JPH04147045A - Surface inspection device - Google Patents

Surface inspection device

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JPH04147045A
JPH04147045A JP2271714A JP27171490A JPH04147045A JP H04147045 A JPH04147045 A JP H04147045A JP 2271714 A JP2271714 A JP 2271714A JP 27171490 A JP27171490 A JP 27171490A JP H04147045 A JPH04147045 A JP H04147045A
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Abstract

PURPOSE:To effect a window processing on a screen at high speed by judging that there is a defect if the number of digital signals exceeding a predetermined value in the window or an area of a mass is large when a memory is scanned by the window. CONSTITUTION:An image signal where a contract of brightness and darkness exceeds a predetermined value is extracted from the image signal of a video camera 10 by an image signal extractor 13, is stored into a memory 16 through an A/D converter, and at the same time a histogram of entire digital signal of the image is created 18. With this histogram signal, a waveform signal exceeding a threshold which is set by a threshold setter 20A is selected by a signal extractor 20 through an LPF 19 and a central line for vertical and horizontal directions for the image is obtained by a position setter 21. Also, a small window which is small enough for enabling a scratch to be screened is set 22 for the screen of the image. Then, the screen is scanned vertically by the window in a window address setter 23 and it is determined that there is defect 24 if the number of digital signals exceeds a predetermined value or an area of a mass is large.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は物体の表面検査装置に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to an object surface inspection device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年産業分野で、部品の人の目視による検査に代わって
、ビデオカメラと電子処理機を利用した自動検査装置を
設定することが増えてきた。被検査物としては、原材料
、素材、半製品、完成品等があり、その表面上の欠陥、
例えば外形、寸法等の相異、或は傷等を検出する表面検
査装置が種々提案され実用化されている。
In recent years, in the industrial field, automatic inspection equipment that uses video cameras and electronic processing machines has increasingly been installed to replace human visual inspection of parts. The objects to be inspected include raw materials, raw materials, semi-finished products, finished products, etc., and defects on the surface,
For example, various surface inspection devices for detecting differences in external shape, size, etc., flaws, etc. have been proposed and put into practical use.

従来の物体の表面検査装置は、被検査物に対して照明光
を照射し、被検査物の透過光若しくは反射光をビデオカ
メラで捕えて画像信号に変換し、その信号をコンピュー
タ等により構成された電子処理機により処理解析して欠
陥を検出するものである。
Conventional surface inspection equipment for objects irradiates the object to be inspected with illumination light, captures the transmitted light or reflected light of the object with a video camera, converts it into an image signal, and converts the signal into an image signal using a computer, etc. Defects are detected through processing analysis using an electronic processing machine.

この場合、ビデオカメラが捕えたアナログ信号である画
像信号は、電子処理をやり易くする為に、A/Dコンバ
ータの使用等によりデジタル信号に変換されるのが一般
的である。又、画像の明暗の度合い、即ちグレイスケー
ルについて全部のデータを処理することは、膨大なデー
タ量を処理することになって装置が複雑になり、多大な
処理時間を要して実用的ではない。
In this case, the analog image signal captured by the video camera is generally converted into a digital signal using an A/D converter or the like to facilitate electronic processing. Furthermore, processing all the data regarding the degree of brightness and darkness of an image, that is, the gray scale, would be impractical as it would involve processing a huge amount of data, making the equipment complex and requiring a large amount of processing time. .

そこで現在使用されている検査装置は、画像の明暗を閾
値で切って2値に分け、処理の簡易化を計ることにより
実用化された装置が大半である。
Therefore, most of the inspection devices currently in use have been put to practical use by dividing the brightness of the image into two values by thresholding and simplifying the processing.

或はグレースケールの数段階の限定された数に絞ってデ
ジタル化し、処理を行っている装置も散見される。
Alternatively, there are some devices that digitize and process a limited number of grayscale levels.

例えば被検査物の表面にある傷を検出しようとする場合
、色々の問題に突き当たる。被検査物については、金属
板、金属条やガラス、プラスチ。
For example, when attempting to detect flaws on the surface of an object to be inspected, various problems are encountered. The objects to be inspected include metal plates, metal strips, glass, and plastic.

りの容器、或は紙、プラスチックのロール状素材等色々
あるが、その表面から、傷だけを抽出して検出すること
が仲々難しい。それは、テレビカメラで被検査物を撮影
した場合、傷が明暗の変化として捕えられるのみならず
、被検査物の素材のざらついた表面や欠陥ではないとし
たい僅少な皺や、薄汚れ等も、同時に明暗の変化として
捕えられ、傷との区別がつかない事がその一つである。
There are various materials such as plastic containers, paper, and plastic rolls, but it is difficult to extract and detect only scratches from the surface. When photographing an object to be inspected with a television camera, it not only captures scratches as changes in brightness, but also detects slight wrinkles, dirt, etc. that may not be defects or the rough surface of the object being inspected. One of the reasons is that it is perceived as a change in brightness and darkness at the same time, making it difficult to distinguish it from a scratch.

