JPH04151542A - 球面ミラー及び浮遊微粒子計数器 - Google Patents

球面ミラー及び浮遊微粒子計数器

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JPH04151542A
JPH04151542A JP2304477A JP30447790A JPH04151542A JP H04151542 A JPH04151542 A JP H04151542A JP 2304477 A JP2304477 A JP 2304477A JP 30447790 A JP30447790 A JP 30447790A JP H04151542 A JPH04151542 A JP H04151542A
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JP
Japan
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spherical mirror
reflective surface
light
mirror
laser beam
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Pending
Application number
JP2304477A
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English (en)
Inventor
Koujirou Itou
考治郎 伊藤
Toshikatsu Shimura
志村 敏克
Nobuyuki Umeda
梅田 信行
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02ATECHNOLOGIES FOR ADAPTATION TO CLIMATE CHANGE
    • Y02A90/00Technologies having an indirect contribution to adaptation to climate change
    • Y02A90/10Information and communication technologies [ICT] supporting adaptation to climate change, e.g. for weather forecasting or climate simulation

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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 凸の反射面を有する球面ミラーと、空間内を浮遊する浮
遊微粒子の個数とその大きさを計測する浮遊微粒子計数
器に関し、 凹の反射面を有する球面ミラー(以降、凹球面ミラーと
呼称)との位置合わせを正確に行うことを可能にする凸
の反射面を有する球面ミラー(以降、凸球面ミラーと呼
称)の提供と、 前記凸球面ミラーと凹球面ミラーとを備えて浮遊微粒子
の個数を正確に計測できる浮遊微粒子計数器の提供とを
目的とし、 凸の反射面の裏面が、そのまま凹の反射面となるように
凸球面ミラーを構成する。
また請求項1の凸球面ミラーの反射面の法線と凸球面ミ
ラーの反射面の法線とを重ね合わせて一致させるに際し
、遮光板に設けた小さなピンホールを通過して凹球面ミ
ラーの反射面から反射した直線状の光が、再びピンホー
ルを通過するように凹球面ミラーの傾きを調整する第1
の調整工程と、前記調整工程完了後に、凸球面ミラーを
凹球面ミラーと遮光板との間の光の光路内に挿入し、凸
球面ミラーの反射面から反射した光が、再び遮光板のピ
ンホールを通過するように凸球面ミラーの傾きを調整す
る第2の調整工程とを含ませて位置合わせ方法を構成す
る。
更に、凸球面ミラーと、この凸球面ミラーの反射面と反
射面を対面、それぞれの反射面のそれぞれの法線を平行
、且つ離間した凹球面ミラーと、直線状のレーザ光を凸
球面ミラーの反射面若しくは凹球面ミラーの反射面に斜
めに照射し、レーザ光をそれぞれの反射面間を往復させ
