JPH04164819A - 超伝導薄膜の製造方法 - Google Patents
超伝導薄膜の製造方法Info
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- JPH04164819A JPH04164819A JP2291338A JP29133890A JPH04164819A JP H04164819 A JPH04164819 A JP H04164819A JP 2291338 A JP2291338 A JP 2291338A JP 29133890 A JP29133890 A JP 29133890A JP H04164819 A JPH04164819 A JP H04164819A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、酸化物超伝導薄膜の製法に関するものである
。
。
本発明は、エレトロニクス分野、特にジョセフソン素子
、5QUID、トランジスター、光センサ−、スイッチ
素子の製造において有用である。
、5QUID、トランジスター、光センサ−、スイッチ
素子の製造において有用である。
従来、酸化物超伝導膜の製法としては蒸着法、スパッタ
法、CVD法、ICB法等によるものがあるが、本発明
に関係する従来技術とし2て、反応性同時蒸着法がある
。Y系、Er系超伝導薄膜の場合には、Y(Er)、B
a、Cu金属の三元素を抵抗加熱と電子ビーム加熱によ
り同時に蒸発させ、酸素ガスを導入し高周波電界により
イオン化を行ないながら作製する方法[T、 Ter
ashima、 K、 Iijima、 K、Y
amamoto、 Y。
法、CVD法、ICB法等によるものがあるが、本発明
に関係する従来技術とし2て、反応性同時蒸着法がある
。Y系、Er系超伝導薄膜の場合には、Y(Er)、B
a、Cu金属の三元素を抵抗加熱と電子ビーム加熱によ
り同時に蒸発させ、酸素ガスを導入し高周波電界により
イオン化を行ないながら作製する方法[T、 Ter
ashima、 K、 Iijima、 K、Y
amamoto、 Y。
Bando and H,阿azaki; Jpn、
J、 Appl、 Phys、。
J、 Appl、 Phys、。
27 (1988) L 91)がある。また、Bi−
Sr−Ca−Cu−0系超伝導薄膜作製法としては、B
i、 Sr−Ca。
Sr−Ca−Cu−0系超伝導薄膜作製法としては、B
i、 Sr−Ca。
Cu金属を電子ビームにより加熱し同時蒸発させ酸素ガ
スを導入しながら作製(丁、Yoshitake。
スを導入しながら作製(丁、Yoshitake。
T、5utoh、 Y、Kudo、 T、Manako
and H,Igarashi)する方法がある。
and H,Igarashi)する方法がある。
さらに同時蒸着以外にBi−0.Sr−Cu−0、Ca
−Cu−0層を積層させ1unit cellごと成長
させながらある厚さまで膜をっけていく方法がある。
−Cu−0層を積層させ1unit cellごと成長
させながらある厚さまで膜をっけていく方法がある。
この作製方法としてはスパッタ法、M B E法により
、Bi、SrCu、CaCuの3個のターゲットを用い
酸素導入しながら各金属の酸化物を数原子肩の厚さにつ
ける。このとき、原子層レベルで各金M酸化物を順番に
積層するために回転シャッターを用い、回転数により層
の厚さを調節する。あるいは各蒸発源の直上にシャッタ
ーを設置しこれらを周期的に開閉することにより積層さ
せていく方法がある。
、Bi、SrCu、CaCuの3個のターゲットを用い
酸素導入しながら各金属の酸化物を数原子肩の厚さにつ
ける。このとき、原子層レベルで各金M酸化物を順番に
積層するために回転シャッターを用い、回転数により層
の厚さを調節する。あるいは各蒸発源の直上にシャッタ
ーを設置しこれらを周期的に開閉することにより積層さ
せていく方法がある。
しかし、従来の製法においては基板加熱が高く、電気炉
による高温の熱処理を要し、緻密でしかもas−gro
ttnで臨界温度の高い膜作製が困難で、現在課題とな
っている。
による高温の熱処理を要し、緻密でしかもas−gro
ttnで臨界温度の高い膜作製が困難で、現在課題とな
っている。
本発明の目的は、低基板加熱温度(<600”C)、a
s−grownで臨界温度の高いBi系超伝導薄膜を製
造する新しい方法を提供する点にある。