これらの表面のざらつきや、皺や、薄汚れ等は、ビデオ
カメラにとっては言わば画面の中の“ノイズ”であると
言う事ができ、このようなノイズの中から欠陥である傷
のみを簡単に抽出して検出する事が難しく課題となって
いた。
Roughness, wrinkles, dirt, etc. on the surface of these surfaces can be said to be "noise" on the screen for a video camera, and from such noise, it is easy to identify only the defects, such as scratches. Extracting and detecting them has been difficult and a challenge.

前述のような課題を解決する為に色々な方法がとられる
。そのうちの有効な手段の一つとして、画面を多数の小
さな領域に区分し、夫々の小区域内の明暗の変化を測定
し、予め定められた値以上の変化があった場合に、そこ
に欠陥があると判定する方法がある。
Various methods can be used to solve the problems mentioned above. One effective method is to divide the screen into many small areas, measure the changes in brightness within each small area, and if the change exceeds a predetermined value, it is possible to detect defects there. There is a way to determine if there is.

ノイズ的な明暗変化の部分は、夫々の小区域内では数が
少なく、傷のある区域内では明暗の変化がある部分が多
いので、傷とノイズとを区別して判別することがより容
易である。区分する区域の大きさは、判別すべき傷の大
きさによって適宜定めれば良い事は勿論である。
The number of noise-like brightness changes is small in each small area, and there are many areas with brightness changes in areas with scratches, so it is easier to distinguish between scratches and noise. Of course, the size of the area to be divided may be determined as appropriate depending on the size of the flaw to be determined.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながらこのような画面を多数の小領域に区分して
欠陥の検査を行う方法は大変有効な手段ではあるが、画
面全体にわたって小さな区域で走査しながら判別処理を
繰り返さなくてはならないので、画面全体について判定
を行うには多大な処理時間を要する。
However, although this method of inspecting defects by dividing the screen into many small areas is very effective, it requires repeating the discrimination process while scanning small areas across the entire screen. It takes a lot of processing time to make a determination.

〔課題を解決するための手段及び作用〕本発明によれば
、照明装置より被検査物に対して照明光を照射し、その
透過光又は反射光をビデオカメラで捕え、ビデオカメラ
が出力する画像信号を電子処理機により画像処理し、被
検査物の欠陥を検出する検査装置において、ビデオカメ
ラ(10)よりの画像信号の中から、明暗のコントラス
トが予め定められた値以上になる画像信号を画像信号抽
出手段(13)により抽出し、該画像信号をA/D変換
器(14)によりデジタル信号に変換し、該デジタル信
号をメモリ(16)に記憶すると共に、画像の水平又は
垂直方向に対する全デジタル信号のヒストグラムをヒス
トグラム作成手段(18)により作成し、上記ヒストグ
ラム信号を低域フィルタ(19)に供給しその高域周波
数成分を除去して波形信号を形成し、該波形信号の予め
定められた閾値を越える波形信号を信号抽出手段(20
)により選択し、該選択された波形信号について、画像
の垂直又は水平方向に対する中心線を垂直又は水平位置
設定手段(21)により求め、画像の画面に対して、傷
が選別出来る程度の予め定められた大きさを有する小さ
いウィンドをウィンド設定手段(22)により設定し、
選択された波形信号より得た画像の垂直又は水平方向の
中心線を上記ウィンドの中心が一致して通過するように
、デジタル信号が記憶されているメモリに対して、上記
のウィンドで画面を垂直にウィンドアドレス設定手段(
23)により走査し、上記のウィンドにより上記メモリ
を走査した際、ウィンドの中に予め定められた値以上の
デジタル信号の数量が多いか又はデジタル信号の塊の面
積が大きい時等に傷等の欠陥が有ると判定手段(24)
により判定するようになした表面検査装置が得られる。
[Means and effects for solving the problem] According to the present invention, an illumination device emits illumination light onto an object to be inspected, the transmitted light or reflected light is captured by a video camera, and the video camera outputs an image. In an inspection device that processes signals using an electronic processor to detect defects in an object to be inspected, an image signal whose contrast between light and dark exceeds a predetermined value is selected from image signals from a video camera (10). The image signal is extracted by an image signal extraction means (13), the image signal is converted into a digital signal by an A/D converter (14), and the digital signal is stored in a memory (16). A histogram of all digital signals is created by a histogram creation means (18), the histogram signal is supplied to a low-pass filter (19) to remove its high frequency components to form a waveform signal, and a predetermined waveform signal is formed. A signal extraction means (20
), and for the selected waveform signal, the center line in the vertical or horizontal direction of the image is determined by the vertical or horizontal position setting means (21), and the center line is determined in advance to the extent that scratches can be detected on the screen of the image. setting a small window having a specified size by a window setting means (22);
Adjust the screen vertically using the above window relative to the memory in which the digital signal is stored, so that the center of the above window coincides with the vertical or horizontal center line of the image obtained from the selected waveform signal. Wind address setting means (
23), and when the memory is scanned by the window, scratches etc. may occur if there are a large number of digital signals exceeding a predetermined value in the window, or if the area of the mass of digital signals is large. Means for determining if there is a defect (24)
A surface inspection device is obtained which makes a determination based on the following.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照して本発明を説明する。 The present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図A乃至Eを参照して、本発明の詳細な説明する。The present invention will now be described in detail with reference to FIGS. 1A to 1E.

