JP3055322B2 - Circular container inner surface inspection device - Google Patents

Circular container inner surface inspection device

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JP3055322B2
JP3055322B2 JP4243842A JP24384292A JP3055322B2 JP 3055322 B2 JP3055322 B2 JP 3055322B2 JP 4243842 A JP4243842 A JP 4243842A JP 24384292 A JP24384292 A JP 24384292A JP 3055322 B2 JP3055322 B2 JP 3055322B2
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circular container
container
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pixel
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公一 外山
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Fuji Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は例えばコンベアなどで搬
送されるビール缶などの円形容器内面を検査し、容器の
変形・異物・ゴミ・傷などを検出する画像処理装置とし
ての円形容器内面検査装置に関する。なお以下各図にお
いて同一の符号は同一もしくは相当部分を示す。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention inspects the inner surface of a circular container such as a beer can conveyed by a conveyor or the like, and inspects the inner surface of the circular container as an image processing device for detecting deformation, foreign matter, dust, scratches, etc. of the container. Related to the device. In the drawings, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

【0002】[0002]

【従来の技術】図2は一例としてビール用アルミ缶の容
器を上面より観測した場合の高輝度部の説明図で、同図
(A)は缶容器の上面(画像)図、同図(B)は側断面
図である。そして102は容器、101はこの容器10
2を上方から照らすリング状の照明器、103は口部の
高輝度部、104は底部の高輝度部である。このように
リング照明器101を用いて容器102の内面に光線を
照射することにより、容器内面の口部と底部に夫々10
3,104のような高輝度部が発生する。特に缶などの
ように容器内面に金属光沢のある場合は顕著である。
2. Description of the Related Art FIG. 2 is an explanatory view of a high-brightness area when an aluminum can container for beer is observed from above as an example. FIG. 2A is a top (image) view of the can container and FIG. () Is a side sectional view. And 102 is a container, 101 is this container 10
A ring-shaped illuminator illuminating 2 from above, 103 is a high-brightness portion at the mouth, and 104 is a high-brightness portion at the bottom. By irradiating the inner surface of the container 102 with the light beam using the ring illuminator 101 in this manner, the inner and outer surfaces of the container are 10
High luminance portions such as 3,104 are generated. This is particularly noticeable when the inner surface of the container has a metallic luster such as a can.

【0003】図3(B)は容器102の上面画像(図3
(A))に対する走査線Q−Q1上の濃度変化を示した
ものであるが、濃度変化の特徴よりW1〜W5の5つの
領域に分類される。第1の領域W1は口部高輝度部10
3であり、第2の領域W2は濃度変化が比較的小さい容
器側面上中部であり、第3の領域W3は図2で述べた照
明101による光線があまり届かないため、他の領域よ
り暗い容器側面下部であり、第4の領域W4は底部高輝
度部104であり、第5の領域W5は底部である。
FIG. 3B is a top view image of the container 102 (FIG. 3).
FIG. 4A shows a density change on the scanning line Q-Q1 with respect to (A)), and is classified into five regions W1 to W5 according to the characteristics of the density change. The first area W1 is the high-brightness area 10 of the mouth.
3, the second area W2 is the upper middle part of the side of the container where the change in density is relatively small, and the third area W3 is a container that is darker than the other areas because light rays by the illumination 101 described in FIG. The fourth region W4 is the bottom high brightness part 104, and the fifth region W5 is the bottom.

【0004】従来はこれらの領域W1〜W5にそれぞれ
ウィンドウを設け、領域の光学的な特性に応じて黒汚れ
(黒点)や白汚れ(白点)の不良を検出するためのしき
い値を設定していた。不良検出の方法としては例えば対
象画像の走査によって得られたアナログのビデオ信号
(アナログ濃淡画像信号)をA/D変換してなる8ビッ
トなどの多値の濃淡画像信号を所定のしきい値で2値化
する方法や、前記のビデオ信号を微分して欠陥信号を抽
出する微分法などが知られている。この微分法の場合、
対象物の外形の輪郭部でも微分信号が出るが輪郭部では
微分によって正方向パルス,負方向パルスのいずれか一
方が発生するのに対し、微小欠陥部では正方向パルスと
負方向パルスが同時に発生することを利用して欠陥部を
抽出することができる。
Conventionally, a window is provided in each of these areas W1 to W5, and a threshold value for detecting a defect of black stain (black point) or white stain (white point) is set according to the optical characteristics of the area. Was. As a method of detecting a defect, for example, a multi-valued grayscale image signal such as 8 bits obtained by A / D conversion of an analog video signal (analog grayscale image signal) obtained by scanning a target image is converted to a predetermined threshold value. There are known a binarization method, a differentiation method of differentiating the video signal to extract a defect signal, and the like. In this differentiation method,
A differential signal is also output at the contour of the outer shape of the object, but either the positive pulse or the negative pulse is generated by the differentiation at the contour, while the positive and negative pulses are simultaneously generated at the minute defect. The defective part can be extracted by utilizing this.

