JPH04122841A - 電子部品実装基板の観察方法 - Google Patents
電子部品実装基板の観察方法Info
- Publication number
- JPH04122841A JPH04122841A JP2244354A JP24435490A JPH04122841A JP H04122841 A JPH04122841 A JP H04122841A JP 2244354 A JP2244354 A JP 2244354A JP 24435490 A JP24435490 A JP 24435490A JP H04122841 A JPH04122841 A JP H04122841A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic component
- cameras
- check mark
- board
- brightness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 11
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 5
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Arrangement Of Elements, Cooling, Sealing, Or The Like Of Lighting Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は電子部品実装基板の観察装置に係り、電子部品
の外観検査の誤差の原因となる照度の変化やカメラ系の
異常を検出して、正常な画面状態に回復させるための手
段に関する。
の外観検査の誤差の原因となる照度の変化やカメラ系の
異常を検出して、正常な画面状態に回復させるための手
段に関する。
（従来の技術）
電子部品を基板に実装した後、電子部品の位置ずれ、欠
品、表裏反転等を検査する外観検査が行われる。このよ
うな外観検査は、一般に、電子部品実装基板に光源から
光を照射し、カメラにより検査エリア内の輝度分布を観
察することにより行われる。
品、表裏反転等を検査する外観検査が行われる。このよ
うな外観検査は、一般に、電子部品実装基板に光源から
光を照射し、カメラにより検査エリア内の輝度分布を観
察することにより行われる。
（発明が解決しようとする課Ｂ）
上記外観検査は、所定の照度の下で、検査エリア内の輝
度の範囲を設定し、この輝度範囲の分布量の大小により
、合否判定が行われる。
度の範囲を設定し、この輝度範囲の分布量の大小により
、合否判定が行われる。
ところが、光源は経時的に次第に劣化していくことから
、長時間外観検査を行っている間に照度は次第に低下し
、カメラに取り込まれる画像の輝度は変動することとな
って、検査精度に狂いを生じるようになる。
、長時間外観検査を行っている間に照度は次第に低下し
、カメラに取り込まれる画像の輝度は変動することとな
って、検査精度に狂いを生じるようになる。
そこで本発明は、上記のような従来手段の問題点を解消
できる電子部品実装基板の観察装置を提供することを目
的とする。
できる電子部品実装基板の観察装置を提供することを目
的とする。
（課題を解決するための手段）
本発明は、電子部品実装基板を観察するカメラと、この
電子部品実装基板へ光を照射する光源と、この電子部品
実装基板の近傍に配設されたチェックマークと、上記カ
メラにより観察されたチェックマークの輝度に基いて、
上記光源の明るさを調整する制御部とから電子部品実装
基板の観察装置を構成している。
電子部品実装基板へ光を照射する光源と、この電子部品
実装基板の近傍に配設されたチェックマークと、上記カ
メラにより観察されたチェックマークの輝度に基いて、
上記光源の明るさを調整する制御部とから電子部品実装
基板の観察装置を構成している。
（作用）
上記構成において、カメラにより電子部品実装基板を観
察する間に、このカメラにより適宜チェックマークを観
察してその輝度を検出する。
察する間に、このカメラにより適宜チェックマークを観
察してその輝度を検出する。
そして照度の低下やカメラ系の異常にともない、この輝
度が所定値以下に低下したならば、この輝度が設定値ま
で回復するように、光源の明るさを制御する。
度が所定値以下に低下したならば、この輝度が設定値ま
で回復するように、光源の明るさを制御する。
（実施例）
次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第１図は電子部品実装基板の観察装置の斜視図である。
１はＸＹ子テーブルあり、電子部品Ｐが実装された基板
２が載置されている。３は基板２をクランプして固定す
るクランパーである。このクランパー３には、チェック
マーク８が装着されている。このチェックマーク８は、
照度の変動を検出する為の基準ターゲットになるもので
あり、明灰色のプレートなどが使用される。
２が載置されている。３は基板２をクランプして固定す
るクランパーである。このクランパー３には、チェック
マーク８が装着されている。このチェックマーク８は、
照度の変動を検出する為の基準ターゲットになるもので
あり、明灰色のプレートなどが使用される。
４はトップカメラ、５はリング状のトップ光源であり、
上方から基板２に光を照射して、その反射光を観察する
。６ （６ａ〜６ｄ）は４方向に配設されたサイドカメ
ラ、７ （７３〜７ｄ）はサイド光源であり、基板２に
対して斜方向から光を照射して、斜方向から観察する。
上方から基板２に光を照射して、その反射光を観察する
