JPH0416245Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0416245Y2 JPH0416245Y2 JP1984126030U JP12603084U JPH0416245Y2 JP H0416245 Y2 JPH0416245 Y2 JP H0416245Y2 JP 1984126030 U JP1984126030 U JP 1984126030U JP 12603084 U JP12603084 U JP 12603084U JP H0416245 Y2 JPH0416245 Y2 JP H0416245Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- head
- coil
- magnetic
- head chip
- reinforcing core
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 10
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 5
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 4
- 229910000702 sendust Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
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- Magnetic Heads (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本考案は電子スチルカメラ等に使用される２チ
ヤンネルインライン型の磁気ヘツドに関する。
ヤンネルインライン型の磁気ヘツドに関する。
(ロ) 従来技術
斯種磁気ヘツドの基本的な構成は本件出願人が
先に出願した特願昭59−4108号に示されている。
この従来構造を第８図の分解斜視図を参照して形
成すると、シールド部材１を挾んで第１、第２ヘ
ツドチツプH1，H2が対接するよう接合される。
各ヘツドチツプはセンダスト材等の金属材料より
なる主コア２と、補強コア３とから構成される。
そして主コア２は一対のコア半体２ａ，２ｂを突
き合わせたようになつており、その突き合せ面に
作動ギヤツプ４を有する。補強コア３はフエライ
ト等の磁性体部５と、ガラス等の非磁性体部６と
からなり、巻線孔７を介して後方に向け巻装され
たコイル８，９を有している。主コア２は補強コ
ア３と接合されたときコイル８，９に当接しない
ように切欠部１０が設けられている。このような
従来例とは別に、第９図に示す如く主コア２の長
さを短かくすると共に第１、第２ヘツドチツプ
H1，H2のコイル８，９をいずれも側方に向けて
巻装した磁気ヘツドも本件出願人は既に出願して
いる。
先に出願した特願昭59−4108号に示されている。
この従来構造を第８図の分解斜視図を参照して形
成すると、シールド部材１を挾んで第１、第２ヘ
ツドチツプH1，H2が対接するよう接合される。
各ヘツドチツプはセンダスト材等の金属材料より
なる主コア２と、補強コア３とから構成される。
そして主コア２は一対のコア半体２ａ，２ｂを突
き合わせたようになつており、その突き合せ面に
作動ギヤツプ４を有する。補強コア３はフエライ
ト等の磁性体部５と、ガラス等の非磁性体部６と
からなり、巻線孔７を介して後方に向け巻装され
たコイル８，９を有している。主コア２は補強コ
ア３と接合されたときコイル８，９に当接しない
ように切欠部１０が設けられている。このような
従来例とは別に、第９図に示す如く主コア２の長
さを短かくすると共に第１、第２ヘツドチツプ
H1，H2のコイル８，９をいずれも側方に向けて
巻装した磁気ヘツドも本件出願人は既に出願して
いる。
しかしながら、電子カメラ装置用の磁気ヘツド
は第１２図を参照していえばトラツク幅Ａが約
60μm、トラツクピツチＢが100μm、２つのヘツ
ドh1，h2の間隔Ｃが40μmと規格されている如く
極めて小型で、特に２つのヘツドが非常に近接し
ているのでクロストークが大きな問題となるもの
であり、現に前記第８図、第９図に示す従来例に
おいて高導電性材料をシールド部材１に使用した
としても両ヘツドチツプ間のクロストークを完全
に除去することができず、従つて高画質画像を得
るにあたり大きな障害となつていた。これを第１
０図と第１１図を参照して説明する。第１０図
ａ，ｂは第８図に対応する側面図及び上面図であ
り、一方第１１図ａ，ｂは第９図に対応する側面