て当該それぞれの反射面間の空間に浮遊する浮遊微粒子
に照射するレーザ発振器と、 浮遊微粒子が散乱したレーザ光の散乱光を受光して電気
信号に変換して出力する散乱光検出器とを含ませて浮遊
微粒子計数器を構成する。
また、浮遊微粒子計数器において、浮遊微粒子が散乱し
たレーザ光の散乱光を受光する散乱光検出器の前方に、
レーザ光の振動方向と透過軸が直交する偏光板を配設し
て浮遊微粒子計数器を構成する。
なお、本明細書でいう“法線”とは、それぞれの球面ミ
ラーの幾何学的な中心を通過する法線をいう。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、凸球面ミラー、特に凹球面ミラーとの位置合
わせを正確且つ簡単にできる凸球面ミラ、及び前記凸球
面ミラーと凹球面ミラーとを備えた浮遊微粒子計数器に
関する。
半導体装置などを製造するための作業空間となるクリー
ンルーム内の浮遊微粒子の個数(単位体積、例えば1立
方フイートの空間に存在する浮遊微粒子の個数)と、そ
の粒径の計測には、光散乱式の浮遊微粒子計数器が使用
される。
そして、半導体装置の配線パターンの微細化の進展に伴
ってクリーンルーム内の浮遊微粒子の許容しうる個数と
その粒径は、厳しくなっている。
このような背景から、最近では粒径が0.1μm程度の
浮遊微粒子の測定が可能なレーザ式の浮遊微粒子計数器
が多く使用されている。
〔従来の技術〕
次に、レーザ方式の従来の浮遊微粒子計数器について、
第3図を参照しながら説明する。
第3図は、従来の浮遊微粒子計数器を説明するための図
で、同図(a)は浮遊微粒子計数器の要部の模式的斜視
図、同図(b)は法線を一致させた場合の多重反射膜を
示す図、同図(c)は法線をずらせた場合の多重反射膜
を示す図である。
尚、同じ部品・材料に対しては全図を通して同じ記号を
付与しである。
すなわち、従来の浮遊微粒子計数器は同図(a)〜同図
(c)に示すように 球面の凸面側(表面)を反射面11aとした球面ミラー
IN以降、凸球面ミラー11と呼称)と、凸球面ミラー
11の反射面11aと凹の反射面12aを対面、且つ凸
球面ミラー11の反射面11aと反射面12aの共通の
法線を平行且つ離間した球面ミラー12と(以降、凹球
面ミラー12と呼称)、発生した直線状のレーザ光13
aを凹球面ミラー12の反射面12a(若しくは、凸球
面ミラー11の反射面11a )に斜めに照射し、レー
ザ光13aを凹球面ミラー12の反射面12aと凸球面
ミラー11の反射面11aとの間を往復させて、それぞ
れの反射面11a。
12aとの間の空間に浮遊する浮遊微粒子10に照射す
るレーザ発振器13と、 浮遊微粒子10が散乱したレーザ光13aの散乱光13
bを受光して電気信号に変換して出力する散乱光検出器
14とを含んで構成したものである。
そして、凸球面ミラー11の反射面11aと凹球面ミラ
ー12の反射面12aとを対面するに際し、同図(b)
に示す如く凸球面ミラー11の反射面11aの法線11
bと凹球面ミラー12の反射面12aの法線12bとを
一致させた状態で、レーザ発振器13が発生したレーザ
光13aを、例えば凹球面ミラー12の反射面12aに
斜めから照射すると、レーザ光13aは凸球面ミラー1
1の反射面11aと凹球面ミラー12の反射面12aと
の間を何回も往復し、レーザ光13aがジグザグ(Zi
gzag)状態となった多重反射膜13cを形成するこ
ととなる。
しかし、凸球面ミラー11の反射面11aの法線11b
と凹球面ミラー12の反射面12aの法線12bとを一
致させた状態での多重反射膜13cのレーザ光13aの
反射回数は少なくなり、浮遊微粒子10を計測するに必
要な時間が長くなるという欠点がある。
この欠点を解消するために同図(c)に示す如く、凸球
面ミラー11の反射面11aの法線11bと凹球面ミラ
ー12の反射面12aの法線12bとを平行且つ離間さ
せることによりレーザ光13aの反射回数を高め、浮遊
微粒子10の計測時間を短縮していた。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、凸球面ミラー11の反射面11aの法線
11bと凹球面ミラー12の反射面12aの法線12b
とを同時に検出する方法が従来なかった。