s−grownで臨界温度の高いBi系超伝導薄膜を製
造する新しい方法を提供する点にある。
本発明は、酸素ガスが導入されている真空槽内において
、蒸発物質を蒸発させるための蒸発源と上記真空槽内に
配置され、基板を上記蒸発源に対向するように保持され
る対電極と、上記蒸発源と対電極との間に配備され蒸発
物質を通過させうるグリッドと、上記グリッドより蒸発
源側に配備される熱電子発生用のフィラメントおよびグ
リッドを対電極の電位に対し正電位とする手段とを有す
る薄膜形成装置を用いた酸化物超伝導薄膜形成法におい
て、導入する酸素ガスの圧力は、I X 1O−2Pa
〜I X 10−”Pa、蒸発物質としてBi−Sr
−Ca−Cu−0系超伝導体形成材料を、蒸発源に電子
銃を用い基板温度300’C以上、グリッド電流0.1
〜2A、グリッド電圧1〜150V、蒸発速度1Å/s
未満の条件で上記超伝導体を薄膜化する際に、(a)金
属BiあるいはBil化物、SrCu合金、およびCa
Cu合金または(b)金JiBiあるいはBi酸化物お
よびSr−Ca−Cu合金を蒸発材に用い、個々の蒸発
材を数原子層レベルで順に積層していくことを特徴とす
るEi系超伝導薄膜の製造方法に関する。
、蒸発物質を蒸発させるための蒸発源と上記真空槽内に
配置され、基板を上記蒸発源に対向するように保持され
る対電極と、上記蒸発源と対電極との間に配備され蒸発
物質を通過させうるグリッドと、上記グリッドより蒸発
源側に配備される熱電子発生用のフィラメントおよびグ
リッドを対電極の電位に対し正電位とする手段とを有す
る薄膜形成装置を用いた酸化物超伝導薄膜形成法におい
て、導入する酸素ガスの圧力は、I X 1O−2Pa
〜I X 10−”Pa、蒸発物質としてBi−Sr
−Ca−Cu−0系超伝導体形成材料を、蒸発源に電子
銃を用い基板温度300’C以上、グリッド電流0.1
〜2A、グリッド電圧1〜150V、蒸発速度1Å/s
未満の条件で上記超伝導体を薄膜化する際に、(a)金
属BiあるいはBil化物、SrCu合金、およびCa
Cu合金または(b)金JiBiあるいはBi酸化物お
よびSr−Ca−Cu合金を蒸発材に用い、個々の蒸発
材を数原子層レベルで順に積層していくことを特徴とす
るEi系超伝導薄膜の製造方法に関する。
本発明に用いる薄膜形成装置は、発明者の一人である太
田の発明(特開昭59−89763号)を使用すること
ができる。
田の発明(特開昭59−89763号)を使用すること
ができる。
その構成と原理は真空槽、対電極、グリッド。
熱電子発生用のフィラメントと蒸発源とを有し。
真空槽内には活性もしくは不活性ガス、あるいはこれら
両者の混合ガスが導入される。対@極は真空槽内に配備
され、基板を保持し、かつ上記基板が蒸発源と対向させ
られている。グリッドは、蒸発物質を通過させうるもの
であって蒸発源と対電極間に配備され、フィラメント及
び対電極の電位に対し正電位に置かれる。従って。
両者の混合ガスが導入される。対@極は真空槽内に配備
され、基板を保持し、かつ上記基板が蒸発源と対向させ
られている。グリッドは、蒸発物質を通過させうるもの
であって蒸発源と対電極間に配備され、フィラメント及
び対電極の電位に対し正電位に置かれる。従って。
真空槽内にグリッドから基板に向かう電界と、グリッド
から蒸発源に向かう電界とが逆向きに形成される。熱電
子発生用のフィラメントは真空槽内の上記グリッドに関
し蒸発源側に配備され、このフィラメントにより発生す
る熱電子は蒸発物質の一部をイオン化するのに供される
。
から蒸発源に向かう電界とが逆向きに形成される。熱電
子発生用のフィラメントは真空槽内の上記グリッドに関
し蒸発源側に配備され、このフィラメントにより発生す
る熱電子は蒸発物質の一部をイオン化するのに供される
。
蒸発源からの蒸発物質は、その一部がフィラメントから
の電子により正イオンにイオン化される。このように一
部イオン化された蒸発物質はグリッドを通過し、さらに
イオン化されたガスにより正イオンにイオン化を促進さ
れ、上記電界の作用により基板の方へと加速される。な
お、フィラメントからの電子はフィラメント温度に相当
する運動エネルギーをもって、フィラメントから放射さ
れるので、正電位のグリッドに直ちに吸収されずに、こ
れを通過しグリッドによるクーロン力に引き戻され、更
にグリッドを通過し、というようにグリッドを中心とし
て振動運動を繰返し遂にはグリッドに吸収されるので基