図及び上面図である。これらの図から分るように
例えば第１ヘツドチツプH1のコイル８から発生
する漏洩磁束φ1が第２ヘツドチツプH2のコイル
９に鎖交して影響する。これは、両方のコイル
８，９の中心軸が完全に平行であるので一方のコ
イルから生じた漏洩磁束が他方のコイルに鎖交す
る量が多くなることによりクロストークが増大す
ることを示している。
は第１２図を参照していえばトラツク幅Ａが約
60μm、トラツクピツチＢが100μm、２つのヘツ
ドh1，h2の間隔Ｃが40μmと規格されている如く
極めて小型で、特に２つのヘツドが非常に近接し
ているのでクロストークが大きな問題となるもの
であり、現に前記第８図、第９図に示す従来例に
おいて高導電性材料をシールド部材１に使用した
としても両ヘツドチツプ間のクロストークを完全
に除去することができず、従つて高画質画像を得
るにあたり大きな障害となつていた。これを第１
０図と第１１図を参照して説明する。第１０図
ａ，ｂは第８図に対応する側面図及び上面図であ
り、一方第１１図ａ，ｂは第９図に対応する側面
図及び上面図である。これらの図から分るように
例えば第１ヘツドチツプH1のコイル８から発生
する漏洩磁束φ1が第２ヘツドチツプH2のコイル
９に鎖交して影響する。これは、両方のコイル
８，９の中心軸が完全に平行であるので一方のコ
イルから生じた漏洩磁束が他方のコイルに鎖交す
る量が多くなることによりクロストークが増大す
ることを示している。
(ハ) 考案が解決しようとする問題点
それ故に、本考案は電子カメラ装置用の磁気ヘ
ツドのように２つのヘツド間隔が極めて小さく規
格されている如き磁気ヘツドにおけるクロストー
クを解決するものである。
ツドのように２つのヘツド間隔が極めて小さく規
格されている如き磁気ヘツドにおけるクロストー
クを解決するものである。
(ニ) 問題点を解決するための手段
２チヤンネル各別の第１及び第２ヘツドチツプ
と、該第１及び第２ヘツドチツプ間に介在された
シールド板から成り、前記各ヘツドチツプはギヤ
ツプが形成されたセンダスト等の金属磁性材料よ
りなる主コア及び該主コアに接合されたフエライ
ト等からなる補強コア及び該補強コアに巻線孔を
介して巻装されたコイルにより構成された磁気ヘ
ツドにおいて、前記第１ヘツドチツプのコイルは
巻線孔を介してギヤツプのデプス方向と直交する
方向に沿つて補強コアの側方部に巻装され、前記
第２ヘツドチツプのコイルは巻線孔を介してギヤ
ツプのデプス方向に沿つて補強コアの後方部に巻
装され、上記２つのコイルは互いに直交配置さ
れ、第２ヘツドチツプを非磁性の導電性材料から
なるヘツドベース側に位置するようにしたことを
特徴とする磁気ヘツドを提供する。
と、該第１及び第２ヘツドチツプ間に介在された
シールド板から成り、前記各ヘツドチツプはギヤ
ツプが形成されたセンダスト等の金属磁性材料よ
りなる主コア及び該主コアに接合されたフエライ
ト等からなる補強コア及び該補強コアに巻線孔を
介して巻装されたコイルにより構成された磁気ヘ
ツドにおいて、前記第１ヘツドチツプのコイルは
巻線孔を介してギヤツプのデプス方向と直交する
方向に沿つて補強コアの側方部に巻装され、前記
第２ヘツドチツプのコイルは巻線孔を介してギヤ
ツプのデプス方向に沿つて補強コアの後方部に巻
装され、上記２つのコイルは互いに直交配置さ
れ、第２ヘツドチツプを非磁性の導電性材料から
なるヘツドベース側に位置するようにしたことを
特徴とする磁気ヘツドを提供する。
(ホ) 作用
上記のようなコイルの配置により相手のヘツド
チツプのコイルに鎖交する磁束が非常に小さくな
りクロストークが軽減され、しかも非磁性の導電
性材料からなるヘツドベースの磁気シールド効果
により第１ヘツドチツプと第２ヘツドチツプとの
インダクタンスの差が小さくなる。
チツプのコイルに鎖交する磁束が非常に小さくな
りクロストークが軽減され、しかも非磁性の導電
性材料からなるヘツドベースの磁気シールド効果
により第１ヘツドチツプと第２ヘツドチツプとの
インダクタンスの差が小さくなる。
(ヘ) 実施例
本考案を実施した第１図において第８図、第９
図と同一部材については同一の符号を付して重複
説明を省略する。本実施例では第１ヘツドチツプ
H1のコイル８は巻線孔７を介してギヤツプ４の
デプス方向と直交する方向に沿つて補強コア３の
側方部に巻装され、前記第２ヘツドチツプH2の
コイル９は巻線孔１０を介してギヤツプ４のデプ
ス方向に沿つて補強コア３の後方部に巻装され、
上記２つのコイル８，９は互いに直交配置されて
いる。しかし前記コイル８，９の態様を図示とは
逆にしてもよいことはいうまでもない。
