JPH04162740A - 蓋状体の開閉機構 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、蓋状体の開閉時に蓋状体を基台に対して垂直
に移動できる開閉機構に関するものであり、例えばＬＳ
Ｉテストシステムにおいて、フィクスチャーカパーの着
脱の際に、コンタクトプローブのＤｔＪＴボードとの接
触による損傷等を防止する蓋状体の開閉機構に関する。

〔従来の技術〕

ＬＳＩテストシステムの中には、多数のスプリング式の
コンタクトプローブが基台上部から垂直上方に向けて配
設されたものがある。

この種のシステムの基台には、下面にＤＵＴボ−ド（該
ボードは、コンタクトプローブとの接触端子を有してい
る）を備えた蓋状のフィクスチャーカバーが取り付けら
れる。

上記フィクスチャーカバーには、ヒンジにより基台に取
り付けるタイプのものと、ヒンジを用いずに基台に載設
するタイプのものとがある。

また、近年のＬＳＩ技術の急進歩による高集積化に伴い
、ＬＳＩテストシステムは大型化の傾向にあり、この結
果、上記フィクスチャー力バーは相当大重量となってい
る。

〔発明が解決しようとする課題］ ところが、以上のような大重量のフィクスチャーカハー
であって、ヒンジを用いることなく基台に載設するタイ
プのものでは、その着脱を二人で行わなければならなか
ったり、あるいは−人で行う際には両手を使用しなけれ
ばならないという作業上の煩雑さが生じている。

また、フィクスチャーカハーを取り外した場合に、−時
的な保管場所を予め確保しておかねばならないという不
都合もある。

一方、ヒンジにより基台に取り付けるタイプのフィクス
チャーカハーでは、上記のような一時保管場所確保の不
都合は生じないが、フィクスチャーカバーの着脱の際に
、以下のような新たな問題が生ずる。

すなわち、多数のスプリング式のコンタクトプローブは
基台に対し垂直上方に向けて配設されており、フィクス
チャーカバーの装着の際には、ＤＵＴボードはプローブ
の先端を押圧することになる。ところが、フイクスチャ
ーカバーはヒンジを支点として回動するので、プローブ
と傾斜して当接する。

したがって、フィクスチャーカパーの装着完了までの過
程で、コンタクトプローブの接触部先端はＤＵＴボード
の接触部を擦過することになるので、これら接触部が磨
耗損傷するという問題がある。また、上記過程において
は、コンタクトプローブに横方向の応力が加わり、該プ
ローブが破損してしまうという問題もある。

本発明は、上記のような問題点を解決するために提案さ
れたものであって、蓋状体の開閉時に蓋状体を基台に対
して垂直に移動することができ、これにより、例えばＬ
ＳＩテストシステムにおいて、フィクスチャーカハーの
着脱の際の、コンタクトプローブのＤＵＴボードとの接
触による損傷等の防止を図った蓋状体の開閉機構を提供
することを目的とする。

（課題を解決するための手段〕 上記目的を達成するために、本発明の開閉機構は、基台
又は蓋状体に取り付けられ、閉蓋動作の前期及び開蓋動
作の後期において蓋状体を回動可能に支承する手段と、
閉蓋動作の後期及び開蓋動作の前期において蓋状体を基
台に対し垂直上下方向に案内する手段とを備えた機構、
及び基台及び／又は蓋状体に取り付けられ、閉蓋状態に
おいて蓋状体を基台に対して垂直上方にバネ付勢する手
段、を有してなることを特徴とし、また、上記バネ付勢
する手段として、基台及び／又は蓋状体に垂直に取り付
けられたスプリング付きピン群を用いることをも特徴と
する。

更に、本発明の開閉機構は、軸受面の下部又は上部に軸
に平行な溝を有する軸受体、該軸受体に回転可能に挿着
され、側面の少なくとも一部でかつ底面の少なくとも一
方で開口する溝を有する円柱状ブロック、及び上記軸受
体の溝及び円柱状ブロックの溝が連通した場合に該連通
溝により上下動可能で、かつ円柱状ブロックの溝に移動
した場合に該円柱状ブロックと共に回動可能に構成され
た軸体を有してなることを特徴とする。

