JPH041535A - 赤外線センサ - Google Patents
赤外線センサInfo
- Publication number
- JPH041535A JPH041535A JP2100454A JP10045490A JPH041535A JP H041535 A JPH041535 A JP H041535A JP 2100454 A JP2100454 A JP 2100454A JP 10045490 A JP10045490 A JP 10045490A JP H041535 A JPH041535 A JP H041535A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- infrared
- sensor
- substrate
- board
- window
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 35
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 42
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 12
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 6
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 3
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 abstract description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 abstract description 4
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 abstract description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 3
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 abstract description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 abstract description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 abstract description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 7
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000001659 ion-beam spectroscopy Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、被測温体に対し非接触状態で温度を測定しう
る赤外線センサの構造に関する。
る赤外線センサの構造に関する。
[従来技術]
従来、例えば特開昭57−178149号公報および特
開昭62−277528号公報に開示されているように
、赤外線検出素子(感温素子)を基板から浮かせたブリ
ッジ上に形成することによって応答感度の改善を図った
赤外線センサが提案されている。さらに赤外線検出素子
を、それぞれ備えたブリッジを基板上に複数本設け、こ
れら複数の赤外線検出素子のうちの半数の素子のみに赤
外線を当て、残りの半数の素子には赤外線を当てないよ
うにするとともに、両者の出力差を算出することによっ
て外乱の影響を取り除き、応答感度の向上を図ることも
提案されている。
開昭62−277528号公報に開示されているように
、赤外線検出素子(感温素子)を基板から浮かせたブリ
ッジ上に形成することによって応答感度の改善を図った
赤外線センサが提案されている。さらに赤外線検出素子
を、それぞれ備えたブリッジを基板上に複数本設け、こ
れら複数の赤外線検出素子のうちの半数の素子のみに赤
外線を当て、残りの半数の素子には赤外線を当てないよ
うにするとともに、両者の出力差を算出することによっ
て外乱の影響を取り除き、応答感度の向上を図ることも
提案されている。
このように複数の赤外線検出素子を備え、かつ赤外線を
当てられた素子と当てられない素子との出力差を得るよ
うに構成された従来の赤外線センサの構成の一例を挙げ
ると、赤外線検出素子を1つずつ備えた2枚のセラミッ
クス製基板が赤外線の入射する窓を備えたハーメチック
・パッケージ内に収容されており、一方の基板は、その
赤外線検出素子に赤外線が当たるように上記窓に臨ませ
た態様でハーメチック・パッケージの端子ビンの先端に
接続されて浮かせて保持され、他方の基板はその赤外線
検出端子に赤外線が当たらないように上記窓から離れた
位置においてハーメチック・パッケージの端子ピンの先
端に接続されて浮かせて保持された構成を有し、2つの