図と同一部材については同一の符号を付して重複
説明を省略する。本実施例では第１ヘツドチツプ
H1のコイル８は巻線孔７を介してギヤツプ４の
デプス方向と直交する方向に沿つて補強コア３の
側方部に巻装され、前記第２ヘツドチツプH2の
コイル９は巻線孔１０を介してギヤツプ４のデプ
ス方向に沿つて補強コア３の後方部に巻装され、
上記２つのコイル８，９は互いに直交配置されて
いる。しかし前記コイル８，９の態様を図示とは
逆にしてもよいことはいうまでもない。
第２図及び第３図は第１図の磁気ヘツドによる
漏洩磁束の影響を示しており、両図においてａは
側面図、ｂは上面図である。第２図は第１ヘツド
チツプH1のコイル８から生じる漏洩磁束φ1が第
２ヘツドチツプH2のコイル９に与える影響を示
し、一方第３図は第２ヘツドチツプH2のコイル
９から生じる漏洩磁束φ2が第１ヘツドチツプH1
のコイル８に与える影響を示している。
漏洩磁束の影響を示しており、両図においてａは
側面図、ｂは上面図である。第２図は第１ヘツド
チツプH1のコイル８から生じる漏洩磁束φ1が第
２ヘツドチツプH2のコイル９に与える影響を示
し、一方第３図は第２ヘツドチツプH2のコイル
９から生じる漏洩磁束φ2が第１ヘツドチツプH1
のコイル８に与える影響を示している。
第２図、第３図から分かるように本考案ではコ
イル８，９の中心軸が直交し、更に従来のヘツド
に比しコイル８，９の距離を大きくとることがで
きるので、相手のコイルに鎖交する漏洩磁束の量
を非常に少なくすることができる。
イル８，９の中心軸が直交し、更に従来のヘツド
に比しコイル８，９の距離を大きくとることがで
きるので、相手のコイルに鎖交する漏洩磁束の量
を非常に少なくすることができる。
尚、上述のようなコイル８，９の非対称により
第１、第２ヘツドチツプH1，H2のインダクタン
スに差が生じる。例えば、第１図の例でいえば、
第２ヘツドチツプH2のコイル９が巻回されてい
る磁性体部５の部分の断面積が、第１ヘツドチツ
プH1のコイル８が巻回されている磁性体部５の
部分の断面積よりも大きいため、コイル９の方が
コイル８よりもインダクタンスが大きくなる。し
かしながら、このようなインダクタンス値のアン
バランスは第４図に示すようにヘツドベース１２
に取り付けるときに、第２ヘツドチツプH2をヘ
ツドベース１２側に位置させることにより解消で
きる。即ち、ヘツドベース１２は一般に非磁性の
導電性材料で形成されていて磁気シールド効果を
生じ、それに近接するコイル９のインダクタンス
を下げるように作用するからである。そして、こ
のように第１、第２ヘツドチツプH1，H2のイン
ダクタンス値のアンバランスを解消することによ
り、該第１、第２ヘツドチツプH1，H2に接続さ
れるアンプ等の電気回路の設定条件をヘツドチツ
プ毎に変更する必要はなくなる。
第１、第２ヘツドチツプH1，H2のインダクタン
スに差が生じる。例えば、第１図の例でいえば、
第２ヘツドチツプH2のコイル９が巻回されてい
る磁性体部５の部分の断面積が、第１ヘツドチツ
プH1のコイル８が巻回されている磁性体部５の
部分の断面積よりも大きいため、コイル９の方が
コイル８よりもインダクタンスが大きくなる。し
かしながら、このようなインダクタンス値のアン
バランスは第４図に示すようにヘツドベース１２
に取り付けるときに、第２ヘツドチツプH2をヘ
ツドベース１２側に位置させることにより解消で
きる。即ち、ヘツドベース１２は一般に非磁性の
導電性材料で形成されていて磁気シールド効果を
生じ、それに近接するコイル９のインダクタンス
を下げるように作用するからである。そして、こ
のように第１、第２ヘツドチツプH1，H2のイン
ダクタンス値のアンバランスを解消することによ
り、該第１、第２ヘツドチツプH1，H2に接続さ
れるアンプ等の電気回路の設定条件をヘツドチツ
プ毎に変更する必要はなくなる。
次に、第５図は本考案の他の実施例を示してお
り、矢印１３，１４はシールド部材１及び第１、
第２ヘツドチツプH1，H2の接合方向を示してい
る。この実施例ではシールド部材１以外に第２の
シールド部材１５，１６を第１ヘツドチツプH1
とシールド部材１との隙間及び第２ヘツドチツプ
H2とシールド部材１との隙間に介在させるよう
な形成をとつており、第１、第２ヘツドチツプ
H1，H2のクロストーク抑圧効果は向上する。第
６図は前記第５図の磁気ヘツドをヘツドベース１
２に取り付けた状態を示している。
り、矢印１３，１４はシールド部材１及び第１、
第２ヘツドチツプH1，H2の接合方向を示してい
る。この実施例ではシールド部材１以外に第２の
シールド部材１５，１６を第１ヘツドチツプH1
