JPH04178649A - 感光体特性診断方法及び診断装置 - Google Patents
感光体特性診断方法及び診断装置Info
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- JPH04178649A JPH04178649A JP2306198A JP30619890A JPH04178649A JP H04178649 A JPH04178649 A JP H04178649A JP 2306198 A JP2306198 A JP 2306198A JP 30619890 A JP30619890 A JP 30619890A JP H04178649 A JPH04178649 A JP H04178649A
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- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 46
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims abstract description 29
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 24
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 claims description 39
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 15
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 abstract description 12
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- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 2
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Discharging, Photosensitive Material Shape In Electrophotography (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はレーザプリンタや電子写真複写機あるいはファ
クシミリ等の電子写真装置に使用する感光体の特性の劣
化（不良）を判定する特性診断方法及び診断装置に関す
る。
クシミリ等の電子写真装置に使用する感光体の特性の劣
化（不良）を判定する特性診断方法及び診断装置に関す
る。
電子写真装置に使用する感光体の帯電特性や感光特性等
の特性診断には、該感光体の表面の除電及び帯電を繰返
しながら表面電位計で該表面電位を測定し、その値に基
づいて該感光体の特性劣化の程度を判定する特性診断方
法や、感光体に直流電圧を印加したときに詠感光体に流
れる電流から該感光体の体積抵抗値を求めてその特性劣
化の程度を判定する特性診断方法が提案されている。
の特性診断には、該感光体の表面の除電及び帯電を繰返
しながら表面電位計で該表面電位を測定し、その値に基
づいて該感光体の特性劣化の程度を判定する特性診断方
法や、感光体に直流電圧を印加したときに詠感光体に流
れる電流から該感光体の体積抵抗値を求めてその特性劣
化の程度を判定する特性診断方法が提案されている。
このような特性診断方法及び装置としては、株式会社コ
ロナ社が昭和６３年６月１５日に発行した「電子写真技
術の基礎と応用」の第６５７頁〜第６６２頁及び特開昭
５９−２１８４５６号公報等に記載されたものがある。
ロナ社が昭和６３年６月１５日に発行した「電子写真技
術の基礎と応用」の第６５７頁〜第６６２頁及び特開昭
５９−２１８４５６号公報等に記載されたものがある。
しかしながら感光体表面の表面電位を副室してその特性
