JP3391163B2 - Circular container inner surface inspection device - Google Patents

Circular container inner surface inspection device

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JP3391163B2
JP3391163B2 JP23641095A JP23641095A JP3391163B2 JP 3391163 B2 JP3391163 B2 JP 3391163B2 JP 23641095 A JP23641095 A JP 23641095A JP 23641095 A JP23641095 A JP 23641095A JP 3391163 B2 JP3391163 B2 JP 3391163B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばコンベアな
どで搬送されるビール缶などの円形容器内面を検査し、
容器の変形・異物・ゴミ・傷などを検出する画像処理装
置としての円形容器内面検査装置に関する。なお、以下
各図において同一の符号は同一もしくは相当部分を示
す。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention inspects the inner surface of a circular container such as a beer can conveyed by a conveyor,
The present invention relates to a circular container inner surface inspection device as an image processing device for detecting deformation, foreign matter, dust, scratches, etc. of a container. In the drawings, the same reference numerals denote the same or corresponding parts.

【0002】[0002]

【従来の技術】図2は一例としてビール用アルミ缶の容
器を上面より観測した場合の高輝度部の説明図で、同図
(A)は缶容器の上面(画像)図、同図(B)は側断面
図である。そして102は容器、101はこの容器10
2を上方から照らすリング状の照明器、103は口部の
高輝度部、104は底部の高輝度部である。このように
リング照明器101を用いて容器102の内面に光線を
照射することにより、容器内面の口部と底部に夫々10
3,104のような高輝度部が発生する。特に缶などの
ように容器内面に金属光沢のある場合は顕著である。
2. Description of the Related Art FIG. 2 is an explanatory view of a high-intensity part when an aluminum can container for beer is observed from above, as an example. FIG. 2A is an upper surface (image) view of the can container and FIG. ) Is a side sectional view. 102 is a container, 101 is this container 10
A ring-shaped illuminator that illuminates 2 from above, 103 is a high-intensity part at the mouth, and 104 is a high-intensity part at the bottom. By thus irradiating the inner surface of the container 102 with light rays by using the ring illuminator 101, the mouth portion and the bottom portion of the inner surface of the container 10 are respectively irradiated.
High-luminance portions such as 3,104 occur. This is particularly noticeable when the inner surface of the container has a metallic luster such as a can.

【0003】図3(B)は容器102の上面画像(図3
(A))に対する走査線Q−Q1上の濃度変化を示した
ものであるが、濃度変化の特徴よりW1〜W5の5つの
領域に分類される。第1の領域W1は口部高輝度部10
3であり、第2の領域W2は濃度変化が比較的小さい容
器側面上中部であり、第3の領域W3は図2で述べた照
明101による光線があまり届かないため、他の領域よ
り暗い容器側面下部であり、第4の領域W4は底部高輝
度部104であり、第5の領域W5は底部である。
FIG. 3B is a top view image of the container 102 (see FIG.
It shows the density change on the scanning line Q-Q1 with respect to (A)), but is classified into five regions W1 to W5 according to the characteristics of the density change. The first region W1 is the mouth high-intensity part 10
3, the second region W2 is the middle upper part of the side surface of the container where the change in concentration is relatively small, and the third region W3 is darker than the other regions because the light rays from the illumination 101 described in FIG. It is the lower part of the side surface, the fourth region W4 is the bottom high-intensity part 104, and the fifth region W5 is the bottom.

【0004】従来はこれらの領域W1〜W5に夫々ウイ
ンドウを設け、領域の光学的な特性に応じて黒汚れ(黒
点)や白汚れ(白点)の不良を検出するためのしきい値
を設定していた。このような微小の欠陥を検出する方法
としては、例えば対象画像の走査によって得られたアナ
ログのビデオ信号(アナログ濃淡画像信号)をA/D変
換してなる8ビットなどの多値の濃淡画像信号を所定の
しきい値で2値化する方法や、前記のビデオ信号を微分
して欠陥信号を抽出する微分法などが知られている。こ
の微分法の場合、対象物の外形の輪郭部でも微分信号が
出るが輪郭部では微分によって正方向パルス,負方向パ
ルスのいずれか一方が発生するのに対し、微小欠陥部で
は正方向パルスと負方向パルスが同時に発生することを
利用して欠陥部を抽出することができる。
Conventionally, windows are provided in the respective areas W1 to W5, and a threshold value for detecting a defect of black stain (black spot) or white stain (white spot) is set according to the optical characteristics of the regions. Was. As a method of detecting such a minute defect, for example, an 8-bit multi-value grayscale image signal obtained by A / D converting an analog video signal (analog grayscale image signal) obtained by scanning a target image. There is known a method of binarizing the signal with a predetermined threshold value, a differentiation method of differentiating the video signal to extract a defect signal, and the like. In the case of this differentiation method, a differential signal is also generated in the contour portion of the outer shape of the object, but either one of the positive direction pulse and the negative direction pulse is generated by the differentiation in the contour portion, while the positive direction pulse is generated in the minute defect portion. The defect can be extracted by utilizing the fact that the negative pulses are generated at the same time.

【0005】即ちラスタ走査に基づくアナログ濃淡画像
信号を微分してなる信号P(X,Y)についての着目点
(座標値X=i,Y=j)における値P(i,j)と、
この着目点よりX方向走査線上の前,後に夫々所定の微
小の画素数α,βだけ離れた点における値P(i−α,
j),P(i+β,j)との間に、
That is, a value P (i, j) at a target point (coordinate values X = i, Y = j) of a signal P (X, Y) obtained by differentiating an analog grayscale image signal based on raster scanning,
The value P (i-α, at a point separated by a predetermined minute pixel number α, β from the point of interest on the X-direction scanning line, respectively.
j) and P (i + β, j),

【0006】[0006]

【数1】 P(i,j)−P(i−α,j)>TH1 ・・・(1) P(i+β,j)−P(i,j)>TH1 ・・・(2) (但しTH1は所定のしきい値(正値)とする)上式
(1)及び(2)の関係があれば、この着目点における
不良検出のための2値化関数値PD(i,j)=1とし
てこの着目点を黒レベル不良の点とし、それ以外の場合
はPD(i,j)=0としてこの着目点を正常の点とす
るものである。
## EQU00001 ## P (i, j) -P (i-.alpha., J)> TH1 ... (1) P (i + .beta., J) -P (i, j)> TH1 ... (2) (however, If TH1 is a predetermined threshold value (positive value) and there is a relation of the above equations (1) and (2), the binarization function value PD (i, j) for defect detection at this focus point = The point of interest is 1 as a black level defective point, and in other cases, PD (i, j) = 0 is set as the point of normality.