とシールド部材１との隙間及び第２ヘツドチツプ
H2とシールド部材１との隙間に介在させるよう
な形成をとつており、第１、第２ヘツドチツプ
H1，H2のクロストーク抑圧効果は向上する。第
６図は前記第５図の磁気ヘツドをヘツドベース１
２に取り付けた状態を示している。
第７図は各ヘツドチツプH1，H2と前記第２シ
ールド部材１５，１６との関係を示しており、そ
のうちａは第２ヘツドチツプH2に対しコイル９
との当接を避けるべく第２シールド部材１６にコ
イル９に対応した比較的大きな切欠１８が形成さ
れていることを示し、ｂは第１ヘツドチツプH1
に対しコイル８のリード１９の導出を許容するべ
く第２シールド部材１５に比較的幅狭の切欠１７
が形成されていることを示している。第１３図は
本考案によるクロストークの減少を従来例と対比
して示しており、イは第８図に示す従来例、ロは
第１図に示す本考案実施例、そしてハは第５図に
示す本考案実施例のクロストーク減少特性であ
る。
ールド部材１５，１６との関係を示しており、そ
のうちａは第２ヘツドチツプH2に対しコイル９
との当接を避けるべく第２シールド部材１６にコ
イル９に対応した比較的大きな切欠１８が形成さ
れていることを示し、ｂは第１ヘツドチツプH1
に対しコイル８のリード１９の導出を許容するべ
く第２シールド部材１５に比較的幅狭の切欠１７
が形成されていることを示している。第１３図は
本考案によるクロストークの減少を従来例と対比
して示しており、イは第８図に示す従来例、ロは
第１図に示す本考案実施例、そしてハは第５図に
示す本考案実施例のクロストーク減少特性であ
る。
(ト) 考案の効果
以上の通り本考案によれば一方のコイルから生
じて他方のコイルに鎖交する漏洩磁束が極めて少
なくなり、２つのヘツドチツプ間のクロストーク
が著しく改善され、さらに両ヘツドチツプ間のイ
ンダクタンスの差を解消し、該ヘツドチツプに接
続される電気回路の回路設定を容易にするという
効果がある。
じて他方のコイルに鎖交する漏洩磁束が極めて少
なくなり、２つのヘツドチツプ間のクロストーク
が著しく改善され、さらに両ヘツドチツプ間のイ
ンダクタンスの差を解消し、該ヘツドチツプに接
続される電気回路の回路設定を容易にするという
効果がある。
第１図は本考案を実施した磁気ヘツドの分解斜
視図であり、第２図及び第３図はその説明図、第
４図はヘツドベースに取り付けた状態の斜視図で
ある。第５図は本考案の他の実施例の分解斜視図
であり、第６図はそれをヘツドベースに取り付け
た状態の斜視図、第７図はその個々のヘツドチツ
プの構成を説明する図である。第８図は従来の磁
気ヘツドの分解斜視図であり、第９図は他の従来
例の分解斜視図、第１０図及び第１１図はそれら
の説明図である。第１２図は本考案が対象とする
磁気ヘツドを説明する図である。第１３図は本考
案の効果を示す特性図である。 H1，H2……第１、第２ヘツドチツプ、１……
シールド部材、７，１０……巻線孔、８，９……
コイル、１１……後方部。
視図であり、第２図及び第３図はその説明図、第
４図はヘツドベースに取り付けた状態の斜視図で
ある。第５図は本考案の他の実施例の分解斜視図
であり、第６図はそれをヘツドベースに取り付け
た状態の斜視図、第７図はその個々のヘツドチツ
プの構成を説明する図である。第８図は従来の磁
気ヘツドの分解斜視図であり、第９図は他の従来
例の分解斜視図、第１０図及び第１１図はそれら
の説明図である。第１２図は本考案が対象とする
磁気ヘツドを説明する図である。第１３図は本考
案の効果を示す特性図である。 H1，H2……第１、第２ヘツドチツプ、１……
シールド部材、７，１０……巻線孔、８，９……
コイル、１１……後方部。
Claims (1)
- ２チヤンネル各別の第１及び第２ヘツドチツプ
と、該第１及び第２ヘツドチツプ間に介在された
シールド板から成り、前記各ヘツドチツプはギヤ
ツプが形成されたセンダスト等の金属磁性材料よ
りなる主コア及び該主コアに接合されたフエライ
ト等からなる補強コア及び該補強コアに巻線孔を
介して巻装されたコイルにより構成された磁気ヘ
ツドにおいて、前記第１ヘツドチツプのコイルは
巻線孔を介してギヤツプのデプス方向と直交する
方向に沿つて補強コアの側方部に巻装され、前記
第２ヘツドチツプのコイルは巻線孔を介してギヤ
ツプのデプス方向に沿つて補強コアの後方部に巻
装され、上記２つのコイルは互いに直交配置さ
れ、第２ヘツドチツプを非磁性の導電性材料から
なるヘツドベース側に位置するようにしたことを