【0005】即ちラスタ走査に基づくアナログ濃淡画像
信号を微分してなる信号P(X,Y)についての着目点
(座標値X=i,Y=j)における値P(i,j)と、
この着目点よりX方向走査線上の前,後に夫々所定の微
小のα画素,β画素だけ離れた点における値P(i−
α,j),P(i+β,j)との間に、 P(i,j)−P(i−α,j)>TH1 であっ
て且つ、 P(i+β,j)−P(i,j)>TH1 の関係
があれば、 (但しTH1は所定のしきい値(正値)とする)着目点
における不良検出のための二値化関数値PD(i,j)
=1としてこの着目点を黒レベル不良の点とし、それ以
外の場合はPD(i,j)=0としてこの着目点を正常
の点とするものである。
That is, a value P (i, j) at a point of interest (coordinate values X = i, Y = j) for a signal P (X, Y) obtained by differentiating an analog grayscale image signal based on raster scanning,
The value P (i−p) at a point separated by a predetermined minute α pixel and β pixel respectively before and after the point of interest on the scanning line in the X direction.
α, j) and P (i + β, j), P (i, j) −P (i−α, j)> TH1 and P (i + β, j) −P (i, j) )> TH1 (where TH1 is a predetermined threshold value (positive value)) A binarization function value PD (i, j) for detecting a defect at a point of interest
= 1, this point of interest is regarded as a black level defect point, otherwise PD (i, j) = 0, and this point of interest is regarded as a normal point.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし以上のような手
法は微小な黒点のような不良には有利であるものの容器
のヘコミの場合は局所的なコントラストが得られず検出
が困難であった。そこで本発明はこの問題を解消できる
円形容器内面検査装置を提供することを課題とする。
However, the above-described method is advantageous for defects such as minute black spots, but in the case of dents in a container, local contrast cannot be obtained and detection is difficult. Therefore, an object of the present invention is to provide a circular container inner surface inspection apparatus that can solve this problem.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項1の円形容器内面検査装置は軸対称の円形
容器の前記軸方向からこの円形容器の内面側を照明した
うえ、TVカメラを介しこの軸方向からこの円形容器の
照明面を撮像し、この撮像された画像を解析して前記円
形容器の変形や汚れを検査する円形容器内面検査装置に
おいて、フレームメモリ1などに格納された円形容器の
内面の画像を走査するための複数本の放射状の走査線
を、画像の中心を通り、かつ、該画像の最外周を両端と
するものとして求める手段(処理領域決定回路18Aな
ど)と、前記円形容器の内面の画像を(放射アドレス発
生器4などを介し)放射状の走査線で順次走査し、この
放射状走査線上の1又は所定の複数の画素間隔で並ぶ画
素の濃度と、この走査線に対し所定間隔を持つ放射状走
査線上の夫々該画素に対応する位置にある画素の濃度と
の各対応画素同士の濃度差の絶対値を当該対応画素の走
査線上の座標に応じて定められたしきい値と夫々比較
し、さらにこの比較を前記所定間隔を持つ放射状走査線
の他の対についても順次行い、前記しきい値より大きい
前記濃度差の絶対値が検出されたときは容器内面不良で
あると判定する手段(不良検出回路12,不良検出判定
回路13など)を備えたものとする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a circular container inner surface inspection apparatus which illuminates the inner surface side of an axisymmetric circular container from the axial direction of the circular container, and further includes a TV. In a circular container inner surface inspection apparatus that images an illumination surface of the circular container from the axial direction through a camera, analyzes the captured image, and inspects the circular container for deformation or dirt, the image is stored in a frame memory 1 or the like. Means for obtaining a plurality of radial scanning lines for scanning an image of the inner surface of the circular container as passing through the center of the image and having both ends at the outermost periphery of the image (processing area determination circuit 18A, etc.) The image of the inner surface of the circular container is sequentially scanned by a radial scanning line (via the radial address generator 4 or the like), and the density of the pixels on the radial scanning line arranged at one or a predetermined plurality of pixel intervals. scanning The absolute value of the density difference between each corresponding pixel and the density of a pixel at a position corresponding to the pixel on the radial scanning line having a predetermined interval is determined according to the coordinates of the corresponding pixel on the scanning line. The threshold value is compared with each other, and this comparison is also sequentially performed on the other pairs of radial scanning lines having the predetermined interval. When an absolute value of the density difference larger than the threshold value is detected, it is determined that the inner surface of the container is defective. It is assumed that the apparatus includes means for determining that there is a failure (the failure detection circuit 12, the failure detection determination circuit 13, and the like).

【0008】また請求項2の円形容器内面検査装置は、
軸対称の円形容器の前記軸方向からこの円形容器の内面
側を照明したうえ、TVカメラを介しこの軸方向からこ
の円形容器の照明面を撮像し、この撮像された画像を解
析して前記円形容器の変形や汚れを検査する円形容器内
面検査装置において、この円形容器底部の画像を差分
し、この差分画像のエッジを基準として前記画像の中心
を算定する手段(新たな画像エッジ検出回路14など)と
前記円形容器の内面の画像を前記算定手段により求めた
画像の中心を通る複数本の放射状の走査線で順次走査
し、この放射状走査線上の1又は所定の複数の画素間隔
で並ぶ画素の濃度と、この走査線に対し所定間隔を持つ
放射状走査線上の夫々該画素に対応する位置にある画素
の濃度との各対応画素同士の濃度差の絶対値を当該対応
画素の走査線上の座標に応じて定められたしきい値と夫
々比較し、さらにこの比較を前記所定間隔を持つ放射状
走査線の他の対についても順次行い、前記しきい値より
大きい前記濃度差の絶対値が検出されたときは容器内面
不良であると判定する手段(不良検出回路12,不良検
出判定回路13など)を備えたものとする。
[0008] The circular container inner surface inspection apparatus according to claim 2 is
The inner surface side of the circular container is illuminated from the axial direction of the axially symmetric circular container, and the illumination surface of the circular container is imaged from the axial direction via a TV camera, and the image is analyzed to analyze the circular shape. In a circular container inner surface inspection apparatus for inspecting deformation and dirt of the container, means for subtracting the image of the bottom of the circular container and calculating the center of the image with reference to the edge of the difference image (new image edge detection circuit 14 etc. ) And the image of the inner surface of the circular container are sequentially scanned by a plurality of radial scanning lines passing through the center of the image obtained by the calculating means, and pixels on the radial scanning line are arranged at one or a predetermined plurality of pixel intervals. The absolute value of the density difference between each corresponding pixel between the density and the density of a pixel at a position corresponding to the pixel on the radial scanning line having a predetermined interval with respect to this scanning line is represented by the coordinates of the corresponding pixel on the scanning line. Each of the comparisons is performed with respect to another pair of radial scanning lines having the predetermined interval, and the absolute value of the density difference larger than the threshold is detected. In such a case, means for determining that the inner surface of the container is defective (the defect detection circuit 12, the defect detection determination circuit 13, etc.) is provided.

【0009】[0009]

【作用】軸対称の円形容器(102など)の前記軸方向
から(リング照明器101などを介し)この円形容器の
内面側を照明したうえ、TVカメラを介し、この軸方向
からこの円形容器の照明面を撮像し、画像を解析する
際、容器内面の濃淡分布が図3に示したように、同心円
上に発生することに着目し画像の中心Oを中心として画
像走査を放射状に行い、図3では放射走査線Q−Q1を
上の画像の濃度変化を走査した後、放射走査線Q’−Q
1’上の濃度変化を走査し、両走査線上の対応する座標
(アドレス)にある画素同士の濃淡差(濃度差)を逐次
求め、この各濃淡差を予め設定される所定のしきい値T
HPと比較する。例えば図3(A)のようなヘコミ10
5がある場合は走査線Q’−Q1’の濃淡変化は図3
(C)のようになる。そこで図3(B)と図3(C)の
濃淡差を画素の配列順に逐次求めて行くと、ヘコミ10
5による変化部分がしきい値THPを越えるため不良と
して検知できる。
The inner side of the circular container (eg, the ring illuminator 101) is illuminated from the axial direction of the axially symmetric circular container (eg, 102), and the circular container is illuminated from the axial direction via the TV camera. When imaging the illumination surface and analyzing the image, paying attention to the fact that the density distribution of the inner surface of the container occurs on a concentric circle as shown in FIG. 3, the image is radially scanned around the center O of the image. In step 3, after scanning the radiation scanning line Q-Q1 for the density change of the upper image, the radiation scanning line Q'-Q
1 'is scanned, and the density difference (density difference) between pixels at the corresponding coordinates (addresses) on both scanning lines is sequentially obtained, and each density difference is determined by a predetermined threshold T
Compare with HP. For example, a dent 10 as shown in FIG.
5, there is a change in shading of the scanning line Q'-Q1 'in FIG.
(C). 3B and 3C are sequentially obtained in the order of pixel arrangement.
Since the portion changed by 5 exceeds the threshold value THP, it can be detected as defective.