赤外線検出素子の出力の差分を算出することによって外
乱の影響を取り除くようになっている。
当てられた素子と当てられない素子との出力差を得るよ
うに構成された従来の赤外線センサの構成の一例を挙げ
ると、赤外線検出素子を1つずつ備えた2枚のセラミッ
クス製基板が赤外線の入射する窓を備えたハーメチック
・パッケージ内に収容されており、一方の基板は、その
赤外線検出素子に赤外線が当たるように上記窓に臨ませ
た態様でハーメチック・パッケージの端子ビンの先端に
接続されて浮かせて保持され、他方の基板はその赤外線
検出端子に赤外線が当たらないように上記窓から離れた
位置においてハーメチック・パッケージの端子ピンの先
端に接続されて浮かせて保持された構成を有し、2つの
赤外線検出素子の出力の差分を算出することによって外
乱の影響を取り除くようになっている。
また最近では、半導体の微細加工技術を利用して超小型
の赤外線センサを得る試みがなされており、フォトリン
グラフィ技術およびエツチング技術を用いて極めて小さ
いブリッジ構造を形成し、このブリッジ構造の上に赤外
線検出素子を形成している。この場合もそれぞれ赤外線
検出素子を備えたブリッジをセンサ基板の一方の面に形
成し、前記と同様に赤外線の当てられた赤外線検出素子
の出力と赤外線の当てられない赤外線検出素子の出力と
の差分によって赤外線を検出している。
の赤外線センサを得る試みがなされており、フォトリン
グラフィ技術およびエツチング技術を用いて極めて小さ
いブリッジ構造を形成し、このブリッジ構造の上に赤外
線検出素子を形成している。この場合もそれぞれ赤外線
検出素子を備えたブリッジをセンサ基板の一方の面に形
成し、前記と同様に赤外線の当てられた赤外線検出素子
の出力と赤外線の当てられない赤外線検出素子の出力と
の差分によって赤外線を検出している。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、このような従来の赤外線センサの構造は
、以下に述べるような欠点がある。
、以下に述べるような欠点がある。
まずハーメチック・パッケージ内に基板を収容した構成
では、各基板をハーメチック・パッケージの端子に接続
するため、作業性、素子の位置の再現性などの点で作製
がきわめて困難である。また、ハーメチック・パッケー
ジの窓を避けた位置に1つの赤外線検出素子を配置する
としても、この素子とパッケージ・ケースとの間に所定
の距離を保つ必要があり、また赤外線が入射する側の素
子との位置関係を再現性の良い状態に保つことも困難で
ある。したがって、赤外線を当てない側の素子に対して
も、回りこみにより僅かながら赤外線が入射することに
なり、さらにはその赤外線の入射量においても、センサ
間でバラツキが生じることになる。このため、センサと
して組上げた後に1個ずつ検査を行なって選別し、さら
に較正を必要とするから、1個の特性の優れた赤外線セ
ンサを得るには多くの労力を必要とするものであった。
では、各基板をハーメチック・パッケージの端子に接続
するため、作業性、素子の位置の再現性などの点で作製
がきわめて困難である。また、ハーメチック・パッケー
ジの窓を避けた位置に1つの赤外線検出素子を配置する
としても、この素子とパッケージ・ケースとの間に所定
の距離を保つ必要があり、また赤外線が入射する側の素
子との位置関係を再現性の良い状態に保つことも困難で
ある。したがって、赤外線を当てない側の素子に対して
も、回りこみにより僅かながら赤外線が入射することに
なり、さらにはその赤外線の入射量においても、センサ
間でバラツキが生じることになる。このため、センサと
して組上げた後に1個ずつ検査を行なって選別し、さら
に較正を必要とするから、1個の特性の優れた赤外線セ
ンサを得るには多くの労力を必要とするものであった。
また、半導体の微細加工技術を利用した従来の赤外線セ
ンサでは、外形寸法が微小であるがために、前記のよう
に一方の赤外線検出素子のみに赤外線を当て、他方の素
子には赤外線を当てないように構成することがきわめて
困難である。そこで便宜的に赤外線を反射する金(A
u )等よりなる膜を片方のブリッジ上に形成すること
も行なわれている。しかしながら、ブリッジ上に反射膜
等を設けると、個々のブリッジの熱伝導状態が変化して
、真の差分を得ることが不可能となる。このため、外乱
の影響を受は易くなり、安定した出力を得ることが困難
であった。
ンサでは、外形寸法が微小であるがために、前記のよう
に一方の赤外線検出素子のみに赤外線を当て、他方の素
子には赤外線を当てないように構成することがきわめて
困難である。そこで便宜的に赤外線を反射する金(A
u )等よりなる膜を片方のブリッジ上に形成すること
も行なわれている。しかしながら、ブリッジ上に反射膜
等を設けると、個々のブリッジの熱伝導状態が変化して
、真の差分を得ることが不可能となる。このため、外乱
の影響を受は易くなり、安定した出力を得ることが困難
であった。
[課題を解決するための手段]
本発明による赤外線センサは、赤外線透過性センサ基板
の裏面側に赤外線検出素子を配設し、センサ基板の表面
側に、赤外線の透過を許容する窓を赤外線検出素子に関
