JPH0418699B2 - - Google Patents

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JPH0418699B2
JPH0418699B2 JP60004123A JP412385A JPH0418699B2 JP H0418699 B2 JPH0418699 B2 JP H0418699B2 JP 60004123 A JP60004123 A JP 60004123A JP 412385 A JP412385 A JP 412385A JP H0418699 B2 JPH0418699 B2 JP H0418699B2
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JP
Japan
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bonding
printed circuit
polishing
outer lead
semiconductor
Prior art date
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Application number
JP60004123A
Other languages
English (en)
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JPS61163650A (ja
Inventor
Minoru Okamura
Fumimaro Ikeda
Hideaki Myoshi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kaijo Corp
NEC Corp
Original Assignee
Kaijo Corp
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Kaijo Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical Kaijo Corp
Priority to JP60004123A priority Critical patent/JPS61163650A/ja
Publication of JPS61163650A publication Critical patent/JPS61163650A/ja
Publication of JPH0418699B2 publication Critical patent/JPH0418699B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/50Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/50Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体のアウターリードを基板のアウ
ターリードと接続して半導体を基板を装着するア
ウターリードボンデイング装置に使用するボンデ
イングツールの研磨装置に関するものである。
〔従来技術〕
この種の装置においては従来は、複数の半導体
を取り付けたキヤリヤテープから前記半導体装置
をアウターリードの部分で切断して取出し、該半
導体を前記切断位置とほほ同じ高さでならべられ
て配備された装着位置において、プリント基板の
アウターリード部と接続しボンデイングするよう
になつている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の装置においては、ボンデイング作業に当
りボンデイングツールは半導体のアウターリード
と基板とを受け台平面に対し絶えず平行に圧力を
加えなければならず、またツールは加圧、加熱、
融着をくりかえすことで局部的に摩耗してゆく。
摩耗によりボンデイング状態は悪くなるので、一
定時間ボンデイングに使用したツールは、作業者
によりツールのボンデイング面と受け台の面とが
平行になる様すり合わせ作業によりすり合わせ研
磨していた。本作業は、ボンデイングツールを受
け台に合わせて、傾きや平面度を、ボンデイング
をしながら、又はスタンプインキ等で当たり面を
確認しながらすり合わせをするため、作業者の熟
練を必要とし、又時間も多くかかる欠点があつ
た。
本発明は、従来の上記の如き問題点を解決し、
研磨作業を、未熟練作業者でも容易にかつ完全に
しかも短時間に行なうことのできるアウターリー
ドボンデイング装置のボンデイングツール研磨装
置を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、上記の問題を解決する手段として、