。６ （６ａ〜６ｄ）は４方向に配設されたサイドカメ
ラ、７ （７３〜７ｄ）はサイド光源であり、基板２に
対して斜方向から光を照射して、斜方向から観察する。
９は各光源５．７に接続された制御部であって、光源５
．７の明るさを制御する。
．７の明るさを制御する。
この観察装置は、各々の光源５．７を選択的に点灯させ
ながら、各々のカメラ４，６により基板２を観察し、電
子部品Ｐの位置ずれ、欠品、表裏反転等の外観検査を行
う。この外観検査は、所定の照度の下で観察される対象
物の輝度の分布状態を測定し、検査輝度範囲の分布量を
合否判定基準値として予め設定し、カメラ４．６に取り
込まれた画像の検査範囲の分布量と、この合否判定基準
値を比較することにより行われる。
ながら、各々のカメラ４，６により基板２を観察し、電
子部品Ｐの位置ずれ、欠品、表裏反転等の外観検査を行
う。この外観検査は、所定の照度の下で観察される対象
物の輝度の分布状態を測定し、検査輝度範囲の分布量を
合否判定基準値として予め設定し、カメラ４．６に取り
込まれた画像の検査範囲の分布量と、この合否判定基準
値を比較することにより行われる。
このように、カメラ４．６により電子部品Ｐの外観検査
を行っている間に、時折、若しくは定期的に、チェック
マーク８を各カメラ４．６により観察する。この観察は
、ＸＹ子テーブルを駆動して、チェックマーク８をカメ
ラ４．６の視野に位置させることにより行う。勿論、チ
エ、クマーク８を固定し、カメラ４，６や光源５．７等
の光学系を移動させて、チェックマーク８を観察しても
よい、このチェックマーク８は、基板２と同一の照度条
件が得られるように、基板２の近傍に設けられている。
を行っている間に、時折、若しくは定期的に、チェック
マーク８を各カメラ４．６により観察する。この観察は
、ＸＹ子テーブルを駆動して、チェックマーク８をカメ
ラ４．６の視野に位置させることにより行う。勿論、チ
エ、クマーク８を固定し、カメラ４，６や光源５．７等
の光学系を移動させて、チェックマーク８を観察しても
よい、このチェックマーク８は、基板２と同一の照度条
件が得られるように、基板２の近傍に設けられている。
第２図は、カメラ４，６に観察されたチェックマーク８
の輝度のヒストグラムである０図中、ａで示すヒストグ
ラムは、上記所定の照度の下で検出されたものである。
の輝度のヒストグラムである０図中、ａで示すヒストグ
ラムは、上記所定の照度の下で検出されたものである。
ところが、時間の経過とともに、光源５．７は次第に劣
化して照度は低下する。図中、ｂで示すヒストグラムは
、照度が低下した場合のチェックマーク８の輝度のヒス
トグラムである。このように輝度が低下すると、上記外
観検査に誤差を生じる。
化して照度は低下する。図中、ｂで示すヒストグラムは
、照度が低下した場合のチェックマーク８の輝度のヒス
トグラムである。このように輝度が低下すると、上記外
観検査に誤差を生じる。
そこで、図示するように検査可能範囲を設定しておき、
ヒストグラムが検査可能範囲以下に低下して、チェック
マーク８が暗く観察されるようになったならば、光源５
．７への給電量を増大させて、画面輝度を所定値まで回
復させる。
ヒストグラムが検査可能範囲以下に低下して、チェック
マーク８が暗く観察されるようになったならば、光源５
．７への給電量を増大させて、画面輝度を所定値まで回
復させる。
勿論、画面輝度の低下は、ブザーやランプなどの警報素
子により報知するようにしてもよい。
子により報知するようにしてもよい。
第３図は、照度の経時変化を示すものであって、図中、
イは光源５，７の劣化による照度の低下を示している。
イは光源５，７の劣化による照度の低下を示している。
また口は、上記のように光源５．７への給電量を増大さ
せることにより、照度を回復させた場合を示している。
せることにより、照度を回復させた場合を示している。
このように、照度が低下したならば、速かに照度を回復
させることにより、検出精度の狂いを解消できる。
させることにより、検出精度の狂いを解消できる。
このような照度の回復は、各々の光源別に、個別に行わ
れる。殊に本手段は、光源５．７の明るさを照度センサ
ーなどにより直接検出せずに、基板２の近傍にチェック
マーク８を格別に設け、このチェックマーク８を観察す
ることにより、画面輝度の低下を検出するようにしてい
るので、カメラ４．６の異常等の光源５．７の劣化以外
の原因により画面輝度が低下した場合にも、光学系に異
常があるものとして、照度の調整を行える長所を有する
。
れる。殊に本手段は、光源５．７の明るさを照度センサ
ーなどにより直接検出せずに、基板２の近傍にチェック
マーク８を格別に設け、このチェックマーク８を観察す
ることにより、画面輝度の低下を検出するようにしてい
るので、カメラ４．６の異常等の光源５．７の劣化以外
の原因により画面輝度が低下した場合にも、光学系に異
常があるものとして、照度の調整を行える長所を有する
。
（発明の効果）
以上説明したように本発明は、電子部品実装基板を観察
するカメラと、この電子部品実装基板へ光を照射する光
源と、この電子部品実装基板の近傍に配設されたチェッ
クマークと、上記カメラにより観察されたチェックマー
クの輝度に基いて、上記光源の明るさを調整する制御部
とから電子部品実装基板の観察装置を構成しているので
、カメラや光源などの光学系の異常による画面輝度の低
下を速かに検出し、照度を設定値まで回復させて、精度
よく外観検査を行うことができる。
するカメラと、この電子部品実装基板へ光を照射する光
源と、この電子部品実装基板の近傍に配設されたチェッ
クマークと、上記カメラにより観察されたチェックマー
クの輝度に基いて、上記光源の明るさを調整する制御部