板へは達せず、基板は電子衝撃を受けないのでそれによ
る加熱がなく基板の温度上昇が防止できること、再蒸発
による組成ずれや膜質への悪影響が小さくなる。
の電子により正イオンにイオン化される。このように一
部イオン化された蒸発物質はグリッドを通過し、さらに
イオン化されたガスにより正イオンにイオン化を促進さ
れ、上記電界の作用により基板の方へと加速される。な
お、フィラメントからの電子はフィラメント温度に相当
する運動エネルギーをもって、フィラメントから放射さ
れるので、正電位のグリッドに直ちに吸収されずに、こ
れを通過しグリッドによるクーロン力に引き戻され、更
にグリッドを通過し、というようにグリッドを中心とし
て振動運動を繰返し遂にはグリッドに吸収されるので基
板へは達せず、基板は電子衝撃を受けないのでそれによ
る加熱がなく基板の温度上昇が防止できること、再蒸発
による組成ずれや膜質への悪影響が小さくなる。
第1図により、本発明に使用する薄膜形成装置について
説明する。ベースプレート1とペルジャー2とは、バッ
キング15を介して一体化され真空槽を形成している6
ベースプレート1は支持体兼用の電極4,6.8により
貫通されているが、これら支持体兼用電極4等の貫通部
はもちろん、気密状態でありさらにこれら支持体兼用電
極4,6.8とベースプレート1とは電気的に絶縁され
ている。また、ベースプレート1の中央部に穿設された
孔IAは図示されていない真空排気系へ連結されている
。
説明する。ベースプレート1とペルジャー2とは、バッ
キング15を介して一体化され真空槽を形成している6
ベースプレート1は支持体兼用の電極4,6.8により
貫通されているが、これら支持体兼用電極4等の貫通部
はもちろん、気密状態でありさらにこれら支持体兼用電
極4,6.8とベースプレート1とは電気的に絶縁され
ている。また、ベースプレート1の中央部に穿設された
孔IAは図示されていない真空排気系へ連結されている
。
蒸発源3は電子ビーム蒸発源あるいは抵抗加熱蒸発源が
用いられる。作製する材料が三元素から成る場合は、王
台の電子蒸発源を用いたり、−台を抵抗加熱する等の方
法がある。
用いられる。作製する材料が三元素から成る場合は、王
台の電子蒸発源を用いたり、−台を抵抗加熱する等の方
法がある。
一対の支持体兼用電極4の間にはタングステン等による
熱電子発生用のフィラメント5が支持されている。この
フィラメント5の形状は複数本のフィラメントを平行に
配列したり、あるいは網目状にしたりするなどして蒸発
源から蒸発した蒸発物質の粒子の拡がりをカバーするよ
うに定められている。支持体兼用電極6にはグリッド7
が支持されている。このグリッドは蒸発物質をさせうる
形状に定められているが、この例では網目状である。支
持体8には対電極lOが支持され、その下位には基板が
保持される。
熱電子発生用のフィラメント5が支持されている。この
フィラメント5の形状は複数本のフィラメントを平行に
配列したり、あるいは網目状にしたりするなどして蒸発
源から蒸発した蒸発物質の粒子の拡がりをカバーするよ
うに定められている。支持体兼用電極6にはグリッド7
が支持されている。このグリッドは蒸発物質をさせうる
形状に定められているが、この例では網目状である。支
持体8には対電極lOが支持され、その下位には基板が
保持される。
支持体兼用電極4,6.8は導電体であって、それらの
真空槽外へ突出した端部間は図示したように種種の電源
に接続されている。蒸発源の電源は省略しである。
真空槽外へ突出した端部間は図示したように種種の電源
に接続されている。蒸発源の電源は省略しである。
支持体兼用電極6が直流の正電極に接続され支持体兼用
電極8が接地されている。
電極8が接地されている。
以下、この装置例による酸化物超伝導薄膜形成について
説明する。基板11を図のようにセットして蒸着物質を
保持させる。このとき、蒸発源としては電子銃、クヌー
センセル、抵抗加熱方式があり安定に蒸発するよう蒸発
源を選ぶ。
説明する。基板11を図のようにセットして蒸着物質を
保持させる。このとき、蒸発源としては電子銃、クヌー
センセル、抵抗加熱方式があり安定に蒸発するよう蒸発
源を選ぶ。
基板は、Si基板、G a A s基板、MgO基板。
SrTi03基板、LaAQO,基板などがあり、いず
れも単結晶基板であることが好ましく、結晶面としては
、(111)、 (100) 、 (110)面が好ま
しい。とくにSrTiO,基板のときは(100) 、