連させて形成した赤外線反射性層を被着させた構成を有
する。センサ基板の材料としては、シリコンまたはゲル
マニウムが好適である。また上記赤外線反射性層は、赤
外線反射率の大きい金等よりなる金属膜によって形成さ
れる。赤外線は、センサ基板の表面側から上記窓および
センサ基板を通じてセンサ基板の裏面側に透過し、セン
サ基板の裏面側に設けられた赤外線検出素子に入射する
ように構成されている。赤外線検出素子は、センサ基板
の裏面上に形成された複数本のブリッジ上にそれぞれ1
つずつ形成され、センサ基板の表面側の窓は、複数の赤
外線検出素子のうちの特定の素子のみに入射しうる位置
および形状をもって形成されている。センサ基板のブリ
ッジか形成されている面上には、赤外線検出素子の電極
に接続された電極パッドが形成されている。さらに、セ
ンサ基板は、このセンサ基板の電極パッドに対応する位
置に複数の導電性層を備え、かつこれら導電性層にそれ
ぞれ接続された電気端子を備えた端子基板を有しており
、センサ基板か、その電極パッドを上記支持基板の導電
性層に接合させた態様で端子基板上に固着されている。
の裏面側に赤外線検出素子を配設し、センサ基板の表面
側に、赤外線の透過を許容する窓を赤外線検出素子に関
連させて形成した赤外線反射性層を被着させた構成を有
する。センサ基板の材料としては、シリコンまたはゲル
マニウムが好適である。また上記赤外線反射性層は、赤
外線反射率の大きい金等よりなる金属膜によって形成さ
れる。赤外線は、センサ基板の表面側から上記窓および
センサ基板を通じてセンサ基板の裏面側に透過し、セン
サ基板の裏面側に設けられた赤外線検出素子に入射する
ように構成されている。赤外線検出素子は、センサ基板
の裏面上に形成された複数本のブリッジ上にそれぞれ1
つずつ形成され、センサ基板の表面側の窓は、複数の赤
外線検出素子のうちの特定の素子のみに入射しうる位置
および形状をもって形成されている。センサ基板のブリ
ッジか形成されている面上には、赤外線検出素子の電極
に接続された電極パッドが形成されている。さらに、セ
ンサ基板は、このセンサ基板の電極パッドに対応する位
置に複数の導電性層を備え、かつこれら導電性層にそれ
ぞれ接続された電気端子を備えた端子基板を有しており
、センサ基板か、その電極パッドを上記支持基板の導電
性層に接合させた態様で端子基板上に固着されている。
[作 用]
本発明による赤外線センサにおいては、赤外線透過性セ
ンサ基板の一方の面に赤外線検出素子か設けられ、他方
の面に、赤外線を透過する窓を赤外線検出素子に関連さ
せて形成した赤外線反射性層が被着され、赤外線が窓お
よびセンサ基板を通じて所定の赤外線検出素子に入射す
るように構成されているので、特定の赤外線検出素子の
みに赤外線を当て、残りの赤外線検出素子には赤外線を
全く当てないようにすることができる。このため、従来
のように赤外線を当てないようにする赤外線検出素子に
赤外線反射膜を取付ける必要がなく、各赤外線検出素子
を同一の環境に保持することかできる。したがって、赤
外線を当てた素子の出力と赤外線を当てない素子の出力
との差分を算出することによって、外乱の影響を完全に
取除くことができる。また、センサ基板の裏面上に、赤
外線検出素子の電極に接続された電極パッドが形成され
ているため、電極パッドに対応する位置に導電性層を形
成した端子基板上にセンサ基板をフェイスダウン・ボン
ディングの形態で接合することかでき、赤外線検出素子
からの出力の取出しが容易となるとともに、赤外線セン
サ全体をきわめて小型に構成することができる。さらに
、端子基板のセンサ基板が接合される面上に掘込み部を
形成し、この掘込み部の周囲が、端子基板に対するセン
サ基板の接合に伴って完全に密封される構成とすること
により、この接合作業を真空中で行なえば、赤外線検出
素子を真空中に密封することができるから、赤外線検出
素子と外気との間の熱遮断性が高められ、赤外線センサ
の感度および精度をさらに向上させることができる。
ンサ基板の一方の面に赤外線検出素子か設けられ、他方
の面に、赤外線を透過する窓を赤外線検出素子に関連さ
せて形成した赤外線反射性層が被着され、赤外線が窓お
よびセンサ基板を通じて所定の赤外線検出素子に入射す
るように構成されているので、特定の赤外線検出素子の
みに赤外線を当て、残りの赤外線検出素子には赤外線を
全く当てないようにすることができる。このため、従来
のように赤外線を当てないようにする赤外線検出素子に
赤外線反射膜を取付ける必要がなく、各赤外線検出素子
を同一の環境に保持することかできる。したがって、赤
外線を当てた素子の出力と赤外線を当てない素子の出力
との差分を算出することによって、外乱の影響を完全に
取除くことができる。また、センサ基板の裏面上に、赤
外線検出素子の電極に接続された電極パッドが形成され
ているため、電極パッドに対応する位置に導電性層を形
成した端子基板上にセンサ基板をフェイスダウン・ボン
ディングの形態で接合することかでき、赤外線検出素子
からの出力の取出しが容易となるとともに、赤外線セン
サ全体をきわめて小型に構成することができる。さらに