劣化の程度を判定する特性診断方法では、特性が劣化し
た感光体であっても該感光体を暗所に長い間（数時間）
放置した後に表面電位測定作業を行うと正常な感光体と
同様な表面電位状態となることから、該測定結果から該
感光体の正しい特性診断を行うことができない。
劣化の程度を判定する特性診断方法では、特性が劣化し
た感光体であっても該感光体を暗所に長い間（数時間）
放置した後に表面電位測定作業を行うと正常な感光体と
同様な表面電位状態となることから、該測定結果から該
感光体の正しい特性診断を行うことができない。
また、感光体に直流電圧を印加したときに該感光体に流
れる電流から体積抵抗値を求めてその値から該感光体の
特性判定を行う特性診断方法では、正確な体積抵抗値を
求めることが困難であるので、該体積抵抗値から正確な
特性診断を行うことが困難である。
れる電流から体積抵抗値を求めてその値から該感光体の
特性判定を行う特性診断方法では、正確な体積抵抗値を
求めることが困難であるので、該体積抵抗値から正確な
特性診断を行うことが困難である。
従って本発明の目的は、感光体の特性を正確に判定する
ことができる感光体特性診断方法及び診断装置を提供す
ることにある。
ことができる感光体特性診断方法及び診断装置を提供す
ることにある。
本発明の特性診断方法は、導電材基体表面に感光材層を
形成した感光体の特性診断方法において。
形成した感光体の特性診断方法において。
前記感光体を暗所内に保持した状態で前記導電材基体と
感光材層間に交流電圧を与えてそこに流れる電流値から
感光材層の体積抵抗値を求め、該体積抵抗値に基づいて
感光体の劣化の程度を判定し、あるいは、前記感光体を
暗所内に保持した状態で前記導電材基体と感光材層間に
交流電圧を与えて感光材層の損失係数を測定し、該損失
係数に基づいて感光体の劣化の程度を判定することを特
徴とする 特性診断方法を実施する診断装置は、導電材基体表面に
感光材層を形成した感光体の特性診断装置において、前
記感光体を暗所内に保持した状態で前記導電材基体と感
光材層間に交流電圧を印加する交流電圧印加手段と、該
交流電圧印加により該導電材基体と感光材層間に流れる
電流を計測して感光材層の体積抵抗値を求める手段と、
該体積抵抗値を基準値と比較して感光体の劣化の程度を
判定する判定手段とを設け、あるいは、前記感光体を暗
所内に保持した状態で前記導電材基体と感光材層間に交
流電圧を印加する交流電圧印加手段と、該交流電圧印加
により該導電材基体と感光材層間に流れる電流を計測し
て感光材層の損失係数を求める手段と、該損失係数を基
準値と比較して感光体の劣化の程度を判定する判定手段
とを設けたことを特徴とする。
感光材層間に交流電圧を与えてそこに流れる電流値から
感光材層の体積抵抗値を求め、該体積抵抗値に基づいて
感光体の劣化の程度を判定し、あるいは、前記感光体を
暗所内に保持した状態で前記導電材基体と感光材層間に
交流電圧を与えて感光材層の損失係数を測定し、該損失
係数に基づいて感光体の劣化の程度を判定することを特
徴とする 特性診断方法を実施する診断装置は、導電材基体表面に
感光材層を形成した感光体の特性診断装置において、前
記感光体を暗所内に保持した状態で前記導電材基体と感
光材層間に交流電圧を印加する交流電圧印加手段と、該
交流電圧印加により該導電材基体と感光材層間に流れる
電流を計測して感光材層の体積抵抗値を求める手段と、
該体積抵抗値を基準値と比較して感光体の劣化の程度を
判定する判定手段とを設け、あるいは、前記感光体を暗
所内に保持した状態で前記導電材基体と感光材層間に交
流電圧を印加する交流電圧印加手段と、該交流電圧印加
により該導電材基体と感光材層間に流れる電流を計測し
て感光材層の損失係数を求める手段と、該損失係数を基
準値と比較して感光体の劣化の程度を判定する判定手段
とを設けたことを特徴とする。
〔作用〕
交流電圧を印加したときに流れる電流値を測定して感光
材層の体積抵抗値や損失係数を求めると、感光体の特性
劣化の程度に正確に対応した値を得ることができるので