〔作用］ まず、本発明の開閉機構の開蓋動作を説明する。

蓋状体が閉蓋状態にあるときは、蓋状体はバネ付勢手段
により基台に対し垂直上方に力を受けている。

このバネ付勢手段を、基台及び／又は蓋状体に垂直に取
り付けられたスプリング付きピン群とする場合には、例
えば本発明をＬＳＩテストシステムに適用する際、コン
タクトプローブがそのまま該ピン群として利用でき、バ
ネ付勢手段を別途設ける必要はない。

蓋状体の開蓋動作の前期においては、蓋状体は案内手段
及びバネ付勢手段の作用により、基台に対して垂直上方
に（反基台方向に）移動する。通常、蓋状体は、この垂
直移動の後自動的に回動動作に移行する。そして、この
移行後においては、開蓋動作は人力等信の手段によって
も行われる。

バネ付勢手段としてスプリング付きピン群を用いる場合
においては、蓋状体は、これら各ピンの作用により、該
ピンの軸方向に力を受けて基台に対して垂直に移動する
。このとき、これらピン群のバネ勢を強力なものとして
おけば、蓋状体が案内手段の終端に達し、該蓋状体の案
内手段側は移動を停止するが、反案内手段側は上記の強
力なバネ勢により移動を続ける。この結果、蓋状体は回
動動作にやや移行した状態（すなわち、やや傾斜した状
態）で停止する。

次に、閉蓋動作を説明する。

閉蓋前期においては、蓋状体は回動動作を行い、閉蓋後
期に入ると案内手段により、軸回転することなく基台に
垂直に（すなわち、基台方向に）に移動する。

前述のように、通常、バネ勢は蓋状体の垂直移動から回
動動作への移行が自動的に行われるような強さとされて
いる。これは、蓋状体に何ら外力を加えない限り、蓋状
体は回動動作から垂直移動に移行しないことを意味する
。換言するなら、蓋状体は回動動作をやや残した状態で
停止する。

上記残りの回動動作、この回動動作から垂直移動への移
行、該移行後の閉蓋が完了するまでの垂直移動は、通常
、人力、カム等のジグなどによりバネ勢に逆らって行わ
れる。

なお、本発明をＬＳＩテストシステムに適用する場合に
おいて、バネ付勢手段はバネ付きピン群（コンタクトプ
ローブ）により構成されるが、この場合、蓋状体（フィ
クスチャーカハー）が垂直移動するときには、各ピンは
その軸方向に力を受けるので、該ピンが擦過損傷、破断
することはない。

また、本発明機構における蓋状体の回動軸は、従来の開
閉機構における蓋状体の回動軸と比較して、上記の垂直
移動距離分だけ高い位置に設定できる。したがって、閉
蓋動作の前期から後期に移行する際の蓋状体（フィクス
チャーカハー）と各ピンとの接触角度を、従来と比較し
て垂直に近くすることができるので、該ピンの擦過損傷
、破断の可能性は極めて低減される。

次に、本発明の軸受体１円柱状ブロック及び軸体を有、
してなる開閉機構の作用を説明する。

この開閉機構の場合、蓋状体が閉蓋状態にあるとき、円
柱状ブロックの溝と軸受体の溝とは−の連通溝を構成す
る。

ここで、軸受体の溝は、軸受体が基台に設けられる場合
には軸受面の下部に設けられるし、軸受体が蓋状体に設
けられる場合には軸受面の上部に設けられる。

例えば、軸受体が基台に設けられる場合において、蓋状
体に固定された軸体は、上記連通溝の軸受体下部の溝か
ら、円柱状ブロックの溝にかけて挿着されているので、
該蓋状体は回動、すなわち開蓋することはできない。