【0010】そうして、請求項1に関わる発明では、円
形容器の固定2値画像からこの画像の最外周を両端とす
るように放射走査線を求め、これにより容器外の画像を
走査する必要を無くしているので、無駄な走査を行わず
に処理時間を短縮することができる。また、請求項2に
関わる発明では、図3の底部高輝度部104の周辺に発
生する容器内面の画像を差分し、差分画像のエッジを基
準として容器中心点Oを推定し、この中心点Oをすべて
の放射走査線が通過するように各放射走査線を正確に位
置補正しているので、容器位置ズレの影響を減ずること
が可能になる。
According to the first aspect of the present invention, a radiation scanning line is obtained from a fixed binary image of a circular container so that the outermost periphery of the image is located at both ends, thereby scanning an image outside the container. , The processing time can be reduced without performing useless scanning. Further, in the invention according to claim 2, the image of the inner surface of the container generated around the bottom high brightness portion 104 in FIG. 3 is differentiated, and the container center point O is estimated with reference to the edge of the difference image. Since the position of each radiation scanning line is accurately corrected so that all the radiation scanning lines pass through, the effect of the positional deviation of the container can be reduced.

【0011】以上のように本発明では円形容器画像の中
心から放射線状に画像走査を行い、それにより得られた
画素列の濃淡変化を検査することにより、容器のヘコミ
が検出できるほか、黒点不良についても検査が可能とな
る。
As described above, according to the present invention, by scanning the image radially from the center of the circular container image and examining the change in the density of the pixel row obtained thereby, it is possible to detect dents in the container and to detect black spot defects. Can be inspected.

【0012】[0012]

【実施例】図1は本発明の1実施例としてのハードウェ
アのブロック図である。同図においてPOは図外のTV
カメラの画面をラスタ走査して得られるビデオ信号をA
/D変換してなる(例えば8bit)の濃淡画像信号、
1はこの多値濃淡画像信号POを入力し、多値画面デー
タとして記憶するフレームメモリ、3はこのフレームメ
モリに対するラスタアドレスを発生するラスタアドレス
発生器である。
FIG. 1 is a block diagram of hardware as one embodiment of the present invention. In the figure, PO is a TV outside the figure
The video signal obtained by raster scanning the camera screen is A
/ D conversion (for example, 8 bits) gray-scale image signal,
Reference numeral 1 denotes a frame memory which receives the multi-valued grayscale image signal PO and stores it as multi-valued screen data. Reference numeral 3 denotes a raster address generator which generates a raster address for the frame memory.

【0013】4は放射状に画像走査を行うためにフレー
ムメモリ1に対してアドレス発生を行う放射アドレス発
生器、2は図3(B)に示したようなリング状のウィン
ドウ別のマスクパターンが格納されているウィンドウメ
モリ、5はこのウィンドウメモリ2に対し発生器3と同
様にラスタアドレスを発生するラスタアドレス発生器、
6は同じくこのウィンドウメモリ2に対し発生器4と同
様に放射状走査のためのアドレス発生を行う放射アドレ
ス発生器である。そしてこれら発生器3,5と4,6と
の切替によるラスタアドレスと放射アドレスの発生切替
が可能である。
Reference numeral 4 denotes a radial address generator for generating an address to the frame memory 1 for radial image scanning, and 2 stores a ring-shaped mask pattern for each window as shown in FIG. 3B. A window address memory 5 for generating a raster address for the window memory 2 in the same manner as the generator 3;
Numeral 6 denotes a radial address generator for generating an address for radial scanning on the window memory 2 similarly to the generator 4. The generation of the raster address and the emission address can be switched by switching between the generators 3, 5, 4 and 6.

【0014】7はウィンドウゲート回路であり、多値濃
淡信号POまたはフレームメモリ1より読み出された画
像信号1aをウィンドウメモリ2からのマスクパターン
データでマスクし、指定されたウィンドウ領域のみの画
像信号POまたはフレームメモリ1から読み出された画
像信号1aを通過させる回路である。8,14は画像エ
ッジ検出回路で、画像のエッジ、具体的にはリング状の
高輝度部の外端(外周点)と内端(内周点)を検出する
機能を持ち、この場合、入力した画像信号を対象画像の
位置検出や円形性検査のための所定のしきい値で2値化
したうえ、画像エッジとしてのこの2値化信号の立上り
点の座標と立下り点の座標とを自身内のメモリに格納す
る。9はこの画像エッジ検出回路8によって検出された
外周点または内周点の座標値に対し円形性検査を行う回
路である。
Reference numeral 7 denotes a window gate circuit which masks the multi-valued gray-scale signal PO or the image signal 1a read from the frame memory 1 with the mask pattern data from the window memory 2, and outputs the image signal only for the designated window area. This is a circuit for passing the PO or the image signal 1a read from the frame memory 1. Reference numerals 8 and 14 denote image edge detection circuits, which have a function of detecting an edge of an image, specifically, an outer end (outer peripheral point) and an inner end (inner peripheral point) of a ring-shaped high luminance portion. The binarized image signal is binarized with a predetermined threshold value for detecting the position of the target image and circularity inspection, and the coordinates of the rising point and the coordinates of the falling point of the binarized signal as an image edge are calculated. Store it in its own memory. Reference numeral 9 denotes a circuit for performing a circularity test on the coordinate values of the outer peripheral point or the inner peripheral point detected by the image edge detection circuit 8.

【0015】15は対象画像に対して正しい位置にウィ
ンドウが発生するように、画像エッジ検出回路14が最
新の多値濃淡画像信号POを入力して検出した現実の対
象画像の中心の位置と予め設定されているウィンドウの
中心の位置とのズレを検出する回路である。10はフレ
ームメモリ1のラスタ走査によってフレームメモリ1か
ら読出された画像信号1aをウィンドウゲート回路7を
介して入力し、黒点などの汚れ不良画素を検出するため
の不良検出回路、11はこの検出された不良画素を集計
して不良の判定を行う不良検出判定回路である。
Reference numeral 15 denotes a position of the center of the actual target image detected by the image edge detection circuit 14 by inputting the latest multi-valued grayscale image signal PO so that a window is generated at a correct position with respect to the target image. This is a circuit for detecting a deviation from the set center position of the window. Reference numeral 10 denotes an image signal 1a read from the frame memory 1 by raster scanning of the frame memory 1 through a window gate circuit 7, and a defect detection circuit for detecting a dirty defective pixel such as a black spot. This is a failure detection / judgment circuit that counts defective pixels and determines a failure.