とから電子部品実装基板の観察装置を構成しているので
、カメラや光源などの光学系の異常による画面輝度の低
下を速かに検出し、照度を設定値まで回復させて、精度
よく外観検査を行うことができる。
図は本発明の実施例を示すものであって、第１図は観察
装置の斜視図、第２図は輝度のヒストグラム図、第３図
は照度の経時変化図である。 ２・・・基板 ４．６・・・カメラ ５．７・・・光源 ８・・・チェックマーク ９・・・制御部
装置の斜視図、第２図は輝度のヒストグラム図、第３図
は照度の経時変化図である。 ２・・・基板 ４．６・・・カメラ ５．７・・・光源 ８・・・チェックマーク ９・・・制御部
Claims (1)
- 電子部品実装基板を観察するカメラと、この電子部品
実装基板へ光を照射する光源と、この電子部品実装基板
の近傍に配設されたチェックマークと、上記カメラによ
り観察されたチェックマークの輝度に基いて、上記光源
の明るさを調整する制御部とから成ることを特徴とする
電子部品実装基板の観察装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02244354A JP3134300B2 (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 電子部品実装基板の観察方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02244354A JP3134300B2 (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 電子部品実装基板の観察方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04122841A true JPH04122841A (ja) | 1992-04-23 |
| JP3134300B2 JP3134300B2 (ja) | 2001-02-13 |
Family
ID=17117455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02244354A Expired - Fee Related JP3134300B2 (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 電子部品実装基板の観察方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3134300B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5443574A (en) * | 1993-05-26 | 1995-08-22 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Liquid-sealing type vibration-isolating device |
| US5620168A (en) * | 1996-01-02 | 1997-04-15 | Tokai Rubber Industries, Ltd. | Fluid-filled elastic mount having orifice passage control rotary valve connected to drive rod at radial position offset from rotation axis of the valve |
| US6375172B1 (en) * | 1998-06-25 | 2002-04-23 | Mannesmann Boge Gmbh | Hydraulically-damping engine bearing |
| JP2005121925A (ja) * | 2003-10-17 | 2005-05-12 | Jfe Steel Kk | 画像処理装置の異常の判定方法 |
| JP2010002304A (ja) * | 2008-06-20 | 2010-01-07 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
| JP2011146619A (ja) * | 2010-01-18 | 2011-07-28 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | 搭載カメラのチェック方法、搭載カメラのチェックプログラム、および、搭載カメラのチェック機能を有する電子部品装着装置 |
| CN105675129A (zh) * | 2014-12-05 | 2016-06-15 | 矢崎总业株式会社 | 检查装置和照度监视装置 |
| JP2016109552A (ja) * | 2014-12-05 | 2016-06-20 | 矢崎総業株式会社 | 検査装置及び照度監視装置 |
-
1990
- 1990-09-14 JP JP02244354A patent/JP3134300B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5443574A (en) * | 1993-05-26 | 1995-08-22 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Liquid-sealing type vibration-isolating device |