、端子基板のセンサ基板が接合される面上に掘込み部を
形成し、この掘込み部の周囲が、端子基板に対するセン
サ基板の接合に伴って完全に密封される構成とすること
により、この接合作業を真空中で行なえば、赤外線検出
素子を真空中に密封することができるから、赤外線検出
素子と外気との間の熱遮断性が高められ、赤外線センサ
の感度および精度をさらに向上させることができる。
[実 施 例]
以下、図面を参照して本発明の実施例について詳細に説
明する。
明する。
第1図〜第4図は本発明による赤外線センサのセンサ素
子の構成を示す図で、センサ素子1は一辺が約3mm程
度のほぼ正方形のシリコン基板2を備えており、このシ
リコン基板2の表面は、窓3の部分を除いて赤外線を反
射する金属膜4で覆われている。この金属膜4は、金、
白金、銀、アルミニウム、チタン、モリブデン等よりな
り、50〜2000nmの厚さに形成されている。金属
膜4の形成には、蒸着、スパッタリング、イオンブレー
ティング、イオンビームスパッタリング、化学気相成長
(CVD)、メツキ等の種々の方法を用いることができ
る。
子の構成を示す図で、センサ素子1は一辺が約3mm程
度のほぼ正方形のシリコン基板2を備えており、このシ
リコン基板2の表面は、窓3の部分を除いて赤外線を反
射する金属膜4で覆われている。この金属膜4は、金、
白金、銀、アルミニウム、チタン、モリブデン等よりな
り、50〜2000nmの厚さに形成されている。金属
膜4の形成には、蒸着、スパッタリング、イオンブレー
ティング、イオンビームスパッタリング、化学気相成長
(CVD)、メツキ等の種々の方法を用いることができ
る。
シリコン基板2の裏面には、その中央の所定領域に、は
ぼ垂直な側壁と平坦な底壁とを備えた堀込み部5が形成
され、この堀込み部5上に、酸化シリコン、窒化シリコ
ン等よりなる2本の互いに平行なブリッジ6A、6Bが
堀込み部5を跨いで橋架されている。ブリッジ6A、6
Bは、スパッタリング、化学気相成長(CVD)、イオ
ンビームスパッタリング等の方法により約60μmの幅
に形成され、それらが酸化シリコンよりなる場合は50
0〜5000nmの厚さに形成され、窒化シリコンより
なる場合は50〜1000 n mの厚さに形成される
。
ぼ垂直な側壁と平坦な底壁とを備えた堀込み部5が形成
され、この堀込み部5上に、酸化シリコン、窒化シリコ
ン等よりなる2本の互いに平行なブリッジ6A、6Bが
堀込み部5を跨いで橋架されている。ブリッジ6A、6
Bは、スパッタリング、化学気相成長(CVD)、イオ
ンビームスパッタリング等の方法により約60μmの幅
に形成され、それらが酸化シリコンよりなる場合は50
0〜5000nmの厚さに形成され、窒化シリコンより
なる場合は50〜1000 n mの厚さに形成される
。
またブリッジ6A、6Bは、酸化シリコン膜および窒化
シリコン膜が積層された多層構造とすることもできる。
シリコン膜が積層された多層構造とすることもできる。
これら酸化シリコン膜および/または窒化シリコン膜は
、シリコン基板2の堀込み部5を除く裏面上にも同時に
形成されるものであり、その結果、シリコン基板2の裏
面は、ブリッジ6A、6Bの表面と同一平面をなす酸化
シリコン膜および/または窒化シリコン膜で覆われてい
る。
、シリコン基板2の堀込み部5を除く裏面上にも同時に
形成されるものであり、その結果、シリコン基板2の裏
面は、ブリッジ6A、6Bの表面と同一平面をなす酸化
シリコン膜および/または窒化シリコン膜で覆われてい
る。
ブリッジ6A、6Bの中央部分にはそれぞれ赤外線検出
素子7A、7Bが設けられている。これら赤外線検出素
子7A、7Bは、シリコンまたはゲルマニウムの膜より
なり、入射する赤外線の熱量に応じて抵抗値が変化する
性質を有するので、測温素子として使用できるのである
。赤外線検出素子7A、7Bは、スパッタリング、イオ
ンビームスパッタリング、蒸着、化学気相成長(CV
D)等の方法により100〜3000nmの厚さに形成
されている。そしてシリコン基板2の表面を覆う赤外線
反射性層4に形成された窓3は、一方の赤外線検出素子
7Bのみに赤外線を入射させる位置に形成されており、
窓3を通じて入射した赤外線は、他方の赤外線検出素子
7Aには全く当らないようになっている。
素子7A、7Bが設けられている。これら赤外線検出素
子7A、7Bは、シリコンまたはゲルマニウムの膜より
なり、入射する赤外線の熱量に応じて抵抗値が変化する
性質を有するので、測温素子として使用できるのである
。赤外線検出素子7A、7Bは、スパッタリング、イオ
ンビームスパッタリング、蒸着、化学気相成長(CV
D)等の方法により100〜3000nmの厚さに形成
されている。そしてシリコン基板2の表面を覆う赤外線
反射性層4に形成された窓3は、一方の赤外線検出素子
7Bのみに赤外線を入射させる位置に形成されており、
窓3を通じて入射した赤外線は、他方の赤外線検出素子
7Aには全く当らないようになっている。
各赤外線検出素子7A、7Bからはそれぞれ電極線8が
ブリッジ6A、6Bに沿って両側に導出され、シリコン
基板2の周縁部に形成された電極バッド9に接続されて
