JPH04184410A - 共焦点走査型顕微鏡 - Google Patents

共焦点走査型顕微鏡

Info

Publication number
JPH04184410A
JPH04184410A JP31474690A JP31474690A JPH04184410A JP H04184410 A JPH04184410 A JP H04184410A JP 31474690 A JP31474690 A JP 31474690A JP 31474690 A JP31474690 A JP 31474690A JP H04184410 A JPH04184410 A JP H04184410A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
sample
signal
light beam
photodetector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP31474690A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshihito Kimura
俊仁 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP31474690A priority Critical patent/JPH04184410A/ja
Priority to US07/794,887 priority patent/US5168157A/en
Publication of JPH04184410A publication Critical patent/JPH04184410A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は共焦点走査型顕微鏡に関し、特に詳細には、電
気的に暗視野測光法を実現するようにした共焦点走査型
顕微鏡に関するものである。
(従来の技術) 従来より、照明光を微小な光点に収束させ、この光点を
試料上において2次元的に走査させ、その際該試料を透
過した光あるいはそこで反射した光、さらには試料から
発せられた蛍光を光検出器で検出して、試料の拡大像を
担持する電気信号を得るようにした光学式走査型顕微鏡
が公知となっている。
なかでも、照明光を光源から発生させた上で試料上にお
いて光点に結像させる一方、この試料からの光束を再度
点像に結像させてそれを光検出器で検出するように構成
した共焦点走査型顕微鏡は、試料面上にピンホールを配
する必要が無く、実現容易となっている。なお特開昭6
2−217218号公報には、この共焦点走査型顕微鏡
の一例が示されている。
また、このような共焦点走査型顕微鏡において、解像度
を超えた微小物体像を識別可能とするために、暗視野測
光方式の適用も考えられている。
(発明が解決しようとする課題) 従来の暗視野測光方式の共焦点走査型顕微鏡においては
、光学系にビームトラップを取り付けて、光学的に暗視
野測光方式を実現していた。しかし、光学系にビームト
ラップを取り付けたり、またそこから取り外す操作は、
大変面倒なものである。
また本出願人による特願平1−248948号明細書に
示されるように、送光光学系と受光光学系とを共通の移
動台に搭載し、この移動台を試料台に対して移動させる
ことにより、照明光光点の走査を行なうことが考えられ
るが、そのような場合に上記ビームトラップを取り付け
ると、移動台が重くなって高速走査の上で不利になる。
そこで本発明は、ビームトラップを必要とせずに、暗視
野測光方式を実現できる共焦点走査型顕微鏡を提供する
ことを目的とするものである。
(課題を解決するための手段) 本発明による共焦点走査型顕微鏡は、光ヘテロダイン法
により暗視野測光方式を実現したものであり、 試料が載置される試料台と、 照明光を発する光源と、 この照明光を試料上において微小な光点として結像させ
る送光光学系と、 試料を透過した光を集光して点像に結像させる受光光学
系と、 上記光点を試料上において2次元的に走査させる走査手
段と、 試料に入射する前の照明光の一部を参照光として分岐さ
せる分岐手段と、 試料を透過した透過光と上記参照光とを合波する合波手
段と、 上記分岐手段を経た照明光を第1の変調周波数で変調す
る第1の変調手段と、 上記参照光を上記第1の変調周波数とは異なる第2の変
調周波数で変調する第2の変調手段と、上記合波手段で
合波された光を検出する光検出器と、 この光検出器の出力信号から、変調された上記照明光と
参照光とによるビート成分を除去した信号を得るフィル
ター手段とから構成されたことを特徴とするものである
(作用および発明の効果) 光検出器の出力信号に対して、上述のビート成分を除去
