JPH04162207A - 反強磁性薄膜およびこれを用いた磁気抵抗効果素子 - Google Patents

反強磁性薄膜およびこれを用いた磁気抵抗効果素子

Info

Publication number
JPH04162207A
JPH04162207A JP28700090A JP28700090A JPH04162207A JP H04162207 A JPH04162207 A JP H04162207A JP 28700090 A JP28700090 A JP 28700090A JP 28700090 A JP28700090 A JP 28700090A JP H04162207 A JPH04162207 A JP H04162207A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
alloy
thin film
corrosion resistance
film
thin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28700090A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryoichi Nakatani
亮一 中谷
Masahiro Kitada
北田 正弘
Hideo Tanabe
英男 田辺
Noboru Shimizu
昇 清水
Isamu Yuhito
勇 由比藤
Naoki Koyama
直樹 小山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP28700090A priority Critical patent/JPH04162207A/ja
Priority to US07/668,069 priority patent/US5287237A/en
Publication of JPH04162207A publication Critical patent/JPH04162207A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Magnetic Heads (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は高い耐食性を有する反強磁性薄膜に関し、特に
磁気ディスク装置などに用いる再生用磁気ヘッドにおけ
る磁気抵抗効果素子のバルクハウゼンノイズを抑止する
ために用いる反強磁性薄膜に関する。
【従来の技術】
パーマロイを用いた磁気抵抗効果素子のバルクハウゼン
ノイズを抑制するために、特開昭62−40610に記
載されているように、パーマロイ薄膜に反強磁性薄膜を
接触させ1反強磁性薄膜からのバイアス磁界によってパ
ーマロイの磁壁移動を抑止する方法が行われている。現
在、反強磁性材料としては、F e −M n系合金が
用いられている、 しかし、Fe−Mn系合金の耐食性は悪く、上記方法の
適用を困難にしていた。そこで、Fe−M n系合金の
耐食性を改善するために、特開平1−213819に記
載されているように、Fe−M n系合金にTi、Rh
、Crを添加し、耐食性を改善してきた。
【発明が解決しようとする課題】
しかし、Fe−Mn系合金にTi、Rh、Crを添加し
た合金薄膜の耐食性は、まだ不十分であり、さらに、耐
食性を改善することが望まれている。 本発明の目的は、上述のFeMn系合金の耐食性を、F
e−Mn系合金にTi、Rh、Crを添加した合金薄膜
以上に改善し、実用に適した反強磁性薄膜を提供するこ
とにある。 【課題を解決するための手段1 本発明者等は、Fe−Mn系合金に種々の元素を添加し
た合金薄膜について鋭意研究を重ねた結果、F e −
M n系合金にIrを添加すると著しく耐食性が向上す
ることを明らかにした。また、上記合金のIrの濃度を
4〜15原子%とすることにより、耐食性に優れ、バイ
アス磁界の大きい反強磁性薄膜を得ることができる。上
記Fe−Mn−Ir系合金に、Ru、Rh、Ptから選
ばれる1種以上の添加元素を添加し、上記添加元素とI
rの合計が4〜15原子%とすることにより、さらに耐
食性に優れ、バイアス磁界の大きい反強磁性薄膜を得る
ことができる。さらに、上記の反強磁性薄膜にTi、Z
r、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Ni、C
uを0.1〜2原子%添加することにより、さらに耐食
性の優れた反強磁性薄膜を得ることができる。また、上
記合金薄膜を磁気抵抗効果素子の少なくとも一部に用い
ることにより、バルクハウゼンノイズのない磁気抵抗効
果素子を得ることができる。さらに、上記磁気抵抗効果
素子を磁気ヘッドの少なくとも一部に用いることにより
、バルクハウゼンノイズのない高感度磁気ヘッドを得る
ことができる。 【作用1 上述のように、Fe−Mn系合金にIr’を添加すると