この状態で、例えばバネ付勢手段により蓋状体に反基台
方向への力を加えると、上記軸体は円柱状ブロックと共
に軸受体の内部で回転（すなわち、蓋状体は回動）する
。

ついで、蓋状体が開蓋状態から、閉蓋状態に移行する場
合は、蓋状体に固定された軸体は円柱状ブロックと共に
回転（すなわち、蓋状体は回動）する。

回動の途中においては、円柱状ブロックの溝と軸受体の
溝とが、完全な連通状態になることはないので、蓋状体
が上下方向に移動することはない。

蓋状体が、基台に対してほぼ水平となると、円柱状ブロ
ックの溝と軸受体下部の軸方向溝とにより連通溝が形成
される。

ここで、例えば、バネ付勢手段により蓋状体に反基台方
向に力を加えておき、該蓋状体が連通溝に自然落下する
のを予め防止しておいた場合には、人力、カム等の手段
を用いて徐々に蓋状体を連通溝に下降させればよく、蓋
状体の基台に対する垂直な装着が可能となる。

二のように、本発明の開閉機構は、ＬＳＩテストシステ
ムのフィクスチャーカハー、トランスポータプルタイプ
コンピュータ等の開閉形デイスプレィ、電子式複写機の
カバー等のような蓋状体を基台に垂直に装着する場合に
有効に適用される。

［実施例］ 第１図は、本発明の開閉機構の一実施例を示す分解説明
図である。

同図の例では、基台１の上面板２に軸受取付台３が設け
られ、この取付台３に一対の軸受体４が同軸上に対向し
て取り付けられている。

この軸受体４の軸受面の下部には、軸と平行に溝４ａが
設けられている。そして、該軸受体４には、側面５ｂの
少なくとも一部（同図では側面下部の一個所）及び底面
５Ｃの少なくとも一方（同図では、一方）で開口した溝
５ａを有する円柱状ブロック５が挿着されている。

また、蓋状体（本実施例では、フィクスチャーカハー６
）の−側辺には、軸体８が固定手段９により固定されて
いる。そして、この軸体８の両端部には、前記円柱状ブ
ロックの溝形状に対応する形状の突起７が形成されてい
る。

この突起７は、前記円柱状ブロック５の溝５ａに挿着さ
れ、該軸体８は該ブロック５と共に回転できる。また、
フイクスチャーカノ＼−６が水平となったとき（すなわ
ち、突起７が基台１に対して垂直方向に位置するとき）
には、円柱状プロ・ンク５の溝５ａと軸受体４の溝４ａ
とが一直線上に配置され、連通溝を形成する。この連通
溝内を、突起７が移動することによりフイクスチャーカ
バー６は水平状態を維持したまま鉛直方向に上下動する
ことができる。

以上のように、９第１図の例では、軸受体４、その溝４
ａ、円柱状ブロック５、その溝５ａ、及び軸体８の突起
７が、フィクスチャーカ）Ｘ−５の回動可能な支承手段
及び案内手段を備えた機構を構成している。

なお、第１図の例においては、これらの機構の他に、フ
ィクスチャーカバー６の、軸体８が取り付けられた側と
反対側端には、該軸体に平行に／Ｓンドル１０が設けら
れている。

また、第１図には上面板２に取り付けられたガイドピン
１１、及びガイドピン１１が挿入されると共に後述する
カムを受けるカムフォロア１２が図示されている。

このガイドピン１１は、フィクスチャーカハー６の装着
の際に、カムフォロア１２に設けた穴に嵌合して位置決
めを正確に行うものである。カムフォロア１２は４．後
述するカム１５と共にフィクスチャーカバー６の固定を
確保するために使用される。

第２図は、本発明の開閉機構を備えたＬＳＩテストシス
テムの説明図である。

同図では４、Ｄ　ｔＪ　Ｔボード１３及びコンタクトプ
ローブ１４も図示しである。このコンタクトプローブ１
４が、バネ付勢手段としてのスプリング付きピン群とし
て作用する３゜ また、基台１の上面板２には、フィクスチャーカバー６
を基台に締め付けるためのカム１５が設けられている。