このために、凸球面ミラー11の反射面11aの法線1
1bと凹球面ミラー12の反射面12aの法線12bを
正確に重ね合わすことは極めて困難であった。
本発明は、このような問題を解決するためになされたも
ので、その目的は凹球面ミラーとの位置合わせを正確に
行うことのできる凸球面ミラーの提供(目的l)と、凸
球面ミラーと凹球面ミラーとを備えて浮遊微粒子の個数
を正確に計測できる浮遊微粒子計数器の提供(目的2)
とにある。
〔課題を解決するための手段〕
前記目的lは、第1図の本発明の原理説明図に示す如く
凸の反射面21aの裏面が凹の反射面21bとなってい
ることを特徴とする請求項1の球面ミラー21(凸球面
ミラー21)の反射面21aの法線21Cと、球面ミラ
ー22(凹球面ミラー22)の反射面22aの法線22
bとを重ね合わせて一致させるに際し、遮光板15に設
けた小さなピンホール15aを通過して凹球面ミラー2
2の反射面22aから反射した直線状の光16が、再び
ピンホール15aを通過するように凹球面ミラー22の
傾きを調整する第1の調整工程と、 前記調整工程完了後に、凸球面ミラー21を凹球面ミラ
ー22と遮光板15との間の光16の光路内に挿入し、
凸球面ミラー21の反射面21bから反射した光】6が
、再び遮光板15のピンホール15aをill過するよ
うに凸球面ミラー21の傾きを調整する第2の調整工程
とを有することを特徴とする位置合わせ方法により達成
される。
また、前記目的2は、第2図に示すように、凸球面ミラ
ー21と、当該凸球面ミラー21の反射面21aと凹の
反射面22aを対面、且つ凸球面ミラー21の反射面2
1aと凹の反射面22aの共通の法線を平行且つ離間し
た凹球面ミラー22と、発生した直線状のレーザ光23
aを凸球面ミラー21の反射面21a、または凹球面ミ
ラー22の反射面22aに斜めに照射し、レーザ光23
aを反射面21aと反射面22a間を往復させて当該反
射面2]aと反射面22aとの間の空間に浮遊する浮遊
微粒子10に照射するレーザ発振器23と、 浮遊微粒子10が散乱したレーザ光23aの散乱光23
bを受光して電気信号に変換して出力する散乱光検出器
24とを含んでなることを特徴とする浮遊微粒子計数器
により達成される。
更に、前記目的2は、浮遊微粒子計数器において、浮遊
微粒子10が散乱したレーザ光23aの散乱光23bを
受光する散乱光検出器24の前方に、レーザ光23aの
振動方向と透過軸を直交させて偏光板25が配設されて
いることを特徴とする浮遊微粒子計数器によっても達成
される。
〔作 用〕
第1図の(a)図に示す凸球面ミラー21の反射面21
aの法線21cと凹球面ミラー220反射面22aの法
線22bとの重ね合わせは、次のような手順により実行
する。
まず、同図(b)に示す如く凹球・面ミラー22の反射
面22aに、遮光板15のピンホール15aを通過した
直線状の光線、例えばレーザ光16を照射する。
すると、凹球面ミラー22の反射面22aで反射したレ
ーザ光16は、遮光板15を照射してレーザ光16のス
ポットSを作る。
この後、遮光板15上のスポットSを見ながら凹球面ミ
ラー22の傾きを調整し、スポットSを遮光板15のピ
ンホール15aに逐次接近させ、最終的にスポットSを
ピンホール15aに一致させる。
かかる状態は、レーザ光16が凹球面ミラー220反射
面22aの法線22bとなっている状態であるので、凹
球面ミラー22をそのまま固定する。
次いで、本発明に係る凸球面ミラー21を、この凸球面
ミラー21の反射面21bを遮光板15と対面させた状
態にし、遮光板15と凹球面ミラー22との間にセント
する。
この後、凹球面ミラー22で行った要領に従って、遮光
板15上のスポットSを遮光板15のピンホール15a
に一致させる。
そして、この状態では、レーザ光16が凸球面ミラー2
1の反射面21a(反射面21b)及び凹球面ミラー2
2の反射面22aの共通の法線となっている。
かかる状態を基準にし、凸球面ミラー21と凹球面ミラ
ー22との位置合わせを行えば、その位置合わせは正確
、且つ簡単に行えることとなる。
また、斯かる方法によりそれぞれ位置合わせした凸球面
ミラー21と凹球面ミラー22とを有する第2図に示す
浮遊微粒子計数器は、凸球面ミラー210反射面21a