【0016】12は後述のようにフレームメモリ1の放
射状の走査によってフレームメモリ1から読み出された
画像信号1aをウィンドウゲート回路7を介して入力
し、ヘコミ不良画素を検出するための不良検出回路、1
3はこの検出された不良画素を集計して不良の判定を行
う不良検出判定回路である。また19は円形度判定回路
9,不良検出判定回路11および13の判定結果を入力
し総合的な判定を行う回路、20はこの総合判定回路1
9の出力判定信号によって良否の出力を行う出力回路で
ある。
Reference numeral 12 denotes a defect detection circuit for inputting an image signal 1a read out from the frame memory 1 by the radial scanning of the frame memory 1 through the window gate circuit 7 and detecting a defective pixel as described later. , 1
Reference numeral 3 denotes a failure detection / judgment circuit that counts the detected defective pixels and determines a defect. 19 is a circuit for inputting the judgment results of the circularity judgment circuit 9 and the defect detection judgment circuits 11 and 13 to make a comprehensive judgment, and 20 is a circuit for this comprehensive judgment circuit 1.
9 is an output circuit that outputs pass / fail based on the output determination signal of No. 9.

【0017】次に16はウィンドウゲート回路7を通過
した多値画像信号POを用いて対象画像のX方向投影回
路パターンを求めるX投影回路、17は同じく対象画像
のY方向投影パターンを求めるY投影回路、18はこの
2つの投影回路16,17の出力データを用いて他の容
器画像と連接していない対象容器画像の領域のみを求め
る回路である。
Next, 16 is an X projection circuit for obtaining an X direction projection circuit pattern of the target image using the multi-valued image signal PO passed through the window gate circuit 7, and 17 is a Y projection for similarly obtaining a Y direction projection pattern of the target image. A circuit 18 is a circuit that uses the output data of the two projection circuits 16 and 17 to determine only the region of the target container image that is not connected to another container image.

【0018】即ち検査すべき円形容器が所定の位置を通
過すると、ストロボ発光またはシャッタによる露光制限
により、容器上部より静止化された被検査画像を取り込
む。この取り込み期間にX投影回路16,Y投影回路1
7に画像が送られ、投影の特徴を得る。固定2値画像の
投影算出の場合は、投影回路16,17は2値化の機能
を備える。
That is, when the circular container to be inspected passes through a predetermined position, an image to be inspected is captured from the upper portion of the container by strobe light emission or exposure limitation by a shutter. During this capture period, the X projection circuit 16 and the Y projection circuit 1
The image is sent to 7 to obtain projection features. In the case of calculating the projection of a fixed binary image, the projection circuits 16 and 17 have a binarization function.

【0019】図4は容器の固定2値画像201を用いて
そのX方向投影量203とY方向投影量204より容器
の外接矩形(つまり斜線部の処理領域)を検出する方法
を示すが、容器が搬送路上を連接したりしながら移動し
てくる場合は、別途処理領域決定回路18によって連接
分離の処理を行って処理領域202を決定する。なおこ
の連接分離は例えば本出願人の先願になる特願平3−2
49946号に述べた処理によって行うことができる。
FIG. 4 shows a method for detecting a circumscribed rectangle of a container (that is, a hatched processing area) from a projection amount 203 in the X direction and a projection amount 204 in the Y direction using a fixed binary image 201 of the container. When moving along the transport path, the processing area determination circuit 18 separately performs connection separation processing to determine the processing area 202. Note that this connection separation is performed, for example, in Japanese Patent Application No. 3-2, filed by the applicant of the present invention.
No. 49946.

【0020】図5は図1の不良検出回路12の構成の実
施例を示す。前述のように放射アドレス発生器4より、
フレームメモリ1の容器内面画像に対し放射アドレスを
発生し、ある放射走査線K(なおここでKおよび以下に
記すK+1,K+2,K+3は順次、所定の等間隔(等
角度)で並ぶ放射走査線の番号を示すものとする。)を
走査する場合、この走査線上の各画素の濃度データが走
査順にFiFo(先入先出メモリ)21−1に蓄積され
る。次の走査線K+1を走査する際には走査線K+1上
のデータはFiFo21−1に蓄積されると同時に先の
走査線上K上のデータはFiFo21−2に移動して蓄
積される。同様に次の走査線K+2を走査する際には、
この走査線K+2上のデータはFiFo21−1に、先
の走査線K+1上のデータはFiFo21−2に移動し
て、同じく先の走査線K上のデータはFiFo21−3
に移動して、夫々蓄積される。
FIG. 5 shows an embodiment of the configuration of the failure detection circuit 12 of FIG. As described above, from the radiation address generator 4,
A radiation address is generated for the container inner surface image of the frame memory 1, and a certain radiation scanning line K (K and K + 1, K + 2, and K + 3 described below are sequentially arranged at predetermined regular intervals (equal angles). When scanning is performed, the density data of each pixel on this scanning line is stored in a FiFo (first-in first-out memory) 21-1 in the order of scanning. When the next scanning line K + 1 is scanned, the data on the scanning line K + 1 is stored in the FIFO 21-1, and at the same time, the data on the previous scanning line K is moved to the FIFO 21-2 and stored. Similarly, when scanning the next scanning line K + 2,
The data on the scanning line K + 2 moves to the Fifo 21-1, the data on the previous scanning line K + 1 moves to the Fifo 21-2, and the data on the previous scanning line K also moves to the Fifo 21-3.
And each is accumulated.

【0021】このようにして次の走査線K+3を走査す
る際には、この走査線K+3上のデータはFiFo21
−1に送り込まれると同時にFiFo21−1,21−
2,21−3のデータは順送りに押出され、FiFo2
1−3から走査線K上のデータが減算器24の一方の入
力として与えられる。他方、走査線K+3上のデータは
減算器24の他方の入力としても与えられるので、結
局、減算器24では走査線K上とK+3上との夫々対応
する座標(アドレス)の画素の濃度データが1対づつ順
送りに比較演算される。この減算器24の出力(濃度
差)は絶対値変換回路24によって、その絶対値が求め
られ、さらに比較器26によって、走査のアドレスごと
(従って前記の画素の対ごと)に、次に述べるしきい値
テーブル23から与えられるしきい値THPと比較され
る。ここで放射アドレス発生器4からは走査線上を1画
素進むごとに1パルスがカウンタ27へ送られ、そのカ
ウンタ値は各走査線上での画素のアドレスを示し、該ア
ドレスをしきい値テーブル23のアドレス入力とするこ
とにより、次の図6で述べるように各画素位置に応じた
しきい値THPを比較器26に与えることができる。
When scanning the next scanning line K + 3 in this manner, the data on this scanning line K + 3 is
-1 and at the same time
The data of 2, 21-3 are extruded in order, and
From 1-3, data on the scanning line K is given as one input of the subtractor 24. On the other hand, since the data on the scanning line K + 3 is also provided as the other input of the subtractor 24, the subtractor 24 eventually obtains the density data of the pixel at the coordinates (address) corresponding to the scanning lines K and K + 3, respectively. The comparison operation is carried out one pair at a time. The absolute value of the output (density difference) of the subtracter 24 is obtained by the absolute value conversion circuit 24, and the output of the subtractor 24 is further described by the comparator 26 for each scanning address (accordingly, for each pixel pair). It is compared with a threshold value THP provided from the threshold value table 23. Here, one pulse is sent from the radiation address generator 4 to the counter 27 every time one pixel advances on the scanning line, and the counter value indicates the address of the pixel on each scanning line. By using the address input, a threshold value THP corresponding to each pixel position can be given to the comparator 26 as described in FIG.