本発明においては、先ず、被検査物の表面の画像を示す
ビデオカメラの画面の中の明暗の変化がある部分をデジ
タル信号に変換する。それには、予め定められた閾値に
よって、西面中の明暗の変化のある部分のアナログ画像
信号を2値化してデジタル信号に変換しても良いし、明
暗の部分のアナログ信号を微分処理によって明暗の境界
を波形化し同様に2値化してデジタル信号にしても良い
In the present invention, first, a portion of the screen of a video camera showing an image of the surface of the object to be inspected, where the brightness changes, is converted into a digital signal. To do this, analog image signals of areas with changes in brightness and darkness on the west face may be binarized and converted into digital signals using a predetermined threshold, or analog signals of bright and dark areas may be differentially processed to differentiate between bright and dark areas. It is also possible to convert the signal into a waveform and similarly binarize it into a digital signal.

このデジタル信号は、全画面にわたってメモリに記憶し
ておく。
This digital signal is stored in memory over the entire screen.

第1図Aは、デジタル信号を記憶して6いるメモリのビ
デオカメラの画面に対応するエリア又は画面(1)の中
に、点在している上記のデジタル信号を黒点で示したも
のである。画面(1)の中に粗く点在している黒点(2
)は、前述のごとく被検査物の表面における欠陥以外の
、例えばざらつきや、薄い汚れ等の影響による明暗差が
デジタル信号に変換されたもので、欠陥の判定に邪魔に
なる所謂ノイズ状のものである。
Figure 1A shows the above-mentioned digital signals scattered as black dots in the area or screen (1) corresponding to the video camera screen of the memory storing the digital signals. . Roughly scattered black dots (2) on the screen (1)
) is the difference in brightness caused by factors other than defects on the surface of the inspected object, such as roughness or light dirt, which are converted into digital signals, and are so-called noise-like items that interfere with defect determination. It is.

一方画面(1)の中の密な黒点(3)及び(3A)は、
ノーズではない検出すべき傷等の欠陥に対応するデうタ
ル信号であり、ここには、多くの黒点が集合こている。
On the other hand, the dense black spots (3) and (3A) in the screen (1) are
This is a digital signal corresponding to a defect such as a scratch that should be detected other than the nose, and many black spots are gathered here.

これを他のノイズと区別して検出しな番:ればならない
It is necessary to detect this and distinguish it from other noise.

第1図Bは、画面(1)のx−x’綿線上即ちIA査線
上におけるデジタル信号を示すもので、こわより、この
デジタル信号をそのまま検出したのては、傷とノイズと
の区別がつけられない事がわ力るであろう、しかし、第
1図Aに示すごとく画面(1)を小区画で区分しくこの
例では、縦4.横6に区画しである)、夫々の小区画内
での黒点の数を調べる事により、ノイズと傷とを容易に
判別出来ることは明白であろう。
Figure 1B shows a digital signal on the x-x' line of screen (1), that is, on the IA scanning line.For fear, if this digital signal is detected as it is, it will be difficult to distinguish between scratches and noise. However, as shown in Figure 1A, the screen (1) is divided into small sections, and in this example, 4. It is clear that noise and scratches can be easily distinguished by checking the number of black dots in each subdivision.

本発明においては、先ず画面(1)の水平方向のデジタ
ル信号(黒点)のヒストグラムを、画面(1)の全垂直
方向に亘って作成する。このヒストグラムは、画面(1
)の水平方向に対して現れる全デジタル信号の分布状態
を示すものである。第1図Cは、このヒストグラムを図
示したものである。
In the present invention, first, a histogram of digital signals (black dots) in the horizontal direction of the screen (1) is created over the entire vertical direction of the screen (1). This histogram is displayed on the screen (1
) shows the distribution state of all digital signals appearing in the horizontal direction. FIG. 1C illustrates this histogram.