いる。電極線8および電極バッド9は、チタン、モリブ
デン、アルミニウム、クロム、銅、ニッケル、タンタル
、タングステン、ポリシリコン等の膜よりなり、蒸着、
スパッタリング、イオンビームスパッタリング、イオン
ブレーティング、化学気相成長(CVD)、メツキ等の
方法を用いて50〜4000nmの厚さに形成されてい
る。
ブリッジ6A、6Bに沿って両側に導出され、シリコン
基板2の周縁部に形成された電極バッド9に接続されて
いる。電極線8および電極バッド9は、チタン、モリブ
デン、アルミニウム、クロム、銅、ニッケル、タンタル
、タングステン、ポリシリコン等の膜よりなり、蒸着、
スパッタリング、イオンビームスパッタリング、イオン
ブレーティング、化学気相成長(CVD)、メツキ等の
方法を用いて50〜4000nmの厚さに形成されてい
る。
以上のような構成を有するセンサ素子1は、第5図およ
び第6図に示すように、4本の端子ピン10を植設した
端子基板11に固定される。この端子基板11の上面1
1aの中央部にはセンサ基板2の堀込み部5より僅かに
大きい堀込み部12が形成され、かつ端子基板11の上
面11aにおける堀込み部12周囲にはセンサ基板2の
電極バッド9に対応する位置に導電性層13が形成され
ている。この導電性層13はそれぞれ端子ピン10の上
端に電気的に接続されている。そしてセンサ基板2は、
そのブリッジ6A、6Bが設けられている側の面の周縁
部にエポキシ樹脂等よりなる接着剤14が塗布されて端
子基板11の上面11aの所定位置に接着されて機械的
に固定されるが、それと同時にセンサ基板2の各電極バ
ッド9が端子基板11の各導電性層13上に重ねられて
、ハンダ付は等によって電気的にも接続される。
び第6図に示すように、4本の端子ピン10を植設した
端子基板11に固定される。この端子基板11の上面1
1aの中央部にはセンサ基板2の堀込み部5より僅かに
大きい堀込み部12が形成され、かつ端子基板11の上
面11aにおける堀込み部12周囲にはセンサ基板2の
電極バッド9に対応する位置に導電性層13が形成され
ている。この導電性層13はそれぞれ端子ピン10の上
端に電気的に接続されている。そしてセンサ基板2は、
そのブリッジ6A、6Bが設けられている側の面の周縁
部にエポキシ樹脂等よりなる接着剤14が塗布されて端
子基板11の上面11aの所定位置に接着されて機械的
に固定されるが、それと同時にセンサ基板2の各電極バ
ッド9が端子基板11の各導電性層13上に重ねられて
、ハンダ付は等によって電気的にも接続される。
なお、センサ基板2の端子基板11への接合には、接着
剤14を用いずに陽極接合法、ハンダ封止を用いてもよ
い。モしてセンサ基板2の端子基板11に対する接合作
業を真空中で行なうことによって、センサ基板2の赤外
線検出素子7A、7Bを真空に保つことが可能になる。
剤14を用いずに陽極接合法、ハンダ封止を用いてもよ
い。モしてセンサ基板2の端子基板11に対する接合作
業を真空中で行なうことによって、センサ基板2の赤外
線検出素子7A、7Bを真空に保つことが可能になる。
また上記接合作業を真空中でなく、窒素、ヘリウム、ア
ルゴン等の不活性ガス中で行なうことにより、赤外線検
出素子7A、7Bの周囲を不活性ガスで満たすことがで
きる。
ルゴン等の不活性ガス中で行なうことにより、赤外線検
出素子7A、7Bの周囲を不活性ガスで満たすことがで
きる。
なお、本実施例においては赤外線透過性を有するセンサ
基板としてシリコン基板2を用いているが、これに代り
、ゲルマニウム基板を用いてもよい。さらにセンサ基板
の窓3を備えた側の面をレンズ状に形成して、窓3を透
過した赤外線が赤外線検出素子7Bに集束される構成と
してもよい。
基板としてシリコン基板2を用いているが、これに代り
、ゲルマニウム基板を用いてもよい。さらにセンサ基板
の窓3を備えた側の面をレンズ状に形成して、窓3を透
過した赤外線が赤外線検出素子7Bに集束される構成と
してもよい。
[効 果]
以上の説明から明らかなように、本発明による赤外線セ
ンサにおいては、赤外線透過性センサ基板の一方の面に
赤外線検出素子が設けられ、他方の面に、赤外線を透過
する窓を赤外線検出素子に関連させて形成した赤外線反
射性層が被着され、赤外線が上記窓およびセンサ基板を
通じて所定の赤外線検出素子に入射するように構成され
ているので、特定の赤外線検出素子のみに赤外線を当て
、残りの赤外線検出素子には赤外線を全く当てないよう
にすることが可能になる。したがって赤外線を当てた素
子の出力と、赤外線を当てない素子の出力との差分を算
出することによって、外乱の影響を完全に取除くことか
可能になる。
ンサにおいては、赤外線透過性センサ基板の一方の面に
赤外線検出素子が設けられ、他方の面に、赤外線を透過
する窓を赤外線検出素子に関連させて形成した赤外線反
射性層が被着され、赤外線が上記窓およびセンサ基板を
通じて所定の赤外線検出素子に入射するように構成され
ているので、特定の赤外線検出素子のみに赤外線を当て
、残りの赤外線検出素子には赤外線を全く当てないよう
にすることが可能になる。したがって赤外線を当てた素