するフィルタリング処理を施すと、この処理後の信号は
暗視野像を担持するものとなる。
以下、この点について詳しく説明する。
照明光、参照光の強度をそれぞれA1、A2、そして変
調周波数をそれぞれfl (第1の変調周波数)、fz
(第2の変調周波数)とすると、各光は以下のように変
調される。
As −A1 cos(ν1 t+φl)・・・・・・
(1)AZ−A2cos (ν2 t+φ2)・・・・
・・(2)ただしAll!:A2は振幅、ν1、ν2は
角周波数でシ1−2πf工、シ2−2πf2、tは時間
、φlとφ2は初期位相である。
一方透過光には、試料を通過した0次光である照明光と
回折光(散乱光)とが合波されている。
その回折光の強度A3は、以下の式で表わされる。
A3 mA3  cos (1/3  t+φ3)ただ
しに3は振幅、ν3は角周波数、φ3は初期位相である
以上のように規定すると、前記光検出器の出力信号lは
、 1oC(A1+A2+A3)2 ・・・・・・(3)と
表わされる。
ここで、シ1−シ2!Δν φ1−φ2″″Δφ12 φ2−φ3″″Δφ23 φ3−φエ −Δφ3、   と置くと、回折光の変調
周波数は照明光のそれと変わらないからシエーシ3であ
り、よって(3)式の右辺は下式で表わされる。
(A、 +A2 +A3)2 −AI A2  cos (Δνを十Δφ12)+AZ
 A3  cos (−Δνt+Δφ23)+A3  
A1  cos (Δφ3□)−A2eO8Δνt  
(A + cosΔφ12+A3  CO5Δφ23)
+A25inΔνt(A3sinΔφ23  AI  
SinΔφ12)+A3  AHcos (Δφ3□)
   ・・・・・・(4)−ksin(Δν t+Φ) +A3  AHcos (Δφ3.)    −−・−
(5)なお、この(5)式の第1項は、(4)式の第1
項と第2項の合成である。
以上のようにして光検出器からは、ビート周波数Δf−
Δν/2π−fl−f2で変調された成分((5)式の
第1項)と、それ以外の成分からなる信号が得られるこ
とになる。上記周波数Δfで変調されていない成分は、
試料での回折光のみによるものであるから、前述のフィ
ルタリング処理を行なってこの成分のみからなる信号を
得ると、その信号は暗視野像を担持するものとなる。そ
こで、この信号に基づいて画像を再生すれば、試料の暗
視野像が得られる。
なお、光検出器の出力を上記のフィルタリング処理にか
けなければ、それは明視野像を担持する信号となる。そ
こでこの信号に基づいて画像を再生すれば、試料の明視
野像が得られる。このように本発明装置によれば、暗視
野像もまた明視野像も随意に得ることができる。
しかも、上記光検出器の出力を分岐して一方は上記のフ
ィルタリング処理にかけ、他方は上記のフィルタリング
処理にかけないようにすれば、同一試料面についての明
視野像と暗視野像とを得ることができる。そこで、これ
ら両像を合成すれば、試料の全体的な明暗状態も示す一
方、試料の輪郭部分は暗視野像で示すような画像を得る
こともできる。
以上述べたように本発明の共焦点走査型顕微鏡において
は、電気的処理によって暗視野測光方式を実現している
から、光学系にビームトラップを用いる必要がなく、よ
って操作が簡単なものとなる。また特に、前述したよう
に送光光学系、受光光学系を移動台に搭載し、この移動
台を移動させて照明光走査を行なう場合は、ビームトラ
ップが不要であることにより移動台が軽量化され、走査
速度を高める上で有利となる。
(実 施 例) 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。
第1図は、本発明の第1実施例による透過型の共焦点走
査型顕微鏡を示すものである。図示されるように単色光
レーザ10からは、照明光としてのレーザビーム11が
射出される。直線偏光したこの照明光11の一部は、後
述するハーフミラ−74を透過した後、第1AOM(音
響光学光変調器)8を通過し、ビームエキスパンダ12
でビーム径が拡大された後、偏波面調整用のλ/2板9
に通され、収束レンズ13で集光されて偏波面保存光フ
ァイバー14内に入射せしめられる。
この光ファイバー14の一端は移動台15に固定されて
おり、該光フアイバー14内を伝搬した照明光11はこ
の一端から出射する。この際光ファイバー14の一端は
、点光源状に照明光11を発することになる。移動台1
5には、コリメーターレンズ16および対物レンズ(コ
ンデンサーレンズ)17からなる送光光学系18か保持
されている。そしてこれら両レンズ1B、+7の間には
、λ/4板1か配されている。
また移動台15には、対物レンズ19および集光レンズ
20からなる受光光学系21か保持されている。
これら両レンズ19.20の間には、λ/4板24か配