 と凹球面ミラー220反射面22a との間で形成さ
れるレーザ発振器23のレーザ光23aの多重反射膜2
3cの反射回数を正確な値で設定できることとなる。
斯くして、浮遊微粒子計数器は、凸球面ミラー21と凹
球面ミラー22との間の空間を浮遊する浮遊微粒子10
の個数を正確に計測できることとなる。
なお、第1図の(a)図は本発明に係る球面ミラー(凸
球面ミラー)の側断面図、同図(b)は凹球面ミラーの
法線検出法を説明するための図、同図(c)は凸球面ミ
ラーの法線検出法を説明するための図である。
〔実 施 例〕
以下、本発明の実施例の浮遊微粒子計数器について、第
2図を参照しながら説明する。
第2図(その1)は、本発明の第1の実施例の浮遊微粒
子計数器の要部の模式的斜視図である。
本発明の第1の実施例の浮遊微粒子計数器は第2図(そ
の1)に示すように、 透明なガラス球の一部を径方向に垂直に切り取った側断
面が半月状をした球面レンズ21dの球面側に光を良く
反射する金属、例えばアルミニウムを薄く泉着してアル
ミニウム膜21eを被着し、アルミニウム膜21eの凸
面側を反射面21aとし、またアルミニウムl’J 2
1 eの裏面を反射面21bとした球面ミラー21(凸
球面ミラー21)  と、凸球面ミラー21の反射面2
1aに、ガラス板22cの表面りこ設けた球面の窪みに
アルミニウムを薄く1着して被着したアルミニウム膜2
2dの凹面側の反射面22aを対面、且つ凸球面ミラー
21の反射面21aの法線21cと反射面22aの法線
22bを平行且つ離間した球面ミラー22(凹球面ミラ
ー22)と、発生した直線状のレーザ光23aを凸球面
ミラー21の反射面21a若しくは凹球面ミラー22の
反射面22aに斜めに照射し、それぞれの反射面21a
、22aとの間にレーザ光23aの多重反射膜23cを
形成し、反射面21aと反射面22aとの間の空間に浮
遊する浮遊微粒子10に照射するレーザ発振器23と、
浮遊微粒子10が散乱したレーザ光23aの散乱光23
bを受光し、多重反射膜23cが照射された浮遊微粒子
10の数量とそれぞれの浮遊微粒子10の粒径に対応す
る電気信号を出力する散乱光検出器24とを含んで構成
したものである。
第1の実施例の浮遊微粒子計数器は、請求項1に係る凸
面ミラー21と凹球面ミラー22との位置合わせを正確
に行えるため、多重反射膜23c、即ちレーザ光23a
が凸面ミラー21の反射面21aと凹球面ミラー22の
反射面22aとの間を往復する回数を設計値どうりに設
定できることとなる。
従って、本発明の第1の実施例の浮遊微粒子計数器は、
クリーンルーム等の空間内を浮遊する浮遊微粒子の個数
を正確に測定できることとなる。
第2図(その2)は、本発明の第2の実施例の浮遊微粒
子計数器の要部の模式的斜視図である。
本発明の第2の実施例の浮遊微粒子計数器は、前述した
本発明の第1の実施例の浮遊微粒子計数器の散乱光検出
器24との前方、すなわち浮遊微粒子10が散乱したレ
ーザ光23aの散乱光23bの入射側に、レーザ光23
aの振動方向と透過軸を直交させて偏光板25を配設し
て構成したものである。
従って、レーザ光23aが凸面ミラー21の反射面21
aと凹球面ミラー22の反射面22aとの間を往復しな
がら発散するように拡がって散乱光検出器24の方向に
も進行する迷光が、偏光板25により遮光される。
このため、散乱光検出器24には殆ど浮遊微粒子10が
散乱したレーザ光23aの散乱光23bだけが入射し、
散乱光検出器24のS/N比が向上する。
なお、上記第2の実施例の浮遊微粒子計数器に球面ミラ
ーを用いる例を上げたが、ミラーとしては平面ミラーを
用いる浮遊微粒子計数器にも適用しうるものである。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように本発明によれば、凹球面
ミラーとの位置合わせを正確に行うことのできる凸球面
ミラーを提供できることとなる。
また、本発明の凸球面ミラーを採用した浮遊微粒子計数
器は、クリーンルーム等の空間内を浮遊する浮遊微粒子
の個数とその粒径を正確に計測できることとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の原理説明図、 第2図は、本発明の実施例の浮遊微粒子計数器の要部の