、その値から該感光体の特性劣化を正確に判定すること
ができる。
材層の体積抵抗値や損失係数を求めると、感光体の特性
劣化の程度に正確に対応した値を得ることができるので
、その値から該感光体の特性劣化を正確に判定すること
ができる。
以下２本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第１図は電子写真装置の感光ドラムの特性診断方法を示
している。感光トラム１は導電材素管１ａの外周表面に
感光材層１ｂを形成したもので、特性診断のために暗所
に置かれる。ＬＲＣメータ２の測定電極２ａ、２ｂは暗
所に置かれた前記感光ドラム１の導電材素管１ａと感光
材層１ｂの表面に取付けられ、感光材層ｌｂ間の体積抵
抗値Ｒと損失係数りを求めるための測定を行う。
している。感光トラム１は導電材素管１ａの外周表面に
感光材層１ｂを形成したもので、特性診断のために暗所
に置かれる。ＬＲＣメータ２の測定電極２ａ、２ｂは暗
所に置かれた前記感光ドラム１の導電材素管１ａと感光
材層１ｂの表面に取付けられ、感光材層ｌｂ間の体積抵
抗値Ｒと損失係数りを求めるための測定を行う。
感光材層１ｂの体積抵抗値Ｒは、測定電極２ａ。
２ｂ間に５Ｖ、３００１（ｚ 〜１０００Ｈｚの交流電
圧を与えてそこに流れる電流値から求めて出力（表示）
される。
圧を与えてそこに流れる電流値から求めて出力（表示）
される。
そして、損失係数りを求めるための体積抵抗値Ｒと静電
容量値Ｃは、測定電極２ａ、２ｂに１０ｋｌ（ｚ〜１０
０ｋＨｚの交流電圧を与えてそこに流れる電流値から求
めて出力され、損失係数りは該測定結果から Ｄ （ｔａｎδ）＝１／ｉ、＋ｃＲ ここで ω：角速度（＝２πｆ） ｆ：交流周波数 Ｃ：感光材層の静電容量値 Ｒ：感光材層の体積抵抗値 の演算処理により求められる。
容量値Ｃは、測定電極２ａ、２ｂに１０ｋｌ（ｚ〜１０
０ｋＨｚの交流電圧を与えてそこに流れる電流値から求
めて出力され、損失係数りは該測定結果から Ｄ （ｔａｎδ）＝１／ｉ、＋ｃＲ ここで ω：角速度（＝２πｆ） ｆ：交流周波数 Ｃ：感光材層の静電容量値 Ｒ：感光材層の体積抵抗値 の演算処理により求められる。
該感光ドラム１の特性劣化の判定は、このようにして測
定された体積抵抗値Ｒ及び／または損失係数りを判定基
準値と比較するごとにより行わ狙る。
定された体積抵抗値Ｒ及び／または損失係数りを判定基
準値と比較するごとにより行わ狙る。
第２図は特性劣化の判定を自動的に行う診断装置を示し
ている。
ている。
制御装置３は、ＬＲＣメータ２が測定のために測定電極
２ａ、２ｂに出力する交流電圧の周波数と電圧の制御信
号を発生し、ＬＲＣメータ２が測定した感光材層１ｂの
静電容量値Ｃ及び体積抵抗値Ｒに関するデータを取込み
、損失係数りを求める演算処理を実行する。コンパレー
タ４は制御装置３から出力される体積抵抗値Ｒ及び静電
容量値Ｃを正常な感光ドラムの体積抵抗値及び静電容量
値に相当する判定基準値と比較し、判定器５は該コンパ
レータ４からの比較結果出力から該感光ドラムの特性劣
化（良否）を判定して表示する。
２ａ、２ｂに出力する交流電圧の周波数と電圧の制御信
号を発生し、ＬＲＣメータ２が測定した感光材層１ｂの
静電容量値Ｃ及び体積抵抗値Ｒに関するデータを取込み
、損失係数りを求める演算処理を実行する。コンパレー
タ４は制御装置３から出力される体積抵抗値Ｒ及び静電
容量値Ｃを正常な感光ドラムの体積抵抗値及び静電容量
値に相当する判定基準値と比較し、判定器５は該コンパ
レータ４からの比較結果出力から該感光ドラムの特性劣
化（良否）を判定して表示する。
第３図及び第４図は、感光材として○ＰＣを使用した感
光ドラム１の感光材層の体積抵抗値及び損失係数が測定
のために印加する交流電圧の周波数によってどのように
変化するかを示している。
光ドラム１の感光材層の体積抵抗値及び損失係数が測定
のために印加する交流電圧の周波数によってどのように
変化するかを示している。
第３図の曲線Ａは正常な特性の感光ドラムの特性を示し