されている。上記2つの光学系18.21は、互いに光
軸を一致させて固定されている。また両光学系18.2
1の間には、移動台15と別体とされた試料台22か配
されている。
上記の照明光11はコリメーターレンズ16によって平
行光とされ、λ/4板1によって円偏光とされてから対
物レンズ17によって集光され、試料台22に載置され
た試料23上で(表面あるいは内部で)微小な光点Pに
収束する。試料23を透過した透過光11′ の光束は
、受光光学系21の対物レンズ19によって平行光とさ
れ、λ/4板24を通過して直線偏光とされ、次に集光
レンズ20によって集光されて、点像に結像する。この
結像位置において移動台15には偏波面保存光ファイバ
ー25の一端が固定されており、透過光11“は該一端
からこの光フアイバー25内に入射する。なお透過光1
1’ には、試料23を0次光として透過した照明光に
加えて、該試料23で回折した回折光か含まれている。
光フアイバー25内を伝搬した透過光11′ はその他
端から出射し、コリメーターレンズ26で平行光とされ
、偏波面調整用のλ/2板27を通過してハーフミラ−
28に入射する。透過光11゛ はここで後述する参照
光ILRと合波される。その合波された光IIcは集光
レンズ29て集光され、例えば光電子増倍管等の光検出
器30によって検出される。この光検出器30からは、
合波光11Cの光量を示す信号Sが出力される。
なお本実施例では、照明光11をλ/4板1により円偏
光として試料23に入射させ、透過光11°をλ/4板
24で直線偏光に戻し、所定の向きに直線偏光した透過
光11’ のみを検出するようにしているから、試料2
3周りの不要光を光検出器30が検出してしまうことが
防止される。
次に、照明光光点Pの2次元走査について説明する。上
記移動台I5と架台32との間には、積層ピエゾ素子3
3が介装されている。この積層ピエゾ素子33はピエゾ
素子駆動回路34から駆動電力を受けて駆動し、移動台
15を矢印X方向に高速で往復移動させる。この往復移
動の振動数は、例えば10kHzとされる。その場合、
主走査幅を100μmとすると、主走査速度は、 10XIO3XIO(l XX10−6X2−2/sと
なる。なお、光ファイバー14.25は可撓性を有する
ので、それぞれ照明光11、透過光11“を伝搬させつ
つ、移動台15の振動を許容する。
一方試料台22と架台32との間には、積層ピエゾ素子
47.49が介装されている。積層ピエゾ素子47はピ
エゾ素子駆動回路48から駆動電力を受けて駆動し、試
料台22をY方向(図の紙面に垂直な方向)に高速で往
復移動させる。それにより試料台22は移動台15に対
して相対移動され、前記光点Pか試料23上を、主走査
方向Xと直交するY方向に副走査する。なおこの副走査
の所要時間は例えば1X20秒とされ、その場合、副走
査幅を100μmとすると、副走査速度は、 20X 100 X 10’ −0,002m / s
菖2mm/s と、前記主走査速度よりも十分に低くなる。この程度の
副走査速度であれば、試料台22を移動させても、試料
23が飛んでしまうことを防止できる。
以上のようにして光点Pか試料23上を2次元的に走査
することにより、前述の光検出器30からは、試料23
の2次元拡大像を担持する連続的な信号Sが得られる。
また、上端に上記副走査用積層ピエゾ素子47を固定し
、下端が粗動ステージ51を介して架台32に取り付け
られた積層ピエゾ素子49は、ピエゾ素子駆動回路50
から駆動電力を受けて駆動し、試料台22を保持した積
層ピエゾ素子47を、主、副走査方向X、Yと直交する
矢印Z方向、(光学系18.21の光軸方向)に移動さ
せる。こうして試料台22をZ方向に所定距離移動させ
る毎に照明光光点Pの2次元走査を行なえば、合焦点面
の情報のみが光検出器30によって検出される。そこで
、試料23をZ方向に移動させた範囲内で、3次元画像
を担う信号Sを得ることが可能となる。
なおピエゾ素子駆動回路34.48および50には、制
御回路35から同期信号が入力され、それにより、光点
Pの主、副走査および試料台22の光軸方向移動の同期
が取られる。
また上記の粗動ステージ51は手動で、あるいは駆動手
段を用いてY方向に移動可能であり、こうして試料台2
2を動かすことにより、試料23の交換を容易に行なう
ことができる。
先に述べたハーフミラ−74においては、照明光11の
一部が反射し、この光は参照光11Rとしてミラー75
に入射する。該ミラー75て反射した参照光11Rは、
第2AOM7Bを通過した後、ビームエキスパンダ77
でビーム径が拡大されて/%−フミラー28に入射し、
そこで前述のように透過光11′ と合波される。
ここで、前記第1AOM8は駆動回路80によって駆動
されて、ハーフミラ−74を透過した照明光11を変調