次に、第1図Cに示すデジタル信号より作られたヒスト
グラムを低減フィルタにかけて、その高域の周波数成分
を取除き、これを波形信号にする。
Next, the histogram created from the digital signal shown in FIG.

第1図りは、デジタル信号が変換されたこの波形信号を
示したものである。
The first diagram shows this waveform signal obtained by converting the digital signal.

この第1図りに示す波形信号を、欠陥を汚れ等のノイズ
より区別するため、予め定められた閾値(TI()によ
り切り、閾値を越える波形信号の部分の位置を求め、そ
の位置に於ける画像に対する垂直方向の中心線(CN)
を求める。第1図りの場合、波形信号の閾値(TH)を
越える部分は2個所なので、上記中心線は(CNI) 
、 (CN2)となる。尚、デジタル信号により作られ
たヒストグラムをフィルタにより波形信号に整波した理
由は、デジタル信号の塊の中心線を求め易いようにする
為である。又、上記により求められた中心線(CN)の
数は、ヒストグラムにおけるデジタル信号の分布状態や
、閾値の定め方によって異なることは勿論である。
In order to distinguish defects from noise such as dirt, the waveform signal shown in the first diagram is cut by a predetermined threshold value (TI()), the position of the part of the waveform signal exceeding the threshold value is determined, and the Vertical center line (CN) to the image
seek. In the case of the first diagram, there are two parts of the waveform signal that exceed the threshold (TH), so the center line above is (CNI)
, (CN2). Note that the reason why the histogram created from the digital signal is rectified into a waveform signal using a filter is to make it easier to find the center line of the mass of the digital signal. Furthermore, the number of center lines (CN) determined as described above will of course vary depending on the distribution state of the digital signals in the histogram and how the threshold value is determined.

第1図Eに示すごとく、デジタル信号を記憶しているメ
モリの画面(1)の例えば上方から下方に向かって、予
め定められた小区画のウィンド(6)を中心m (CN
)に沿って動かして画面(1)の走査を行い、ウィンド
(6)中に予め定められた数量以上のデジタル信号があ
った場合に、又はデジタル信号の塊の面積が大きい時等
に、異常もしくは欠陥有りと判定する。ウィンド(6)
は、大きさを一定ムこ設定された単一のものである。
As shown in FIG. 1E, for example, from the top to the bottom of the screen (1) of the memory that stores digital signals, a predetermined small section window (6) is centered m (CN
) to scan the screen (1), and if there are more than a predetermined number of digital signals in the window (6), or if the area of a block of digital signals is large, an abnormality will be detected. Or it is determined that there is a defect. Wind (6)
is a single object with a constant size.

第2図は、上述した本発明の原理を実施する一例をブロ
ックで示したものである。第2図の例においては、ビデ
オカメラ(10)が捕えた被検査物(図示せず)の画像
信号(a)を前置増幅機(11)!こ供給する。前置増
幅機(11)は、増幅された画像信号(b)を画像信号
抽出器(13)と同期信号分離器(12)とに供給する
。画像信号抽出器(13)は、閾値設定器(13A)に
より予め定められた閾値(THI)を越える画像信号の
部分を、抽出信号(C)として作成する。
FIG. 2 shows, in block form, an example of implementing the principles of the invention described above. In the example of FIG. 2, an image signal (a) of an object to be inspected (not shown) captured by a video camera (10) is transmitted to a preamplifier (11)! I will supply this. The preamplifier (11) supplies the amplified image signal (b) to the image signal extractor (13) and the synchronization signal separator (12). The image signal extractor (13) generates a portion of the image signal exceeding a threshold value (THI) predetermined by the threshold value setter (13A) as an extracted signal (C).

画像信号抽出器(13)は、例えばコンパレータで、上
記の閾値(TI(1)に基づき、特定の画像信号(C)
を抽出する。この抽出された画像信号(C)をA/D変
換器(14)に供給して、デジタル信号(d)に変換す
る。
The image signal extractor (13) is, for example, a comparator, and extracts a specific image signal (C) based on the above threshold (TI(1)).
Extract. This extracted image signal (C) is supplied to an A/D converter (14) and converted into a digital signal (d).

A/D変換器(14)よりの変換されたデジタル信号(
d)を、転換スイッチ(15)の固定接点(X)及び可
動接片(^)を通してメモリ(16)に供給する。
The converted digital signal from the A/D converter (14) (
d) is supplied to the memory (16) through the fixed contact (X) and the movable contact (^) of the conversion switch (15).