複数の半導体を取付けたキヤリヤテープから、前
記半導体をアウターリードの部分で切断して取出
し、該半導体を、ボンデイングツールにより、ロ
ーダに装着したマガジンからボンデイング作業位
置に供給されたプリント基板のアウターリード部
と接続せしめてプリント基板の装着せしめるアウ
ターリードボンデイング装置のボンデイングツー
ル研磨装置において、プリント基板を供給するロ
ーダに、プリント基板の所定数ごとにプリント基
板と同じ外形寸法を有する研磨板を挿入したマガ
ジンを装着し、該研磨板がボンデイング作業位置
にまで移送されたときに該研磨板に対してボンデ
イングツールが研磨作業を行うようにしたことを
特徴とする、ボンデイングツール研磨装置を提供
するものであり、装置を停止することなく、作業
に習熟していない作業者でも研磨作業を容易にか
つ完全にしかも短時間で実施することができる。
〔実施例〕
本発明の実施例を説明するのに先立つてアウタ
ーリードボンデイング装置について説明する。
第1図はプリント回路1の一部に半導体2が組
込まれたプリント基板3を示す。
第2図は、その半導体2の付近の拡大図であ
り、第3図に実線で示す如き半導体2が、そのア
ウターリード4の先端がプリント基板3上のプリ
ント回路のリード5に重ねられて接続されて装置
されている。
半導体2は第3図に示す如く、ICチツプ6の
周縁のパツド7に接続してリード8が設けられて
いる。リード8の相互は、リード保持板9により
支えられ補強されている。リード8の端部はリー
ド保持板9から突出してアウターリード4を形成
している。
このような半導体2は次の如くして製造され
る。即ち、第3図に二点鎖線で示す如き、プラス
チツクフイルムより成る長いキヤリヤテープ11
の長手方向に沿つて等ピツチで多数(図では一個
のみ示す)設けられている穴12の周辺に末端部
13を有し、内方に向けて延長されているリード
8の内側端にICチツプ6が接続されている。こ
の状態までは、予めインナーリードボンダを用い
て製造される。
このような状態のキヤリヤテープを11をアウ
ターリードボンデイング装置に導き、リード8の
架橋部を切断線14,15にて切断し、半導体2
を取り出す。リード8の一部はリード保持板9よ
り突出してアウターリード4を形成する。
プリント基板3の所定の場所には第4図に示す
如き穴16が設けられ、その周縁の一部にはプリ
ント回路によるリード5が設けられている。この
穴16の上に第3図の実線の如き半導体2を重
ね、リード5の上にアウターリード4を重ね(例
えば4′,5′の如く)その上から加圧、加熱を行
つて、リード4とリード5とを融着せしめる。こ
のようにして半導体2がプリント基板3に装着さ
れる。
以上の如き作業を行なうアウターリードボンデ
イング装置について説明する。
第5図は装置の側面図であり、フレーム17上
には、ボンデイングヘツド18を載せたXYテー
ブル19、アウターリードの切断部20、移送部
21、及びボンデイングステージ22が設けられ
ている。
ボンデイングヘツド18には、アウターリード
を融着するボンデイングツール23と、プリント
基板3に対する半導体2の位置のズレを検出する
ためのカメラ24が設けられている。
切断部20は、キヤリヤテープ11の受け台2
5とアウターリードを切断するカツタ26とを備
えている。
移送部21は、半導体2を吸着する吸着機構2
7を先端に備え、垂直軸のまわりに回転するアー
ム28を有する。
ボンデイングステージ22は、XYテーブル2
9、回転動作を行なうθテーブル30、昇降動作
を行なうZテーブル31及び上面に真空吸着の開
口を設けた吸着台32とより成る。
カメラ24の検出により得られた位置ズレの信
号はカメラコントロールユニツトCCU33に入
力されてモニタ34に画像を現わし、さらにパタ
ーン認識装置PRU35に入り、インターフエー
ス制御系36に入り、ステージドライバー54を
経てXYテーブル19,29、θテーブル31に
信号を与えこれらの動きを制御するようになつて
いる。第6図、第7図において、37はプリント
基板3を水平に一つづつ間欠的に移動せしめる
(移動装置の図は省く)ガイドレールであり、3
8は装着されたマガジンからガイドレール37に
ブリント基板3を一つづつ供給するローダ、39
はガイドレール37から排出されるプリント基板
3を一つづつ受け入れるアンローダである。
第7図、第8図において、11はキヤリヤテー
プ、40はキヤリヤテープ11をほぼ水平に、プ
リント基板3とほぼ同じ高さで並行に間欠的に移
動せしめる(駆動装置の図は省く)ガイドレール
である。41はキヤリヤテープ11の供給リー
ル、42はスペーサフイルム43の収納リール、
44は送りスプロケツト、45は空テープ収納箱
