JPH04160379A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH04160379A
JPH04160379A JP2286185A JP28618590A JPH04160379A JP H04160379 A JPH04160379 A JP H04160379A JP 2286185 A JP2286185 A JP 2286185A JP 28618590 A JP28618590 A JP 28618590A JP H04160379 A JPH04160379 A JP H04160379A
Authority
JP
Japan
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user
time
terminal
semiconductor device
operation mode
Prior art date
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Pending
Application number
JP2286185A
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English (en)
Inventor
Ichiro Okumura
一郎 奥村
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NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の半導体装置においては、電気的特性のチエツクを
実施する工程において行われる、良、不良の分類および
スピード、消費電力の分類等については、電気的特性を
チエツク量るテスターに連動するハンドラーによって行
っているのが一般である。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の半導体装置において、電気的特性のチエ
ツク時に行われる分類方法では、分類数がハンドラーの
分類機能によって制限を受けるなめ、数多くの分類を実
行することは現実に困難である。また、仮に、数多くの
分類を可能にしようとすると、ハンドラーが複雑化し、
また巨大化するという欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体装置は、ユーザが使用しない動作モード
、もしくはユーザが使用しない端子を利用することによ
り、半導体装置の電気的特性および各種管理データの書
込みと読出しとを可能にする不揮発性記憶素子を備えて
構成される。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。第1図
は、本発明の一実施例のブロック図である。第1図に示
されるように、本実施例は、ユ−ザの要求する本来の機
能を有するユーザ使用回路1に対応して、不揮発性記憶
素子2と、切替回路3と、を備えて構成される。
第1区において、ユーザ使用時においては、常時ユーザ
使用回路1が稼働しており、ユーザ使用の端子等の利用
は不可能であるが、ユーザが使用しない動作モード時、
もしくはユーザが使用しない端子利用時においては、切
替回路3により不揮発性記憶素子2がユーザの使用しな
い端子に接続され、この不揮発性記憶素子2を介して、
外部からの電気的特性および各種管理データの書込みな
らびに読出しが可能となり、数多くの分類に対応するこ
とができる。
〔発明の効果〕
以上、詳細に説明したように、本発明は、ユーザが使用
しない動作モード時、もしくはユーザが使用しない端子
を利用して、不揮発性記憶素子を介して、半導体装置の
電気的特性および各種管理データの書込みならびに読出
しを行うことにより、ハンドラーによる分類を無くする
か、または軽減することが可能になるという効果がある
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例のブロック図である。 図において、1・・・・・・ユーザ使用回路、2・旧−
・不揮発性記憶素子、3・−・・・・切替回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  ユーザが使用しない動作モード、もしくはユーザが使
    用しない端子を利用することにより、半導体装置の電気
    的特性および各種管理データの書込みと読出しとを可能
    にする不揮発性記憶素子を備えることを特徴とする半導
    体装置。
JP2286185A 1990-10-24 1990-10-24 半導体装置 Pending JPH04160379A (ja)

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JP2286185A JPH04160379A (ja) 1990-10-24 1990-10-24 半導体装置

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ID=17701049

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009281860A (ja) * 2008-05-22 2009-12-03 Renesas Technology Corp 半導体装置のテスト方法およびマスク回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009281860A (ja) * 2008-05-22 2009-12-03 Renesas Technology Corp 半導体装置のテスト方法およびマスク回路

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