する。また第2 A OM2Oは駆動回路81によって
駆動されて、参照光11Rを変調する。この照明光11
の変調は、前述の(1)式で規定されるようになされる
。一方弁照光11Rの変調は、前述の(2)式で規定さ
れるようになされる。本例においては、照明光11の変
調周波数f 1 = 80M Hz、参照光11Rの変
調周波数f2−78〜IHzである。
このように照明光11、参照光LIRを変調すると、光
検出器30の出力信号Sには、それら両光によるビート
成分すなわち周波数Δf=f、−f2で変調された成分
と、それ以外の成分とか含まれるようになる。この信号
Sはローパスフィルター70に通されて信号S゛ とさ
れ、次にA/D変換器71により、サンプリングクロッ
クCLKに基づいてサンプリング周波数fsでサンプリ
ングされ、画素分割されたデジタル画像信号Sdに変換
される。このデジタル画像信号Sdは一旦画像メモリ7
2に記憶され、その後、−例としてCRT表示装置73
に入力されて、それが担持する画像の再生に供せられる
ここで変調周波数f1、f2は、Δfの値がローパスフ
ィルター70のカットオフ周波数fcよりも高周波とな
るように設定され、そしてサンプリング周波数fsは上
記カットオフ周波数fcよりも低周波となるように設定
されている。すなわち、fs<fc<Δf てあり、本例では、Δf−2MHzS fc =1.5
MHz、fs−IMHzとなっている。信号Sを上述の
ようなローパスフィルター70に通すと、そこからの出
力信号S”は、周波数Δfで変調された上述のビート成
分が除去されたものとなる。このような信号S′は先に
説明した通り、試料23の暗視野像を担持するものとな
るから、CRT表示装置73においては、この暗視野像
が表示されるようになる。
なお上記光検出器30の出力信号Sを、上述のようなロ
ーパスフィルター70に通さないでA/D変換器71に
入力することもできる。その場合、本例のようにΔfの
公約数となるサンプリング周波数fsでサンプリングす
れば、常にビート成分の同位相の情報をサンプリングす
ることになる。このように画素分割されたデンタル画像
信号Sdに基づいてCRT表示装置73に表示される画
像は、前述したように、試料23の明視野像となる。
次に、第2図を参照して本発明の第2実施例について説
明する。なおこの第2図において、前記第1図中の要素
と同等の要素には同番号を付し、それらについての重複
した説明は省略する。
この第2実施例においては第1AOM8が、移動台15
に搭載された送光光学系18内に配されている。そして
、この第1AOM8に入射する前の照明光11の一部は
ハーフミラ−2で反射し、モニタ光11Mとして集光レ
ンズ3に入射して集光され、光検出器5によって検出さ
れる。この光検出器5は例えばフォトダイオード等の小
型軽量のものが用いられ、移動台15に固定されている
光検出器5が検出し、た光量を示す光量信号S1は、光
量制御回路83に入力される。この光量制御回路83は
、所定光量を示す基準信号と上記信号S1とを比較し、
それらの偏差を解消する方向にAOM8の駆動を制御す
る駆動制御信号S2を出力する。この駆動制御信号S2
はAOM駆動回路80に入力される。該駆動回路80は
、第1図の装置におけるものと同様に、照明光11を第
1の変調周波数f1で変調するように第1AOM8を駆
動するが、それに加えて、入力された上記信号S2に基
づいてAOM8の駆動を制御する。すなわち、光検出器
5の検出光量が上記所定光量を上回る場合は0次光の光
量を低下させるように、反対に検出光量が上記所定光量
を下回る場合は、0次光の光量を増大させるように、A
OM8の駆動が制御される。
以上のようにすることにより、光ファイバー14の曲が
りや、ファイバーカップリング部での振動や、温度変化
等に起因する光軸ずれ等による光量変動を補正して、変
調前の照明光IIの光量を一定に保つことができる。し
たがって、上記のような光量変動の影響を受けないで、
濃度ムラの無い高画質の顕微鏡像を撮像可能となる。
また本実施例では、試料23を透過した透過光11′の
結像位置において移動台15にピンホール板84が固定
されており、このピンホール板84を通過した透過光1
1°が参照光11Rと合波されて、光検出器30によっ
て検出される。この場合、移動台15は照明光光点Pの
主走査のために光量8器30に対して相対移動するので
、光検出器30としてはある程度広い受光面を有するも
のか用いられる。なお、この光検出器30は、受光光学
系21とともに移動台15に固定されても構わない。
上記のように透過光11″をピンホール板84を介して
検出することにより、そのハローや、試料23で散乱し
た光等の不要光をカットすることができる。
また本実施例においては、光検出器3oの出力信号Sが
