JPH0416744A - 恒温恒湿槽 - Google Patents

恒温恒湿槽

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Publication number
JPH0416744A
JPH0416744A JP2122077A JP12207790A JPH0416744A JP H0416744 A JPH0416744 A JP H0416744A JP 2122077 A JP2122077 A JP 2122077A JP 12207790 A JP12207790 A JP 12207790A JP H0416744 A JPH0416744 A JP H0416744A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
humidity
tank body
humidifier
opening
heater
Prior art date
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Pending
Application number
JP2122077A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Tanaka
隆 田中
Rikiya Fujiwara
藤原 力弥
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daikin Industries Ltd
Original Assignee
Daikin Industries Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0416744A publication Critical patent/JPH0416744A/ja
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  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Air Humidification (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (、産業上の利用分野) 本発明は、恒温恒湿槽、詳しくは、温度を、例えば−4
0〜100℃の範囲で、湿度を20〜98%の範囲で調
整できるようにしながら、槽内を恒温恒湿に保持できる
ようにし、例えばIC等の電子部品や電気部品などのテ
スト部品の耐久試験を行うのに用いる恒温恒湿槽に関す
る。
(従来の技術) 従来、この種の恒温恒湿槽は、例えば実開平1−152
242号公報に開示され、また、第3図に示したように
、前方に開口部(I)を設け、この開口部(I)に開閉
扉(H)を設け、全体を箱形に形成した槽本体(A)内
の後方奥部に仕切板(B)で仕切られた上下方向の制御
空気通路(C)を形成して、この制御空気通路(C)に
、冷却兼除湿器(E)と加熱器(F)及びファン(G)
を配置すると共に、下方にはヒーターをもった加湿器(
D)を設けて、前記槽本体(A)内を恒温恒湿にできる
ようにしている。また、槽本体(A)内の湿度を検出す
る場合、特開平1−265147号公報に開示され、第
4図に示したように、第3図と同様、箱形に形成した槽
本体(A)内の奥部に制御空気通路(C)を設けて、こ
の通路(C)に調温調湿装置(K)を設けると共に、下
方に加湿器(D)を配置した上で、前記通路(C)の上
方に湿球センサ(L)と転球センサ(M)とをから成る
湿度検知器(N)を設けて前記槽本体(A)内の湿度を
検知するようにしている。
(発明が解決しようとする課題) ところが、前記槽本体(A)内を所定の温度及び湿度に
保持した恒温恒湿条件の下でIC等の電子部品や電気部
品などのテスト部品の耐久試験を長期間に亘って繰り返
し行う場合、前記加湿器(D)や前記tj1球センサ(
L)は、これら加湿器(D)や湿球センサ(L)に供給
する水の不純物により汚れることがあり、このため前記
加湿器(D)の例えばヒーター等を掃除したり、また前
記湿球センサ(L)に接触させているガーゼ等の布を取
り換えたりするメンテナンスが必要となるが、前記加湿
器(D)や湿球センサ(L)は前記槽本体(A)の奥部
に形成した前記制御空気通路(C)の下方や上方に配置
しているから、前記槽本体(A)の奥に手を伸ばして前
記加湿器(D)や前記湿度検知器(N)をメンテナンス
しなければならず、この結果、メンテナンスが行い難い