である。第9図は切断部20の詳細図であり、ダ
イ46とポンチ47を備える。48はバネ49に
て下向力を受けているおさえである。50は、受
け台25の表面に出没し、キヤリヤテープ11の
パーフオレーシヨンに挿入されてキヤリヤテープ
11の位置決めをするピンである。
第10図はアーム先端の吸着機構27を示し、
中空孔51が真空源と接続し、半導体2を吸着す
る。
第11図はボンデイングステージ22の上部の
詳細である。ガイドレール37の下から、吸着台
32に設けられた中空の吸着軸52が貫通して、
Zテーブル(第5図)31により昇降し、上昇し
たときは吸着した半導体装置2が持ち上げられた
状態で支えられ、アウターリード4とリード5と
の間に隙間が保てるようになつている。下降した
ときは、ICチツプ6の下面よりも吸着軸52の
上面が下がつて隙間があくようになつている。5
3は出没可能の、プリント基板3の位置決めピン
である。
ボンデイングツール23は昇降可能に支えられ
かつ加熱され、アウターリード4をリード5に押
し付けて融着して接続するようになつている。
動作につき説明すれば、供給リール41より送
りスプロケツト44の作用で繰り出されたキヤリ
ヤテープ11の、或る半導体2が切断部20に至
ると移送は一時停止され、カツタ26のダイ46
が下降する。先づおさえ48がアウターリード4
に接触し、ポンチ47との間でアウターリード4
を挟みこれを固定する。なおもダイ46を押し下
げればダイ46とポンチ47との剪断作用でアウ
ターリード4は切断され半導体2が分離する。
アーム28を回転させ吸着機構27で半導体2
を吸着し、アーム28を戻して吸着機構27を移
動せしめ、半導体2をボンデイングステージ22
の直上に位置せしめる。
このとき吸着台32は上昇せしめておき、吸着
軸52の上端は52′の位置にある。
アーム28を下降せしめ、半導体2を吸着台3
2の吸着軸52の上端に載せ、吸着軸52による
吸着を行ない吸着機構27は吸着作用を中止し半
導体2の上方から去る。このときアウターリード
4の下面は、リード5の上面からhだけ上方に離
れている。
ここでカメラ24により上方からパターン認識
を行なう。パターン認識に当たつては、半導体2
のほぼ対角線の位置の適当な2点に合せマークを
付し、この合せマークが正確な基準位置にある状
態の基準パターンを予め記憶せしめておき、吸着
軸52上に保持された実際の半導体2の合わせマ
ークと基準パターンの合せマークとのズレをXY
テーブル29を動かしながら光学・電気的に検出
してそのズレ量の信号を得る。一方プリント基板
3のリード5の位置のズレも同様にしてXYテー
ブル19を動かしながら光学・電気的に検出して
そのズレ量の信号を得る。この両方のズレ量の検
出信号により、プリント基板3側のリード5及び
半導体2のアウターリード4′の位置を確かめて
X、Y方向のズレ及びθのズレを検出し、インタ
ーフエース制御系36からの出力信号により、
XYテーブル29、θテーブル30の動きにより
リード5とアウターリード4′とを整合せしめ、
しかる後Zテーブル31の操作により半導体2を
下降せしめアウターリード4′をリード5に重ね
て接触せしめる。
この動きと平行してXYテーブル19によりボ
ンデイングツール23が移動して半導体2の直上
に達し、下降してアウターリード4′のボンデイ
ングを行なう。
移送部21の動きは、アーム28の如き回転運
動でなくともよく、直線運動で吸着機構27がガ
イドレール40と37との間を往復するようにし
てもよい。
上記のように、ボンデイングツール23は装着
位置において、くりかえし加圧、加熱、融着作用
に使用されるため、ツール下面に凹凸が形成され
る。そこで定期的にツール下面を研磨する必要が
生ずる。
本発明は、上記アウターリードボンデイング装
置の機能を巧妙に利用して、ボンデイングツール
の研磨を行うものであり、以下、本発明の実施例
によるボンデイングツールの研磨装置について第
12図a,b,cにより説明する。
多数のプリント基板3をマガジン55の中に収
容する際に、或る位置に、プリント基板3と同じ
外形寸法を有する研磨板56を挿入しておく。こ
の様な研磨板56入りマガジン55をプリント基
板3のみのマガジン55の場合と同様にローダ3
8に装着し、基板3と同様に研磨板56をガイド
レール37に載せてボンデイング受け台25に搬
送する。
研磨板56が受け台25のボンデイング位置に
達すると、ボンデイングツール23は下降して研
磨板に接触し、XYテーブル29の作用により、
第12図a,b,cに示すような渦巻状の軌跡を
描いて移動し、研磨作用を行う。なお、この時、
ボンデイング受け台25の上面とツール23の下
面は平面であることが必要であるため、研磨板5
6は平行度、平面度が保証されていなければなら