子の出力と、赤外線を当てない素子の出力との差分を算
出することによって、外乱の影響を完全に取除くことか
可能になる。
また、センサ基板の赤外線検出素子を設けた側の面上に
、赤外線検出素子の電極に接続された電極パッドが形成
されているため、電極バンドに対応する位置に導電性層
を形成した端子基板上にセンサ基板をフェイスダウン・
ボンデイー・グの形式で接合することができ、赤外線検
出素子からの出力の取出しが容易となるとともに、赤外
線センサ全体をきわめて小型に構成することができる。
、赤外線検出素子の電極に接続された電極パッドが形成
されているため、電極バンドに対応する位置に導電性層
を形成した端子基板上にセンサ基板をフェイスダウン・
ボンデイー・グの形式で接合することができ、赤外線検
出素子からの出力の取出しが容易となるとともに、赤外
線センサ全体をきわめて小型に構成することができる。
さらに、端子基板のセンサ基板が接合される面上に堀込
み部を形成し、この堀込み部の周囲が、端子基板に対す
るセンサ基板の接合に伴って完全に密封される構成とす
ることにより、この接合作業を真空中で行なえば、赤外
線検出端子を真空中に密封することができるから、赤外
線検出素子と外気との間の熱遮断性が高められ、赤外線
センサの感度および精度をさらに向上させることができ
る。
み部を形成し、この堀込み部の周囲が、端子基板に対す
るセンサ基板の接合に伴って完全に密封される構成とす
ることにより、この接合作業を真空中で行なえば、赤外
線検出端子を真空中に密封することができるから、赤外
線検出素子と外気との間の熱遮断性が高められ、赤外線
センサの感度および精度をさらに向上させることができ
る。
図面は本発明の実施例を示すもので、第1図は本発明の
赤外線センサを備えているセンサ素子の平面図、第2図
はその底面図、第3図および第4図はそれぞれ第1図の
■−■線およびIV−4’線に沿った断面図、第5図は
赤外線センサの分解斜視図、第6図はその断面図である
。 1・・・センサ素子 2・・・シリコン基板3・・
・窓 4・・・赤外線反射性金属膜5・・
・堀込み部 6A、6B・・・ブリッジ7A、7
B・・・赤外線検出素子 8・・・電極線 9・・・電極パッド10・・
・端子ビン 11・・・端子基板12・・・堀込み
部 13・・・導電性層14・・・接着剤
赤外線センサを備えているセンサ素子の平面図、第2図
はその底面図、第3図および第4図はそれぞれ第1図の
■−■線およびIV−4’線に沿った断面図、第5図は
赤外線センサの分解斜視図、第6図はその断面図である
。 1・・・センサ素子 2・・・シリコン基板3・・
・窓 4・・・赤外線反射性金属膜5・・
・堀込み部 6A、6B・・・ブリッジ7A、7
B・・・赤外線検出素子 8・・・電極線 9・・・電極パッド10・・
・端子ビン 11・・・端子基板12・・・堀込み
部 13・・・導電性層14・・・接着剤
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、赤外線透過材料よりなるセンサ基板の一方の面に赤
外線検出素子が設けられ、他方の面に、赤外線を透過す
る窓を前記赤外線検出素子に関連させて形成した赤外線
反射性層が被着され、赤外線が前記窓および前記センサ
基板を透過して前記赤外線検出素子に入射するように構
成されていることを特徴とする赤外線センサ。 2、前記赤外線検出素子が前記センサ基板の前記一方の
面に複数設けられ、前記窓は、前記複数の赤外線検出素
子のうちの特定の素子のみに赤外線が入射しうる位置に
形成されていることを特徴とする請求項1記載の赤外線
センサ。 3、前記赤外線検出素子が、前記センサ基板の前記一方
の面に形成された複数のブリッジ上にそれぞれ1個ずつ
設けられていることを特徴とする請求項2記載の赤外線
センサ。 4、前記センサ基板の前記一方の面上に、前記赤外線検
出素子の電極に接続された電極パッドが形成されている
ことを特徴とする請求項1〜3のうちの1つに記載され
た赤外線センサ。 5、前記センサ基板の前記電極パッドに対応する位置に
導電性層と、これら導電性層にそれぞれ接続された電気
端子を備えた端子基板を有しており、前記センサ基板が
、その電極パッドを前記端子基板の導電性層に接合され
た態様で前記端子基板上に固着されていることを特徴と
する請求項4記載の赤外線センサ。 6、前記赤外線反射性層が金属膜よりなることを特徴と
する請求項1〜5のうちの1つに記載された赤外線セン
サ。 7、前記赤外線透過性材料がシリコンよりなることを特
徴とする請求項1〜6のうちの1つに記載された赤外線
センサ。 8、前記赤外線透過性材料がゲルマニウムよりなること
を特徴とする請求項1〜6のうちの1つに記載された赤
外線センサ。
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2100454A JPH041535A (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 赤外線センサ |