著しく耐食性が向上する。また、上記合金のIrの濃度
を4〜15原子%とすることにより、耐食性に優れ、バ
イアス磁界の大きい反強磁性薄膜を得ることができる。 上記Fe−Mn−Ir系合金に、Ru、Rh、Ptから
選ばれる1種以上の添加元素を添加し、上記添加元素と
Irの合計が4〜15原子%とすることにより、さらに
耐食性に優れ、バイアス磁界の大きい反強磁性薄膜を得
ることができる。さらに、上記の反強磁性薄膜にTi、
Zr、Hf、V−Nb、Ta5Cr、MO2W、Ni、
Cuを0.1〜2原子%添加することにより、さらに耐
食性の優れた反強磁性薄膜を得ることができる。また、
上記合金薄膜を磁気抵抗効果素子の少なくとも一部に用
いることにより、バルクハウゼンノイズのない磁気抵抗
効果素子を得ることができる。さらに、上記磁気抵抗効
果素子を磁気ヘッドの少なくとも一部に用いることによ
り、バルクハウゼンノイズのない高感度磁気ヘッドを得
ることができる。 【実施例] 以下に本発明の一実施例を挙げ、図表を参照しながらさ
らに具体的に説明する。 [実施例1] 反強磁性薄膜およびパーマロイ薄膜の作製にはイオンビ
ーム・スパッタリング装置を用いた。スパッタリングは
以下の条件で行った。 イオンガス・・・Ar 装置内Arガス圧力・・・2.5X1002Pa蒸着用
イオンガン加速電圧・・・400v蒸着用イオンガンイ
オン電流・・・60mAターゲット基板間距離・・・1
27mm基板にはコーニング社製7059ガラスを用い
た。まず、基板上に、膜厚40nmのパーマロイ薄膜を
形成し、その上に、従来例の膜厚50nmのFe−Mn
系合金薄膜およびF e −M n系合金にTi、Rh
、Crを添加した合金薄膜1本発明のF e −M n
系合金にIrを添加した合金薄膜を形成した。 形成した薄膜を温度60℃、湿度90%の環境に7日間
置き、その耐食性を比較した。耐食性は、耐食性試験前
のF e −M n系合金よりパーマロイ薄膜に印加さ
れるバイアス磁界と、試験後のバイアス磁界との比よっ
て評価した。この比が1.0の時に、上記恒温恒湿試験
を行なっても、バイアス磁界が変化しないことを示す。 また、この比が0の時、上記恒温恒湿試験により、Fe
−Mn系合金薄膜が完全に腐食して、バイアス磁界が消
失したことを、示す。 第1図に、添加したIr濃度と試験前後のバイアス磁界
の比との関係を示す。この図のように、Ir濃度が0%
、すなわち、Irを添加していないFe−Mn系合金は
、耐食性が悪く、恒温恒湿試験によって、バイアス磁界
は30%程度に減少している。これに対し、Irを0.
1原子%以上添加すると、耐食性は向上する。また、I
rを4原子%以上添加した合金薄膜は、全く腐食せず。 パーマロイに印加されるバイアス磁界の変化がない。 以上の結果から、Fe−Mn系合金にIrを添加した合
金は、Irを添加しない合金に比べて、優れた耐食性を
示すことがわかった。また、第1図のように、特開平1
−213819に記載の、Ti、Rh、Crを添加した
合金よりも、Irを添加した合金の方が、少ない添加量
で耐食性を改善できる。 なお、上記のF e −M n系合金のFeとMnの組
成比は約5:4であるが、Fe−Mn系合金が反強磁性
を示す限り、FeとMnの組成比が変化しても、上記の
添加元素による耐食性の向上は、上記実施例と同様とな
る。 また、本実施例では、パーマロイ合金薄膜の上にFe−
Mn系合金薄膜を形成したが、Fe−Mn系合金が反強
磁性を示す限り、パーマロイ合金薄膜形成の前にFe−
Mn系合金薄膜を形成しても、本実施例と同様の効果が
ある。 また、本実施例では、薄膜の形成にイオンビームスパッ
タリング法を用いたが、高周波スパッタリング法、直流
スパッタリング法、蒸着法等の他の薄膜形成法を用いて
も同様の結果が得られる。 [実施例2コ 実施例1と同様の方法で、Fe−Mn−Ir/パーマロ
イ薄膜を作製した。Fe−Mn系合金よりパーマロイ薄
膜に印加されるバイアス磁界と添加したIr元素濃度の
関係を第2図に示す。同図のように、Fe−Mn系合金
にIrを添加すると、バイアス磁界は減少する。Ir濃
度を15原子%以下にすると、50e以上のバイアス磁
界が得られる。実施例1では、Irを4原子%以上添加
すると良好な耐食性を示すことを示した。従って、良好
な耐食性および50 e以上のバイアス磁界を同時に得
るためには、Ir濃度を4〜15原子%とすることが好
ましい。 また、第2図のように、100e以上のバイアス磁界を
得るためには、Ir濃度を11原子%以下にする必要が
ある。従って、良好な耐食性および100e以上のバイ
アス磁界を同時に得るためには、Ir濃度を4〜11原
子%とすることが好ましい。 また、第2図のように、150e以上のバイアス磁界を
得るためには、Ir濃度を7.5原子%以下にする必要
がある。従って、良好な耐食性および150e以上のバ
イアス磁界を同時に得るためには、Ir濃度を4〜7.