【0022】図6は走査線(この例ではQ−Q1)上の
画素の濃度変化と画素のアドレス別のしきい値THP
(THP1〜THP4)の設定例とを対比したものであ
る。即ち濃淡変化の大きな部分には大きなしきい値TH
P1,THP3を与え、濃淡変化の小さな部分には小さ
なしきい値THP2,THP4を与える。図7は図3
(B),(C)の夫々対応するアドレスの画素同士の濃
度差の絶対値と図6のしきい値(破線)との関係を走査
線を横軸にして、かつ図6と横軸が対応するように示し
たものである。この図7に示すようにヘコミ105部分
の濃度差の絶対値はこの部分のしきい値THP2より大
きく不良として検出される。
FIG. 6 shows a change in density of a pixel on a scanning line (Q-Q1 in this example) and a threshold value THP for each pixel address.
This is in comparison with a setting example of (THP1 to THP4). That is, a large threshold value TH is set in a portion where the shading changes greatly.
P1 and THP3 are given, and small threshold values THP2 and THP4 are given to a portion where the shading is small. FIG. 7 shows FIG.
The relationship between the absolute value of the density difference between the pixels at the corresponding addresses (B) and (C) and the threshold value (broken line) in FIG. 6 is plotted on the horizontal axis of the scanning line, and FIG. It is shown correspondingly. As shown in FIG. 7, the absolute value of the density difference in the portion of the dent 105 is larger than the threshold value THP2 in this portion, and is detected as defective.

【0023】図8は請求項1に関わる発明の実施例とし
ての処理領域決定回路の構成図である。この処理領域決
定回路18Aは図1の回路16,17,18に替えて設
けられる。この処理領域決定回路18Aにおいて、固定
2値化回路31はフレームメモリ1からラスタ走査によ
って取出される水平ライン上の多値画像信号1aを円形
容器の口部高輝度部103が切出されるように所定のし
きい値で2値化する。画像変化点検出回路32はこの2
値化回路31から出力される2値化画像信号31aの変
化点(つまり立上がり点とを下がり点)を検出し、ラッ
チ信号を第1立上がり点メモリ33および最終立下がり
点メモリ34に与える。
FIG. 8 is a block diagram of a processing area determining circuit according to an embodiment of the present invention. This processing area determination circuit 18A is provided in place of the circuits 16, 17, and 18 in FIG. In the processing area determination circuit 18A, the fixed binarization circuit 31 converts the multi-valued image signal 1a on the horizontal line extracted from the frame memory 1 by raster scanning so that the mouth high brightness portion 103 of the circular container is cut out. Binarization is performed at a predetermined threshold value. The image change point detection circuit 32
A change point (ie, a rising point and a falling point) of the binarized image signal 31a output from the digitizing circuit 31 is detected, and a latch signal is supplied to the first rising point memory 33 and the final falling point memory.

【0024】これにより第1立上がり点メモリ33は2
値化画像信号31aの最初の立上がり点のXアドレスを
記憶し、最終立下がり点メモリ34は2値化画像信号3
1aの最終の立下がり点のXアドレスを記憶する。この
ような水平走査がYアドレス順に行われることによって
メモリ33と34には夫々Yアドレス順に、第1立上が
り点と最終立下がり点のXアドレスが格納される。
As a result, the first rising point memory 33 stores 2
The X address of the first rising point of the digitized image signal 31a is stored, and the final falling point memory 34 stores the binary image signal 3
The X address of the last falling point of 1a is stored. By performing such horizontal scanning in the order of the Y address, the memories 33 and 34 store the X addresses of the first rising point and the final falling point in the order of the Y address, respectively.

【0025】図9は図8の回路による放射状の走査線の
決定動作の説明図で、同図(B)には前記第1立上がり
点メモリ33と最終立下がり点メモリ34のデータ格納
状態の例が示されている。即ち第1立上がり点メモリ3
3には同図(A)に示すリング状の口部高輝度部103
の外周の左半分の各水平走査ごと(つまりY座標ごと)
のX座標XS1,XS2,…XSnが格納され、最終立
下がり点メモリ34には同じく口部高輝度部103の外
周の右半分の水平走査(Y座標)ごとのX座標,XE
1,XE2,…XEnが格納されている。図9(A)の
L(L1〜L3)は放射走査線を示す。ここでまず放射
走査線L1は、立上がり点メモリ33より先頭Yアドレ
スのデータXS1をリードし、立下がり点メモリ34よ
り最終YアドレスのデータXEnをリードし、この2点
間を結ぶ直線として決定される。同様に放射走査線L2
は夫々XS1,XEnに次ぐYアドレスのデータXS2
とXEn−1をリードし、この2点間を結ぶ直線として
決定される。以下走査線L3,…も同様な手順を繰返し
て決定される。
FIG. 9 is a diagram for explaining the operation of determining the radial scanning lines by the circuit of FIG. 8. FIG. 9B shows an example of the data storage state of the first rising point memory 33 and the last falling point memory 34. It is shown. That is, the first rising point memory 3
3 shows a ring-shaped high-intensity portion 103 shown in FIG.
For each horizontal scan of the left half of the outer circumference of (i.e., for each Y coordinate)
, XSn are stored in the final falling point memory 34. Similarly, the X coordinate, XE, for each horizontal scan (Y coordinate) of the right half of the outer periphery of the mouth high luminance portion 103 is stored in the final falling point memory 34.
1, XE2,... XEn are stored. L (L1 to L3) in FIG. 9A indicates a radiation scanning line. First, the radiation scanning line L1 is determined as a straight line connecting the two points by reading the data XS1 of the leading Y address from the rising point memory 33 and reading the data XEn of the final Y address from the falling point memory 34. You. Similarly, the radiation scanning line L2
Is the data XS2 of the Y address next to XS1 and XEn, respectively.
And XEn-1 are read and determined as a straight line connecting these two points. Hereinafter, the scanning lines L3,... Are determined by repeating the same procedure.