(110)が、MgO基板のときは(100)が好ま
しい。
れも単結晶基板であることが好ましく、結晶面としては
、(111)、 (100) 、 (110)面が好ま
しい。とくにSrTiO,基板のときは(100) 、
(110)が、MgO基板のときは(100)が好ま
しい。
真空槽内は予め、10−3〜10−2Pa〜1×10の
圧力にしておき、酸素ガスを導入し10°〜10−”P
aの圧力にする。この状態において電源を作動させグリ
ッド7に正の電位が印加され、対電極10は接地されフ
ィラメント5には電流が流される。ここでは例えばグリ
ッドは網目上であり100V印加され、フィラメントは
タングステンワイヤーで4゜OWの電力がかかっている
。フィラメント5は抵抗加熱により加熱され熱電子を放
射する。真空槽内の酸素分子は、フィラメントSより放
出された熱電子との衝突によってイオン化される。
圧力にしておき、酸素ガスを導入し10°〜10−”P
aの圧力にする。この状態において電源を作動させグリ
ッド7に正の電位が印加され、対電極10は接地されフ
ィラメント5には電流が流される。ここでは例えばグリ
ッドは網目上であり100V印加され、フィラメントは
タングステンワイヤーで4゜OWの電力がかかっている
。フィラメント5は抵抗加熱により加熱され熱電子を放
射する。真空槽内の酸素分子は、フィラメントSより放
出された熱電子との衝突によってイオン化される。
蒸発したBi、Sr、’ Ca、Cuの粒子は拡がりを
持って基板の側へ向かって飛行するが、その一部及び前
記導入ガスはフィラメント5より放出された熱電子との
衝突によってイオン化される。このように一部イオン化
させた上記各元素はグリッド7を通過するが、その際前
記のようにグリッド近傍において上下に振動運動する熱
電子及び前記イオン化された導入ガスの衝突により、さ
らにイオン化が促進される。グリッド7を通過した蒸発
物質中いまだイオン化されていない部分は更にグリッド
と基板の間に於いて前記イオン化された導入ガスとの衝
突により正イオンにイオン化された各元素は、グリッド
7から対電極10に向かう電界の作用により基板11に
向かって加速され、基板に高エネルギーを持って向かう
。更にその途中及び基板表面に於いて酸素と結合し、B
i−Sr−Ca−Cu−0酸化物が基板に形成される。
持って基板の側へ向かって飛行するが、その一部及び前
記導入ガスはフィラメント5より放出された熱電子との
衝突によってイオン化される。このように一部イオン化
させた上記各元素はグリッド7を通過するが、その際前
記のようにグリッド近傍において上下に振動運動する熱
電子及び前記イオン化された導入ガスの衝突により、さ
らにイオン化が促進される。グリッド7を通過した蒸発
物質中いまだイオン化されていない部分は更にグリッド
と基板の間に於いて前記イオン化された導入ガスとの衝
突により正イオンにイオン化された各元素は、グリッド
7から対電極10に向かう電界の作用により基板11に
向かって加速され、基板に高エネルギーを持って向かう
。更にその途中及び基板表面に於いて酸素と結合し、B
i−Sr−Ca−Cu−0酸化物が基板に形成される。
熱電子は最終的にはその大部分がグリッド7に吸収され
一部の熱電子はグリッドを通過するがグリッド7と基板
11との間で前記電界の作用によって減速されるので仮
に基板11に達しても同基板IIを加熱するには到らな
い。
一部の熱電子はグリッドを通過するがグリッド7と基板
11との間で前記電界の作用によって減速されるので仮
に基板11に達しても同基板IIを加熱するには到らな
い。
本発明は、上記に示したような酸化物作製に有効な方法
を原子層レベルで成長させる薄膜作製法を提供するもの
である。蒸発源には電子銃を用い蒸発材料としては、B
i金金属SrCu合金、およびCaCu合金を用い王台
の電子銃にこれらの材料を入れる。あるいは、Bi金金
属代わりにBi酸化物を、CaCuとSrCu合金の代
りにSr−Ca−Cu合金を用いる。蒸発源の直上には
シャッターが設置され、これは個個の蒸発源に設置する
か、蒸発源全体を覆うような大きな一枚の円板の1ケ所
に穴を開けたシャッターを用いたりする。Bi系超伝導
体はBi−0層、Cu−0層、Ca層、Sr−0層の各
層が積層した構造をもっているため、各層を順に積層さ
せながら薄膜を作製することが可能である。これにより
薄膜を作製することは、ジョセフソン素子のようなデバ
