JPH04162742A - リード先端部の平坦度測定器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ＩＣのリード先端部における平坦度を測定す
るリード先端部の平坦度測定器に関するものである。

〔従来の技術〕

第３図は従来のリード先端部の平坦度測定器の一例を示
す側面図である。従来、この種のＩ　、Ｃのリード先端
部の平坦度測定器は、同図に示すように、ＩＣ２を一側
面に平行になるように乗せる定盤１と、この定盤１の一
側面に接するように配置された反射鏡５お、反射鏡５よ
り反射する像を観察する顕微鏡（図示せず）とで構成さ
れていた。

また、このリード先端部の平坦度測定器を使用して、リ
ードの先端部の平坦度を測定する場合は、まず、ＩＣ２
のり−ド６の先端部が、定盤１の一側面と平行になるよ
うに、ＩＣ２を乗せる。

次に、顕微鏡により、リード６の先端部と定盤１との隙
間の像を反射鏡５で反射し、その像を観察し、その隙間
をＡで示す寸法として定量的に測定し、この隙間をリー
ドの先端部の平坦度としていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来のＩＣのリード先端部の平坦度測定器は、
定盤の一側面にＩＣのリード先端部を平行になるように
揃えて設置するので、しばしば平行に揃わず、焦点ぼけ
等を起し正確に測定出来ないという欠点がある。また、
ＩＣを定盤の一側面に平行に位１決めすることが困難で
あるという欠点がある。

本発明の目的は、かかる欠点を解消するリード先端部の
平坦度測定器を提供することである。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のリード先端部の平坦度測定器は、側面より突出
するとともに一方側に折れ、折り返される複数のリード
をもつＩＣを一側面に平行に乗せる定盤と、この定盤の
直線状の前記一側面に透過面を接触させて配置されるプ
リズム体と、このプリズム体より反射される像を観察す
る顕微鏡とを備え、前記リードの先端部と前記定盤との
隙間を前記プリズム体を介して前記顕微鏡で観察し、測
定することを特徴としている。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

第１図は、本発明の一実施例を示すリード先端部の平坦
度測定器の側面図である。このリード先端部の平坦度測
定器は、同図に示すように、定盤１の一側面に接するプ
リズム固定台４とプリズム３とを設けたことである。こ
のことにより、リード先端部の平坦度を測定する場合に
、このプリズム３の面にＩＣ２のリード６の先端部を押
し付けることにより、リードの先端部は揃う。従ってプ
リズム３の光の透過面と平行になり、像のぼけ、収差が
なくなり、隙間寸法Ａを正確に読み取ることが出来る。

第２図は本発明の他実施例を示すリード先端部の平坦度
測定器の側面図である。このリード先端部の平坦度測定
器は、外郭体の側面よりリード６ａが突出しない型のＩ
Ｃ２に適用するものである。このなめ、リード６の測定
すべき部、すなわち、定盤１とリード６ａに接する部分
に、定盤１側に段差部７を設けたことである。このこと
により、顕微鏡の同一焦点領域内にあるので、隙間寸法
Ａを正確に測定することが出来る。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、ＩＣを搭載する定盤の一
側面に接するプリズムを設け、リードをこのプリズムの
光透過面に押し付けることにより定盤の一側面にＩＣの
リードの先端を容易に揃えることができる。従って、リ
ード先端部の平坦度を容易に、かつ高精度に測定できる
リード先端部の平坦度測定器が得られるという効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すリード先端部の平坦度
測定器の側面図、第２図は本発明の他の実施例を示すリ
ード先端部の平坦度測定器の側面図、第３図は従来のリ
ード先端部の平坦度測定器の一例を示す側面図である。 １・・・定盤、２・・・ＩＣｌ３・・・プリズム、４・
・・プリズム固定台、５・・・反射鏡、６．６・・・リ
ード、７・・・段差部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　側面より突出するとともに一方側に折れ、折り返され
   る複数のリードをもつＩＣを一側面に平行に乗せる定盤
   と、この定盤の直線状の前記一側面に透過面を接触させ
   て配置されるプリズム体と、このプリズム体より反射さ
   れる像を観察する顕微鏡とを備え、前記リードの先端部
   と前記定盤との隙間を前記プリズム体を介して前記顕微
   鏡で観察し、測定することを特徴とするリード先端部の
   平坦度測定器。