JPH04143094A - はんだ付け用フラックス - Google Patents

はんだ付け用フラックス

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JPH04143094A
JPH04143094A JP2263767A JP26376790A JPH04143094A JP H04143094 A JPH04143094 A JP H04143094A JP 2263767 A JP2263767 A JP 2263767A JP 26376790 A JP26376790 A JP 26376790A JP H04143094 A JPH04143094 A JP H04143094A
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皆原 初浩
Noriko Ikuta
生田 紀子
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、はんだ付け用フラックスに関するものである
。現在、はんだ付け後のプリント基板の洗浄はほとんど
フロンで行なってる。しがし、フロンはオゾン層破壊と
いう環境汚染問題をひきおこすために使用量か規制され
ており、近い将来まったく使用できなくなる。本発明は
、はんだ付け後のフランクス残渣かほとんど残らないの
で洗浄工程の必要かなく、従って、フロン規制に対応す
ることかでき、さらに、チエッカ−ピンによるはんた付
け不良の検査の際にも何ら支障なく不良を検査すること
かてきる、はんた付け用フラックスに関するものである
(従来の技術) ロジン等の天然樹脂や合成樹脂などにアミンのハロゲン
化水素酸塩や存機酸を数種添加したはんだ付け用フラッ
クスはよく知られている。しかし、現在使用されている
フラックスは樹脂成分を多く含むために、はんだ付け後
のプリント基板に多量の残渣か存在し、チエッカ−ビン
によるはんだ付け不良検査には洗浄工程なして使用する
ことはできない。しかも、現在はその洗浄剤であるフロ
ンにも環境問題に関して厳しい規制かなされており、フ
ロンによる洗浄か実施困難になってきている。
超低残渣タイプのはんだ付け用フラックスは、現在ても
数社で販売されているか、従来のロジンタイプのはんだ
付け用フラックスと比較すると、腐食や電気絶縁抵抗の
劣化を避けるためにははんだ付け性を犠牲にしているの
で、最近の表面実装技術における工程、たとえばリフロ
ーはんだ付けなとから受ける熱衝撃により劣化した銅面
や、はんだコート面に対して充分なはんだ付けか行えな
いのか現状である。
(本発明か解決しようとする問題点) 本発明はこれらの問題点、すなわち優れたはんだ付け性
を損なうことなく、フロン規制に対応するための無洗浄
化、さらには無洗浄でもチエッカ−ビンによるはんだ付
け不良検査を支障なく行うことかできる超低残渣化され
たはんた付け用フラックスを提供しようとするものであ
る。
(問題点を解決するための手段) 一般に有機酸は無機ハロゲン化塩や、アミン類のハロゲ
ン化水素酸塩などとはんだ付け性について比較すると、
かなり低い能力しか持たない。有機酸のはんだ付け性の
強さに対する構造活性相関は分子量(炭素数)か小さく
なるにつれはんだ付け性は増すものの、現在のフローは
んだ付け装置を用いるとはんだ付け前の予備加熱でほと
んとの有機酸が揮散してしまい、はんだ付け時には活性
力かほとんど得られなくなるために充分なはんだ付けか
行なわれないようになってしまう。逆に分子量か大きく
なるにつれて融点や沸点か上昇するので活性剤か予備加
熱で消失することはないか、はんだ付け後に余剰分か残
渣として残るばかりか、はんだ付け性向体もかなり低い
ものである。そこて、はんた付け温度てほとんと消失し
てしまうか、はんだ付け性を適度に持ち合わせている特
殊な有機酸を大量に添加することにより、有機酸自身か
それ自体の揮散を妨げるよう設計することで解決できる
有機酸としては脂肪族−級カルホン酸でも効果かあるか
、特にマロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、
ピメリン酸、スペリン酸、アセライン酸、セバシン酸な
との二塩基性カルボン酸、またはグリコール酸、乳酸、
ヒドロアクリル酸、オキシ酪酸、グリセリン酸、タルト
ロン酸、リンゴ酸、酒石酸、クエン酸その他なとのすキ
シ酸、さらにケトグルタル酸、ピルピン酸、ケ)・酪酸
、レブリン酸その他、なとのケトン酸か効果的であり、
このうちの一種または数種を組み合わせて、はんだ付け
用フラックスの0.1〜20重量%まで添加することか
できる。
しかし、有機酸は本来はんだ付け性か悪いうえに、流動
性も劣るため、フローはんだ付けに際してはんだとの置
き換わりか悪く、プリント基板のチップランドやスルー
ホールに対してはんだか濡れにくい状態となり、充分な
はんだ付けか行えない。そこて、我々は鋭意研究の結果
、前述の有機酸に正リン酸エステル、亜リン酸エステル
および次亜リン酸エステルのうちの一つまたはいくつか
の組み合わせを更に添加すると飛躍的にはんだ付け性か
向上することを見出して本発明を完成した。
これらリン系のエステル類を添加すると有機酸とよく相
溶し、流動性かよくなるため、プリント基板のスルーホ
ールへの毛細管現象による吸い上げや、フローはんだ付
け時のはんだとの置き換わりかよくなり、大量に添加し
た有機酸の弱い活性ではあるか、持続的な働きにより、
充分なはんだ付け性が得られるようになる。エステルと