【0026】このような放射走査線の決定処理は、図8
の走査関数決定回路35によって行われる。この場合は
図1の放射アドレス発生器4はこの決定回路35の出力
データを用いて各放射走査線L上の画素別の座標(アド
レス)を順次出力する。なお水平走査のみを行う場合
は、口部高輝度部の外周円の上部、下部付近にて走査線
が疎となるため、これを防ぎたい場合には図10のよう
に走査方向を垂直方向に変更すればよく、これにより密
な放射走査線が得られる。
The process for determining such a radiation scanning line is shown in FIG.
Is performed by the scanning function determination circuit 35. In this case, the radiation address generator 4 in FIG. 1 sequentially outputs the coordinates (address) of each pixel on each radiation scanning line L using the output data of the determination circuit 35. When only horizontal scanning is performed, the scanning lines become sparse near the upper and lower portions of the outer peripheral circle of the high-brightness portion of the mouth. To prevent this, the scanning direction is set to the vertical direction as shown in FIG. Changes can be made, which result in denser radiation scan lines.

【0027】なお、以上のように求めた放射走査線Lは
円形容器画像の中心点Oを必ず通過するとは限らないた
め、次に述べる別手段により中心点Oを求め、立上がり
点,立下がり点いずれかの1点と中心点Oを結ぶ直線と
して決定することも可能である。次に請求項2に関わる
発明の実施例としての円形容器中心Oの決定方法につい
て説明する。即ち図1の画像エッジ検出回路14は前記
ではリング状の口部高輝度部を検出して対象画像の中心
位置を求めるものとしたが、放射走査線を用いる場合、
中心Oの精度を高めることが望ましいので、次に述べる
ように円形容器の底面の画像を利用して中心Oを求めて
もよい。
Since the radiation scanning line L obtained as described above does not always pass through the center point O of the circular container image, the center point O is obtained by another means described below, and the rising point and the falling point are obtained. It is also possible to determine a straight line connecting any one point and the center point O. Next, a method of determining the center O of the circular container as an embodiment of the invention according to claim 2 will be described. That is, the image edge detection circuit 14 in FIG. 1 detects the ring-shaped high-brightness portion of the mouth to obtain the center position of the target image in the above, but when the radiation scanning line is used,
Since it is desirable to increase the accuracy of the center O, the center O may be determined using an image of the bottom surface of the circular container as described below.

【0028】円形容器側面と底面との境界付近は照明光
が到達し難いため、低輝度となるが、固定2重化レベル
で切り出せる程、周囲との濃淡差は大きくない。従って
安定に画像を検出する手段として差分を用いた2値化方
法が有効である。図11(A)は円形容器底面部の輝度
分布を模式的に表現したものであるが、この図は底面部
110,底部高輝度部104の周囲に底部低輝度部11
1が発生している例を示している。また同図(B)は同
図(A)のようにY側位置検出ウィンドウ112とX側
位置検出ウィンドウ113を画面の特定の位置に設定
し、該ウィンドウ内部の濃淡レベルの谷となる部分を後
述する谷検出2値化法を用いて検出し2値化した例を示
している。
The vicinity of the boundary between the side surface and the bottom surface of the circular container has low brightness because the illumination light hardly reaches it, but the difference in density from the surroundings is not so large as to be cut out at a fixed duplex level. Therefore, as a means for stably detecting an image, a binarization method using a difference is effective. FIG. 11A schematically shows the luminance distribution at the bottom of the circular container. FIG. 11A shows the bottom low-luminance section 11 around the bottom section 110 and the bottom high-luminance section 104.
1 shows an example in which 1 has occurred. In FIG. 2B, as shown in FIG. 2A, the Y-side position detection window 112 and the X-side position detection window 113 are set at specific positions on the screen. An example is shown in which detection and binarization are performed using a valley detection binarization method described later.

【0029】このようにして得られた図11(B)の2
値画像の画像エッジをX方向,Y方向についてそれぞれ
求め、このエッジとなるX,Y座標によって定まる位置
基準点114を求め、この位置基準点の座標に所定のオ
フセット量を加算することにより容器中心位置Oを正確
に決定することができる。なお前述した谷検出2値化方
法は本出願人の先願になる特願平3−265134号に
谷を不良部として検出する方法が詳細に示されている
が、ここではその原理を簡単に説明する。
FIG. 11 (B) 2
The image edges of the value image are obtained in the X direction and the Y direction, respectively, a position reference point 114 determined by the X and Y coordinates of the edge is obtained, and a predetermined offset amount is added to the coordinates of the position reference point to obtain the center of the container. The position O can be determined accurately. Regarding the valley detection binarization method described above, a method for detecting a valley as a defective portion is described in detail in Japanese Patent Application No. 3-265134, which is a prior application of the present applicant. explain.

【0030】図12はこの谷検出2値化方法の原理説明
図で、同図(A)は走査線(Y=j)Q−Q1上の多値
濃淡画像信号PO(X,Y)の例を示す。ここで51は
通常部分における着目点、52と53は夫々この着目点
51に対し走査線上で、前と後に画素数αだけ離れた背
景点としての通常部前方背景点と良品部後方背景点であ
る。
FIG. 12 is a diagram for explaining the principle of this valley detection binarization method. FIG. 12A shows an example of a multi-level grayscale image signal PO (X, Y) on a scanning line (Y = j) QQ1. Is shown. Here, 51 is a point of interest in the normal part, and 52 and 53 are a normal part front background point and a non-defective part rear background point as background points separated by the number of pixels α before and after the point of interest 51 on the scanning line, respectively. is there.

【0031】同様に54は谷部分における着目点、55
と56は夫々この着目点54に対し走査線上で前と後に
画素数αだけ離れた背景点としての谷部前方背景点と谷
部後方背景点である。ここで着目点の座標をX=i,Y
=jとしたき、画像信号POの差分項(次式(1),
(2)の左辺)について、 PO(i−α,j)−PO(i,j)>THD────(1) であって且つ、 PO(i+α,j)−PO(i,j)>THD────(2) (但しTHDは所定のしきい値(正値)とする)の関係
があれば、着目点における谷検出のための2値化関数値
(谷二値化画像信号という)POD(i,j)=1とし
て、この着目点を谷とするものであるが、図12の通常
部分では、上記の式(2)が成立せず谷は検知されない
が、図12の谷部分では上記(1),(2)が成立し、
谷を検知することができる。なお図12(B)は同図
(A)に対応する谷判定出力としての前記谷二値化画像
信号POD(X,j)を示す。
Similarly, reference numeral 54 denotes a point of interest in the valley portion,
And 56 respectively represent a valley front background point and a valley rear background point as background points separated by the number of pixels α before and after the point of interest 54 on the scanning line. Here, the coordinates of the point of interest are X = i, Y
= J, the difference term of the image signal PO (the following equation (1),
PO (i−α, j) −PO (i, j)> THD──── (1), and PO (i + α, j) −PO (i, j) > THD──── (2) (where THD is a predetermined threshold value (positive value)), a binary function value (valley binary image) for valley detection at the point of interest This signal is referred to as a valley by setting POD (i, j) = 1). In the normal part of FIG. 12, the above equation (2) does not hold and no valley is detected. (1) and (2) hold in the valley of
The valley can be detected. FIG. 12B shows the valley binarized image signal POD (X, j) as a valley determination output corresponding to FIG.