【0007】次に従来の容器側面部の凹みの検出方法に
ついて説明する。図3(C)は容器102の上面画像
(図3(A))に示すように容器側面に凹み105が発
生した場合における、この凹み105の部分を通る走査
線Q′−Q1′上の濃度変化を示す。図4は図3(B)
の各ウインドウ領域(W1〜W5)に対応して、判定し
きい値THP1〜THP4を割付けしたものである。な
お、しきい値THP3はウインドウW3及びW4に共通
としてあるため、図4では4領域となっている。
Next, a conventional method for detecting the depression of the side surface of the container will be described. FIG. 3C shows the density on the scanning line Q′-Q1 ′ passing through the recess 105 when the recess 105 is formed on the side surface of the container as shown in the top image of the container 102 (FIG. 3A). Show changes. FIG. 4 is FIG. 3 (B)
The determination thresholds THP1 to THP4 are assigned corresponding to the respective window areas (W1 to W5). Since the threshold value THP3 is common to the windows W3 and W4, there are four areas in FIG.

【0008】図5は図4の濃度値を差分し、その絶対値
を表したものである。凹み105はしきい値THP2よ
り、差分により生じる濃度変化量が大きくなるため、欠
陥画素として検出される。このときの欠陥の判定は次式
(3)によって行われる。
FIG. 5 shows the absolute value of the difference between the density values of FIG. The depression 105 is detected as a defective pixel because the density change amount caused by the difference is larger than the threshold value THP2. The defect determination at this time is performed by the following equation (3).

【0009】[0009]

【数2】 |P(i,j)−P(i−α,j)|>THPn ・・・(3) 但し P(i,j): 走査線上の着目点(座標値X=i,Y
=j)における画素濃度、 P(i−α,j): 着目点よりX方向走査線上の手前
に微小の画素数αだけ離れた点における画素濃度、 THPn: 着目点の領域(番号をnとする)の判定し
きい値。
## EQU00002 ## | P (i, j) -P (i-.alpha., J) |> THPn (3) where P (i, j): Point of interest on the scanning line (coordinate value X = i, Y)
= Pixel density at j), P (i-α, j): Pixel density at a point distant from the point of interest on the X-direction scanning line by a small number of pixels α, THPn: Region of the point of interest (number is n Yes) decision threshold.

【0010】図6は前記式(3)による欠陥画素検出の
ためのハードウェアブロック図であり、放射アドレス発
生器4より、放射状にフレームメモリ1内の検査画像を
読出し、FIFO21にて上式での画素数αに相当する
量だけ画像データを遅延させ、減算器24にて、P
(i,j)とP(i−α,j)との差分値を求め、絶対
値変換回路25により差分値を絶対値として、比較器2
6にてしきい値と比較し、欠陥画素を2値化出力として
出力する。カウンタ27は、容器中心からの走査方向に
対する距離を表現し、しきい値テーブル23によって各
ウインドウ領域の判定しきい値THPnを比較器26へ
供給する。
FIG. 6 is a hardware block diagram for detecting a defective pixel according to the equation (3). The inspection image in the frame memory 1 is radially read from the radiation address generator 4, and the FIFO 21 is used in the above equation. The image data is delayed by an amount corresponding to the number α of pixels of
The difference value between (i, j) and P (i-α, j) is obtained, and the absolute value conversion circuit 25 sets the difference value as an absolute value, and the comparator 2
The defective pixel is compared with the threshold value at 6 and the defective pixel is output as a binarized output. The counter 27 expresses the distance from the container center in the scanning direction, and supplies the judgment threshold value THPn of each window region to the comparator 26 by the threshold value table 23.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】図4における凹み10
5は、容器内面でも濃度変化の比較的小さい領域に発生
したものであって、図5のこの凹み105の部分の判定
しきい値THP2も、他の領域の比べ小さい値を設定す
ることができる。しかしながら、容器凹み105がこの
位置よりも下の位置に発生した場合には、判定しきい値
がTHP3の領域となって、もともと濃度変化の大きい
領域となってしまうため、凹み検出の感度が相当に低下
してしまうという問題があった。
The recess 10 in FIG. 4 is to be solved.
No. 5 occurred in the region where the concentration change was relatively small even on the inner surface of the container, and the judgment threshold value THP2 in the recess 105 portion in FIG. 5 can be set to a smaller value than in other regions. . However, when the container recess 105 occurs at a position lower than this position, the determination threshold value becomes a region of THP3, which is a region where the concentration change is originally large, and therefore the sensitivity of the recess detection is considerable. There was a problem that it decreased to.

【0012】また、図7は底部に突出部のある円形容器
の内面の高輝度部の例を示すが、この図7(B)のよう
に容器底面に突出部102aのような成形加工が行われ
ている場合は、容器底面部の反射が容器底面の加工が単
純なものに比べて複雑となり、複数の底部高輝度部10
4−1,104−2が出現して、濃度変化がより複雑と
なって、THP3として設定できるしきい値がより低感
度とならざるを得ないという問題がある。
Further, FIG. 7 shows an example of a high-intensity portion on the inner surface of a circular container having a projecting portion at the bottom. As shown in FIG. 7 (B), the bottom surface of the container is molded to form a projecting portion 102a. In the case where the bottom surface of the container is reflected, the reflection of the bottom surface of the container becomes more complicated than that of the case where the processing of the bottom surface of the container is simple, and the plurality of bottom high brightness portions 10
4-1, 104-2 appear, the density change becomes more complicated, and there is a problem that the threshold value that can be set as the THP3 is inevitably lower in sensitivity.

【0013】そこで本発明は、以上のように従来は検出
が困難であった高さが容器底面より中程までに発生す
る、つまり容器側面下部の凹みを高精度に検出する円形
容器内面検査装置を提供することを課題とする。
Therefore, according to the present invention, as described above, the height of the container, which has been difficult to detect in the past, occurs midway from the bottom of the container, that is, the inner surface of the circular container for inspecting the recess on the lower side of the container with high accuracy. The challenge is to provide.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項1の円形容器内面検査装置は、軸対称の円
形容器(102)と同軸のリング型照明手段(リング照
明器101)を介しこの円形容器の内面側を照明したう
え、TVカメラを介しこの軸方向からこの円形容器の照
明面を撮像し、この撮像された円形容器の同心円状の画
像を含む撮像画面の走査によって得られる濃淡画像信号
のA/D変換信号としての多値濃淡画像信号(PO)を
前記撮像画面に対応する画面上の画像データとしてフレ
ームメモリ(301)に記憶すると共に、(画像エッジ
検出回路314,位置ズレ量決定回路315を介し)こ
のフレームメモリの画像データの画面上における円形容
器の中心位置(O)を検出し、(放射アドレス発生器3
04を介し)この円形容器の中心を通る放射状の走査線
に沿って複数回、そのつど放射状走査線の角度を変えて
この画面の画像データを走査し、円形容器の欠陥を検出
する円形容器内面検査装置であって、この放射状走査線
上の円形容器の中心位置から画素数で数えて予め定めた
距離(d1)にある予め定めた巾の区間(基準画素探索
区間d2)内で濃度値の最小の画素を検出して基準画素
(Pk)とし、同じくこの放射状走査線上の、この基準
画素から画素数で数えて夫々予め定めた距離(d3,d
5など)にあって予め定めた巾(d4,d6など)を持
つ複数の計測区間(第1,第2計測区間など)の各々に
ついて、当該計測区間内の各画素の濃度値の前記基準画
素の濃度値からの差を総和した画像濃淡積分値(S1,
S2など)を求め、隣接する計測区間同士のこの画像濃
淡積分値の差(|S1−S2|)が予め定めた許容量を
上回るとき、当該容器に凹み欠陥が有ると判定する手段
(不良検出回路312,不良検出判定回路313)を備
えたものとする。
In order to solve the above-mentioned problems, the apparatus for inspecting the inner surface of a circular container according to claim 1 has a ring-shaped illuminating means (ring illuminator 101) coaxial with an axisymmetric circular container (102). After illuminating the inner surface side of this circular container via the camera, the illumination surface of this circular container is imaged from this axial direction via a TV camera, and the image is obtained by scanning an imaging screen containing concentric images of the imaged circular container. The multi-value grayscale image signal (PO) as an A / D conversion signal of the grayscale image signal is stored in the frame memory (301) as image data on the screen corresponding to the imaging screen, and (image edge detection circuit 314, The center position (O) of the circular container on the screen of the image data of this frame memory is detected (via the position shift amount determination circuit 315), and (radiation address generator 3
The inner surface of the circular container for detecting a defect in the circular container by scanning the image data of this screen a plurality of times along the radial scanning line passing through the center of the circular container, changing the angle of the radial scanning line each time. The inspection apparatus is a minimum density value within a predetermined width section (reference pixel search section d2) at a predetermined distance (d1) counted from the center position of the circular container on the radial scanning line by the number of pixels. Pixels are detected and set as reference pixels (Pk), and a predetermined distance (d3, d) on the radial scanning line is counted from the reference pixels.
5, etc.) and for each of a plurality of measurement sections (first, second measurement sections, etc.) having a predetermined width (d4, d6, etc.), the reference pixel of the density value of each pixel in the measurement section. Image density integrated value (S1,
S2), and when the difference (| S1−S2 |) between the image density integration values between adjacent measurement sections exceeds a predetermined allowable amount, it is determined that the container has a dent defect (defect detection). A circuit 312 and a defect detection determination circuit 313) are provided.

【0015】また請求項2の検査装置では、請求項1に
記載の検査装置において、前記許容量は前記放射状走査
線の角度に応じて可変選択できるものであるようにす
る。また請求項3の検査装置では、請求項1又は2に記
載の検査装置において、前記放射状走査線上の判定に用
いられる各画素の円形容器の中心位置からの画素数で数
えた距離は、この放射状走査線の角度に応じて補正され
るものであるようにする。
According to a second aspect of the present invention, in the inspection apparatus according to the first aspect, the permissible amount can be variably selected according to the angle of the radial scanning line. Further, in the inspection apparatus according to claim 3, in the inspection apparatus according to claim 1 or 2, the distance counted by the number of pixels from the center position of the circular container of each pixel used for the determination on the radial scanning line is It should be corrected according to the angle of the scanning line.

【0016】ここで本発明の原理を説明する。図1は本
発明の原理を示す図である。図1は図7のような底部形
状の容器についての、図4の拡大部Mに相当する画像の
濃淡変化を示した図で、(A)〜(F)は本発明に基づ
く処理の順序を示す。即ち(A)においては、算出され
た容器中心Oからの距離d1により、区間d2の位置決
め(基準画素探索区間の設定)を行い、(B)において
は、区間d2での最低濃度値の画素(基準画素という)
Pkを算出する。次に(C)においては、基準画素Pk
からの距離d3により、第1計測区間d4を設定し、
(D)においては、第1計測区間d4内の各画素の濃度
値の基準画素Pkの濃度値からの差をこの計測区間内で
積分して、第1計測区間の画像濃淡積分値S1を算出す
る。次に(E)においては、基準画素Pkからの距離d
5により、第1計測区間d4に隣接する第2計測区間d
6を設定し、(F)においては、第2計測区間d6内の
各画素の濃度値の基準画素Pkの濃度値からの差を積分
して画像濃淡積分値S2を算出する。
The principle of the present invention will now be described. FIG. 1 is a diagram showing the principle of the present invention. FIG. 1 is a diagram showing a change in shading of an image corresponding to the enlarged portion M of FIG. 4 for a container having a bottom shape as shown in FIG. 7, and (A) to (F) show the order of processing according to the present invention. Show. That is, in (A), the section d2 is positioned (reference pixel search section is set) based on the calculated distance d1 from the container center O, and in (B), the pixel of the lowest density value in the section d2 ( (Reference pixel)
Calculate Pk. Next, in (C), the reference pixel Pk
The first measurement section d4 is set by the distance d3 from
In (D), the difference between the density value of each pixel in the first measurement section d4 and the density value of the reference pixel Pk is integrated in this measurement section to calculate the image density integration value S1 of the first measurement section. To do. Next, in (E), the distance d from the reference pixel Pk
5, the second measurement section d adjacent to the first measurement section d4
6 is set, and in (F), the image density integration value S2 is calculated by integrating the difference between the density value of each pixel in the second measurement section d6 and the density value of the reference pixel Pk.

【0017】以降も必要に応じ同様に第n計測区間まで
順次隣接する計測区間の設定と画像濃淡積分値の算出を
行う(ここで第(n−1)計測区間と第n計測区間の夫
々の画像濃淡積分値をSn-1 ,Sn とする)。その後、
隣接する計測区間同士の前記画像濃淡積分値の差異量|
S1−S2|,・・・,|Sn-1 −Sn |を算出して、
差異許容量と比較し、欠陥の有無を判定する。
After that, similarly, if necessary, the adjacent measurement sections are sequentially set and the image density integration value is calculated up to the n-th measurement section (here, the (n-1) th measurement section and the nth measurement section are respectively calculated. The image grayscale integration values are S n-1 and S n ). afterwards,
Amount of difference in the image density integral value between adjacent measurement sections |
S1-S2 |, ···, | S n-1 -S n | is calculated and
The presence or absence of defects is determined by comparing with the allowable difference amount.

【0018】なお、初期設定時のd3〜d6など計測区
間を設定するパラメータについては、隣接する計測区間
同士で通常、前記画像濃淡積分値がほぼ等しくなるよう
に設定する必要がある。
It should be noted that the parameters for setting the measurement sections such as d3 to d6 at the time of initial setting are usually required to be set so that the image density integral values are almost equal between the adjacent measurement sections.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】次に本発明の一実施例について説
明する。図8は、本発明による円形容器内面検査装置の
要部の構成を示すブロック図である。同図においてPO
は図外のTVカメラの画面をラスタ走査して得られるビ
デオ信号をA/D変換してなる(例えば8bit)の濃
淡画像信号、301はこの多値濃淡画像信号POを入力
し、多値画面データとして記憶するフレームメモリ、3
03はこのフレームメモリに対するラスタアドレスを発
生するラスタアドレス発生器である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, an embodiment of the present invention will be described. FIG. 8 is a block diagram showing a configuration of a main part of the circular container inner surface inspection apparatus according to the present invention. PO in the figure
Is a grayscale image signal obtained by A / D converting a video signal obtained by raster scanning a screen of a TV camera (not shown), and 301 is a multivalued grayscale image signal PO to which a multivalued screen is input. Frame memory to store as data, 3
Reference numeral 03 is a raster address generator for generating a raster address for this frame memory.

【0020】304は放射状に画像走査を行うためにフ
レームメモリ301に対してアドレス発生を行う放射ア
ドレス発生器、302は図3(B)に示したようなリン
グ状のウインドウ別のマスクパターンが格納されている
ウインドウメモリ、305はこのウインドウメモリ30
2に対し発生器303と同様にラスタアドレスを発生す
るラスタアドレス発生器、306は同じくこのウインド
ウメモリ302に対し発生器304と同様に放射状走査
のためのアドレス発生を行う放射アドレス発生器であ
る。そしてこれら発生器303,305,304,30
6との切替によるラスタアドレスと放射アドレスの発生
切替が可能である。
Reference numeral 304 denotes a radial address generator for generating an address for the frame memory 301 for radial image scanning, and reference numeral 302 stores a ring-shaped mask pattern for each window as shown in FIG. 3B. Window memory, 305 is this window memory 30
2 is a raster address generator for generating a raster address similarly to the generator 303, and 306 is a radial address generator for similarly generating an address for radial scanning with respect to the window memory 302 similarly to the generator 304. And these generators 303, 305, 304, 30
It is possible to switch the generation of the raster address and the radial address by switching the switch between No.

【0021】307はウインドウゲート回路であり、多
値濃淡信号PO又はフレームメモリ301より読出され
た画像信号301aをウインドウメモリ302からのマ
スクパターンデータでマスクし、指定されたウインドウ
領域のみの画像信号PO又はフレームメモリ301から
読出された画像信号301aを通過させる回路である。
A window gate circuit 307 masks the multi-value grayscale signal PO or the image signal 301a read from the frame memory 301 with the mask pattern data from the window memory 302, and the image signal PO only in the designated window area. Alternatively, it is a circuit which allows the image signal 301 a read from the frame memory 301 to pass.

【0022】308,314は画像エッジ検出回路で、
画像のエッジ、具体的にはリング状の高輝度部の外端
(外周点)と内端(内周点)を検出する機能を持ち、こ
の場合、入力した画像信号を対象画像の位置検出や円形
性検査のための所定のしきい値で2値化したうえ、画像
エッジとしてこの2値化信号の立上り点の座標と立下り
点の座標とを自身内のメモリに格納する。309はこの
画像エッジ検出回路308によって検出された外周点又
は内周点の座標値に対し円形性検査を行う回路である。
Image edge detection circuits 308 and 314 are
It has a function to detect the edge of the image, specifically the outer edge (outer peripheral point) and inner edge (inner peripheral point) of the ring-shaped high-intensity part. In this case, the input image signal is used to detect the position of the target image and The image is binarized with a predetermined threshold value for the circularity inspection, and the coordinates of the rising point and the falling point of the binarized signal are stored in the internal memory as image edges. Reference numeral 309 denotes a circuit for inspecting the circularity of the coordinate values of the outer peripheral points or the inner peripheral points detected by the image edge detecting circuit 308.

【0023】315は対象画像に対して正しい位置にウ
インドウが発生するように、画像エッジ検出回路314
が最新の多値濃淡画像信号POを入力して検出した現実
の対象画像の中心の位置と、予め設定されているウイン
ドウの中心の位置とのズレを検出する回路である。31
0はフレームメモリ301のラスタ走査によってフレー
ムメモリ301から読出された画像信号301aをウイ
ンドウゲート回路307を介して入力し、黒点などの汚
れ不良画素を検出するための不良検出回路、311はこ
の検出された不良画素を集計して不良の判定を行う不良
検出判定回路である。
An image edge detection circuit 314 is provided for displaying a window at a correct position 315 with respect to the target image.
Is a circuit for detecting the deviation between the center position of the actual target image detected by inputting the latest multi-value grayscale image signal PO and the center position of the preset window. 31
0 inputs the image signal 301a read from the frame memory 301 by the raster scanning of the frame memory 301 through the window gate circuit 307, and the defect detection circuit 311 for detecting a defective pixel such as a black dot detects this. It is a defect detection determination circuit that aggregates defective pixels and determines a defect.

【0024】312は後述のようにフレームメモリ30
1の放射状の走査によってフレームメモリ301から読
出された画像信号301aをウインドウゲート回路30
7を介して入力し、凹み不良画素を検出するための不良
検出回路、313はこの検出された不良画素を集計して
不良の判定を行う不良検出判定回路である。また、31
9は円形度判定回路309,不良検出判定回路311及
び313の判定結果を入力し総合的な判定を行う回路、
320はこの総合判定回路319出力判定信号によって
良否の出力を行う出力回路である。
Reference numeral 312 denotes a frame memory 30 as described later.
The image signal 301a read from the frame memory 301 by the radial scan of 1 is transmitted to the window gate circuit 30.
A defect detection circuit 313 for inputting via 7 to detect a defective pixel having a dent is a defect detection determination circuit for totaling the detected defective pixels to determine a defect. Also, 31
Reference numeral 9 is a circuit for inputting the judgment results of the circularity judgment circuit 309 and the defect detection judgment circuits 311 and 313 to make a comprehensive judgment,
Reference numeral 320 denotes an output circuit that outputs a pass / fail according to the output determination signal of this comprehensive determination circuit 319.

【0025】この図8では検査画像は、多値濃淡画像信
号POより入力されフレームメモリ301に記憶される
と共に、ウインドウゲート回路307にて画像の着目領
域外はマスクされて画像エッジ検出回路314に供給さ
れる。なお、画像の着目領域のパターンは、ウインドウ
メモリ302に予め設定されている。画像エッジ検出回
路314は、入力された多値濃淡画像信号POを固定2
値化し、その2値化信号の1走査線での0→1又は1→
0の変化点座標(画像エッジ点という)を検出し、記憶
し、同様に各走査ラインについても画像エッジ点を検出
し、記憶する。この画像エッジ点情報は位置ズレ量決定
回路315に送られ、ここで検査対象である円形容器の
画面内での位置ズレを演算する。
In FIG. 8, the inspection image is inputted from the multi-value grayscale image signal PO and stored in the frame memory 301, and the window gate circuit 307 masks the outside of the region of interest of the image to the image edge detection circuit 314. Supplied. The pattern of the attention area of the image is preset in the window memory 302. The image edge detection circuit 314 fixes the input multi-value grayscale image signal PO 2
Quantize, and 0 → 1 or 1 → in one scanning line of the binarized signal
Change point coordinates of 0 (referred to as an image edge point) are detected and stored, and similarly, an image edge point is detected and stored for each scanning line. This image edge point information is sent to the position shift amount determination circuit 315, where the position shift within the screen of the circular container to be inspected is calculated.

【0026】図9は円形容器の位置を決定するための一
方法を示したもので、同図では上端エッジ検査領域21
1及び左端エッジ検査領域212が円形容器の口部高輝
度部(図2の103)相当の部分に設定されている。な
お、この口部高輝度部が2値化された画像が、図9の容
器の固定2値画像210に相当する。前記検査領域21
1及び212においては、画像エッジが図9の点線の如
く検出され、それらの交点である位置基準点213が決
定されて、この容器の処理座標系が決定される。これに
より容器の画面内での位置が決定され、容器の中心の座
標は、前記位置基準点213からの固定オフセット量を
加えた座標とすることができる。
FIG. 9 shows one method for determining the position of the circular container. In FIG. 9, the upper edge inspection area 21 is shown.
1 and the left edge inspection area 212 are set in a portion corresponding to the mouth high brightness portion (103 in FIG. 2) of the circular container. The image in which the mouth high-intensity part is binarized corresponds to the fixed binary image 210 of the container in FIG. 9. The inspection area 21
In 1 and 212, the image edge is detected as shown by the dotted line in FIG. 9, the position reference point 213 which is the intersection thereof is determined, and the processing coordinate system of this container is determined. As a result, the position of the container on the screen is determined, and the coordinates of the center of the container can be the coordinates to which the fixed offset amount from the position reference point 213 is added.

【0027】図10はさらに別の容器位置決定方法を示
した図であって、同図(A)のように、底部高輝度部1
04周辺に夫々上端エッジ検査領域112及び左端エッ
ジ検査領域113を設定し、同図(B)に示すように位
置基準点114を算出して、容器中心Oを位置基準点1
14に固定オフセット量を加えた座標として、算出する
ことができる。
FIG. 10 is a view showing another method for determining the container position. As shown in FIG.
04, an upper edge inspection area 112 and a left edge inspection area 113 are set, and a position reference point 114 is calculated as shown in FIG.
It can be calculated as coordinates obtained by adding a fixed offset amount to 14.

【0028】このように容器中心の算出が終わると、フ
レームメモリ301に対して、ラスタアドレス発生器3
03より走査座標が送られ、その座標に対応した多値濃
淡画像信号がウインドウゲート回路307にて、着目領
域のみに制限されて画像エッジ検出回路308に送ら
れ、ここでは画像エッジ検出回路314と同様な処理に
よって、画像エッジ点座標を円形度判定回路309に出
力する。ここで、画像エッジ検出回路308と314で
は、着目する画像の濃淡が異なるため画像を2値化する
際のしきい値が異なるのはいうまでもない。
When the calculation of the container center is completed in this way, the raster address generator 3 is added to the frame memory 301.
03, the scanning coordinates are sent, and the multi-value grayscale image signal corresponding to the coordinates is sent by the window gate circuit 307 to the image edge detection circuit 308 while being limited to only the region of interest. By similar processing, the image edge point coordinates are output to the circularity determination circuit 309. Here, it goes without saying that the image edge detection circuits 308 and 314 have different thresholds when binarizing the image because the shade of the image of interest is different.

【0029】円形度判定回路309は容器の最外形のエ
ッジ点座標より、その円形容器がどの程度真円に近いか
を判定し、主に容器口部の変形や凹みを検査し、その判
定結果は総合判定回路319へ出力される。不良検出回
路310は、円形容器内面をラスタ走査した際の従来の
差分2値化手法による2値画像データを欠陥画素信号と
して不良検出判定回路311に出力し、この不良検出判
定回路311は、入力される2値画像データの画素数を
カウントして、その画素数が予め設定される許容量を越
える場合には、不良信号を総合判定回路319へ出力す
る。
The circularity determination circuit 309 determines from the edge point coordinates of the outermost shape of the container how close the circular container is to a perfect circle, and mainly inspects the deformation and dent of the container mouth, and the determination result Is output to the comprehensive determination circuit 319. The defect detection circuit 310 outputs the binary image data obtained by the conventional differential binarization method when the inner surface of the circular container is raster-scanned to the defect detection determination circuit 311 as a defective pixel signal. The number of pixels of the binary image data is counted, and if the number of pixels exceeds a preset allowable amount, a defective signal is output to the comprehensive determination circuit 319.

【0030】次に本発明の核心部について説明する。図
8のフレームメモリ301に対して、容器中心を走査中
心とする放射アドレスを放射アドレス発生器304によ
って発生させ、その座標に対応する画素の多値濃淡画像
信号がウインドウゲート回路307に送られ、一方、必
要に応じてウインドウメモリ302内のパターンによっ
て、着目領域のみの画像信号に制限され、不良検出回路
312へ出力される。
Next, the core part of the present invention will be described. With respect to the frame memory 301 of FIG. 8, a radiation address with the center of the container as the scanning center is generated by the radiation address generator 304, and the multi-value grayscale image signal of the pixel corresponding to the coordinates is sent to the window gate circuit 307. On the other hand, if necessary, the pattern in the window memory 302 limits the image signal of only the region of interest and outputs the image signal to the defect detection circuit 312.

【0031】不良検出回路312は、一旦放射アドレス
とそれに対応する画像データを逐一記憶する。図11は
このようなある1走査に基づく画像データの例を示し、
同図(A)はこの走査線上の画像の濃度断面を示し、同
図(B)は同図(A)の斜線部の放射アドレスXと画像
データとの関係を示すテーブルであり、不良検出回路3
12には画像データがこのようなテーブルとして記憶さ
れる。以下では濃度断面は容器中心に対して対称である
ため、図11(A)の斜線部のみの処理について説明す
るが、本発明ではこの図11(A)の残り半分(非斜線
部)についても同様に検査を行うことはいうまでもな
い。
The defect detection circuit 312 temporarily stores the radiation address and the image data corresponding to the radiation address. FIG. 11 shows an example of image data based on such one scan,
The figure (A) shows the density cross section of the image on this scanning line, and the figure (B) is a table showing the relationship between the radiation address X and the image data of the shaded area in the figure (A). Three
Image data is stored in 12 as such a table. In the following, since the concentration cross section is symmetrical with respect to the center of the container, only the shaded portion of FIG. 11A will be described. However, in the present invention, the remaining half (non-shaded portion) of FIG. 11A is also described. It goes without saying that the same inspection is performed.

【0032】不良検出回路312はCPUを内蔵して、
図11(B)のテーブルより本発明による判定を行うの
であるが、本実施例においては画像濃淡積分値を算出す
る計測区間を2区間とし、計測区間を決定する図1のd
1〜d6までのパラメータは、すでに与えられているも
のとする。前記CPUは次の手順によって判定を行う。
The defect detection circuit 312 has a built-in CPU,
The determination according to the present invention is performed based on the table of FIG. 11B. In the present embodiment, the measurement section for calculating the image density integral value is set to two sections, and the measurement section is determined by d in FIG.
It is assumed that the parameters 1 to d6 have already been given. The CPU makes a determination according to the following procedure.

【0033】図11(B)のテーブルをアドレスd1
(つまり容器中心Oから基準画素探索区間の開始点まで
の画素数で数えた距離)の指し示すところまで、処理の
ポインタを進める。 アドレスd1の位置よりd2だけカウントするまでの
間(つまり基準画素探索区間)の最低濃度点の画素(基
準画素)Pkのアドレスとその濃度値を記憶する。
In the table of FIG. 11B, the address d1
The pointer of the process is advanced to the position indicated by (that is, the distance from the container center O to the start point of the reference pixel search section, which is counted in the number of pixels). The address and the density value of the pixel (reference pixel) Pk at the lowest density point from the position of the address d1 until counting d2 (that is, the reference pixel search section) are stored.

【0034】基準画素Pkの位置に一旦ポインタを置
いた後、d3だけポインタを進め、その点よりd4だけ
カウントする期間(つまり第1計測区間)の各画素の濃
度値から基準画素Pkの濃度値を減じた結果を加算し、
その総和を求め、第1計測区間の画像濃淡積分値S1と
する。 基準画素Pk部に一旦ポインタを置いた後、d5だけ
ポインタを進め、その点よりd6だけカウントする期間
(つまり第2計測区間)の各画素の濃度値から基準画素
Pkの濃度値を減じた結果を加算し、その総和を求め、
第2計測区間の画像濃淡積分値S2とする。
After the pointer is once placed at the position of the reference pixel Pk, the pointer is advanced by d3 and the density value of the reference pixel Pk is calculated from the density value of each pixel in the period for counting d4 from that point (that is, the first measurement section). Add the result of subtracting,
The sum is calculated and used as the image density integration value S1 of the first measurement section. The result of subtracting the density value of the reference pixel Pk from the density value of each pixel in the period for counting d6 from that point (that is, the second measurement section) after the pointer is once placed on the reference pixel Pk portion Is added and the sum is calculated,
The image density integration value S2 in the second measurement section is used.

【0035】|S1−S2|をΔSとして算出する。 ΔSが予め設定された許容量を越えなければ良とし、
それ以外の場合を不良とする。 の良否を不良検出判定回路313に出力する。 図12の105は容器の凹みの例であって、図13はそ
の濃度断面を示したものである。良品時は、第1計測区
間と第2計測区間の画像濃淡積分値S1とS2の値はほ
ぼ等しいが、容器に凹み105がある場合はS1,S2
は夫々図13のS1′,S2′のようになり、図12に
示すように底部高輝度部の光線の反射具合が変わり、底
部高輝度部104を含むS1′領域は濃度が低下する傾
向となり、最低濃度点Pkを基準として領域設定される
ため最低濃度点付近がS1′領域となり、このためS
2′領域においては濃度が変わらぬか、又は反射により
上昇する傾向となるため、前記第1計測区間と第2計測
区間の画像濃淡積分値の差ΔSが大きくなり不良とな
る。
.Vertline.S1-S2.vertline. Is calculated as .DELTA.S. If ΔS does not exceed the preset allowable amount, it is regarded as good,
The other cases are considered defective. The quality of is output to the defect detection determination circuit 313. Reference numeral 105 in FIG. 12 is an example of the recess of the container, and FIG. 13 shows the concentration cross section. When the product is non-defective, the image density integration values S1 and S2 in the first measurement section and the second measurement section are substantially equal to each other, but if the container has a recess 105, S1 and S2.
13 are S1 'and S2' in FIG. 13, respectively. As shown in FIG. 12, the reflection condition of the light rays in the bottom high-intensity portion changes, and the density in the S1 'area including the bottom high-intensity portion 104 tends to decrease. , The area is set with the lowest density point Pk as a reference, and the vicinity of the lowest density point is the S1 ′ area, and therefore S
In the 2'region, the density does not change or tends to increase due to reflection, so that the difference ΔS between the image density integral values of the first measurement section and the second measurement section becomes large, which is a defect.

【0036】図8の不良検出判定回路313において
は、各放射状走査による不良検出回数を不良検出回路3
12より受けて、その検出回数が予め設定される許容量
を越える場合に不良として、総合判定回路319へ出力
する。総合判定回路319では、前段の各判定回路30
9,311,313の判定結果が全て良である場合には
良信号を、それ以外の場合には不良信号を出力回路32
0を経由して、装置外部へ出力する。
In the defect detection determination circuit 313 of FIG. 8, the defect detection frequency of each radial scan is determined by the defect detection circuit 3.
When the number of detection times exceeds 12, the output is judged to be defective and is output to the comprehensive judgment circuit 319. In the comprehensive judgment circuit 319, each judgment circuit 30 in the preceding stage is
If the determination results of 9, 311 and 313 are all good, a good signal is output; otherwise, a bad signal is output circuit 32.
Output to outside the device via 0.

【0037】なお、画像濃淡積分値を算出する区間を順
次第n区間まで設けた場合、第3,第4,・・・,第
(n−1),第nの夫々の計測区間の画像濃淡積分値を
夫々S3,S4,・・・,Sn-1 ,Sn とすると、本発
明では隣接する計測区間同士の画像濃淡積分値の差、即
ち|S2−S3|,|S3−S4|,・・・,|Sn-1
−Sn |を夫々ΔSとしてこのΔSと設定許容値を比較
し、ΔSが設定許容値を越えなければ良とし、それ以外
の場合は不良とする。
When the sections for calculating the image density integrated value are sequentially provided up to the n-th section, the image density of each of the third, fourth, ..., (n-1), and n-th measurement sections. If the integrated values are S3, S4, ..., S n-1 and S n , respectively, in the present invention, the difference between the image density integrated values of the adjacent measurement sections, that is, | S2-S3 |, | S3-S4 | , ・ ・ ・, | S n-1
-S n | is taken as ΔS, and this ΔS is compared with the set allowable value. If ΔS does not exceed the set allowable value, it is judged as good, and otherwise it is judged as defective.

【0038】また、各画素は正方形であるため、放射状
走査の角度によって、放射状アドレスの画素分解能が変
わってくるのであって、例えば45°方向に走査する場
合は、水平又は垂直に走査する場合に比べ√2倍とな
る。従って走査角度により、適宜ΔSに対するしきい値
やd1〜d6の各区間決定のためのパラメータを正規化
すれば、さらに高精度の欠陥検出が可能となる。
Since each pixel is square, the pixel resolution of the radial address varies depending on the radial scanning angle. For example, when scanning in the 45 ° direction, when scanning horizontally or vertically. Compared with √2 times. Therefore, if the threshold value for ΔS and the parameters for determining the sections of d1 to d6 are normalized according to the scanning angle, the defect can be detected with higher accuracy.

【0039】[0039]

【発明の効果】本発明によれば円形容器の内面の画像を
円形容器の中心から放射状に走査し、容器中心からの距
離で指定された区間内で濃度値の最小の画素を検出して
基準画素とし、基準画素からの距離で指定される複数の
計測区間の夫々の画素濃度の基準画素の濃度との濃度差
の総和としての画像濃淡積分値を求め、隣接する計測区
間同士の画像濃淡積分値の差が予め定めた許容値を上回
るか否かで、当該容器に凹み欠陥が有るか否かを判定す
るようにしたので、容器底面の濃度変化が大であった
り、底面に複雑な成形が施されていても容器下部の凹み
欠陥を高精度で判定することができる。
According to the present invention, an image of the inner surface of a circular container is radially scanned from the center of the circular container, and a pixel having the minimum density value is detected within a section designated by the distance from the center of the container to obtain a reference. An image density integration value is calculated as the sum of the density differences between the pixel density of each of a plurality of measurement sections specified by the distance from the reference pixel and the density of the reference pixel, and the image density integration between adjacent measurement sections is performed. It is determined whether there is a dent defect in the container by checking whether the difference between the values exceeds a predetermined allowable value. Even if the mark is applied, it is possible to determine the dent defect at the bottom of the container with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による検査方法の原理の説明図FIG. 1 is an explanatory diagram of the principle of an inspection method according to the present invention.

【図2】円形容器内面の高輝度部の例を示す図FIG. 2 is a diagram showing an example of a high-intensity part on the inner surface of a circular container.

【図3】円形容器内面の放射状走査線上の濃度変化とウ
インドウ分割の説明図
FIG. 3 is an explanatory diagram of a change in concentration on a radial scanning line on the inner surface of a circular container and window division.

【図4】放射状走査線上の濃度分布と2値化しきい値の
設定例を示す図
FIG. 4 is a diagram showing an example of setting a density distribution on a radial scanning line and a binarization threshold value.

【図5】放射状走査線上の濃度差分値と2値化しきい値
との対比の例を示す図
FIG. 5 is a diagram showing an example of comparison between a density difference value on a radial scanning line and a binarization threshold value.

【図6】従来の検査装置のブロック図FIG. 6 is a block diagram of a conventional inspection device.

【図7】底部に突出部のある円形容器の内面の高輝度部
の例を示す図
FIG. 7 is a diagram showing an example of a high-intensity portion on the inner surface of a circular container having a protrusion on the bottom.

【図8】本発明の一実施例としての検査装置の要部構成
を示すブロック図
FIG. 8 is a block diagram showing a main configuration of an inspection apparatus as an embodiment of the present invention.

【図9】円形容器の位置検出処理の一例を示す図FIG. 9 is a diagram showing an example of position detection processing of a circular container.

【図10】円形容器の位置検出処理の他の例を示す図FIG. 10 is a diagram showing another example of position detection processing for a circular container.

【図11】本発明の一実施例としての放射状走査時の画
像データのテーブルを示す図
FIG. 11 is a diagram showing a table of image data at the time of radial scanning as one embodiment of the present invention.

【図12】凹みのある円形容器の底部高輝度部の変化の
例を示す図
FIG. 12 is a diagram showing an example of changes in a high-intensity part at the bottom of a circular container having a recess.

【図13】本発明に基づく画像濃淡積分値の凹みの有無
による違いの例を示す図
FIG. 13 is a diagram showing an example of a difference in the image grayscale integration value according to the present invention depending on the presence or absence of a depression.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

O 容器中心 Pk 基準画素 d1 容器中心から基準画素探索区間迄の距離 d2 基準画素探索区間 d3 基準画素から第1計測区間迄の距離 d4 第1計測区間 d5 基準画素から第2計測区間迄の距離 d6 第2計測区間 S1,S1′ 第1計測区間の画像濃淡積分値 S2,S2′ 第2計測区間の画像濃淡積分値 101 リング照明器 102 容器 103 口部高輝度部 104,104−1,104−2 底部高輝度部 105 凹み W1〜W5 ウインドウ 110 底面部 111 底部低輝度部 112 上端エッジ検査領域 113 左端エッジ検査領域 114 位置基準点 210 容器の固定2値画像 211 上端エッジ検査領域 212 左端エッジ検査領域 213 位置基準点 PO 多値濃淡画像信号 301 フレームメモリ 302 ウインドウメモリ 303 ラスタアドレス発生器 304 放射アドレス発生器 305 ラスタアドレス発生器 306 放射アドレス発生器 307 ウインドウゲート回路 308 画像エッジ検出回路 309 円形度判定回路 310 不良検出回路(ラスタ) 311 不良検出判定回路 312 不良検出回路(放射) 313 不良検出判定回路 314 画像エッジ検出回路 315 位置ズレ量決定回路 319 総合判定回路 320 出力回路 O container center Pk reference pixel d1 Distance from container center to reference pixel search section d2 reference pixel search section d3 Distance from the reference pixel to the first measurement section d4 1st measurement section d5 Distance from the reference pixel to the second measurement section d6 Second measurement section S1, S1 'Image density integration value of the first measurement section S2, S2 'Image density integration value of the second measurement section 101 ring illuminator 102 containers 103 mouth high brightness part 104, 104-1, 104-2 Bottom high brightness part 105 dent W1-W5 windows 110 Bottom part 111 Bottom low brightness part 112 Upper edge inspection area 113 Left edge inspection area 114 position reference point 210 Fixed Binary Image of Container 211 Upper edge inspection area 212 Left edge inspection area 213 Position reference point PO multi-value grayscale image signal 301 frame memory 302 window memory 303 Raster address generator 304 Radiation Address Generator 305 Raster address generator 306 Radiation address generator 307 Window gate circuit 308 Image edge detection circuit 309 Circularity judgment circuit 310 Defect detection circuit (raster) 311 Defect Detection Judgment Circuit 312 Defect detection circuit (radiation) 313 Defect detection judgment circuit 314 Image edge detection circuit 315 Position shift amount determination circuit 319 Comprehensive judgment circuit 320 output circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−94645(JP,A) 特開 平6−160289(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/84 - 21/958 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (56) Reference JP-A-6-94645 (JP, A) JP-A-6-160289 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G01N 21/84-21/958

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】軸対称の円形容器と同軸のリング型照明手
段を介しこの円形容器の内面側を照明したうえ、TVカ
メラを介しこの軸方向からこの円形容器の照明面を撮像
し、この撮像された円形容器の同心円状の画像を含む撮
像画面の走査によって得られる濃淡画像信号のA/D変
換信号としての多値濃淡画像信号を前記撮像画面に対応
する画面上の画像データとしてフレームメモリに記憶す
ると共に、このフレームメモリの画像データの画面上に
おける円形容器の中心位置を検出し、この円形容器の中
心を通る放射状の走査線に沿って複数回、そのつど放射
状走査線の角度を変えてこの画面の画像データを走査
し、円形容器の欠陥を検出する円形容器内面検査装置で
あって、 この放射状走査線上の円形容器の中心位置から画素数で
数えて予め定めた距離にある予め定めた巾の区間内で濃
度値の最小の画素を検出して基準画素とし、 同じくこの放射状走査線上の、この基準画素から画素数
で数えて夫々予め定めた距離にあって予め定めた巾を持
つ複数の計測区間の各々について、当該計測区間内の各
画素の濃度値の前記基準画素の濃度値からの差を総和し
た画像濃淡積分値を求め、隣接する計測区間同士のこの
画像濃淡積分値の差が予め定めた許容量を上回るとき、
当該容器に凹み欠陥が有ると判定する手段を備えたこと
を特徴とする円形容器内面検査装置。
1. An inner surface side of this circular container is illuminated through a ring-shaped illuminating means coaxial with an axially symmetric circular container, and an illumination surface of this circular container is imaged from this axial direction through a TV camera, and this imaging is performed. A multi-value grayscale image signal as an A / D conversion signal of a grayscale image signal obtained by scanning an imaging screen including concentric circular images of a circular container is stored in a frame memory as image data on the screen corresponding to the imaging screen. While storing, the center position of the circular container on the screen of the image data of this frame memory is detected, and the angle of the radial scanning line is changed multiple times along the radial scanning line passing through the center of this circular container. A circular container inner surface inspection device that scans the image data on this screen to detect defects in the circular container, which is counted in advance from the center position of the circular container on this radial scanning line by the number of pixels. A pixel having the minimum density value is detected within a predetermined width section at a predetermined distance and is used as a reference pixel. Similarly, the pixel on the radial scanning line is counted from the reference pixel at a predetermined distance. Then, for each of a plurality of measurement sections having a predetermined width, the image density integral value obtained by summing the difference between the density value of each pixel in the measurement section and the density value of the reference pixel is calculated, and adjacent measurement sections are When the difference between the image grayscale integration values of is greater than a predetermined allowable amount,
An apparatus for inspecting an inner surface of a circular container, comprising means for determining that the container has a dent defect.
【請求項2】請求項1に記載の検査装置において、 前記許容量は前記放射状走査線の角度に応じて可変選択
できるものであることを特徴とする円形容器内面検査装
置。
2. The inspection apparatus according to claim 1, wherein the allowable amount can be variably selected according to an angle of the radial scanning line.
【請求項3】請求項1又は2に記載の検査装置におい
て、 前記放射状走査線上の判定に用いられる各画素の円形容
器の中心位置からの画素数で数えた距離は、この放射状
走査線の角度に応じて補正されるものであることを特徴
とする円形容器内面検査装置。
3. The inspection apparatus according to claim 1, wherein the distance counted by the number of pixels from the center position of the circular container of each pixel used for the determination on the radial scanning line is the angle of the radial scanning line. The inner surface of the circular container is inspected according to the above.
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