、まずA/D変換器71によりデジタル画像信号Sdに
変換され、このデジタル画像信号Sdが画像メモリ72
に記憶される。そして、この画像メモリ72から読み出
されたデジタル画像信号Sdがデジタルフィルター79
に通されて、信号Sd’とされ、CR7表示装置73に
おいてはこのデジタル画像信号Sd’ に基づいて画像
が表示される。
上記デジタルフィルター79は、デジタル画像信号Sd
に対して、先に説明した(5)式の第1項を除去するフ
ィルタリング処理を施す。こうすることにより本実施例
においても、このフィルタリング処理後のデジタル画像
信号Sd’ を用いて、試料23の暗視野像をCR7表
示装置73に表示させることが可能となる。またこの場
合も、上記のフィルタリング処理を行なわず、デジタル
画像信号SdをそのままCR7表示装置73に入力すれ
ば、試料23の明視野像を表示させることができる。
なお、試料台22を移動させることによって光点Pの副
走査を行なう代わりに、移動台15を移動させることに
よって光点Pの副走査を行なうようにしてもよい。また
移動台15や試料台22の移動は、積層ピエゾ素子を利
用して行なう他、例えば音叉、ボイスコイルあるいは超
音波による固体の固有振動を利用した走査方式等を用い
て行なうことも可能である。
また、以上、透過型のモノクロ共焦点走査型顕微鏡に適
用された実施例について説明したが、本発明は、カラー
画像を撮像する共焦点走査型顕微鏡にも適用可能である
【図面の簡単な説明】
第1図と第2図はそれぞれ、本発明の第1実施例、第2
実施例による共焦点走査型顕微鏡を示す概略側面図であ
る。 1.24・・・λ/4板  2.28.74・・・ハー
フミラ−3,20・・・集光レンズ 5.30・・・光
検出器8・・・第1AOM    9.27・・・λ/
2板10・・・単色光レーザ  11・・・照明光11
′ ・・・透過光    11C・・・合波光11M・
・・モニタ光12.77・・・ビームエキスパンダ13
・・・収束レンズ 14.25・・・偏波面保存光ファイバー15・・・移
動台     16・・・コリメーターレンズ17.1
9・・・対物レンズ 18・・・送光光学系21・・・
受光光学系   22・・・試料台23・・・試料  
    32・・・架台33.47.49・・・積層ピ
エゾ素子34.48.50・・・ピエゾ素子駆動回路3
5・・・制御回路    70・・・ローパスフィルタ
ー71・・・A/D変換器  72・・・画像メモリ7
3・・・CR7表示装置 75.78・・・ミラー76
・・・第2AOM    79・・・デジタルフィルタ
ー80.81・・・AOM駆動回路 83・・・光量制御回路  84・・・ピンホール板第
2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 試料が載置される試料台と、 照明光を発する光源と、 この照明光を試料上において微小な光点として結像させ
    る送光光学系と、 前記試料を透過した光を集光して点像に結像させる受光
    光学系と、 前記光点を試料上において2次元的に走査させる走査手
    段と、 前記試料に入射する前の照明光の一部を参照光として分
    岐させる分岐手段と、 試料を透過した透過光と前記参照光とを合波する合波手
    段と、 前記分岐手段を経た照明光を第1の変調周波数で変調す
    る第1の変調手段と、 前記参照光を前記第1の変調周波数とは異なる第2の変
    調周波数で変調する第2の変調手段と、前記合波手段で
    合波された光を検出する光検出器と、 この光検出器の出力信号から、変調された前記照明光と
    参照光とによるビート成分を除去した信号を得るフィル
    ター手段とからなる共焦点走査型顕微鏡。
JP31474690A 1990-11-20 1990-11-20 共焦点走査型顕微鏡 Pending JPH04184410A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31474690A JPH04184410A (ja) 1990-11-20 1990-11-20 共焦点走査型顕微鏡
US07/794,887 US5168157A (en) 1990-11-20 1991-11-20 Scanning microscope with means for detecting a first and second polarized light beams along first and second optical receiving paths