イスを作製するのに有効である。
を原子層レベルで成長させる薄膜作製法を提供するもの
である。蒸発源には電子銃を用い蒸発材料としては、B
i金金属SrCu合金、およびCaCu合金を用い王台
の電子銃にこれらの材料を入れる。あるいは、Bi金金
属代わりにBi酸化物を、CaCuとSrCu合金の代
りにSr−Ca−Cu合金を用いる。蒸発源の直上には
シャッターが設置され、これは個個の蒸発源に設置する
か、蒸発源全体を覆うような大きな一枚の円板の1ケ所
に穴を開けたシャッターを用いたりする。Bi系超伝導
体はBi−0層、Cu−0層、Ca層、Sr−0層の各
層が積層した構造をもっているため、各層を順に積層さ
せながら薄膜を作製することが可能である。これにより
薄膜を作製することは、ジョセフソン素子のようなデバ
イスを作製するのに有効である。
基板はMg○単結晶(100)、酸素ガス圧I X10
−”Pa以下、基板温度400℃にして王台の電子銃の
ハースにそれぞれBi金属、SrCu合金。
−”Pa以下、基板温度400℃にして王台の電子銃の
ハースにそれぞれBi金属、SrCu合金。
Ca Cu合金の塊を入れ、蒸発速度はすべて1Å/s
以下になるようρQWerを調節する。この蒸発速度は
できるだけ遅くするのが良い。シャッターは各蒸発源の
直上に設置されている。これらシャッターは一定時閲間
隔で開閉するようになっており、蒸発速度と膜厚で決ま
る。Bi金属を0.1カら0.5Å/sで約5人つけB
i2O,Jtを作製する。次にSrCυ合金を同様の蒸
発速度で約3人つけ、5 r Cu、、、ONをつける
。
以下になるようρQWerを調節する。この蒸発速度は
できるだけ遅くするのが良い。シャッターは各蒸発源の
直上に設置されている。これらシャッターは一定時閲間
隔で開閉するようになっており、蒸発速度と膜厚で決ま
る。Bi金属を0.1カら0.5Å/sで約5人つけB
i2O,Jtを作製する。次にSrCυ合金を同様の蒸
発速度で約3人つけ、5 r Cu、、、ONをつける
。
次にCa Cu O2層を2層(約5〜6人)つけ、こ
のようにしてさらにSrCu、、s○、Bi2O2層と
いう順に膜をつけていく。この場合は、Bi2Sr、C
a2Cu、01o結晶相すなわち臨界温度が105Kを
持つ結晶である。この時Ca Cu O2層が1層のと
きはB i2S r2Ca□Cu203結晶相になり、
これは臨界温度85にの相である。このようにして作製
した薄膜の結晶成長を行なわせるために酸素ガス圧、基
板温度はそのままにして20〜30分その状態に保持す
ることを行なわせる場合もある。
のようにしてさらにSrCu、、s○、Bi2O2層と
いう順に膜をつけていく。この場合は、Bi2Sr、C
a2Cu、01o結晶相すなわち臨界温度が105Kを
持つ結晶である。この時Ca Cu O2層が1層のと
きはB i2S r2Ca□Cu203結晶相になり、
これは臨界温度85にの相である。このようにして作製
した薄膜の結晶成長を行なわせるために酸素ガス圧、基
板温度はそのままにして20〜30分その状態に保持す
ることを行なわせる場合もある。
上記方法以外に、各金属酸化物を積層するごとに酸素ガ
ス圧、グリッド電流電圧を変えて各金属酸化物を目的の
組成の膜として積層し、基板温度の低温化とas−de
poで臨界温度の高い薄膜を作製する方法もある。この
場合、最初にBi202層をつけるとき基板温度を40
0℃にし酸素ガス圧をI X 10−”Paにし、グリ
ッド電圧電流を800V、0.5Aにする。次にSrC
u0..0層をつける場合、今度はグリッド電圧、電流
を100V、0.8Aで作製する。CaCuO2層をグ
リッド電流、電圧を90V、0.7Aでつける。こうし
てできた薄膜は、各層の結晶格子が完全に近い状態で積
層されて基板温度が低くても結晶性の良いBl系超伝導
薄膜が作製できる。また、成膜後酸素ガスを流しながら
基板加熱をしたまま20〜30分その状態を保持して、
結晶性以外に超伝導特性(臨界温度、臨界電流密度)の
向上を図る。
ス圧、グリッド電流電圧を変えて各金属酸化物を目的の
組成の膜として積層し、基板温度の低温化とas−de
poで臨界温度の高い薄膜を作製する方法もある。この
場合、最初にBi202層をつけるとき基板温度を40
0℃にし酸素ガス圧をI X 10−”Paにし、グリ
ッド電圧電流を800V、0.5Aにする。次にSrC
u0..0層をつける場合、今度はグリッド電圧、電流