問題があった。又一方、前記加湿器(D)は前記制御空
気通路(C)の下方に配置しているから、つまり、調温
調湿しようとする槽内空気を加湿するようにしているか
ら、前記加湿器(D)による加湿は、前記制御空気通路
(C)の途中に設ける冷却兼除湿器(E)による除湿を
考慮して加湿する必要があり、換言すると、前記加湿器
(D)よる加湿量がそのまま前記槽本体(A)内の湿度
を増加させないから、前記加湿器(D)による槽本体(
A)内の湿度の制御が複雑となり、その制御性が低下す
る問題があった。又第4図のように湿度検出器(N)を
設ける場合は、前記制御空気通路(C)から前記槽本体
(A)内へ供給される制御空気の湿度を検知し、前記槽
本体(A)に挿入して耐久試験を行うテスト部品の挿入
部における湿度を直接検知していないから、湿度制御が
不充分で耐久試験の精度が下がる問題があった。
本発明は以上のような問題に鑑みてなしたもので、主た
る目的は、槽本体内に設ける加湿器のメンテナンスを簡
単に行え、かつ、槽本体内の湿度の制御性を向上できる
ようにする点にあり、他の目的は、湿度検知器のメンテ
ナンスも簡単にできながら、湿度制御が精度よく行えて
、耐久試験の精度を向上させようとする点である。
(課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために、本発明の恒温恒湿槽におい
ては、開口部(2)をもち、この開口部(2)に開閉扉
(3)を設けた槽本体(1)の奥部に、冷却兼除湿器(
6)、加熱器(7)及びファン(8)を備えた制御空気
通路(5)を設けると共に、前記槽本体(1)の開口部
(2)側に、前記空気通路(5)から槽本体(1)内へ
供給される制御空気を加湿する加湿器(9)を設けたの
である。
槽本体(1)の開口部(2)側に、湿度検知器(IS)
を設けることが効果的である。
(作用) 恒温恒湿条件の下でIC等の電子部品や電気部品の耐久
試験を長期間に亘って繰り返し行った場合で、前記加湿
器(9)をメンテナンスする必要がある場合、前記槽本
体(1)の奥部にまで手を伸ばすことなく、手許で前記
加湿器(9)を掃除したりすることができるのであり、
この結果、そのメンテナンスが容易に行える。
又、前記加湿器(9)で加湿された加湿空気は、制御空
気通路(5)から槽本体(1)内に供給される空気とミ
ックスされて前記槽本体(1)内に拡散することになる
から、換言すると、加湿空気が槽本体(1)内に供給さ
れる前に前記冷却兼除湿器(6)により除湿されないか
ら、前記冷却兼除湿器(6)で除湿される除湿量を考慮
する必要がなくなり、従って前記槽本体(1)内の田度
の制御が簡単に行え、湿度の制御性が向上するのである
又、前記槽本体(1)の開口部(2)側に、前記湿度検
知器(15)を設けた場合には、該湿度検知器(15)
のメンテナンスも前記加湿器(9)の場合と同様に前記
槽本体(1)の奥部にまで手を伸ばすことなく手許で容
易に行えるし、また前記湿度検知器(15)は前記制御
空気通路(5)から離れているから、それだけ前記槽本
体(1)内に挿入するテスト部品近くの湿度を検知でき
、それだけ湿度制御が精度よく行え、従って、恒温恒湿
条件における電子部品等の耐久試験の精度を向上させる
ことができる。
(実施例) 第1図に示した実施例は、断熱構造の壁体により槽本体
(1)を箱形に形成し、該槽本体(1)の−側には、内
部にIC等の電子部品や電気部品などのテス)部品を挿
入できるように、開口部(2)を設けて、この開口部(
2)を開閉扉(3)により開閉できるようにしている。
また、前記槽本体(1)内の奥部には上下に延びる仕切
板(4)を設けて、該仕切板(4)により上下方向に延
びる制御空気通路(5)を形成し、この制御空気通路(
5)に、冷凍装置のクーラーから成る冷却兼除湿器(6
)と、電気ヒーター(図示せず)等をもった加熱器(7
)とを配置し、この加熱器(7)の上方にはファン(8
)を配置して、該ファン(8)の運転により前記制御空
気通路(5)中で調温調湿される制御空気を前記槽本体
(1)内へ供給し、白矢印に示したように空気を前記槽
本体(1)から前記制御空気通路(5)へと循環させる
ようにしている。
しかして、本発明では、前記槽本体(1)内における前
記開口部(2)側に、前記空気通路(5)から槽本体(
1)内へ供給される制御空気を加湿する加湿器(θ)を
設けたのである。
具体的には、第2図に示したように前記開閉扉(3)の
内側に、ヒーター(10)と、該ヒーター(10)を内
装し、かつ、水を収容する加湿容器(11)から成る前