、曲線Ｂは蛍光灯の光に１０時間晒して特性を劣化させ
た後に暗所に５時間保管して特性を回復させた感光ドラ
ムの特性を示し、曲線Ｃはコロナ放電に１０時間晒して
特性を劣化させたままの感光ドラムの特性を示しており
、３００Ｈｚ〜１０００Ｈｚの交流電圧を使用して体積
抵抗値を測定することにより、感光ドラムの特性の劣化
の程度を明確に表す測定結果が得られることが分かるに
の例では、３００Ｈ２，５Ｖの交流電圧による測定で、
５０ＭΩ〜１３０ＭΩが正常範囲である。
、曲線Ｂは蛍光灯の光に１０時間晒して特性を劣化させ
た後に暗所に５時間保管して特性を回復させた感光ドラ
ムの特性を示し、曲線Ｃはコロナ放電に１０時間晒して
特性を劣化させたままの感光ドラムの特性を示しており
、３００Ｈｚ〜１０００Ｈｚの交流電圧を使用して体積
抵抗値を測定することにより、感光ドラムの特性の劣化
の程度を明確に表す測定結果が得られることが分かるに
の例では、３００Ｈ２，５Ｖの交流電圧による測定で、
５０ＭΩ〜１３０ＭΩが正常範囲である。
因みに１表面型位測定方法によると、蛍光灯の光に１０
時間晒して特性を劣化させた後に暗所に５時間保管して
特性を回復させた感光ドラムの表面電位は正常な特性の
感光ドラムの表面電位と区別することができない。
時間晒して特性を劣化させた後に暗所に５時間保管して
特性を回復させた感光ドラムの表面電位は正常な特性の
感光ドラムの表面電位と区別することができない。
第４図の曲線Ａは正常な特性の感光ドラムの特性を示し
、曲ｇＢは蛍光灯の光に１０時間晒して特性を劣化させ
た後に暗所に５時間保管して特性を回復させた感光ドラ
ムの特性を示し、曲線Ｃはコロナ放電に１０時間晒して
特性を劣化させたままの感光ドラムの特性を示しており
、１０ｋＨｚ〜１、ＯＯｋｍの交流電圧を使用した測定
結果から損失係数を求めることにより、感光ドラムの特
性の劣化の程度を明確に表す測定結果を得ることがでる
ことが分かる。この例では、１００に、Ｈｚ、５Ｖの交
流電圧による測定で、０．００９〜Ｏ、Ｏ１，５が正常
範囲である。
、曲ｇＢは蛍光灯の光に１０時間晒して特性を劣化させ
た後に暗所に５時間保管して特性を回復させた感光ドラ
ムの特性を示し、曲線Ｃはコロナ放電に１０時間晒して
特性を劣化させたままの感光ドラムの特性を示しており
、１０ｋＨｚ〜１、ＯＯｋｍの交流電圧を使用した測定
結果から損失係数を求めることにより、感光ドラムの特
性の劣化の程度を明確に表す測定結果を得ることがでる
ことが分かる。この例では、１００に、Ｈｚ、５Ｖの交
流電圧による測定で、０．００９〜Ｏ、Ｏ１，５が正常
範囲である。
第５図は、感光ドラム１を使用する電子写真装置内に該
診断装置を組込むことにより該感光ドラム１の交換目安
を表示することができるようにした診断装置の電気回路
図である。
診断装置を組込むことにより該感光ドラム１の交換目安
を表示することができるようにした診断装置の電気回路
図である。
該電子写真装置の感光ドラム１は装置本体から絶縁した
状態に設置される。可変周波数の交流電圧発生回路６か
ら出力される交流電圧は、第１のリレー７を介して前記
感光ドラム１の導電材基体に与えられ、ｈ感光ドラム］
の感光材層表面は第２のリレー８とカレントトランス９
を介して接地される。マイクロコンピュータを中心にし
て構成された制御回路１０は、前記交流電圧発生回路６
が発生する交流電圧の周波数と電圧及び前記第１及び第
２のリレー７．８のオン・オフを制御する。
状態に設置される。可変周波数の交流電圧発生回路６か
ら出力される交流電圧は、第１のリレー７を介して前記
感光ドラム１の導電材基体に与えられ、ｈ感光ドラム］
の感光材層表面は第２のリレー８とカレントトランス９
を介して接地される。マイクロコンピュータを中心にし
て構成された制御回路１０は、前記交流電圧発生回路６
が発生する交流電圧の周波数と電圧及び前記第１及び第
２のリレー７．８のオン・オフを制御する。
第１及び第２のリレー７．８は、印字モードでオフ状態
に制御され、劣化診断モードでオン状態に制御される。