を100V、0.8Aで作製する。CaCuO2層をグ
リッド電流、電圧を90V、0.7Aでつける。こうし
てできた薄膜は、各層の結晶格子が完全に近い状態で積
層されて基板温度が低くても結晶性の良いBl系超伝導
薄膜が作製できる。また、成膜後酸素ガスを流しながら
基板加熱をしたまま20〜30分その状態を保持して、
結晶性以外に超伝導特性(臨界温度、臨界電流密度)の
向上を図る。
膜厚は、エレクトロニクスへの応用を考慮し、1000
Å以下を狙う。
Å以下を狙う。
本発明により膜厚が非常に薄く、しかも結晶性の良いB
i系超伝導薄膜が基板温度を低くしても作製でき、それ
に伴い臨界温度、臨界電流密度の高い薄膜が得られる。
i系超伝導薄膜が基板温度を低くしても作製でき、それ
に伴い臨界温度、臨界電流密度の高い薄膜が得られる。
第1図は1本発明に用いる薄膜形成装置の一例を示す断
面図である。 にベースプレート 2:ベルジャ− 3:蒸発源 4.6.8:支持体兼用電極 5:フィラメント 7:グリッド 9:基板加熱用ヒーター 10:対電極 1に基板 13:電流計 14:電源 15:パッキング 点liA二電子線 第1図
面図である。 にベースプレート 2:ベルジャ− 3:蒸発源 4.6.8:支持体兼用電極 5:フィラメント 7:グリッド 9:基板加熱用ヒーター 10:対電極 1に基板 13:電流計 14:電源 15:パッキング 点liA二電子線 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、酸素ガスが導入されている真空槽内において、蒸発
物質を蒸発させるための蒸発源と上記真空槽内に配置さ
れ、基板を上記蒸発源に対向するように保持される対電
極と、上記蒸発源と対電極との間に配備され蒸発物質を
通過させうるグリッドと、上記グリッドより蒸発源側に
配備される熱電子発生用のフィラメントおよびグリッド
を対電極の電位に対し正電位とする手段とを有する薄膜
形成装置を用いた酸化物超伝導薄膜形成法において、導
入する酸素ガスの圧力は1×10^−^2Pa〜1×1
0^−^1Pa、蒸発物質としてBi−Sr−Ca−C
u−O系超伝導体形成材料を、蒸発源に電子銃を用い基
板温度300℃以上、グリッド電流0.1〜2A、グリ
ッド電圧1〜150V、蒸発速度1Å/s未満の条件で
上記超伝導体を薄膜化する際に、 (a)金属BiあるいはBi酸化物、SrCu合金、お
よびCaCu合金または、 (b)金属BiあるいはBi酸化物およびSr−Ca−
Cu合金を蒸発材に用い、個々の蒸発材を数原子層レベ
ルで順に積層していくことを特徴とするBi系超伝導薄
膜の製造方法。 2、個々の蒸発材に対しグリッド電流、電圧の値を変え
、順に積層していくことを特徴とする請求項1記載のB
i系超伝導薄膜の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2291338A JPH04164819A (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 超伝導薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2291338A JPH04164819A (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 超伝導薄膜の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04164819A true JPH04164819A (ja) | 1992-06-10 |
Family
ID=17767628
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2291338A Pending JPH04164819A (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 超伝導薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04164819A (ja) |
-
1990
- 1990-10-29 JP JP2291338A patent/JPH04164819A/ja active Pending
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