特徴とする磁気ヘツド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12603084U JPS6140709U (ja) | 1984-08-20 | 1984-08-20 | 磁気ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12603084U JPS6140709U (ja) | 1984-08-20 | 1984-08-20 | 磁気ヘツド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6140709U JPS6140709U (ja) | 1986-03-14 |
| JPH0416245Y2 true JPH0416245Y2 (ja) | 1992-04-13 |
Family
ID=30684716
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12603084U Granted JPS6140709U (ja) | 1984-08-20 | 1984-08-20 | 磁気ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6140709U (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11792538B2 (en) | 2008-05-20 | 2023-10-17 | Adeia Imaging Llc | Capturing and processing of images including occlusions focused on an image sensor by a lens stack array |
| CN104081414B (zh) | 2011-09-28 | 2017-08-01 | Fotonation开曼有限公司 | 用于编码和解码光场图像文件的系统及方法 |
| JP7273250B2 (ja) | 2019-09-17 | 2023-05-12 | ボストン ポーラリメトリックス，インコーポレイティド | 偏光キューを用いた面モデリングのためのシステム及び方法 |
| KR20220133973A (ko) | 2020-01-30 | 2022-10-05 | 인트린식 이노베이션 엘엘씨 | 편광된 이미지들을 포함하는 상이한 이미징 양식들에 대해 통계적 모델들을 훈련하기 위해 데이터를 합성하기 위한 시스템들 및 방법들 |
| WO2021243088A1 (en) | 2020-05-27 | 2021-12-02 | Boston Polarimetrics, Inc. | Multi-aperture polarization optical systems using beam splitters |
| US11290658B1 (en) | 2021-04-15 | 2022-03-29 | Boston Polarimetrics, Inc. | Systems and methods for camera exposure control |
| US11954886B2 (en) | 2021-04-15 | 2024-04-09 | Intrinsic Innovation Llc | Systems and methods for six-degree of freedom pose estimation of deformable objects |
| US11689813B2 (en) | 2021-07-01 | 2023-06-27 | Intrinsic Innovation Llc | Systems and methods for high dynamic range imaging using crossed polarizers |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5189716A (ja) * | 1975-02-04 | 1976-08-06 |
-
1984
- 1984-08-20 JP JP12603084U patent/JPS6140709U/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5189716A (ja) * | 1975-02-04 | 1976-08-06 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6140709U (ja) | 1986-03-14 |
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