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31474690A JPH04184410A (ja) 1990-11-20 1990-11-20 共焦点走査型顕微鏡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04184410A true JPH04184410A (ja) 1992-07-01

Family

ID=18057091

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31474690A Pending JPH04184410A (ja) 1990-11-20 1990-11-20 共焦点走査型顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04184410A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006515075A (ja) * 2002-12-20 2006-05-18 マウナ ケア テクノロジーズ Vcsel技術に基づく並列共焦点レーザ顕微鏡装置
JP2007501447A (ja) * 2003-05-29 2007-01-25 ミシガン大学リージェンツ ダブルクラッドファイバー走査型顕微鏡

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0221203A (ja) * 1988-07-09 1990-01-24 Brother Ind Ltd 位相差検出装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0221203A (ja) * 1988-07-09 1990-01-24 Brother Ind Ltd 位相差検出装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006515075A (ja) * 2002-12-20 2006-05-18 マウナ ケア テクノロジーズ Vcsel技術に基づく並列共焦点レーザ顕微鏡装置
JP2007501447A (ja) * 2003-05-29 2007-01-25 ミシガン大学リージェンツ ダブルクラッドファイバー走査型顕微鏡

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5168157A (en) Scanning microscope with means for detecting a first and second polarized light beams along first and second optical receiving paths
JP3052150B2 (ja) 共焦点顕微鏡
US7385709B2 (en) Microscopy imaging apparatus and method for generating an image
US4963724A (en) Apparatus for producing an optical image contrast
JPH0527177A (ja) 走査型顕微鏡
JPH10206740A (ja) 共焦点装置
US6248995B1 (en) Confocal microscopic equipment
JPH01245215A (ja) 拡張視野の走査共焦光学検鏡的及び深度別的試験の方法とそのための装置
JPH0618785A (ja) 共焦点型レーザ走査透過顕微鏡
TWI452335B (zh) 應用共聚焦顯微鏡結構的被測物圖像獲取方法及系統
JPH04184410A (ja) 共焦点走査型顕微鏡
JPH05224127A (ja) 共焦点走査型微分干渉顕微鏡
JPH04409A (ja) 共焦点走査型顕微鏡
US4048492A (en) Method and apparatus for automatic focusing an optical system with a scanning grating
GB2253762B (en) Phase measuring scanning optical microscope
JPS625791A (ja) カラ−撮像装置
JP3082208B2 (ja) 光音響信号検出方法および装置並びに半導体素子内部欠陥検出方法
JP3113364B2 (ja) 走査型光学検査装置
JP2613130B2 (ja) 共焦点走査型位相差顕微鏡
JPH05127089A (ja) 走査型顕微鏡
JPH0545588A (ja) 走査型顕微鏡
JPH04254815A (ja) 走査型顕微鏡
JPH04157413A (ja) 走査型顕微鏡
JPH05273130A (ja) 光エコー顕微鏡
JP2024071952A (ja) 画像システム