ない。
ツールの研磨の頻度は経験的にわかつているの
で、この頻度に合わせて適当な間隔で研磨板56
を挿入しておく。
又、ボンデイング受け台25は、マガジンにプ
リント基板3と研磨板56とが混在しているた
め、プリント基板3であるか、または研磨板56
であるかの判定を行なう検出機能を有し、研磨板
56が搬送されてきたことを光学的、機械的或い
は電気的に検出した時点から研磨動作に切り換え
るものとする。
研磨板の面積を大とし、研磨面の粗さを段階的
に粗から精にしたものを数枚準備し、これらの研
磨板によつて順次に研磨を行うことにより、精密
研磨が可能になる。なお、研磨時には、ボンデイ
ングツール23に対する加圧力はボンデイング時
とは異なつたものとすることが必要である。
〔発明の効果〕 上記のように構成されているので、本発明のボ
ンデイングツール研磨装置は、ボンデイングツー
ルを研磨するため装置を停止することなく、研磨
作業に習熟していない作業者でも容易にしかも完
全にかつ短時間で遂行することができる。そして
特に管理に留意することなしに、自動的にしかも
定期的に研磨を実施し絶えずツールを再生するこ
とができるので、つねに良好なアウターリードの
ボンデイング作業を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例に関するものであり、第
1図はプリント基板の平面図、第2図はその半導
体装置付近の拡大図、第3図は半導体装置の拡大
図、第4図はプリント基板の穴の拡大図、第5図
はアウターリードボンデイング装置の側面図、第
6図はその正面図、第7図は第6図の平面図、第
8図は−線断面正面図、第9図は切断部詳細
図、第10図は吸着機構の一部断面図、第11図
はボンデイングステージ頂部の断面図、第12図
aはマガジンの斜視図、同図bは研磨状態を示す
平面図、同図Cは研磨状態を示す正面断面図であ
る。 1……プリント回路、2……半導体、3……プ
リント基板、4,4′……アウターリード、5…
…リード、6……ICチツプ、7……パツド、8
……リード、9……リード保持板、10……アウ
ターリード、11……キヤリヤテープ、12……
穴、13……末端部、14,15……切断線、1
6……穴、17……フレーム、18……ボンデイ
ングヘツド、19……XYテーブル、20……切
断部、21……移送部、22……ボンデイングス
テージ、23……ボンデイングツール、24……
カメラ、25……受け台、26……カツタ、27
……吸着機構、28……アーム、29……XYテ
ーブル、30……θテーブル、31……Zテーブ
ル、32……吸着台、33……CCU、34……
モニタ、35……PRU、36……インターフエ
ース制御系、37……ガイドレール、38……ロ
ーダ、39……アンローダ、40……ガイドレー
ル、41……供給リール、42……収納リール、
43……スペーサフイルム、44……送りスプロ
ケツト、45……空テープ収納箱、46……ダ
イ、47……ポンチ、48……おさえ、49……
バネ、50……ビン、51……中空孔、52,5
2′……吸着軸、53……ビン、54……ステー
ジドライバー、55……マガジン、56……研磨
板。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数の半導体を取付けたキヤリヤテープか
    ら、前記半導体をアウターリードの部分で切断し
    て取出し、該半導体を、ボンデイングツールによ
    り、ローダに装着したマガジンからボンデイング
    作業位置に供給されたプリント基板のアウターリ
    ード部と接続せしめてプリント基板に装着せしめ
    るアウターリードボンデイング装置のボンデイン
    グツール研磨装置において、 プリント基板を供給するローダに、プリント基
    板の所定数ごとにプリント基板と同じ外形寸法を
    有する研磨板を挿入したマガジンを装着し、該研
    磨板がボンデイング作業位置にまで移送されたと
    きに該研磨板に対してボンデイングツールが研磨
    作業を行うようにしたことを特徴とする、ボンデ
    イングツール研磨装置。
JP60004123A 1985-01-16 1985-01-16 ボンデイングツ−ル研磨装置 Granted JPS61163650A (ja)

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JP5192786B2 (ja) * 2007-11-21 2013-05-08 芝浦メカトロニクス株式会社 電子部品の供給装置、実装装置、供給方法及び実装方法

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