このカム１５は、左右にそれぞれ設けられ（同図では、
一方のみを図示しである）、両者はワイヤー１６を介し
て連動している。そして、一方のカム１５にはレバー１
７が取り付けられており、このレバー１７を操作するこ
とで、フイクスチ中　　、−カバー６を基台ｌに固定し
、あるいは開放することができる。

上記のような開閉機構は以下のように動作する。

まず、フィクスチャーカバー６を略直立した位置から閉
じる場合、操作者はフイクスチャーカハー６の重量を支
えつつハンドル１０を下げる。

ここでＤＵＴボード１３はコンタクトプローブ１４と接
触し、コンタクトプローブ１４がフイクスチャーカバー
６の重量を支えることになる。

この状態で、フィクスチャーカハー６が基台１との接合
面（すなわちこの場合には水平面）に対して微小角度（
例えば、２°程度）傾斜するように、軸受体４の配置、
ブロック５の溝５ａの形状。

コンタクトプローブ１４のバネ勢等を設計しておく（後
述の第３図（Ｃ）参照）。

ココで、カム１５に設けられたレバー１７を操作（第２
図では、時計回りに回転）してフィクチャーカバー６を
基台１に対して垂直に押し下げる。

カム１５が回転するに従い、フィクスチャーカバー６は
カム形状に応じて下降し、レバー１７を完全に回転し終
えるとフィクチャーカバー６のロックが完了する（後述
の第３図（Ａ）参照）。

これらの操作は、片手で行うことができる。

また、フィクチャーカバー６は基台１に対して上下方向
に移動できるようにしたことで、フィクチャーカバー６
が回動する場合の支承軸の高さを従来の通常のヒンジを
用いたフィクスチャーカバーより高くできる。したがっ
て、例えばフィクスチャーカバー６を閉じる際、ＤＵＴ
ボード１３の接触面とコンタクトプローブ１４の先端と
の接触角度を直角近くとすることができる。

さらに、フィクチャーカバー６が基台１に対して上下方
向に移動する状態においては、コンタクトプローブエ４
はＤＵＴボードエ３の接触面に対し直角に当接するので
、コンタクトプローブ１４が破断したり、ＤＵＴボード
１３やプローブ１４の先端が擦過損傷等したりすること
はない。

次に、フィクスチ十−カバー６を開ける場合を第３図（
Ａ）〜（Ｄ）に沿って説明する。

同図（Ａ）は、フィクチャーカバー６が基台１にロック
されている状態を示している。

ここで、第２図に示すレバー１７を反時計回りに回転し
て、カム１５によるフィクチャーカバー６のロックを徐
々に解除する。

ロックの解除に伴い、第２図に示すコンタクトプローブ
１４（第３図（Ａ）〜（Ｄ）では、図示していない）の
スプリングの力によりフィクスチャーカバー６は、上昇
する。

すなわち、このフィクチャーカバー６の上昇は、突起７
が溝４ａと５ａとにより形成される連通溝内を上方に移
動することにより行われる。

そして、第３図（Ｂ）に示すように、突起７が連通溝の
終端に突き当たる。更に、続けてカム１５を回転し、フ
ィクスチャー力パー６のロックを完全に解除する。

ロックが解除された状態では、第３図（Ｃ）に示すよう
に、フィクチャーカバ−６は基台１との接合面に対し２
°程度の傾斜を有するように、軸受体４の配置やコンタ
クトプローブ１４のバネ勢等が調整しである。したがっ
て、この状態でフィクスチャーカバー６の突起７は約２
°だけ、軸受体４°内で回転することになる。

ここで、もし上記のような突起７に微小回転角度を与え
ない場合には、第２図に示すハンドル１０を上方に引き
上げた際に、フィクスーチャーカバー６が大重量である
と、突起７は溝４ａ側に戻り易くなる。そして、戻って
しまうとフィクスーチャーカバー６の回転が不可能とな
る。