【0032】このようにして図12(A)の波形を小領
域に分割し、それら小領域ごとに(1),(2)式にお
ける画素数α,しきい値THDの値を適宜与えることに
より最適な谷検出を行うことができる。図13は図1の
フレームメモリ1およびラスタアドレス発生器3を除く
回路の機能をCPU41がソフトウェアで果たす例を示
している。この場合、特にフレームメモリ1にアクセス
するハードウェアとしての放射アドレス発生回路4,6
が独立して存在しないため、CPU41の処理時間を短
縮することが重要である。このためには放射走査線の間
隔を適度に拡げたり、放射走査線上の演算対象とする画
素の間隔を適度に拡げることが有効である。
In this manner, the waveform of FIG. 12A is divided into small areas, and the values of the number of pixels α and the threshold value THD in the equations (1) and (2) are appropriately given for each of the small areas. Optimal valley detection can be performed. FIG. 13 shows an example in which the functions of the circuits except for the frame memory 1 and the raster address generator 3 in FIG. In this case, in particular, the radiation address generation circuits 4 and 6 as hardware for accessing the frame memory 1
It is important to reduce the processing time of the CPU 41 because there is no independent. To this end, it is effective to appropriately increase the interval between the radiation scanning lines or to appropriately increase the interval between pixels to be calculated on the radiation scanning line.

【0033】[0033]

【発明の効果】本発明によれば、円形容器の画像をその
中心を通る放射走査線で走査し、所定間隔を持つ放射走
査線の対の上の対応する座標にある画素同士の濃度差を
求め、この濃度差の絶対値がこの座標に応じて予め定め
られたしきい値を越えたとき、ヘコミ不良と判別するよ
うにしたので、コントラストの低い円形容器側面の局所
的なヘコミを精度よく検出できる。とくに、請求項1に
関わる発明では、円形容器の固定2値画像からこの画像
の最外周を両端とするように放射走査線を求め、これに
より容器外の画像を走査する必要を無くしているので、
無駄な走査を行わずに処理時間を短縮することができ
る。また、請求項2に関わる発明では、底部高輝度部の
周辺に発生する容器内面の画像を差分し、差分画像のエ
ッジを基準として容器中心点Oを推定し、この中心点O
をすべての放射走査線が通過するように各放射走査線を
正確に位置補正しているので、容器位置ズレの影響を減
ずることが可能になる。
According to the present invention, an image of a circular container is scanned by a radiation scanning line passing through the center thereof, and a density difference between pixels at corresponding coordinates on a pair of radiation scanning lines having a predetermined interval is determined. When the absolute value of the density difference exceeds a predetermined threshold value in accordance with the coordinates, it is determined that the defect is defective, so that local dents on the side of the circular container with low contrast can be accurately detected. Can be detected. In particular, in the invention according to claim 1, since the radiation scanning line is obtained from the fixed binary image of the circular container so that the outermost periphery of the image is at both ends, it is unnecessary to scan the image outside the container. ,
Processing time can be reduced without performing useless scanning. In the invention according to claim 2, the image of the inner surface of the container generated around the bottom high-luminance portion is differentiated, and the center point O of the container is estimated based on the edge of the difference image.
Since the position of each radiation scanning line is accurately corrected so that all the radiation scanning lines pass through, the effect of the positional deviation of the container can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例としてのハードウェア構成を
示すブロック図
FIG. 1 is a block diagram showing a hardware configuration as one embodiment of the present invention.

【図2】円形容器内面の高輝度部を示す図FIG. 2 is a diagram showing a high-luminance portion on the inner surface of a circular container.

【図3】円形容器内面の放射走査線上の濃度変化と従来
のウィンドウ分割の説明図
FIG. 3 is a diagram illustrating a change in density on a radial scanning line on the inner surface of a circular container and a conventional window division.

【図4】本発明に基づく容器処理領域の決定方法の説明
FIG. 4 is an explanatory diagram of a method for determining a container processing area according to the present invention.

【図5】図1の不良検出回路12の一実施例としての構
成を示すブロック図
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration as one embodiment of a failure detection circuit 12 of FIG. 1;

【図6】図5のしきい値テーブルによる放射走査線上の
しきい値の設定の実施例を示す図
FIG. 6 is a diagram showing an embodiment of setting a threshold value on a radiation scanning line using the threshold value table of FIG. 5;

【図7】図6を補足するための放射走査線上の濃度差絶
対値としきい値との対比図
FIG. 7 is a graph for comparing the absolute value of the density difference on the radiation scanning line with the threshold value to supplement FIG. 6;

【図8】請求項1に関わる発明の実施例としての図1の
処理領域決定回路に代わる回路の構成を示すブロック図
FIG. 8 is a block diagram showing a configuration of a circuit replacing the processing area determination circuit of FIG. 1 as an embodiment of the invention according to claim 1;

【図9】図8の放射走査線の決定方法の実施例を示す図FIG. 9 is a diagram showing an embodiment of a method for determining a radiation scanning line in FIG. 8;

【図10】図8と異なる放射走査線の決定方法の実施例
を示す図
FIG. 10 is a diagram showing an embodiment of a method for determining a radiation scanning line different from that in FIG. 8;

【図11】請求項2に関わる発明の実施例としての円形
容器中心検出方法の説明図
FIG. 11 is an explanatory diagram of a circular container center detecting method as an embodiment of the invention according to claim 2;

【図12】図12を補足するための谷検出二値化方法の
原理図
FIG. 12 is a principle diagram of a valley detection binarization method for supplementing FIG. 12;

【図13】図1の放射アドレス発生等をソフトウェアで
行う構成の実施例を示すブロック図
FIG. 13 is a block diagram showing an embodiment of a configuration in which emission addresses are generated by software in FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