に制御され、劣化診断モードでオン状態に制御される。
交流電圧発生回路６が発生する交流電圧の周波数は、感
光材層の体積抵抗値を求めるための測定時には３００七
〜１０００Ｈｚの範囲に制御され、感光材層の損失係数
を求めるための測定時には１０ｋＨｚ〜１００ｋｌ（ｚ
の範囲に制御される。整流回路］１は前記カレントトラ
ンス９からの出力電圧を整流し、第１の平滑回路１２は
該整流回路１１から出力される整流出力を平滑してイン
ピーダンス信号として出力する。すなわち、カレントト
ランス９の出力電圧の大きさは感光材層に流れる電流に
正比例するから、該出力電圧を整流・平滑した出力信号
の大きさは感光材層のインピーダンスに反比例する。乗
算回路］３は前記交流電圧発生回路６からの交流電圧と
カレントトランス９からの出力電圧を乗算し、第２の平
滑回路］４は該乗算回路１３からの出力電圧を平滑して
体積抵抗信号として出力する。すなわち、カレントトラ
ンス９の出力電圧と交流電圧発生回路６の出力電圧を乗
算することにより、両型圧の同相成分（感光材層の体積
抵抗成分）が得られる。
光材層の体積抵抗値を求めるための測定時には３００七
〜１０００Ｈｚの範囲に制御され、感光材層の損失係数
を求めるための測定時には１０ｋＨｚ〜１００ｋｌ（ｚ
の範囲に制御される。整流回路］１は前記カレントトラ
ンス９からの出力電圧を整流し、第１の平滑回路１２は
該整流回路１１から出力される整流出力を平滑してイン
ピーダンス信号として出力する。すなわち、カレントト
ランス９の出力電圧の大きさは感光材層に流れる電流に
正比例するから、該出力電圧を整流・平滑した出力信号
の大きさは感光材層のインピーダンスに反比例する。乗
算回路］３は前記交流電圧発生回路６からの交流電圧と
カレントトランス９からの出力電圧を乗算し、第２の平
滑回路］４は該乗算回路１３からの出力電圧を平滑して
体積抵抗信号として出力する。すなわち、カレントトラ
ンス９の出力電圧と交流電圧発生回路６の出力電圧を乗
算することにより、両型圧の同相成分（感光材層の体積
抵抗成分）が得られる。
Ａ／Ｄ変換回路１５は、入力端子１．５ ａに入力され
る前記インピーダンス信号及び入力信号端子１５ｂに入
力される前記体積抵抗信号を前記制御回路１０からの選
択指令に基づいて選択的にＡ／Ｄ変換する。
る前記インピーダンス信号及び入力信号端子１５ｂに入
力される前記体積抵抗信号を前記制御回路１０からの選
択指令に基づいて選択的にＡ／Ｄ変換する。
制御回路１０は、Ａ／Ｄ変換した前記インピーダンス信
号と体積抵抗信号を取込んで感光ドラム１の特性劣化状
態診断のためのデータ処理と該診断結果を表示器１６に
表示させる表示処理を実行する。
号と体積抵抗信号を取込んで感光ドラム１の特性劣化状
態診断のためのデータ処理と該診断結果を表示器１６に
表示させる表示処理を実行する。
第６図は前記制御回路１０が感光ドラム劣化状態診断モ
ードにあるときに実行するデータ処理フローである。
ードにあるときに実行するデータ処理フローである。
処理１．０１では交流電圧発生回路６を動作状態にする
と共に第１及び第２のリレー７．８をオン状態に制御す
る。
と共に第１及び第２のリレー７．８をオン状態に制御す
る。
処理１０２では入力端子１５ａに入力されるインピーダ
ンス信号をＡ／Ｄ変換するようにＡ／Ｄ変挽回路１５を
制御し、該Ａ／Ｄ変換回路１５からの出力信号Ｖａを取
込む。
ンス信号をＡ／Ｄ変換するようにＡ／Ｄ変挽回路１５を
制御し、該Ａ／Ｄ変換回路１５からの出力信号Ｖａを取
込む。
処理１０３では入力端子］−５ｂに入力される体積抵抗
信号をＡ／Ｄ変換するようにＡ／Ｄ変換回路１５を制御
し、該Ａ／Ｄ変換回路１５からの出力信号ｖｂを取込む
。
信号をＡ／Ｄ変換するようにＡ／Ｄ変換回路１５を制御
し、該Ａ／Ｄ変換回路１５からの出力信号ｖｂを取込む
。
処理１０４ではインピーダンスＺの値を得るために次の
計算処理を実行する。
計算処理を実行する。
Ｚ＝Ｃ１Ｖａ （Ｃ，：比例定数）
処理１０５では体積抵抗値Ｒを得るために次の計算処理