しては正リン酸エステル、亜リン酸エステル、次亜リン
酸エステルのうちの一つまたは複数の組み合わせて00
1%〜10重量%まて添カロすることかてきる。
溶剤としてはイソプロピルアルコールか主に使用される
か、必要に応して、メタノール、エタノル、アセトン、
トルエン、酢酸エチル、エチルセロソルブ、ブチルセロ
ソルブその他なとの一般溶剤を適当量添加して使用する
こともてきる。このほか、これらの薬品類に適当な添加
剤たとえば、酸化防止剤、可塑剤、チクソ剤またはアミ
ンや四級アンモニウムなとのハロケン化水素酸塩その他
などを加えて使用することもてきる。
以上の条件を満足することにより、添加した薬品類は充
分なはんだ付け性を維持し、かつフローはんだ付け時の
熱やはんだのウェーブによってほとんとか分散、飛散、
流失し、はんだ付け後のプリント基板には残渣かはとん
と残らないのて、腐食性か無く、電気絶縁抵抗の低下を
伴わない。このような効果から、フロン洗浄を行なう必
要かないために、低コスト化につながるばかりか、フロ
ンによって引き起されるオゾン層の破壊も避けることが
できる。また、残渣かはとんと存在しないために、現在
はんだ付け不良検査の主流であるチエッカ−ピン検査に
おいてもピンの先端の接触を妨げないので、検査に支障
かなくなり、著しく生産性を向上することかできる。
以下に、本発明によるはんだ付け用フラックスの効果を
比較例および実施例によってさらに具体的に説明する。
その試験方法、試験基板および結果・第1表を以下に示
す。
(試験方法) 以下に示す0゜8mm厚、76.0X76.0mmの試
験基板を用い、噴流はんだ付け装置(フローソルダー)
で、スルーホールに対するはんだ付け性の評価を行なっ
た。
(試験基板) 0.8mmスルーホール、600穴/1枚N=10  
 (600,0穴) ガラス・エポキシ(G−10)基板1. 6mm厚に銅
スルーホール(25X24個、計600個)を形成し、
スルーホールおよびスルーホールラント部以外に熱硬タ
イプのソルダーレジストを印刷した基板。
(基板処理条件) アセトンで基板表面の油脂汚れをふきとり、硫酸−過酸
化水素水の混合水溶液て銅酸化物をエツチングした後、
150°C雰囲気の熱風炉で90m1n加熱して銅面に
均一な酸化銅皮膜を付けた基板を用いた。
(スルーホールはんだ付けの合格基準)第1図に示す図
はフローソルダーによるスルーホールへのはんだ付けの
状態を示し、合否基準を定めたものである。試験基板の
600穴を各々判定基準に従い合否を決め、金穴の何%
か合格基準に達しているかを、それぞれのはんだ付け用
フラックスの性能評価とした。第1図において上段は合
格、下段は不合格であり、合格の%によりスルーホール
へのはんだ付け性を示した。
(はんだ付け装置条件) ・ブレヒート      +30°C’  60m1n
・コンヘアースピード 1m/min ・はんだ温度     235℃ ・シングルウェーブ式噴流はんだ付け装置を使用した。
本発明によるはんた付け用フラックス(実施例1.2)
および従来タイプ(比較例1〜3)の組成および試験結
果を第1表に示す。比較例1.2では試験基板の条件が
厳しいにも関わらず、67または94%のはんだ付け率
であり、良好なはんだ付け性を示しているか、従来のロ
ジンタイプであるのて基板にはロジンか大量に存在して
おり、洗浄なしてはチエッカ−ピンによるはんだ付け不
良検査にまったく対応できない。残留イオン濃度も比較
例1,2では90.115 μgNa(J/5qinc
hと顕著に多いことかわかる。また比較例3ては本発明
に従った有機酸を配合しであるか、リン系のエステル類
を添加していないために、有機酸のはんだ付け能力だけ
では、はんだ付け状態かまったく合格基準値に達してい
ない。しかし、リン系のエステル類を添加した実施例1
および2てはハロゲンを含んでいないにも関わらずはん
だ付け率は従来のロジンタイプのものを上回り、飛躍的
な効果か現われ、はんだは100%揚かっている。
また、残留イオン濃度も実施例1.2は13および91
1 g / Na(J / sq i nchてあって
MIL規格の151t g /NaCf/sq 1nc
h以下を満足している。
(発明の効果) 本発明のはんだ付け用フラックスを使用することにより
、はんだ付け性か飛躍的に向上するばかりか、残渣かほ
とんとないために、フロンで洗浄する必要かなく、チエ
ッカ−ビンでのはんだ付け不良検査において全く支障か
おこらない。本発明のフラックスはこれらから優れた特
徴を有するために、現在環境問題から生じてきているフ
ロン規制に対応でき、洗浄に関わるコストダウンにつな
がり、はんだ付け不良検査かすみやかに行なえることか
ら、著しく生産性を向上させることかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図ははんだ付け用フラックスの性能の合否基準を示
す図である。 (ほか3名) くロ  ミ石 トζくロミ石 手続補正書 平成3年1月9日

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  二塩基性カルボン酸、オキシ酸、およびケトカルボン
    酸のうちの一つまたはそれ以上と、リン酸エステル、亜
    リン酸エステル、および次亜リン酸エステルのうちの一
    つまたはそれ以上を含有することを特徴とするはんだ付
    け用フラックス。
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