模式的斜視図、 第3図は、従来の浮遊微粒子計数器を説明するための図
である。 図において、 10は浮遊微粒子、 11と21は球面ミラー(凸球面ミラー)、12と22
は球面ミラー(凹球面ミラー)、13と23はレーザ発
振器、 14と24は散乱光検出器、 15は遮光板、 16は光(レーザ光)をそれぞれ示す。 (ω璋面詩−(凸顛i宜う−)^使1断面■、b)ca
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Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)凸の反射面(21a)を有する球面ミラー(21
    )において、反射面(21a)の裏面が凹の反射面(2
    1b)となっていることを特徴とする球面ミラー。 (2)請求項1の球面ミラー(21)の反射面(21a
    )の法線(21c)と、球面ミラー(22)の凹の反射
    面(22a)の法線(22を)とを重ね合わせて一致さ
    せるに際し、遮光板(15)に設けた小さなピンホール
    (15a)を通過して球面ミラー(22)の反射面(2
    2a)から反射した直線状の光(16)が、再びピンホ
    ール(15a)を通過するように球面ミラー(22)の
    傾きを調整する第1の調整工程と、 前記調整工程完了後に、球面ミラー(21)を球面ミラ
    ー(22)と遮光板(15)との間の光(16)の光路
    内に挿入し、球面ミラー(21)の反射面(21b)か
    ら反射した光(16)が、再び遮光板(15)のピンホ
    ール(15a)を通過するように球面ミラー(21)の
    傾きを調整する第2の調整工程とを有することを特徴と
    する位置合わせ方法。(3)請求項1の球面ミラー(2
    1)と、 前記球面ミラー(21)の反射面(21a)と反射面(
    22a)を対面、且つそれぞれの反射面(21a、22
    a)の法線(21c、22b)を平行、且つ離間させた
    球面ミラー(22)と、 直線状のレーザ光(23a)を球面ミラー(21)の反
    射面(21a)若しくは前記球面ミラー(22)の反射
    面(22a)に斜めに照射し、レーザ光(23a)を反
    射面(21a)と反射面(22a)間を往復させて、反
    射面(21a)と反射面(22a)間の空間に浮遊する
    浮遊微粒子(10)に照射するレーザ発振器(23)と
    、浮遊微粒子(10)が散乱したレーザ光(23a)の
    散乱光(23b)を受光して電気信号に変換して出力す
    る散乱光検出器(24)とを含んでなることを特徴とす
    る浮遊微粒子計数器。 (4)浮遊微粒子計数器において、 浮遊微粒子(10)が散乱したレーザ光(23a)の散
    乱光(23b)を受光する散乱光検出器(24)の前方
    に、レーザ光(23a)の振動方向と透過軸を直交させ
    て偏光板(25)が配設されていることを特徴とする浮
    遊微粒子計数器。
JP2304477A 1990-08-02 1990-11-08 球面ミラー及び浮遊微粒子計数器 Pending JPH04151542A (ja)

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JP2-207128 1990-08-02

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008026229A (ja) * 2006-07-24 2008-02-07 Shimadzu Corp 反射型光学装置
JP2010534847A (ja) * 2007-07-30 2010-11-11 エーアーデーエス・ドイッチェランド・ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 空中に浮遊している化学物質、生体物質、及び爆発性物質をリアルタイムで分析するための分析方法及び分析装置
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