5原子%とすることが好ましい。 なお、本実施例では、パーマロイ合金薄膜の上にFe−
Mn系合金薄膜を形成したが、Fe−M n系合金が反
強磁性を示す限り、パーマロイ合金薄膜形成の前にFe
−Mn系合金薄膜を形成しても、本実施例と同様の効果
がある。 また、本実施例では、薄膜の形成にイオンビームスパッ
タリング法を用いたが、高周波スパッタリング法、直流
スパッタリング法、蒸着法等の他の薄膜形成法を用いて
も同様の結果が得られる。 [実施例3コ 実施例1と同様の方法で、パーマロイ合金薄膜上に、F
e−Mn−Ir系合金にRu、Rh。 Ptを添加した合金薄膜を形成した。Ir濃度は、7.
5原子%、Ru、Rh、Pt濃度は3.O原子%とした
。また、比較例として、パーマロイ薄膜上に、Irを1
0.5原子%添加したFe−Mn−Ir系合金薄膜を形
成した。 形成した薄膜を温度60℃、湿度90%の環境に14日
間置き、その耐食性を比較した。耐食性は、耐食性試験
前のFe−Mn系合金よりパーマロイ薄膜に印加される
バイアス磁界と、試験後のバイアス磁界との比よって評
価した。 添加元素と試験前後のバイアス磁界の比との関係を第1
表に示す。添加元素欄にIrと記載しである結果は、I
rを10.5原子%添加した時の結果である。 第1表に示すごとく、Ru、Rh、Ptを添加すること
により、耐食性がさらに向上する。また、Ru、Rh−
Ptの添加によるバイアス磁界の減少は、Ir添加の時
とほぼ同様であるため、良好な耐食性および50e以上
のバイアス磁界を同時に得るためには、Irと添加元素
の合計の濃度を4〜15原子%とすることが好ましい。 また、良好な耐食性および100e以上のバイアス磁界
を同時に得るためには、Irと添加元素の合計の濃度を
4〜11原子%とすることが好ましい。また、良好な耐
食性および150e以上のバイアス磁界を同時に得るた
めには、Irと添加元素の合計の濃度を4〜7.5IJ
K子%とすることが好ましい。 なお、本実施例では、パーマロイ合金薄膜の上にFe−
Mn系合金薄膜を形成したが、Fe−Mn系合金が反強
磁性を示す限り、パーマロイ合金薄膜形成の前にFa−
Mn系合金薄膜を形成しても、本実施例と同様の効果が
ある。 また、本実施例では、薄膜の形成にイオンビームスパッ
タリング法を用いたが、高周波スパッタリング法、直流
スパッタリング法、蒸着法等の他の薄膜形成法を用いて
も同様の結果が得られる。 [実施例4] 実施例1と同様の方法で、パーマロイ合金薄膜上に、F
e−Mn−Ir系合金にTi、Zr、Hf、■、Nb、
Ta、Cr−Mo、W、Ni、Cuを添加した合金薄膜
を形成した。Ir濃度は、7.5原子%、添加元素濃度
は2原子%とした。 形成した薄膜を温度60℃、湿度90%の環境に14日
間置き、その耐食性を比較した。耐食性は、耐食性試験
前のFe−Mn系合金よりパーマロイ薄膜に印加される
バイアス磁界と、試験後のバイアス磁界との比よって評
価した。 添加元素と試験前後のバイアス磁界の比との間第2表 第1表に示すごと<、Ti、Zr、Hf、V、Nb、T
a、Cr、Mo、W、Ni、Cuを添加することにより
、耐食性がさらに向上する。また、添加元素濃度が0.