AU75051/91A AU631734B2 (en) | 1990-04-18 | 1991-04-16 | Infrared ray sensor and method of manufacturing the same |
CA002040631A CA2040631C (en) | 1990-04-18 | 1991-04-17 | Infrared ray sensor and method of manufacturing the same |
US07/686,439 US5118944A (en) | 1990-04-18 | 1991-04-17 | Infrared ray sensor and method of manufacturing the same |
DE69106763T DE69106763T2 (de) | 1990-04-18 | 1991-04-18 | Infrarotsensor. |
EP94200254A EP0604405B1 (en) | 1990-04-18 | 1991-04-18 | Infrared ray sensor and method of manufacturing the same |
KR1019910006223A KR940003274B1 (ko) | 1990-04-18 | 1991-04-18 | 적외선 센서 및 그 제조방법 |
DE69124630T DE69124630T2 (de) | 1990-04-18 | 1991-04-18 | Infrarotsensor und Herstellungsverfahren dafür |
EP91401037A EP0453372B1 (en) | 1990-04-18 | 1991-04-18 | Infrared ray sensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2100454A JPH041535A (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 赤外線センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH041535A true JPH041535A (ja) | 1992-01-07 |
Family
ID=14274364
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2100454A Pending JPH041535A (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 赤外線センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH041535A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4957278A (en) * | 1989-01-10 | 1990-09-18 | Sanko Senzai Kogyo Kabushiki Kaisha | Coil spring |
JPH06129898A (ja) * | 1992-10-15 | 1994-05-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線センサ |
JP2007292722A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-11-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 半導体レンズおよびそれを用いた赤外線検出装置、半導体レンズの製造方法 |
JP2008292312A (ja) * | 2007-05-24 | 2008-12-04 | Panasonic Electric Works Co Ltd | センサ装置 |
JP2008292311A (ja) * | 2007-05-24 | 2008-12-04 | Panasonic Electric Works Co Ltd | センサ装置およびその製造方法 |
US7718970B2 (en) | 2005-11-25 | 2010-05-18 | Panasonic Electric Works Co., Ltd. | Infrared detection unit using a semiconductor optical lens |
JP2013231738A (ja) * | 2013-07-25 | 2013-11-14 | Ricoh Co Ltd | 検出装置 |
WO2014098023A1 (ja) * | 2012-12-20 | 2014-06-26 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴撮像装置 |
JP2015190912A (ja) * | 2014-03-28 | 2015-11-02 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 赤外線検出装置、視野制限ユニットおよびその製造方法 |