記加湿器(9)と、ガーゼ等の布(12)と、この布(
12)を浸漬して、該布(12)を湿潤状態とする水を
収容する湿球容器(13)と、前記布(12)の湿球温
度を検出するサーミスタ(14)とを備え、乾球温度と
の温度差により湿度を検知する湿度検知器(15)とを
並設するのであって、前記加湿容器(11)と湿球容器
(13)とは連通管(16)により接続して、湿球容器
(13)に水を供給することにより加湿容器(11)に
も水を供給できるようにすると共に、前記湿球容器(1
3)の前記槽本体(1)側にはガイド板(17)を設け
て、前記槽本体(1)内の空気の循環通路(18)を形
成する。更に、前記各容器(11)(13)の上方部に
は前記ファン(8)より小さい補助ファン(19)を配
置して、前記加湿器(9)から蒸発する水蒸気を含む加
湿空気が前記槽本体(1)内に実線矢印で示したように
拡散できるようにすると共に、前記槽本体(1)内の空
気を前記循環通路(18)を下方から上方へ循環させて
前記湿度検知器(15)を通過させられるようにするの
である。尚、(20)は前記槽本体(1)の下部に設け
た機械室で、圧縮機、凝縮器などの冷凍装置を構成する
機器を内蔵させている。また、(21)は前記湿球容器
(13)に加湿用水を供給する給水管であって、該給水
管(21)からの水を導水管(22)を介して前記湿球
容器(13)に導くようにし、前記加湿容器(11)の
液面はフロートスイッチ(図示せず)により制御してい
る。
次に、以上のように形成した恒温恒湿槽の作動を説明す
る。
前記空気制御通路(5)に配置した前記冷却兼除湿器(
6)、加熱器(7)を調整しながら、前記ファン(8)
を運転すると共に、前記開閉扉(3)の内側に設けた前
記加湿器(9)のヒーター(10)や補助ファン(19
)を調節運転することにより、例えば温度を一40℃〜
100℃の範囲内で、また、湿度を20%〜98%の範
囲内に調節し前記槽本体(1)内を所定の温度と湿度と
の恒温恒湿に維持して、前記開口部(2)から前記槽本
体(1)に挿入するIC等の電子部品や電気部品の耐久
試験を行うのである。
このような耐久試験を長期間に亘って繰り返し行うと、
前記加湿器(9)や前記湿度検知器(15)に供給する
水の不純物が、加湿器(9)のヒーター(10)や湿度
検知器(15)の布(12)などを汚すことになり、こ
のため前記ヒーター(10)を掃除したり、前記布(1
2)を取り換えたすするメンテナンスが必要となるので
あるが、これら加湿器(9)や湿度検知器(15)は前
記開閉扉(3)の内側に配置しているから、該開閉扉(
3)を開くだけで、前記槽本体(1)の奥部にまで手を
伸ばすことなく、手許で、しかも、前記仕切板(4)に
邪魔されることなく簡単に前記各容器(11)(13)
や前記ヒーター(10)及び前記サーミスタ(14)を
掃除したり、前記布(12)を取り替えたりするメンテ
ナンスが容易に行えるのである。
又、前記加湿器(9)を前記制御空気通路(5)から離
れた位置に設けて、この加湿器(9)からの加湿空気を
、前記制御空気通路(5)から槽本体(1)に供給され
る制御空気に拡散してミックスするようにし、前記加湿
空気が直ちに前記冷却兼除湿器(6)により除湿されな
いようにしているから、前記加湿器(9)での加湿は前
記冷却兼除湿器(6)により除湿される除湿量を考慮す
る必要がなくなり、従って加湿空気が槽本体(1)に供
給される前に除湿されるようにした従来例の場合に比較
して前記槽本体(1)内の湿度の制御が簡単に行えるこ
とになり、前記槽本体(1)内の湿度の制御性が向上す
るのである。
以上のように、前記制御空気通路(5)から離れた位置
に設けた前記開閉扉(3)の内側に、前記加湿器(9)
及び前記補助ファン(8)を設けているから、前記加湿
器(9)で加湿された加湿空気は前記制御空気通路(5
)から前記槽本体(1)内へ供給される制御空気と相互
に干渉して該制御空気に拡散することになり、前記槽本
体(1)内の湿度分布が速やかに均一になると共に、前
記槽本体(1)に挿入するテスト部品近くの湿度管理を
精度よく行えるのである。しかも、開閉扉(3)の内側
に湿度検知器(15)を設けて、前記循環通路(18)
を通過する空気の湿度を、前記湿度検知器(15)によ
り検知するようにしているから、前記槽本体(1)内に
挿入するテスト部品近くの湿度を検知できるので、湿度
制御の精度を向上できるのであって、恒温恒湿条件にお
ける前記電子部品等テスト部品の耐久試験の精度を向上
することができるのである。
尚、以上の実施例では、前記加湿器(9)及び湿度検知