1原子%以上において、上記添加元素の効果が生じる。 また、添加元素濃度を2原子%より多くしても、添加元
素濃度2原子%の時と耐食性はほぼ同等である。バイア
ス磁界は、添加元素量にほぼ比例して減少する。以上の
結果より、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、
Mo、W、Ni、Cuの添加量は0.1〜27!子%が
好ましい。 なお、本実施例では、パーマロイ合金薄膜の上にFe−
Mn系合金薄膜を形成したが、Fa−Mn系合金が反強
磁性を示す限り、パーマロイ合金薄膜形成の前にFe−
Mn系合金薄膜を形成しても、本実施例と同様の効果が
ある。 また、本実施例では、薄膜の形成にイオンビームスパッ
タリング法を用いたが、高周波スパッタリング法、直流
スパッタリング法、蒸着法等の他の薄膜形成法を用いて
も同様の結果が得られる。 [実施例5コ 実施例1〜4で論じたFe−Mn系合金/パーマロイ薄
膜を用いて、磁気抵抗効果素子を作製した。磁気抵抗効
果素子の印加磁界による出力変化を調べたところ、バル
クハウゼンノイズのない磁気抵抗効果素子が得られたこ
とが確認された。 また、上記磁気抵抗効果素子を用いた磁気ヘッドには、
バルクハウゼンノイズによる再生波形の歪みは見られな
かった。 【発明の効果1 以上詳細に説明したごとく、Fe−Mn系合金にIrを
添加すると著しく耐食性が向上する。また、上記合金の
Irの濃度を4〜15原子%とすることにより、耐食性
に優れ、バイアス磁界の大きい反強磁性薄膜を得ること
ができる。上記Fe−Mn−Ir系合金に、Ru、Rh
、Ptから選ばれる1種以上の添加元素を添加し、上記
添加元素とIrの合計が4〜15原子%とすることによ
り、さらに耐食性に優れ、バイアス磁界の大きい反強磁
性薄膜を得ることができる。さらに、上記の反強磁性薄
膜にTi、Zr、Hf、V、Nb、Ta−Cr、Mo、
W、Ni、Cuを0.1〜2原子%添加することにより
、さらに耐食性の優れた反強磁性薄膜を得ることができ
る。また、上記1、合金薄膜を磁気抵抗効果素子の少な
くとも一部に用いることにより、バルクハウゼンノイズ
のない磁気抵抗効果素子を得ることができる。さらに、
上記磁気抵抗効果素子を磁気ヘッドの少なくとも一部に
用いることにより、バルクハウゼンノイズのない高感度
磁気ヘッドを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の反強磁性薄膜と従来の反強磁性薄膜の
耐食性試験の結果を示すグラフ、第2図は本発明のFe
−Mn−Ir系合金反強磁性薄膜のIr濃度によるバイ
アス磁界の変化を示すグラフである。 符号の説明 11、Ir添加による耐食性の変化、 12、Ti添加による耐食性の変化、 13、Rh添加による耐食性の変化、 14、Cr添加による耐食性の変化、

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、Fe−Mn−Ir系合金であることを特徴とする反
    強磁性薄膜。 2、特許請求の範囲第1項に記載の反強磁性薄膜におい
    て、Irの濃度が4〜15原子%であることを特徴とす
    る反強磁性薄膜。 3、特許請求の範囲第1項または第2項に記載の反強磁
    性薄膜において、さらに、Ru、Rh、Ptから選ばれ
    る1種以上の添加元素を含み、上記添加元素とIrの合
    計が4〜15原子%であることを特徴とする反強磁性薄
    膜。 4、特許請求の範囲第1項から第3項のうちいずれかに
    記載の反強磁性薄膜にTi、Zr、Hf、V、Nb、T
    a、Cr、Mo、W、Ni、Cuを0.1〜2原子%添
    加したことを特徴とする反強磁性薄膜。 5、特許請求の範囲第1項から第4項のうちいずれかに
    記載の反強磁性薄膜を少なくとも一部に使ったことを特
    徴とする磁気抵抗効果素子。 6、特許請求の範囲第5項に記載の磁気抵抗効果素子を
    少なくとも一部に用いた磁気ヘッド。
JP28700090A 1990-03-16 1990-10-26 反強磁性薄膜およびこれを用いた磁気抵抗効果素子 Pending JPH04162207A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28700090A JPH04162207A (ja) 1990-10-26 1990-10-26 反強磁性薄膜およびこれを用いた磁気抵抗効果素子
US07/668,069 US5287237A (en) 1990-03-16 1991-03-12 Antiferromagnetic film superior in corrosion resistance, magnetoresistance-effect element and magnetoresistance-effect head including such thin film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28700090A JPH04162207A (ja) 1990-10-26 1990-10-26 反強磁性薄膜およびこれを用いた磁気抵抗効果素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04162207A true JPH04162207A (ja) 1992-06-05

Family

ID=17711728