を実行する。
を実行する。
Ｒ＝Ｃ２Ｖｂ （Ｃ２：比例定数）
処理１０６では感光材層の静電容量Ｃの値を得るために
次の計算処理を実行する。
次の計算処理を実行する。
Ｃ＝１／ωｆ７−万Ｆ
処理１０７では損失係数りの値を得るために次の計算処
理を実行する。
理を実行する。
Ｄ（ｔａｎδ）＝１／（、ｌＣＲ
処理１．０８では感光ドラム１の特性劣化の程度を判定
するために、体積抵抗値Ｒ及び損失係数りを比較基準値
と比較して該感光ドラム１の特性劣化の程度を判定する
。
するために、体積抵抗値Ｒ及び損失係数りを比較基準値
と比較して該感光ドラム１の特性劣化の程度を判定する
。
そして、特性劣化の程度が所定の範囲内であれば処理１
０９で正常表示処理を実行し、所定の範囲以下であれば
処理１１０で劣化表示処理を実行する。
０９で正常表示処理を実行し、所定の範囲以下であれば
処理１１０で劣化表示処理を実行する。
本発明は、交流電圧を印加したときに流れる電流値を測
定して感光材層の体積抵抗値や損失係数を求めるので、
感光体の特性劣化の程度に正確に対応した値を得ること
ができ、その値から該感光体の特性劣化を正確に判定す
ることができ効果が得られる。
定して感光材層の体積抵抗値や損失係数を求めるので、
感光体の特性劣化の程度に正確に対応した値を得ること
ができ、その値から該感光体の特性劣化を正確に判定す
ることができ効果が得られる。
図面は本発明の実施例を示すもので、第１図は感光ドラ
ムの特性診断方法の実施状態を示す斜視図、第２図は特
性劣化の判定を自動的に行う診断装置の電気回路図、第
３図及び第４図は感光材としてＯＰＣを使用した感光ド
ラムの感光材層の体積抵抗値及び損失係数特性曲線図、
第５図は感光ドラムを使用する電子写真装置内に組込ん
だ診断装置の電気回路図、第６図は制御回路が感光ドラ
ム劣化状態診断モードにあるときに実行するデータ処理
フローチャートである２ 】・・・・・・感光ドラム、 １ａ・・・・・・導
電材素管、１ｂ・・・・・・感光材層、 ２・・・
・・・ＬＲＣメータ、２ａ、２ｂ・・・・・測定電極。 第 ｊ 図 １ｂ：枢・上材層 ２：ＬＲＣメータ ２ａ、 ２ｂ ： ｌ！’Ｊ定ｅ、ｌｉｋ第２図 第３図 届ｆ獣［ＫＨ２］〜 第４図 ０．３ ／ １０ １００Ｍ ３１７
ｔ ＣＫＨｚｌ−４−
ムの特性診断方法の実施状態を示す斜視図、第２図は特
性劣化の判定を自動的に行う診断装置の電気回路図、第
３図及び第４図は感光材としてＯＰＣを使用した感光ド
ラムの感光材層の体積抵抗値及び損失係数特性曲線図、
第５図は感光ドラムを使用する電子写真装置内に組込ん
だ診断装置の電気回路図、第６図は制御回路が感光ドラ
ム劣化状態診断モードにあるときに実行するデータ処理
フローチャートである２ 】・・・・・・感光ドラム、 １ａ・・・・・・導
電材素管、１ｂ・・・・・・感光材層、 ２・・・
・・・ＬＲＣメータ、２ａ、２ｂ・・・・・測定電極。 第 ｊ 図 １ｂ：枢・上材層 ２：ＬＲＣメータ ２ａ、 ２ｂ ： ｌ！’Ｊ定ｅ、ｌｉｋ第２図 第３図 届ｆ獣［ＫＨ２］〜 第４図 ０．３ ／ １０ １００Ｍ ３１７
ｔ ＣＫＨｚｌ−４−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、導電材基体表面に感光材層を形成した感光体の特性
診断方法において、前記感光体を暗所内に保持した状態
で前記導電材基体と感光材層間に交流電圧を与えてそこ
に流れる電流値から感光材層の体積抵抗値を求め、該体
積抵抗値に基づいて感光体の特性劣化の程度を判定する
ことを特徴とする感光体特性診断方法。 ２、請求項１において、前記交流電圧の周波数を３００
Ｈｚ〜１０００Ｈｚとしたことを特徴とする感光体特性
診断方法。 ３、導電材基体表面に感光材層を形成した感光体の特性
診断装置において、前記感光体を暗所内に保持した状態
で前記導電材基体と感光材層間に交流電圧を印加する交
流電圧印加手段と、該交流電圧印加により該導電材基体
と感光材層間に流れる電流を計測して感光材層の体積抵