同期信号分離器(I2)は、垂直同期信号分離器(12
v)と水平同期信号分離器(12h) とよりなり、ビ
デオカメラ(10)が捕えて増幅された画像信号ら)か
ら、垂直同期信号(v)と水平同期信号0−1)とを夫
々分離する。これ等垂直及び水平同期信号(V)及び(
h)を画像アドレス発生器(17)に供給する。画像ア
ドレス発生器(17)はアドレス信号(e)を発生する
。このアドレス信号(e)を、転換スイッチ(15A)
の固定接点(X′)及び可動接片(^)を通してメモリ
(16)に与え、ビデオカメラ(10)が捕えた画像信
号(a)に同期してそのデジタル信号(d)を記憶する
ように、メモリ(16)の垂直及び水平アドレスを制御
する。
The sync signal separator (I2) is a vertical sync signal separator (12
v) and a horizontal synchronization signal separator (12h), which separates the vertical synchronization signal (v) and horizontal synchronization signal (0-1) from the image signals captured and amplified by the video camera (10), respectively. do. These vertical and horizontal synchronization signals (V) and (
h) to the image address generator (17). An image address generator (17) generates an address signal (e). This address signal (e) is connected to the conversion switch (15A).
is applied to the memory (16) through the fixed contact (X') and the movable contact (^), so that the digital signal (d) is stored in synchronization with the image signal (a) captured by the video camera (10). , controls the vertical and horizontal addresses of the memory (16).

一方、デジタル変換器(14)から出力されたデジタル
信号(d)を、水平ヒストグラム作成器(18)に供給
し、デジタル信号(d)の水平ヒストグラム信号(f)
を作り(第1図C参照)、これを低域フィルタ(19)
に供給して波形信号(6)を得る(第1図り参照)同時
に、前述の垂直同期信号(V)と水平同期信号(5)を
水平ヒストグラム作成器(18)及び低域フィルタ(1
9)に夫々供給し、正しくヒストグラム信号げ)及び波
形信号(樽を作成する。
On the other hand, the digital signal (d) output from the digital converter (14) is supplied to a horizontal histogram generator (18), and a horizontal histogram signal (f) of the digital signal (d) is generated.
(see Figure 1C) and apply it to the low-pass filter (19)
At the same time, the vertical synchronization signal (V) and the horizontal synchronization signal (5) are supplied to the horizontal histogram generator (18) and the low-pass filter (1) to obtain the waveform signal (6).
9) respectively to correctly create histogram signal (grain) and waveform signal (barrel).

この波形信号((2)を、信号抽出器(20)に供給し
、これにより、波形信号(鎖から、閾値設定器(2OA
)において予め定められた閾値(TH2)を越える信号
(i)を抽出する(第1図り参照)。この信号(i)を
、垂直位置設定器(21)に供給し、この信号(1)の
波形信号(匂の画像に対する垂直方向の中心点を求める
This waveform signal (2) is fed to a signal extractor (20), which extracts the waveform signal (from the chain to a threshold setter (2OA
), the signal (i) exceeding a predetermined threshold (TH2) is extracted (see first diagram). This signal (i) is supplied to a vertical position setter (21), and the waveform signal (vertical center point of the odor image) of this signal (1) is determined.

垂直位置設定器(21)に対しても、垂直同期信号(■
)と水平同期信号(5)とを供給し、画面上の正しい位
置に上記の中心点が設定されるように制御し、垂直位置
信号(j)を出力する。
Vertical synchronization signal (■
) and a horizontal synchronizing signal (5), the center point is controlled to be set at the correct position on the screen, and a vertical position signal (j) is output.

(22)はウィンド設定器であり、検出を希望する傷が
その中に含まれる程度の小さい寸法のウィンドを設定す
るウィンド設定信号仮)を発生する。
Reference numeral (22) denotes a window setting device, which generates a window setting signal tentatively for setting a window with a size small enough to include the flaw desired to be detected.

(23)はウィンドアドレス発生器であり、垂直位置信
号(j)と、ウィンド設定信号(2)と、垂直及び水平
同期信号(■)及び(5)とを受け、ウィンドが定めら
れた垂直走査位置で、メモリ(16)に記憶されている
デジタル信号(d)を垂直に走査するようなウィンドア
ドレス信号(1)を、転換スイッチ(15A)の他方の
固定接点(Y′)に出力する。スイッチ(15)及び(
15A)は連動するものとし、固定接点(X)及び(X
′)はメモリ(16)の信号取入れモードとし、それ等
の他の固定接点(Y)及び(Y′)は、判定モードとす
る。
(23) is a window address generator, which receives the vertical position signal (j), the window setting signal (2), and the vertical and horizontal synchronization signals (■) and (5), and performs vertical scanning with a defined window. At this position, a window address signal (1) that vertically scans the digital signal (d) stored in the memory (16) is output to the other fixed contact (Y') of the transfer switch (15A). Switch (15) and (
15A) shall be interlocked, and fixed contacts (X) and (X
') is in the signal acquisition mode of the memory (16), and the other fixed contacts (Y) and (Y') are in the judgment mode.