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28700090A Pending JPH04162207A (ja) 1990-03-16 1990-10-26 反強磁性薄膜およびこれを用いた磁気抵抗効果素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04162207A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5729411A (en) * 1995-07-12 1998-03-17 Fujitsu Limited Magnetoresistive head and magnetoresistive recording/reproducing drive with an antiferromagnetic layer of high corrosion resistance
US5986858A (en) * 1997-03-26 1999-11-16 Fujitsu Limited Ferromagnetic tunnel-junction magnetic sensor utilizing a barrier layer having a metal layer carrying an oxide film
US6007643A (en) * 1995-07-12 1999-12-28 Fujitsu Limited Method of manufacturing magnetoresistive head
US6057049A (en) * 1994-12-13 2000-05-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Exchange coupling film and magnetoresistive element

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6057049A (en) * 1994-12-13 2000-05-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Exchange coupling film and magnetoresistive element
US6455178B1 (en) 1994-12-13 2002-09-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Exchange coupling film and magnetoresistive element
US5729411A (en) * 1995-07-12 1998-03-17 Fujitsu Limited Magnetoresistive head and magnetoresistive recording/reproducing drive with an antiferromagnetic layer of high corrosion resistance
US6007643A (en) * 1995-07-12 1999-12-28 Fujitsu Limited Method of manufacturing magnetoresistive head
US5986858A (en) * 1997-03-26 1999-11-16 Fujitsu Limited Ferromagnetic tunnel-junction magnetic sensor utilizing a barrier layer having a metal layer carrying an oxide film
US6165287A (en) * 1997-03-26 2000-12-26 Fujitsu Limited Ferromagnetic tunnel-junction magnetic sensor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04162207A (ja) 反強磁性薄膜およびこれを用いた磁気抵抗効果素子
JP2001006158A (ja) 磁気記録媒体
JPS6240363A (ja) 雰囲気変動に対する薄膜磁気特性の安定度の高いタ−ゲツト材
JPH04211106A (ja) 反強磁性膜及びこれを用いた磁気ヘッド
JPH0653039A (ja) 耐食性磁性膜およびこれを用いた磁気ヘッド
JPS6367325B2 (ja)
JPH10214719A (ja) 垂直磁気記録媒体及びその製造方法
JPH04265511A (ja) 磁気記録媒体
JPH0468381B2 (ja)
JPH04221418A (ja) 磁気記録体
JPS6056414B2 (ja) 磁気記録媒体用Co基合金
JPH0817032A (ja) 磁気記録媒体およびその製造方法
JP3796137B2 (ja) 軟磁性薄膜およびそれを用いた薄膜磁気ヘッド
JP3796140B2 (ja) 軟磁性薄膜およびそれを用いた薄膜磁気ヘッド
JPS6056410B2 (ja) 磁気記録媒体用Co基合金
JPH0256724B2 (ja)
JP3113514B2 (ja) 非晶質磁性合金薄膜及びそれを用いた薄膜磁気ヘッド
JPH1174123A (ja) 磁気抵抗効果膜
JPH0322647B2 (ja)
JP3796136B2 (ja) 軟磁性薄膜およびそれを用いた薄膜磁気ヘッド
JPS61241993A (ja) 複合磁気抵抗効果素子
JPS62223813A (ja) 磁気記録媒体
JPS609183A (ja) 磁気抵抗効果素子
JPH0322648B2 (ja)
JPH0323971B2 (ja)