器(15)を前記開閉扉(3)の内側に併設したが、個
別に離して設けてもよいし、更に前記開閉扉(3)に設
けずに、例えば前記開口部(2)近くの前記槽本体(1
)の側壁や天壁等に設けてもよいのである。
(発明の効果) 以上のごとく、本発明によれば、開口部(2)を開閉す
る開閉扉(3)を設けた槽本体(1)の奥部に、冷却兼
除湿器(6)、加熱器(7)及びファン(8)を備えた
制御空気通路(5)を設けると共に、前記槽本体(1)
の開口部(2)側に、前記空気通路(5)から槽本体(
1)内へ供給される制御空気を加湿する加湿器(9)を
設けたから、前記加湿器(9)をメンテナンスするとき
、前記槽本体(1)の奥部にまで手を伸ばすことなく、
手許で前記加湿器(9)を掃除したりすることができ、
前記加湿器(9)のメンテナンスが容易に行える。
又、前記加湿器(9)で加湿された加湿空気が前記制御
空気通路(5)からの制御空気と合流して、前記槽本体
(1)内に拡散することになり、従来例のように加湿空
気が、槽本体(1)内に供給される前に前記冷却兼除湿
器(6)により除湿されないから、前記冷却兼除湿器(
8)で除湿される除湿量を考慮する必要がなく、従って
前記槽本体(1ン内の湿度の制御がそれだけ簡単に行え
、湿度の制御性が向上するのである。
又、前記槽本体(1)の開口部(2)側に、前記湿度検
知器(15)を設けた場合には、該湿度検知器(15)
のメンテナンスも前記加湿器(9)の場合と同様に前記
槽本体(1)の奥部にまで手を伸ばすことなく容易に行
えるし、また前記湿度検知器(15)は前記制御空気通
路(5)から離れているから、それだけ前記槽本体(1
)内に挿入されるテスト部品近くの湿度を検知できる。
従って、湿度制御の精度を向上でき、恒温恒湿条件にお
ける電子部品等の耐久試験の精度を向上させることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る恒温恒湿槽の概略断面図、第2
図は第1図■−■線における拡大断面図、第3図及び第
4図は従来例を示す説明図である。 (1)・・・・・・・・・・・・・・・槽本体(2)・
・・・・・・・・・・・・・・開口部(3)・・・・・
・・・・・・・・・・開閉扉(5)・・・・・・・・・
・・・・・・制御空気通路(6)・・・・・・・・・・
・・・・・冷却兼除湿器(7)・・・・・・・・・・・
・・・・加熱器(8)・・・・・・・・・・・・・・・
ファン(9)・・・・・・・・・・・・・・・加湿器(
15)・・・・・・・・・・・・湿度検知器第8図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)開口部(2)をもち、この開口部(2)に開閉扉(
    3)を設けた槽本体(1)の奥部に、冷却兼除湿器(6
    )、加熱器(7)及びファン(8)を備えた制御空気通
    路(5)を設けると共に、前記槽本体(1)の開口部(
    2)側に、前記空気通路(5)から槽本体(1)内へ供
    給される制御空気を加温する加湿器(9)を設けたこと
    を特徴とする恒温恒湿槽。 2)槽本体(1)の開口部(2)側に、湿度検知器(1
    5)を設けている請求項1記載の恒温恒湿槽。
JP2122077A 1990-05-11 1990-05-11 恒温恒湿槽 Pending JPH0416744A (ja)

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JP2122077A JPH0416744A (ja) 1990-05-11 1990-05-11 恒温恒湿槽

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JP (1) JPH0416744A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008175520A (ja) * 2006-12-19 2008-07-31 Sanki Eng Co Ltd 冷房装置
JP2016001147A (ja) * 2014-06-12 2016-01-07 エスペック株式会社 結露試験装置および結露試験方法

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JP2008175520A (ja) * 2006-12-19 2008-07-31 Sanki Eng Co Ltd 冷房装置
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