このようにして、スイッチ(15)及び(15A)をメ
モリ(16)の信号取入れモードにしておいて、全画像
のデジタル信号(d)をメモリ(16)に記憶しておき
、スイッチ(15)及び(15A)を判定モードに転換
し、第1図Eに示したごとき動作でウィンドを特定垂直
方向位置のみ走査し、その結果を判定回路(24)によ
り判定し、傷(3)、(3A)を検出する。
In this way, the switches (15) and (15A) are set to the signal acquisition mode of the memory (16), the digital signal (d) of all images is stored in the memory (16), and the switch (15) and (15A) are switched to the judgment mode, the window is scanned only at a specific vertical position by the operation shown in FIG. 1E, and the result is judged by the judgment circuit (24). ) is detected.

以上は、水平ヒストグラムを求めて動作させた場合の例
について説明したが、水平ヒストグラムの代わりに垂直
ヒストグラムを求め、ウィンドを水平に走査せしめても
同様な動作と効果が得られることは明らかであろう。こ
の場合には、水平ヒストグラム作成器(18)を垂直ヒ
ストグラム作成器になし、垂直位置設定器(21)を水
平位置設定器に変更すれば良いだけの事であり、特に重
ねて詳細な説明をすることを省略する。
The above has explained an example in which the operation is performed by obtaining a horizontal histogram, but it is clear that the same operation and effect can be obtained by obtaining a vertical histogram instead of the horizontal histogram and scanning the window horizontally. Dew. In this case, all you need to do is change the horizontal histogram generator (18) to the vertical histogram generator and the vertical position setter (21) to the horizontal position setter. Omit what you do.

更にまた、第3図は本発明の他の実施例のブロック扉で
ある。第3図において、第2図と同一符号は互いに同一
部分を示すものとする。第3図の例が第2図の例と異な
る点は、第3図の例では水平と垂直の2組のヒストグラ
ムを同時に作成している事である。
Furthermore, FIG. 3 shows a block door according to another embodiment of the present invention. In FIG. 3, the same reference numerals as in FIG. 2 indicate the same parts. The difference between the example shown in FIG. 3 and the example shown in FIG. 2 is that in the example shown in FIG. 3, two sets of histograms, horizontal and vertical, are created simultaneously.

このため、第3図の例に於いては、第2図の例に、垂直
ヒストグラム作成器(18B) 、低域フィルタ(19
B)、信号抽出器(20B)、及び閾値設定器(20C
)を併設したものである。
Therefore, in the example of FIG. 3, a vertical histogram generator (18B) and a low-pass filter (19
B), signal extractor (20B), and threshold setter (20C)
).

第3図の例が第2図の例と動作上置なる点は、第3図の
例では、第2図の例の垂直位置設定器(21)が、水平
位置と垂直位置とで同時に制御を行う水平、垂直位置設
定器(21B)となり、ウィンドアドレス設定器(23
)は、水平位置と垂直位置との交差する点にアドレスす
るようなウィンドアドレス信号を発生する点である。
The example in Figure 3 is different in operation from the example in Figure 2, in that the vertical position setter (21) in the example in Figure 2 controls the horizontal and vertical positions simultaneously. It is a horizontal and vertical position setter (21B) that performs
) is a point that generates a window address signal that addresses the intersection of the horizontal and vertical positions.

第4図はこの状態を図示したもので、図において水平の
ヒストグラムより得た垂直方向の中心線(CNI)及び
(CN2)と、垂直のヒストグラムより得た水平方向の
中心線(CN3)及び(CN4)のそれぞれの交点にウ
ィンド(6)を順次設定して判定を行う。
Figure 4 illustrates this state. In the figure, the vertical center line (CNI) and (CN2) obtained from the horizontal histogram, and the horizontal center line (CN3) and (CN2) obtained from the vertical histogram. A determination is made by sequentially setting a window (6) at each intersection of CN4).

この方法によれば、ウィンドの走査は行わずに単にウィ
ンドを上記の交点に順次移動させて判定を行うのみであ
るので、総合判定の処理時間が極めて少なくて済む特徴
がある。
According to this method, the window is not scanned and the window is simply moved to the above-mentioned intersection points in order to make the determination, so the processing time for comprehensive determination is extremely short.

第3図のブロンクの他の部分の説明については、第2図
における場合と全く同様な動作であるので説明を省略す
る。
A description of other parts of the bronc in FIG. 3 will be omitted since the operations are exactly the same as in FIG. 2.

尚、ブロックダイアグラムによって本発明の詳細な説明
したが、いずれの場合もコンピュータ処理によって本発
明を実施することが一般的であり、ソフトウェアのプロ
グラミングにより、上述のごとき本発明の動作をなさし
める事は当業者にとって容易である事は明らかであろう
Although the present invention has been explained in detail using a block diagram, in any case, the present invention is generally implemented by computer processing, and the above-described operation of the present invention cannot be performed by software programming. This will be obvious to those skilled in the art.