| US5620168A (en) * | 1996-01-02 | 1997-04-15 | Tokai Rubber Industries, Ltd. | Fluid-filled elastic mount having orifice passage control rotary valve connected to drive rod at radial position offset from rotation axis of the valve |
| US6375172B1 (en) * | 1998-06-25 | 2002-04-23 | Mannesmann Boge Gmbh | Hydraulically-damping engine bearing |
| JP2005121925A (ja) * | 2003-10-17 | 2005-05-12 | Jfe Steel Kk | 画像処理装置の異常の判定方法 |
| JP4649828B2 (ja) * | 2003-10-17 | 2011-03-16 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 画像処理装置の異常の判定方法 |
| JP2010002304A (ja) * | 2008-06-20 | 2010-01-07 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
| JP2011146619A (ja) * | 2010-01-18 | 2011-07-28 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | 搭載カメラのチェック方法、搭載カメラのチェックプログラム、および、搭載カメラのチェック機能を有する電子部品装着装置 |
| CN105675129A (zh) * | 2014-12-05 | 2016-06-15 | 矢崎总业株式会社 | 检查装置和照度监视装置 |
| JP2016109558A (ja) * | 2014-12-05 | 2016-06-20 | 矢崎総業株式会社 | 検査装置及び照度監視装置 |
| JP2016109552A (ja) * | 2014-12-05 | 2016-06-20 | 矢崎総業株式会社 | 検査装置及び照度監視装置 |
| CN105675129B (zh) * | 2014-12-05 | 2019-02-05 | 矢崎总业株式会社 | 检查装置和照度监视装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3134300B2 (ja) | 2001-02-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5245421A (en) | Apparatus for inspecting printed circuit boards with surface mounted components | |
| KR101245148B1 (ko) | 영상 선명도가 개선된 비전검사장치 | |
| US5883663A (en) | Multiple image camera for measuring the alignment of objects in different planes | |
| JPH04122841A (ja) | 電子部品実装基板の観察方法 | |
| WO2001073411A1 (fr) | Procede et dispositif d'inspection de trous de passage | |
| JP3519813B2 (ja) | 欠陥検出方法及び欠陥検出装置 | |
| KR101556056B1 (ko) | 인쇄 회로 기판 검사용 디지털 광원 처리 프로젝터 | |
| KR102242093B1 (ko) | 메탈 마스크 검사 장치 | |
| JP2917117B2 (ja) | プリント基板における作業位置座標算出方法およびその装置 | |
| JP2648476B2 (ja) | 部品の検出装置 | |
| JPH02216408A (ja) | 基板検査装置 | |
| KR20200103248A (ko) | 외부환경대응형 제품 비전검사장치 | |
| CN209069843U (zh) | 电路板侧边层偏检测机 | |
| JPH01248616A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP2781022B2 (ja) | はんだ付外観検査装置 | |
| JP3379995B2 (ja) | 塗布剤の塗布装置 | |
| US11410297B2 (en) | Method of verifying fault of inspection unit, inspection apparatus and inspection system | |
| JPH03245548A (ja) | 半田付け検査装置 | |
| JPH03123841A (ja) | 小径孔の検査方法および装置 | |
| JP2629280B2 (ja) | 電子部品の半田部の外観検査方法 | |
| JPS6138537A (ja) | カラ−フイルタ−検査方法 | |
| JPH01309190A (ja) | 検査装置 | |
| JPH0399249A (ja) | 電子部品のリード検査方法及びその装置 | |
| JPH0429348A (ja) | 部品装着検査装置 | |
| JPH0739938B2 (ja) | 伸び計 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |