JPH04145306A - 光センサ - Google Patents

光センサ

Info

Publication number
JPH04145306A
JPH04145306A JP27001090A JP27001090A JPH04145306A JP H04145306 A JPH04145306 A JP H04145306A JP 27001090 A JP27001090 A JP 27001090A JP 27001090 A JP27001090 A JP 27001090A JP H04145306 A JPH04145306 A JP H04145306A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light receiving
optical sensor
coordinates
cylinder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP27001090A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhiro Sugiura
康博 杉浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Meitec Group Holdings Inc
Original Assignee
Meitec Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Meitec Corp filed Critical Meitec Corp
Priority to JP27001090A priority Critical patent/JPH04145306A/ja
Publication of JPH04145306A publication Critical patent/JPH04145306A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は光を利用して位置や速度等を検出するセンサに
関する。
[従来の技術] 従来、光センサとしては、第22図に示すように半導体
レーザSLとポリゴンミラーPMとを組み合わせたもの
、および第23図に示すようにフィラメント光源FLと
コリメータレンズCMとを組み合わせたものが開発され
ている。
第22図に示す光センサは、半導体レーザSLから出力
されたレーザ光線をポリゴンミラーPMで走査し、その
走査光をコリメータレンズCMで平行走査光線としてか
ら、この平行走査光線を測定物SMの測定領域に出射す
る。出射された平行走査光線は、受光レンズRLによっ
て受光素子R8に集束され、入射した光線の強度が検出
される。
これらの構成により、測定物SMによって、平行走査光
線が遮蔽された巾を、入射光線が遮蔽された時間値とし
て検出する。したがって、走査光が遮蔽された時間値を
算出することによって、測定物SMの外径が計測される
第23図に示す光センサは、普通のフィラメント光源F
Lから出射された光線をコリメータレンズCMによって
平行光線にし、この平行光線を1次元のCODで検出す
る。これらの構成により、測定物SMによって、平行光
線が遮蔽された巾を、出力が「オフ」状態のCODの巾
から検出する。
したがって、平行光線が遮蔽された巾から測定物SMの
外径が計測される。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来の技術では、測定物SMのX軸方向
に光線を平行走査したり、あるいは平行光とし、測定物
SMの外径が遮蔽中にそのまま反映されるようにして計
測を行うものであったため、測定物SMのX軸方向の座
標を計測することができるだけであった。このため、測
定領域における測定物SMのY軸方向の座標を計測する
には、もう1組の光センサを使用する必要があった。
又、従来の技術では、いずれも平行光線を作らなければ
ならず、第22図に示す光センサでは、ポリゴンミラー
PMを機械的に駆動する駆動装置やコリメータレンズC
M、受光レンズRし等多くの構成部品が必要とされ、か
つ大型化される問題があった。あるいは、第23図に示
す光センサでは、フィラメント光源FLから出射される
広がりの大きな光線を平行光線化するため、コリメータ
レンズCMが大型化される問題があった。
本発明は上記課題を解決することにより、測定領域にお
ける測定物のX−Y軸座標の計測ができ、しかも部品点
数が少なく、かつ小型化を達成することができる光セン
サの提供を目的とする。
[課題を解決するための手段]・ 上記目的を達成するための手段として、本発明の光セン
サは、放射状光を発光する光源と、上記放射状光の放射
中心から所定距離隔てるとともに、受光素子を連続的に
多数配設したライン状受光手段と、該ライン状受光手段
における個々の受光素子の受光状態を出力する出力手段
とを備えることを要旨とする。
[作用] 本発明の光センサは、光源が発光した放射状光がライン
状受光手段に受光され、出力手段がライン状受光手段に
おける個々の受光素子の受光状態を出力する。したがっ
て、光源から発光された放射状光がライン状受光手段に
受光されるまでの間に、例えば測定物が間を通ると、こ
の測定物によって放射状光が遮蔽され、この遮蔽状態が
出力手段から出力される。
つまり、出力手段から出力される遮蔽状態は、測定物の
X−Y軸座標および大きざを反映して、その出力状態が
決定される。例えば、外径が数値の測定物であれば、Y
軸方向の座標に対応して、ライン状受光手段における遮
蔽状態となる範囲の巾が決定され、X軸方向の座標に対
応して、ライン状受光手段にあける遮蔽状態となる範囲
の位置が決定される。
又、機械的駆動部品やコリメータレンズ、集光レンズ等
を用いることなく測定物の座標を反映したデータを出力
する。
「実施例] 次に図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
第1図は本実施例の光センサ1の構成図、第2図はその
発光部3の説明図、第3図は発光部3の構成図、第4図
および第5図は光センサ1の動作の説明図である。
光センサ1は、第1図に示すように発光部3と、受光部
5と、枠7とを備えている。
発光部3は、第3図に示すように、半導体レーザ素子9
と、凸レンズ11と、円柱レンズ13とを備えている。
半導体レーザ素子9は、レーザ光線を凸レンズ11に出
射する。凸レンズ11は、レーザ光線を真円平行光線に
して、円柱レンズ13に出射する。円柱レンズ13は、
入射した真円平行光線を一方向のみに放射状のスリット
光線にする。円柱レンズ13から出射されたスリット光
線は、第2図に示すように、発光部3の発光口15から
出射される。
受光部5は、第1図に示すように、発光部3の発光口1
5に対向する位置に配設されている。受光部5は、CO
Dリニアアレイセンサ17を備えている。CODリニア
アレイセンサ17は、発光口15から出射されたスリッ
ト光線の出射角が60°の範囲を受光する。CODリニ
アアレイセンサ17は、多数の受光素子を備え、各受光
素子が個々に発光部3から出射された放射状光線の光量
信号を出力する。
枠7は、正三角形状を有しており、1頂部に発光部3を
支持し、発光部3と対向する辺に受光部5を支持する。
上記枠7の1頂部は、発光部3が出射する放射状光線の
放射中心Sと一致するよう構成されている。
光センサ1は、次に示す構成上の特性を有する。
光センサ1は、第4図および第5図に示すような各部の
諸元を有するものとする。なあ、受光部5の表面をy軸
とし、受光部5の中心から放射中心5への垂線をy軸と
し、枠7に囲まれた@域内に半径dの円柱が入り、受光
部5上に光の入って来ない影の部分Sができたものとす
る。
・放射中心二〇点 ・原点: (0,O) ・高さ:h ・原点から影のできた位置までの距離:a、b・円柱M
(測定物)の半径:d ・0点から見た円柱Mへの接線:A、B・直線A、Bと
y軸のなす角:θa、θb・直線Aと平行で円柱Mの中
心(xo、yo)を通る直線:八′ ・直線Bと平行で円柱Mの中心(Xo、Vo)を通る直
線二B− とする。
このとき、CODの出力波形から、影Sの両端までの距
離a、bを求めると、円柱Mの中心座標(Xo、yo)
はそれぞれ次式で算出することができる。
ただし、θa、θbはaとbの符号によって次に示すよ
うに表される。
次に、aとbとの値開のθa、θbを示し、この場合に
(1)、(2>、(3)式が成立することを示す。
a=b=o    円柱Mは存在しない・・・(4)a
〉0゜ b>0の時 づ yニー登x+(h十−一) 睦 y=令” (h−co’5eb) 円柱Mの中心座標(X。
)は直線A′ 一の交点であるから(7) (8)式より yo→x□+(h十黒田) (9〉。
(10)式を解くと、 座標(Xo。
はそれぞれ次式の様に与えられる。
(9)。
(10)式はそのまま使用できる。
(9)。
(10)式はそのまま使用できる。
(9)。
(10)式はそのまま使用できる。
円柱Mはy軸上にある。
すなわち(1)〜(3)式と(5)(6)(14)〜(
19)により、hとdが既知の場合aとbがわかれば円
柱Mの中心座標(xo、yo)が算出できる。
次に、上述した光センサ1の構成上の特性を利用して、
光センサ1に入ってきた円柱Mの座標を計測して、出力
する第6図に示す様な構成の第1実施例の座標計測装置
21を説明する。
第6図は座標計測装置21の構成図、第7図は座標計測
処理のフローチャートである。
座標計測装置21は、第6図に示すように、光センサ1
と、演算ユニット23と、レーザ電源25と、キーボー
ド27と、表示部29とを備えている。レーザ電源25
は、半導体レーザ素子9に電源を供給する。演算ユニッ
ト23は、図示しないCPU、ROM、RAM、入出力
インタフェース等を有する。
演算ユニット23は、受光部5に接続されており、受光
部5から光量信号を入力する。第7図に示す座標計測処
理は、演算ユニット23によって起動され、実行される
。該ルーチンが起動されると、演算ユニット23は、キ
ーボード27から数値データとして、測定物Mの半径d
と、光センサの高さhと、長さ1とを入力する(ステッ
プ100、以後ステップをSと記す)。
数値データの入力が終了すると、次に原点から影のでき
た位置までの距離a、bの読み込みを行う(sllo)
。距離a、bの読み込みでは、受光部5から入力インタ
フェースを介して入力した光量信号から影の部分Sの境
界を検出し、この境界の位置をディジタル値に変換して
、変数としての距離a、bに代入する処理を行う。
次いで、距離aと距離すとがともにrOJか否を判断す
る(5120)。つまり、(4)式に対応するか否かを
判断する。ともに「0」であれば、測定物Mが存在しな
いと判断して、次の距離a。
bを読み込む(5110>。
ともに「0」でなければ、次に距離a、bより測定物M
の座標XO,yOを算出する(S130)。測定物Mの
座標Xo、Voの算出は既述した(1)〜く22)式に
基づいて行う。
座標Xo、Voの算出後、測定物Mの現在の座標Xo、
Voを表示部29に出力する。表示部29では、座標X
o、yoを光学表示する。
以後、5110〜5140の処理が繰り返され、測定物
Mの現在座標Xo、Voが表示される。
以上に説明した座標計測装置21は、測定物MのX−Y
座標を検出することができ、広い応用範囲を有するとい
う極めて優れた効果を奏する。そのうえ、この座標計測
装置21のセンサ部に当たる光センサ1は、部品点数が
少なくしかも小型であり、かつ機械的可動部分を有して
いないことから、スペース効率や信頼性の要求される種
々な部分に使用できるという優れた効果を有する。
なお、光センサ1は第1図に示した形状に限定されるも
のでなく、本発明の要旨内で放射状光線を出射する発光
部と、この発光部と所定距離隔てられて配設された受光
部5とを備えたものであれば、種々な態様に変形するこ
とが可能である。この場合には、受光部5の入射角が少
なくとも60°以上になるようにすると、受光部5にお
ける反射光が適切な値に抑えられる。例えば、第8図に
示すように、発光部3Aと、受光部5A、5Bと、四角
形の枠7Aとを有するものであってもよい。
なお、この場合には、受光部5A、5Bへの入射角が4
5°となり、受光部5A、5Bにおける反射光が増大す
るため、受光効率が悪くなる。そこでCODリニアアレ
イセンサ17Aの受光素子個々がそれぞれ入射角が60
”以上となるように形成すると良い。
又、受光部は光ファイバーをならべ、CCDセンサに光
を導く方法としても−よい。
次に、座標計測装置21の使用例を説明する。
第9図および第10図は移動物体31の位置を検出する
例を示す。第9図は平面図、第10図は正面図である。
図に示すように、移動物体31に1字状の位置検出棒3
3を固定し、この位置検出棒33の測定部35を光セン
サ、1 Bの測定領域に介装する。これにより、移動物
体31のX−Y軸座標が非接触で検出される。
第9図および第10図に示した使用例を応用することに
より、第11図および第12図に示すように、ドリルの
穴あけポイントの非接触座標位置制御を行うことができ
る。
次に第2実施例を説明する。第2実施例は、第1図に示
した光センサ1を重ねて用いるものである。
第13図は、光センサ1C11Dの外観図を示す。光セ
ンサ1Cは、発光部3Cと受光部5Cと枠7Cとを備え
る。光センサ1Dは、発光部3Dと、受光部5Dと、枠
7Dとを備える。
第14図は、光センサ1Cと光センサ1Dとの測定領域
が重なる様にし、かつ発光部3Cと発光部3Dとが12
0°回転した状態で重ねた光センサユニット41の外観
を示す。
次に光センサユニット41の構成上の特性を説明する。
光センサユニット41の測定領域に両センサ1C,1,
Dの光を同時に遮光する様な円柱Mが第15図のように
存在したとき、光センサ1Cの座標軸を第15図のよう
にx−y、光センサ1Dの座標軸をX−Yとして、各セ
ンサIC,ID上にできる影の端のX座標をa、b、a
=  b−とすると(1)〜(22)より各座標におけ
る円柱Mの座標が計算できる。
ここで、円柱Mの半径dも未知の場合、座標X−yにお
けるMの中心座標(Xo、Vo)はり。
a、bは既知でおるからdだけを未知とした式で表わさ
れ、この式を仮に xO=f (a、b、h、d)・・−(23>yo =
Q (a、b、h、d)−(24>とする。また座標X
−YにおけるMの中心座標を(Xo、Yo)とすると同
様にdだけを未知とする式 %式%(25) が求められる。ここで、点(Xo、Vo)と点(Xo、
Yo)とは、座標が異なるが位置的に同じである。ここ
で第16図に示すようにx−y座持ったものであるから
(27)、(28)式に示す数学的座標変換式より x=Xcos8−Ysinel+a++ (27)y=
Xsine+Ycoc8+b    −(28)センサ
1Cと10とを第16図の様に組み合わせた場合 (Xo。
O と (X。
Y。
)の関係は次式で (23)、(24)、(25>、(26>式は、先に述
べたように(1)〜(22)式よりdだけを未知のもの
として算出できるから(29)。
(30)式までを総合して、Xo、Vo、dが算出でき
る。
次に光センサ1C,IDを2つ重ね合わせた光センサユ
ニット41の使用例を説明する。第17図は、光センサ
1C,1Dの出力状態を示す。円柱Mtfi有効長の場
合、また球の場合に、これが光センサユニット41を通
過するときの影の立ち上がり時間の差から通過時間Tが
わかる。ここで光センサ1Cと1Dのレーザ光の平面間
距離もわかっているから、これをrLJとすると、通過
速度法に光センサユニット41に入って来た円柱Mの座
標(Xo、Vo)、半径d、通過速度■を出力する座標
計測装置51を説明する。
第18図は、座標計測装置51の構成を示し、第19図
は座標等計測処理のフローチャートを示す。座標計測装
置51は、第18図に示すように、光センサユニット4
1と、演算;ニット53と、レーザ電源55と、キーボ
ード57と、表示部59とを備えている。座標計測装置
51の各構成は、第6図に示した座標計測装置21とほ
ぼ同様の構成を有する。
演算ユニット53において、第19図に示す座標等計測
処理ルーチンが起動されると、キーボード57から読値
データとして光センサ1C,IDの高さhと長ざ1とを
入力する(s200>。
次いで原点から影のできた位置までの距離a。
b、a=、b=および通過時間jl*t2を読み込む(
s210>。これらは、光センサユニット51の各々の
光センサ1C,1Dからの光量信号に基づいて算出する
次に距離a、b、a、b−がすべてrOJであるか否か
を判断する(5220>。すべてrOJであれば、測定
領域に円柱Mが存在しないと判断して、次のa、b、a
−、b−、tl 、tlを読み込む(s210>。いず
れかが「0」でなければ、次に各処理を順次実行する。
まず、距離a、bより半径dを含んだ座標xO。
yoを(23>、(24)式のように算出する(s23
0>、又、距離a−,b−より半径dを含んだ座標Xo
、Yoを(24)、(25)式のように算出する(s2
40)。
次に、5230,5240で求めた値から(1)弐〜(
30)式を総合した所定の算出手順に基づいて、座標x
o、yoと、半径dとを算出しく5250>、表示部5
9で座標Xo、Voと、半径dとを表示する(s260
)。
又、5230,5240とほぼ同時に、時間t1、tl
より(31)式に基づいて、通過速[Vを算出しく52
70>、表示部59で通過速度Vを表示する(3280
>。
上述8210−3280が繰り返され、現時点における
座標Xo、yoと、半径dと、通過速度■とが繰り返し
算出される。
以上に説明した座標計測装置51は、円柱MのX−Y軸
座標と、半径dと、通過速度■とを検出することができ
、広い応用範囲を有するという極めて優れた効果を奏す
る。
次に、座標計測装置51の使用例を説明する。
第20図は光センサユニット41Aの平面図を示し、第
21図はその動作状態の説明図である。
光センサユニット41Aは、2個の光センサを重ね合わ
せて、測定領域を第20図の様に、エリアを3つに分け
る。このエリアの上方に球の吐き出しロア1,72.7
3をそれぞれ設ける。球の吐き出しロア1.72.73
から球Mが(Ml。
M2.M3)が落下して光センサ1F→光センサ1Eの
順に通過したとき、球Mの直径と、位置が算出できる。
これにより、どのエリアを通過したかがわかり、球Mの
分類及びカウントができる。
また光センサIF、と光センサ1Eとの通過した時間差
Tから落下速度もわかる。ただし球Mが2個以上同時に
通過する場合は使用できない。
又、第11図および第12図に光センサを重ねた光セン
サユニットを配設し、穴あけポイントの制御と、ドリル
寸法の確認とを両方とも行う構成とすることもできる。
[発明の効果] 本発明の光センサは、放射状光を発光する光源と、これ
を受光するライン状受光手段とを備えることから、光源
の出射光を大形のコリメータレンズや機械的動作をとも
なうポリゴンミラー等を用いて平行光を得ることなく座
標を反映したデータを出力する。又、1の光源とこれに
対向する1のライン状受光手段だけで測定物のX軸座標
の計測ができ、しかもY軸座標の計測もできる。
この結果、省スペース、部品点数の低減、およびX−Y
軸座標の計測が行なえる光センサが提供できるという極
めて優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は光センサ1の構成図、第2図は発光部3の説明
図、第3図は発光部3の構成図、第4図および第5図は
光センサ1の動作の説明図、第6図は座標計測装置21
の構成図、第7図は座標計測処理ルーチンのフローチャ
ート、第8図は光センサの変形例の構成図、第9図ない
し第12図は使用例の説明図、第13図および第14図
は光センサユニット41の構成図、第15図および第1
6図は光センサユニット41の動作の説明図、第17図
は光センサユニット41の動作のタイミングを示す説明
図、第18図は座標計測装置51の構成図、第19図は
座標等計測処理ルーチンのフローチャート、第20図お
よび第21図は光センサユニット41Aの使用例の説明
図、第22図および第23図は従来例の説明図である。 1、IB。 3.3A。 5.5A。 7.7A。 41.41 21.51 1C,1D、IE、IF・・・光センサ3C,3D・・
・発光部 58.5C,5D・・・受光部 7C,7D・・・枠 A・・・光センサユニット ・・・座標計測装置

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、放射状光を発光する光源と、 上記放射状光の放射中心から所定距離隔てるとともに、
    受光素子を連続的に多数配設したライン状受光手段と、 該ライン状受光手段における個々の受光素子の受光状態
    を出力する出力手段と を備える光センサ。
JP27001090A 1990-10-08 1990-10-08 光センサ Pending JPH04145306A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27001090A JPH04145306A (ja) 1990-10-08 1990-10-08 光センサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27001090A JPH04145306A (ja) 1990-10-08 1990-10-08 光センサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04145306A true JPH04145306A (ja) 1992-05-19

Family

ID=17480295

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27001090A Pending JPH04145306A (ja) 1990-10-08 1990-10-08 光センサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04145306A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002277211A (ja) * 2001-03-19 2002-09-25 Keyence Corp 光学測定装置
JP2012108028A (ja) * 2010-11-18 2012-06-07 Konica Minolta Holdings Inc 位置検出装置、位置検出方法、マイケルソン干渉計、およびフーリエ変換分光分析装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002277211A (ja) * 2001-03-19 2002-09-25 Keyence Corp 光学測定装置
JP4659996B2 (ja) * 2001-03-19 2011-03-30 株式会社キーエンス 光学測定装置
JP2012108028A (ja) * 2010-11-18 2012-06-07 Konica Minolta Holdings Inc 位置検出装置、位置検出方法、マイケルソン干渉計、およびフーリエ変換分光分析装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7489406B2 (en) Optical lens system and position measurement system using the same
JP5016245B2 (ja) 物体の六つの自由度を求めるための測定システム
US7009713B2 (en) Optical position measuring system using an interference pattern
EP0678189B1 (en) Determination of the surface properties of an object
US20050023448A1 (en) Position-detecting device
CN102759533A (zh) 晶圆检测方法以及晶圆检测装置
KR20010034488A (ko) 스캔 정정을 포함하여 물체 또는 패턴을 선택적으로스캔하기 위한 시스템 및 방법
JPH01253607A (ja) 材料面の表面あらさ検出装置
US4790660A (en) Shape measuring instrument
US7071460B2 (en) Optical non-contact measuring probe
JPH04145306A (ja) 光センサ
JPH0364816B2 (ja)
JPS6055211A (ja) 非接触三次元測定装置
JPS581120A (ja) テレセントリツク光線を発生する装置および物体の寸法または位置を測定する方法
JPH0334563B2 (ja)
JPS63222202A (ja) 距離・傾斜角測定装置
JPS62287107A (ja) 中心位置測定装置
JPS63231286A (ja) レ−ザビ−ムを用いた移動体の追尾距離測定装置
CN102341730A (zh) 非接触式测量距离和/或外形的装置和方法
JP2003097924A (ja) 形状測定装置および測定方法
JPH06221811A (ja) 光の二次元測定方法および表面粗さ測定方法と測定装置
JPH03192419A (ja) 光学式2次元座標入力装置及び座標入力用ペン
JPS59210310A (ja) 形状センサ
JP2008046022A (ja) 光学式測定方法及び光学式測定装置
JPH1031546A (ja) 座標入力装置