又、ウィンドの形は矩形にとられれることなく、判別の
目的によっては特殊な形状にしても良く、ウィンド内の
判定処理も抽出信号の数量を計測したり抽出信号の塊ま
り具合或は形状等を基準にして判定するなど、検出目的
により自由に設定して良いことは勿論である。
In addition, the shape of the window is not limited to a rectangle, but may be made into a special shape depending on the purpose of discrimination, and the determination process within the window may be performed by measuring the quantity of extracted signals, or determining the degree of agglomeration or shape of extracted signals. Of course, it is possible to set it freely depending on the purpose of detection, such as making a determination based on the following criteria.

[発明の効果] 本発明は、このような従来の方法の処理時間の上での欠
陥を排除し、画面上のウィンド処理を独自な方法により
極めて高速に行なえるようになし、高速な生産ライン上
でこのような装置を使用する事を可能にした効果は極め
て大なるものがある。
[Effects of the Invention] The present invention eliminates the drawbacks of the conventional method in terms of processing time, makes it possible to perform window processing on the screen at extremely high speed using a unique method, and improves the speed of a high-speed production line. The effect of making it possible to use such a device as described above is extremely significant.

又、特に複雑な構成を必要とする事なく、簡便に装置を
製作し得るものである事も大きな特徴である。
Another major feature is that the device can be easily manufactured without requiring any particularly complicated configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の原理説明用の路線図、第2及び第3図
は夫々本発明の実施例を示すブロック図、第4図は第3
図の例の動作説明用の路線図である。 図に於て、(10)はビデオカメラ、(12)は同期信
号分離器、(13)、 (20)は信号抽出器、(14
)はA/D変換器、(15) 、 (15A)は転換ス
イッチ、(16)はメモリ、(17)はアドレス発生器
、(18) 、 (18B)は水平及び垂直ヒストグラ
ム設定器、(19) 、 (19B)は低域フィルタ、
(20) 、 (,20B)は信号抽出器、(20A)
 、 (20C)は閾値設定器、(21B)は水平垂直
位置設定器、(22)はウィンド設定器、(23)はウ
ィンドアドレス発生器、(24)は判定回路を夫々示す
。 代 理 人 松 隈 秀 盛 第 凶 N1 N2 第30の8りの動Iil:f)説明1zイ六する略米泉
図第4図
Figure 1 is a route map for explaining the principle of the present invention, Figures 2 and 3 are block diagrams showing embodiments of the present invention, and Figure 4 is a route diagram for explaining the principle of the present invention.
It is a route map for explaining the operation of the example shown in the figure. In the figure, (10) is a video camera, (12) is a sync signal separator, (13), (20) is a signal extractor, and (14) is a sync signal separator.
) is an A/D converter, (15) and (15A) are conversion switches, (16) is a memory, (17) is an address generator, (18) and (18B) are horizontal and vertical histogram setters, (19 ), (19B) is a low-pass filter,
(20), (,20B) is a signal extractor, (20A)
, (20C) is a threshold value setter, (21B) is a horizontal/vertical position setter, (22) is a window setter, (23) is a window address generator, and (24) is a determination circuit, respectively. Agent Hidemori Matsukuma No. 1 N1 N2 30th 8th motion Iil: f) Explanation 1z I6 Roughly Yoneizumi Diagram Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、照明装置より被検査物に対して照明光を照射し、そ
の透過光又は反射光をビデオカメラで捕え、ビデオカメ
ラが出力する画像信号を電子処理機により画像処理し、
被検査物の欠陥を検出する検査装置において、 ビデオカメラよりの画像信号の中から、明暗のコントラ
ストが予め定められた値以上になる画像信号を画像信号
抽出手段により抽出し、該画像信号をA/D変換器によ
りデジタル信号に変換し、 該デジタル信号をメモリに記憶すると共に、画像の水平
又は垂直方向に対する全デジタル信号のヒストグラムを
ヒストグラム作成手段により作成し、 上記ヒストグラム信号を低域フィルタに供給しその高域
周波数成分を除去して波形信号を形成し、 該波形信号の予め定められた閾値を越える波形信号を信
号抽出手段により選択し、 該選択された波形信号について、画像の垂直又は水平方
向に対する中心線を垂直又は水平位置設定手段により求
め、 画像の画面に対して、傷が選別出来る程度の予め定めら
れた大きさを有する小さいウインドをウインド設定手段
により設定し、 選択された波形信号より得た画像の垂直又は水平方向の
中心線を上記ウインドの中心が一致して通過するように
、デジタル信号が記憶されているメモリに対して、上記
のウインドで画面を垂直にウインドアドレス設定手段に
より走査し、 上記のウインドにより上記メモリを走査した際、ウイン
ドの中に予め定められた値以上のデジタル信号の数量が
多いか又はデジタル信号の塊の面積が大きい時等に傷等
の欠陥が有ると判定手段により判定するようになしたこ
とを特徴とする表面検査装置。 2、照明装置より被検査物に対して照明光を照射し、そ
の透過光又は反射光をビデオカメラで捕え、ビデオカメ
ラが出力する画像信号を電子処理機により画像処理し、
被検査物の欠陥を検出する検査装置において、 ビデオカメラよりの画像信号の中から、明暗のコントラ
ストが予め定められた値以上になる画像信号を画像信号
抽出手段により抽出し、該画像信号をA/D変換器によ
りデジタル信号に変換し、 該デジタル信号をメモリに記憶すると共に、画像の水平
及び垂直方向に対する全デジタル信号のヒストグラムを
夫々ヒストグラム作成手段により作成し、 上記水平及び垂直方向のヒストグラム信号を低域フィル
タに供給しその高域周波数成分を除去して水平及び垂直
方向の波形信号を形成し、該2個の波形信号の予め定め
られた閾値を越える波形信号を信号抽出手段により選択
し、該選択された2個の波形信号について、画像の垂直
及び水平方向に対する中心線を夫々垂直及び水平位置設
定手段により求め、 画像の画面に対して、傷が選別出来る程度の予め定めら
れた大きさを有する小さいウインドをウインド設定手段
により設定し、 選択された2個の波形信号より得た画像の垂直及び水平
方向の中心線が交差する位置を求め、上記ウインドの中
心が上記交差する位置に一致するようになし、 上記のウインド中に予め定められた値以上のデジタル信
号の数量が多いか又はデジタル信号の塊の面積が大きい
時等に傷等の欠陥が有ると判定手段により判定するよう