-
1990
- 1990-04-18 JP JP2100454A patent/JPH041535A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4957278A (en) * | 1989-01-10 | 1990-09-18 | Sanko Senzai Kogyo Kabushiki Kaisha | Coil spring |
JPH06129898A (ja) * | 1992-10-15 | 1994-05-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線センサ |
JP2007292722A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-11-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 半導体レンズおよびそれを用いた赤外線検出装置、半導体レンズの製造方法 |
US7718970B2 (en) | 2005-11-25 | 2010-05-18 | Panasonic Electric Works Co., Ltd. | Infrared detection unit using a semiconductor optical lens |
JP2008292312A (ja) * | 2007-05-24 | 2008-12-04 | Panasonic Electric Works Co Ltd | センサ装置 |
JP2008292311A (ja) * | 2007-05-24 | 2008-12-04 | Panasonic Electric Works Co Ltd | センサ装置およびその製造方法 |
WO2014098023A1 (ja) * | 2012-12-20 | 2014-06-26 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴撮像装置 |
JP2013231738A (ja) * | 2013-07-25 | 2013-11-14 | Ricoh Co Ltd | 検出装置 |
JP2015190912A (ja) * | 2014-03-28 | 2015-11-02 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 赤外線検出装置、視野制限ユニットおよびその製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101261977B (zh) | 电子器件的封装和形成的方法 | |
US5962854A (en) | Infrared sensor and infrared detector | |
CN100552393C (zh) | 红外线传感器及其制造方法 | |
KR940003274B1 (ko) | 적외선 센서 및 그 제조방법 | |
JP5832007B2 (ja) | 赤外線センサ及びその製造方法 | |
US9035401B2 (en) | Physical quantity detection device and physical quantity detector | |
JP2006047085A (ja) | 赤外線センサ装置およびその製造方法 | |
JPH041535A (ja) | 赤外線センサ | |
JPH10318829A (ja) | 赤外線センサ | |
US5526687A (en) | Semiconductor acceleration sensor and testing method thereof | |
JP2003329703A (ja) | 静電容量式センサ | |
JP2001174323A (ja) | 赤外線検出装置 | |
JP2001174324A (ja) | 赤外線検出器および赤外線検出装置 | |
JP2001156325A (ja) | フォトリフレクター | |
JPH11201848A (ja) | 静電容量型センサ及び検出方法 | |
TWI785195B (zh) | 半導體裝置 | |
JP2003315148A (ja) | 赤外線センサ素子収納用パッケージおよび赤外線センサ装置 | |
JPH06105791B2 (ja) | 光電変換装置 | |
JPH11258055A (ja) | サーモパイル型温度センサ | |
JPH08184514A (ja) | 圧力センサ | |
JP2000002585A (ja) | 熱型赤外線検出素子 | |
JP2020063914A (ja) | Memsガスセンサ及びmemsガスセンサの製造方法 | |
JP2020091388A (ja) | 光学フィルタ装置、及び光学フィルタ装置の制御方法 | |
JPS63265125A (ja) | 非接触型半導体温度センサ | |
KR20020009365A (ko) | 기판온도측정 장치 및 제작 방법 |