JPH04136732A - 漏水発生位置検出方式 - Google Patents

漏水発生位置検出方式

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JPH04136732A
JPH04136732A JP25717890A JP25717890A JPH04136732A JP H04136732 A JPH04136732 A JP H04136732A JP 25717890 A JP25717890 A JP 25717890A JP 25717890 A JP25717890 A JP 25717890A JP H04136732 A JPH04136732 A JP H04136732A
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新井 斉
Takeshi Arai
健 荒井
Fumio Sakata
文男 坂田
Nobuyoshi Yamazaki
宣悦 山崎
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Sakata Denki Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は2合成樹脂または合成ゴムシート或はアスファ
ルトなどの遮水膜を施設して造成された管理型終末処理
場における漏水発生位置検出方式(従来方式) 従来、遮水膜を用いた人工的な管理型終末処理場におい
ては、遮水膜に亀裂などの破損を生じて処理場内の汚染
液が漏水することがある。漏水が発生すると地下水汚染
や公害問題が発生するため。
定期的に遮水膜の点検を行い、遮水膜に破損が生しれば
漏水箇所を検出して適当な補修を行う必要かある。この
ような遮水膜の漏水発生位置を検出する方法としては、
遮水膜下側の地中に固定電極を設置するとともに、遮水
膜の上側の地表面に印加電極を配置し、固定電極と印加
電極間に電圧を印加することにより、印加電極から遮水
膜に向かって流れる電流によって生じる電位を浮遊コー
ドなどで接続された測定電極などを用いて所定間隔毎に
移動させながら多点測定を行い、各測定点における電位
から等電位曲線を描き、この等電位曲線の一部に乱れが
生じた場合にこの乱れの部分を漏水発生箇所として検出
する方式が用いられている。
なお漏水発生位置検出は遮水膜の底部の平坦部分の漏水
を検出するものであり1周囲の垂直部分に適用するもの
ではないので1本発明に於いて遮水膜とはその底部の平
坦部を指すものとする。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記従来の漏水発生位置検出方式では、
測定点の座標を正確に求めて測定電極を細かく移動させ
ながら測定しないと、i&水発生箇所の僅かな電位の乱
れが等電位曲線に現れないため、管理型終末処理場の面
積が大きい場合には電位測定点か膨大な数となり、測定
に相当に期間を要するという欠点かあった。
また、従来方式では電位測定を地表面で行うため、遮水
ンートか深い場合には地表面を流れる電流か減少するこ
とから地表面に生しる電位か微弱となり 漏水発生箇所
の検出が困難になるという欠点かあった。本発明は、こ
のような欠点のない新しい検出技術を提供することを目
的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明によれば、遮水膜を施設して造成された管理型終
末処理場に於いて、前記遮水膜の上側に平行に所定の間
隔で並べられた複数のワイヤ状電極と、該遮水膜の下側
に平行に前記上側のワイヤ状電極と直行するように所定
の間隔で並べられた複数のワイヤ状電極と、2相交流電
源と、この2相交流電源の交流電圧を前記上側及び下側
のワイヤ電極の各1本の任意の組に印加するための選択
手段と、該上側及び下側のワイヤ状電極間に流れる電流
を検出する電流検出回路とこの電流検出回路の出力を受
けて互いに位相が90度異なる検波位相で位相検波を行
う2つの位相検波回路と、この2つの位相検波回路の出
力を受けて差信号を出力する差動回路とを備え、前記内
側および外側のワイヤ状電極の組を順次選択して電極間
に流れる電流を2つの位相で位相検波を行い、遮水膜の
破損による漏水発生位置に近い電極の組合せになった際
に前記差動回路の出力が他の電極間の値よりも上昇する
ことから漏水発生位置を検出することを特徴とする漏水
発生位置検出方式か得られる。
(作用) 上記の方式に於ては、遮水膜の上側および下側に所定の
間隔でワイヤ状の電極を配置し、上下6461本を順次
選択して上下電極間に流れる電流を互いに90度異なる
位相で位相検波を行い、2つの検波信号の差分を測定す
ることにより、広範囲にわたる地中の遮水膜の破損位置
を検出することが口S能となる。
(実施例) 次に本発明による漏水発生位置検出方式について実施例
を図面を参照して説明する。
第1図は本発明による一実施例の構成を示すブロック図
である。この実施例に於て、遮水膜10の上側にはワイ
ヤ電極A1〜A5が、下側にはこれらとクロスしてワイ
ヤ電極B1〜B5が配置されている。2相交流電源11
の出力は、電力増幅回路12て電力増幅され、電流検出
回路13を通り、一方はSWセレクタ14を介して遮水
膜10の上側のワイヤ電極A1〜A5の内の選択された
1つに印加され、他方はSWセレクタ15を介して下側
のワイヤ電極81〜B5の内の選択された1つに印加さ
れる。遮水膜10に破損がない場合。
遮水膜の上下電極間に流れる電流は遮水膜の容量成分を
流れる電流となるため、2相交流電源11の出力に同期
した位相で検波を行う第1の位相検波回路16aの出力
は相対的に小さい値を出力することになり、主交流電源
と90度異なる位相で検波を行う第2の位相検波回路1