になしたことを特徴とする表面検査装置。
[Claims] 1. Illumination light is irradiated onto the object to be inspected from an illumination device, the transmitted light or reflected light is captured by a video camera, and the image signal outputted by the video camera is image-processed by an electronic processor. ,
In an inspection device for detecting defects in an object to be inspected, an image signal extracting means extracts an image signal whose contrast between light and dark exceeds a predetermined value from among image signals from a video camera, and converts the image signal into A. /D converter to convert it into a digital signal, store the digital signal in a memory, create a histogram of all the digital signals in the horizontal or vertical direction of the image by a histogram creation means, and supply the histogram signal to a low-pass filter. forming a waveform signal by removing high frequency components thereof, selecting a waveform signal exceeding a predetermined threshold value of the waveform signal using a signal extracting means, and using the selected waveform signal in the vertical or horizontal direction of the image. The center line in the direction is determined by the vertical or horizontal position setting means, and the window setting means sets a small window with a predetermined size that is large enough to screen out flaws on the image screen, and the selected waveform signal is means for setting the screen vertically in the window with respect to the memory in which the digital signal is stored, so that the center of the window coincides with the center line in the vertical or horizontal direction of the image obtained from the image. When the above memory is scanned by the above window, defects such as scratches may occur if there are a large number of digital signals exceeding a predetermined value in the window, or if the area of a chunk of digital signals is large. A surface inspection device characterized in that a determination means determines whether the presence exists. 2. Illumination light is irradiated onto the object to be inspected from an illumination device, the transmitted light or reflected light is captured by a video camera, and the image signal outputted by the video camera is image-processed by an electronic processor;
In an inspection device for detecting defects in an object to be inspected, an image signal extracting means extracts an image signal whose contrast between light and dark exceeds a predetermined value from among image signals from a video camera, and converts the image signal into A. A/D converter converts the digital signal into a digital signal, stores the digital signal in a memory, and creates histograms of all the digital signals in the horizontal and vertical directions of the image, respectively, using a histogram creating means, and generates the histogram signals in the horizontal and vertical directions. is supplied to a low-pass filter and its high-frequency components are removed to form horizontal and vertical waveform signals, and a waveform signal exceeding a predetermined threshold of the two waveform signals is selected by a signal extraction means. , for the two selected waveform signals, determine the center lines in the vertical and horizontal directions of the image using the vertical and horizontal position setting means, respectively, and set a predetermined size on the image screen to the extent that scratches can be identified. Set a small window with a certain angle using the window setting means, find the position where the vertical and horizontal center lines of the image obtained from the two selected waveform signals intersect, and set the center of the window at the position where the center lines of the image intersect. The determination means determines that there is a defect such as a scratch when there is a large number of digital signals exceeding a predetermined value in the window, or when the area of a block of digital signals is large, etc. A surface inspection device characterized by what it has done.
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