抗値を求める手段と、該体積抵抗値を基準値と比較して
感光体の特性劣化の程度を判定する判定手段とを設けた
ことを特徴とする感光体特性診断装置。 ４、請求項３において、前記交流電圧印加手段は周波数
が３００Ｈｚ〜１０００Ｈｚの交流電圧を発生すること
を特徴とする感光体特性診断装置。 ５、導電材基体表面に感光材層を形成した感光体の特性
診断方法において、前記感光体を暗所内に保持した状態
で前記導電材基体と感光材層間に交流電圧を与えて感光
材層の損失係数を測定し、該損失係数に基づいて感光体
の特性劣化の程度を判定することを特徴とする感光体特
性診断方法。 ６、請求項５において、前記交流電圧の周波数を１０ｋ
Ｈｚ〜１００ｋＨｚとしたことを特徴とする感光体特性
診断方法。 ７、導電材基体表面に感光材層を形成した感光体の特性
診断装置において、前記感光体を暗所内に保持した状態
で前記導電材基体と感光材層間に交流電圧を印加する交
流電圧印加手段と、該交流電圧印加により該導電材基体
と感光材層間に流れる電流を計測して感光材層の損失係
数を求める手段と、該損失係数を基準値と比較して感光
体の特性劣化の程度を判定する判定手段とを設けたこと
を特徴とする感光体特性診断装置。 ８、請求項７において、前記交流電圧印加手段は周波数
が１０ｋＨｚ〜１００ｋＨｚの交流電圧を発生すること
を特徴とする感光体特性診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2306198A JPH04178649A (ja) | 1990-11-14 | 1990-11-14 | 感光体特性診断方法及び診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2306198A JPH04178649A (ja) | 1990-11-14 | 1990-11-14 | 感光体特性診断方法及び診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04178649A true JPH04178649A (ja) | 1992-06-25 |
Family
ID=17954186
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2306198A Pending JPH04178649A (ja) | 1990-11-14 | 1990-11-14 | 感光体特性診断方法及び診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04178649A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013054172A (ja) * | 2011-09-02 | 2013-03-21 | Ricoh Co Ltd | 電子写真用感光体に用いる試料の特性評価装置及び特性評価方法 |
| JP2018116141A (ja) * | 2017-01-18 | 2018-07-26 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像形成装置 |
-
1990
- 1990-11-14 JP JP2306198A patent/JPH04178649A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013054172A (ja) * | 2011-09-02 | 2013-03-21 | Ricoh Co Ltd | 電子写真用感光体に用いる試料の特性評価装置及び特性評価方法 |
| JP2018116141A (ja) * | 2017-01-18 | 2018-07-26 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像形成装置 |
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