象影響範囲のフィルムシート幅
測定を行い、ダイボルト位置とキャストロールおよび厚
さ計測点との関係に基づく各ネックイン比ε、ε′を、
それぞれ異なる式で演算することによりダイボルト位置
とシートの厚さ計測位置との関係を高精度に算出するこ
とができる。このなめ、計測されたプロファイルデータ
の測定点に適正に対応するダイボルト位置番号の割付け
設定を簡便にして、しかもネッ、フィン比を指数式だけ
で近似した場合よりも高精度に達成することができる。
装置内の演算処理ソフトの変更だけで実現することか可
能であり、最小の費用でフィルムシートのプロファイル
精度が向上するため、フィルムシートの高品質化、収率
向上(幅方向1時間方向)による原価低減およびフィル
ムの平均厚さの引き下げによる原価低減等に顕著な効果
を奏する。
明は前記実施例に限定されることなく、本発明の精神を
逸脱しない範囲内において種々の設計変更をなし得るこ
とは勿論である。
御を行うための縦延伸を行う一軸延伸フィルムシートの
解析モデル図、第2図は第1図の解析モデルで使用した
押出し成形されるフィルムシートの概略を示す部分斜視
図、第3図は従来方法による演算処理のソフト(旧ソフ
ト)と本発明に係る演算処理のソフト(新ソフト)を使
用してそれぞれ求めた対応ダイボルト位置のネックイン
量と、実測した対応ダイボルト位置のネックインlとの
比較を示す特性線図、第4図は目標厚さに対するばらつ
きをダイボルト位置番号に対応させて示した図であり、
(^)図は旧ソフトによるプロファイル制御を行った場
合、(B)図は上記新ソフトによるプロファイル制御を
行った場合をそれぞれ示す特性線図である。 1G・・・Tダイ 12・・・フィルムシート 14・・・キャストロール 16・・・ロール−フィルム接触ラインFIG、1 1n FIG、2 FIG、3 中心 FIG、4 (A) 旧ソフトによる制御 (B)新ソフトによる制御 ボルトN。
Claims (2)
- (1)連続的にTダイの間隙から押出成形され、キャス
トロール上でフィルムシートに成形後、フィルムシート
に対しその幅方向に厚さ計の測定ヘッドを往復移動させ
て前記フィルムシートのプロファイルを計測して厚さ制
御を行うフィルムシートのプロファイル制御方法におい
て、 前記Tダイとキャストロール間で生じるフィルムシート
の1次ネックイン量(B_1)とキャストロールと前記
厚さ計間で生じるフィルムシートの2次ネックイン量(
B_2)とを計測すると共に前記フィルムシートの各ネ
ックイン影響部分を設定し、 1次ネックイン影響部分に対してTダイのダイボルト間
ピッチに対応する所定の1次ネックイン比(ε)に基づ
くシートピッチの指数関数的関係を算出し、 さらに2次ネックイン影響部分に対してキャストロール
上および厚さ計測定位置での各フィルムシート幅(W_
1、W_2)の比例式とした2次ネックイン比(ε′)
を算出し、これら1次ネックイン比および2次ネックイ
ン比の積として演算処理を行い測定プロファイル上の対
応ダイボルト位置を割り付け設定することを特徴とする
フィルムシートのプロファイル制御方法。 - (2)請求項1記載のフィルムシートのプロファイル制
御方法において、 1次ネックイン比(ε)は、 ε(x)=1−e^−^k^x なる指数関数的関係式を用い、2次ネックイン比(ε′
)は、 ε′(x)=W_2/W_1 なる比例式を用いることからなるフィルムシートのプロ
ファイル制御方法。 但し、k:定数 x:ダイボルト対応位置 W_1:キャストロール上のフィルムシート幅 W_2:厚さ計測定位置でのフィルムシート幅
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2314304A JP2945749B2 (ja) | 1990-11-21 | 1990-11-21 | フィルムシートのプロファイル制御方法 |
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JPH04187417A true JPH04187417A (ja) | 1992-07-06 |
JP2945749B2 JP2945749B2 (ja) | 1999-09-06 |
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ID=18051749
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JP2314304A Expired - Lifetime JP2945749B2 (ja) | 1990-11-21 | 1990-11-21 | フィルムシートのプロファイル制御方法 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2945749B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2837484A1 (en) * | 2013-08-14 | 2015-02-18 | Electronic Systems S.p.A. | Apparatus and method for automatically analyzing extruded films |
CN113715301A (zh) * | 2021-11-02 | 2021-11-30 | 浙江双元科技股份有限公司 | 一种薄膜厚度测量中模头螺栓的对位系统及方法 |
-
1990
- 1990-11-21 JP JP2314304A patent/JP2945749B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
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EP2837484A1 (en) * | 2013-08-14 | 2015-02-18 | Electronic Systems S.p.A. | Apparatus and method for automatically analyzing extruded films |
WO2015022375A1 (en) * | 2013-08-14 | 2015-02-19 | Electronic Systems S.P.A. | Apparatus and method for automatically analyzing extruded films |
US11738495B2 (en) | 2013-08-14 | 2023-08-29 | Electronic Systems S.P.A. | Apparatus and method for automatically analyzing extruded films |
CN113715301A (zh) * | 2021-11-02 | 2021-11-30 | 浙江双元科技股份有限公司 | 一种薄膜厚度测量中模头螺栓的对位系统及方法 |
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---|---|
JP2945749B2 (ja) | 1999-09-06 |
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