これに対し、本実施例では、上述のように突起７に、予
め微小回転角度２°が与えられることになるので、突起
７が溝４ａ側に落ち込むことはな（、大重量のフィクス
チャーカバー６であっても、容易に開くことができる。

なお、上記実施例では突起７を軸体８の端部に設けたが
、この突起７と同形の突起を蓋状体６の端部両側に直接
設けてもよい。この場合には、該突起が軸体８としての
作用をも奏することになる。

また、上記の実施例では、軸体８を軸受体４で挟持した
場合を説明したが、例えばフィクスチ十−カバー６の一
側両端から内側に対向するように軸体を一対設け、各軸
体先端に設けた突起７を、基台３に背反するように設け
た一対の軸受体４で支承するようにすることもできる。

なお、この場合には、一対の軸受体４に代えて、やはり
図示は省略するが、長尺の軸受体を使用することもでき
る。この場合には、この長尺軸受体に、例えば長尺の円
柱状ブロックを挿着する。そして、該長尺軸受体の両端
の下部又は上部に溝４ａを設け、上記長尺円柱状ブロッ
クの両端に溝５ａを形成するようにすればよい。

〔発明の効果〕

以上述べたように、本発明によれば、以下の効果を奏す
ることができる。

蓋状体は、完全に閉じる前まで（閉蓋動作の前期）は軸
受体を支点として回動し、その後（閉蓋動作の後期）に
おいては基台に対して垂直に下降する。

したがって、本機構を、例えばＬＳＩテストシステムに
おけるフィクスチャーカハーと基台との開閉機構に用い
れば、スプリング式のコンタクトプローブには該軸方向
の力が加えられてＤＵＴボードが接触するので、該プロ
ーブの破損や接触部の磨耗等が生じることはない。

また、蓋状体を基台に回動するように取り付ける構成と
し、片手での開閉操作を可能としたので、フィクスチャ
ーカバーの取扱いが極めて簡単となり、またフィクスチ
ャーカバーを保守１点検等の都度取り外す必要はなく、
また該カバーの一時保管場所を確保しておく必要もなく
なった。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す分解説明図である。 第２図は第１図の実施例の動作を説明するためのＬＳＩ
テスタの説明図である。 第３図（Ａ）〜（Ｄ）は第１図の実施例の動作を示すた
めの図である。 １・・・基台 ４・−・軸受体 ５・・・円柱状ブロック ４ａ、５ａ・・・溝 ６・・・蓋状体 ７・・・突起 ８・・・軸体 （４，４ａ、５，５ａ、７．８・・・ 蓋状体の支承及び案内手段） １４・・・コンタクトプローブ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）基台又は蓋状体に取り付けられ、閉蓋動作の前期
   及び開蓋動作の後期において蓋状体を回動可能に支承す
   る手段と、閉蓋動作の後期及び開蓋動作の前期において
   蓋状体を基台に対し垂直上下方向に案内する手段とを備
   えた機構、及び 基台及び／又は蓋状体に取り付けられ、閉蓋状態におい
   て蓋状体を基台に対して垂直上方にバネ付勢する手段、 を有してなることを特徴とする蓋状体の開閉機構。
2. （２）バネ付勢する手段として、基台及び／又は蓋状体
   に垂直に取り付けられたスプリング付きピン群を用いた
   ことを特徴とする請求項（１）記載の蓋状体の開閉機構
   。
3. （３）軸受面の下部又は上部に軸に平行な溝を有する軸
   受体、 該軸受体に回転可能に挿着され、側面の少なくとも一部
   でかつ底面の少なくとも一方で開口する溝を有する円柱
   状ブロック、及び 上記軸受体の溝及び円柱状ブロックの溝が連通した場合
   に該連通溝により上下動可能で、かつ円柱状ブロックの
   溝に移動した場合に該円柱状ブロックと共に回動可能に
   構成された軸体、 を有してなることを特徴とする蓋状体の開閉機構。