6bの出力は相対向に大きい値を出力する。一方、遮水
膜に破損か生しると破損箇所は電流が流れ易いことから
遮水膜上下のワイヤ電極の組合せの交点か破損箇所に近
い場合には第1の位相検波回路1.6 Hの出力か他の
組合せよりも相対的に大きい値を出力することになり、
第2の位相検波回路16bの出力は相対的に小さい値を
出力する。したがって、遮水膜10の上下の電極交点に
従って2つの位相検波回路の出力値の差分を表示すれば
、遮水膜の破損箇所に近い電極の組合せ交点のときに差
動回路19の出力は大きい値を示し、遮水膜の破損箇所
から電極の組合せ交点か離れるに従って差動回路の出力
か小さくなる傾向が表示されることになり漏水発生位置
を知ることが可能となる。
第2図は位相検波回路の出力をA/Dコンバータ17を
介してコンピュータ18に取り込み、スプライン関数で
処理した測定データを三次元表示したもので、遮水膜上
下の電極交点以外にピークか生じていることか分る。し
たがって、測定分解能は遮水膜上下のワイヤ電極設置間
隔よりも向上する二とになり、ワイヤ電極の設置間隔は
修理に必要な測定分解能の数倍の間隔て設置することか
可能となる。
(発明の効果) 以上の説明から明らかなように1本発明に於いては、管
理型終末処理場の遮水膜の上下に直行するワイヤ電極を
設置し、上下電極を順次選択して通電を行い1通電電流
を2相交流電源の互いに90度位相か異なる出力に同期
して位相検波を行い。
各電極間の組合せにおける差動回路の出力値を表示する
ことにより、遮水膜に生じた破損位置を短時間で知るこ
とができる。また本発明では遮水膜の直上に電極を配置
することから、処理場内で処理される廃棄物の種類によ
る電気的特性の違いや埋設される廃棄物の深さが検出精
度に影響しないという効果もある。したがって、経済的
に得られる効果が大きいだけでなく、早期に漏水発生位
置か検出でき、環境破壊を最小限に抑えられる等得られ
る効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す図、第2図はM1定デー
タを三次元表示した図である。 記号の説明:11は2相交流電源、12は電力増幅回路
、13は電流検出回路、14と15はSWセレクタ、1
6aは第1の位相検波回路 16bは第2の位相検波回
路、17はA/Dコンバータ、]8はコンピュータ、1
9は差動回路をそれぞれ表している。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、遮水膜を施設して造成された管理型終末処理場にお
    ける漏水発生位置の検出方式であって、前記遮水膜の上
    側に平行に所定の間隔で並べられた複数のワイヤ状電極
    と、該遮水膜の下側に平行に前記上側のワイヤ状電極と
    直行するように所定の間隔で並べられた複数のワイヤ状
    電極と、2相交流電源と、この2相交流電源の交流電圧
    を前記上側及び下側のワイヤ電極の各1本の任意の組に
    印加するための選択手段と、該上側及び下側のワイヤ状
    電極間に流れる電流を検出する電流検出回路と、この電
    流検出回路の出力を受けて互いに位相が90度異なる検
    波位相で位相検波を行う2つの位相検波回路と、この2
    つの位相検波回路の出力を受けて差信号を出力する差動
    回路とを備え、前記上側および下側のワイヤ状電極の組
    を順次選択して電極間に流れる電流を2つの位相で位相
    検波を行い、遮水膜の破損による漏水発生位置に近い電
    極の組合せになった際に前記差動回路の出力が他の電極
    間の値よりも上昇することから漏水発生位置を検出する
    ことを特徴とする漏水発生位置検出方式。
JP25717890A 1990-09-28 1990-09-28 漏水発生位置検出方式 Expired - Lifetime JPH07119663B2 (ja)

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JPH04136732A true JPH04136732A (ja) 1992-05-11
JPH07119663B2 JPH07119663B2 (ja) 1995-12-20

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5540085A (en) * 1993-11-30 1996-07-30 Sakata Denki Co., Ltd Method of measuring leakage position in impervious bottom sheet using electrodes mounted on both surfaces of the sheet and apparatus therefor
JP2003279434A (ja) * 2002-03-22 2003-10-02 Reideikku:Kk 漏水発生位置検出システム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5540085A (en) * 1993-11-30 1996-07-30 Sakata Denki Co., Ltd Method of measuring leakage position in impervious bottom sheet using electrodes mounted on both surfaces of the sheet and apparatus therefor
JP2003279434A (ja) * 2002-03-22 2003-10-02 Reideikku:Kk 漏水発生位置検出システム

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