PO 多値濃淡画像信号 1a 多値濃淡画像信号 1 フレームメモリ 2 ウィンドウメモリ 3 ラスタアドレス発生器 4 放射アドレス発生器 5 ラスタアドレス発生器 6 放射アドレス発生器 7 ウィンドウゲート回路 8 画像エッジ検出回路 9 円形度判定回路 10 不良検出回路 11 不良検出判定回路 12 不良検出回路 13 不良検出判定回路 14 画像エッジ検出回路 15 位置ズレ量決定回路 16 X投影回路 17 Y投影回路 18 処理領域決定回路 18A 処理領域決定回路 19 総合判定回路 20 出力回路 21−1 FiFo 21−2 FiFo 21−3 FiFo 23 しきい値テーブル 24 減算器 25 絶対値変換回路 26 比較器 27 カウンタ THP(THP1〜THP4) しきい値 31 固定2値化回路 32 画像変化点検出回路 33 第1立上がり点メモリ 34 最終立下がり点メモリ 35 走査関数決定回路 L(L1〜L3) 放射走査線 41 CPU 51 通常部着目点 52 通常部前方背景点 53 通常部後方背景点 54 谷部着目点 55 谷部前方背景点 56 谷部後方背景点 POD 谷二値化画像信号 101 リング照明器 102 容器 103 口部高輝度部 104 底部高輝度部 105 ヘコミ 110 底面部 111 底部低輝度部 112 Y側位置検出ウィンドウ 113 X側位置検出ウィンドウ 114 位置基準点 O 容器中心 201 容器の固定2値化画像 202 処理領域 203 X方向投影量 204 Y方向投影量 PO Multilevel grayscale image signal 1a Multilevel grayscale image signal 1 Frame memory 2 Window memory 3 Raster address generator 4 Radiation address generator 5 Raster address generator 6 Radiation address generator 7 Window gate circuit 8 Image edge detection circuit 9 Roundness Determination circuit 10 Failure detection circuit 11 Failure detection determination circuit 12 Failure detection circuit 13 Failure detection determination circuit 14 Image edge detection circuit 15 Position shift amount determination circuit 16 X projection circuit 17 Y projection circuit 18 Processing area determination circuit 18A Processing area determination circuit 19 Comprehensive judgment circuit 20 Output circuit 21-1 Fifo 21-2 Fifo 21-3 Fifo 23 Threshold table 24 Subtractor 25 Absolute value conversion circuit 26 Comparator 27 Counter THP (THP1 to THP4) Threshold 31 Fixed binarization Circuit 32 Image change point detection times Road 33 First rising point memory 34 Final falling point memory 35 Scanning function determination circuit L (L1 to L3) Radiation scanning line 41 CPU 51 Normal part attention point 52 Normal part front background point 53 Normal part rear background point 54 Valley part attention Point 55 valley front background point 56 valley rear background point POD valley binarized image signal 101 ring illuminator 102 container 103 mouth high brightness section 104 bottom high brightness section 105 dent 110 bottom section 111 bottom low brightness section 112 Y side Position detection window 113 X-side position detection window 114 Position reference point O Container center 201 Fixed binarized image of container 202 Processing area 203 X-direction projection amount 204 Y-direction projection amount

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】軸対称の円形容器の前記軸方向からこの円
形容器の内面側を照明したうえ、TVカメラを介しこの
軸方向からこの円形容器の照明面を撮像し、この撮像さ
れた画像を解析して前記円形容器の変形や汚れを検査す
る円形容器内面検査装置において、 前記円形容器の内面の画像を走査するための複数本の放
射状の走査線を、前記画像の中心を通り、かつ、該画像
の最外周を両端とするものとして求める手段と、 前記円形容器の内面の画像を前記放射状の走査線で順次
走査し、 この放射状走査線上の1又は所定の複数の画素間隔で並
ぶ画素の濃度と、この走査線に対し所定間隔を持つ放射
状走査線上の夫々該画素に対応する位置にある画素の濃
度との各対応画素同士の濃度差の絶対値を当該対応画素
の走査線上の座標に応じて定められたしきい値と夫々比
較し、さらにこの比較を前記所定間隔を持つ放射状走査
線の他の対についても順次行い、前記しきい値より大き
い前記濃度差の絶対値が検出されたときは容器内面不良
であると判定する手段を備えたことを特徴とする円形容
器内面検査装置。
1. An inner surface side of an axially symmetric circular container is illuminated from the axial direction of the circular container, and an illumination surface of the circular container is imaged from the axial direction via a TV camera. In a circular container inner surface inspection device to analyze and inspect the deformation and dirt of the circular container, a plurality of radial scanning lines for scanning an image of the inner surface of the circular container, passing through the center of the image, and, Means for obtaining the outermost periphery of the image as both ends, and sequentially scanning the image of the inner surface of the circular container with the radial scanning line, and the pixels on the radial scanning line arranged at one or a predetermined plurality of pixel intervals. The absolute value of the density difference between each corresponding pixel between the density and the density of a pixel at a position corresponding to the pixel on the radial scanning line having a predetermined interval with respect to this scanning line is defined as the coordinates of the corresponding pixel on the scanning line. Determined according to The threshold value is compared with each other, and this comparison is sequentially performed on the other pairs of radial scanning lines having the predetermined interval. When the absolute value of the density difference larger than the threshold value is detected, the inner surface of the container is detected. An inner surface inspection device for a circular container, comprising: means for determining a defect.
【請求項2】軸対称の円形容器の前記軸方向からこの円
形容器の内面側を照明したうえ、TVカメラを介しこの
軸方向からこの円形容器の照明面を撮像し、この撮像さ
れた画像を解析して前記円形容器の変形や汚れを検査す
る円形容器内面検査装置において、 この円形容器底部の画像を差分し、この差分画像のエッ
ジを基準として前記画像の中心を算定する手段と、 前記円形容器の内面の画像を前記算定手段により求めた
画像の中心を通る複数本の放射状の走査線で順次走査
し、 この放射状走査線上の1又は所定の複数の画素間隔で並
ぶ画素の濃度と、この走査線に対し所定間隔を持つ放射
状走査線上の夫々該画素に対応する位置にある画素の濃
度との各対応画素同士の濃度差の絶対値を当該対応画素
の走査線上の座標に応じて定められたしきい値と夫々比
較し、さらにこの比較を前記所定間隔を持つ放射状走査
線の他の対についても順次行い、前記しきい値より大き
い前記濃度差の絶対値が検出されたときは容器内面不良
であると判定する手段を備えたことを特徴とする円形容
器内面検査装置。
2. A method for illuminating the inner surface of the circular container from the axial direction of the axially symmetric circular container, capturing an image of the illumination surface of the circular container from the axial direction via a TV camera, and reconstructing the captured image. A circular container inner surface inspection device that analyzes and inspects the circular container for deformation and dirt; a means for comparing an image of the bottom of the circular container and calculating a center of the image based on an edge of the difference image; The image of the inner surface of the container is sequentially scanned with a plurality of radial scanning lines passing through the center of the image obtained by the calculating means, and the density of pixels on the radial scanning line arranged at one or a predetermined plurality of pixel intervals. The absolute value of the density difference between each corresponding pixel and the density of the pixel at the position corresponding to the pixel on the radial scanning line having a predetermined interval with respect to the scanning line is determined according to the coordinates of the corresponding pixel on the scanning line. Was The threshold value is compared with each other, and this comparison is also sequentially performed on the other pairs of radial scanning lines having the predetermined interval. When an absolute value of the density difference larger than the threshold value is detected, it is determined that the inner surface of the container is defective. A circular container inner surface inspection apparatus, comprising: means for determining that there is a circular container.
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