JPH0412081A - 3―v族化合物単結晶の製造方法 - Google Patents
3―v族化合物単結晶の製造方法Info
- Publication number
- JPH0412081A JPH0412081A JP11024090A JP11024090A JPH0412081A JP H0412081 A JPH0412081 A JP H0412081A JP 11024090 A JP11024090 A JP 11024090A JP 11024090 A JP11024090 A JP 11024090A JP H0412081 A JPH0412081 A JP H0412081A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crucible
- crystal
- seed crystal
- single crystal
- compound
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 91
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 title claims abstract description 22
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 5
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 22
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 38
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 abstract description 13
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 7
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 abstract description 7
- GHYOCDFICYLMRF-UTIIJYGPSA-N (2S,3R)-N-[(2S)-3-(cyclopenten-1-yl)-1-[(2R)-2-methyloxiran-2-yl]-1-oxopropan-2-yl]-3-hydroxy-3-(4-methoxyphenyl)-2-[[(2S)-2-[(2-morpholin-4-ylacetyl)amino]propanoyl]amino]propanamide Chemical compound C1(=CCCC1)C[C@@H](C(=O)[C@@]1(OC1)C)NC([C@H]([C@@H](C1=CC=C(C=C1)OC)O)NC([C@H](C)NC(CN1CCOCC1)=O)=O)=O GHYOCDFICYLMRF-UTIIJYGPSA-N 0.000 abstract description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 229940125797 compound 12 Drugs 0.000 abstract description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 2
- 230000000384 rearing effect Effects 0.000 abstract 3
- 238000009736 wetting Methods 0.000 abstract 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 5
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 5
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 5
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 2
- -1 GaAs compound Chemical class 0.000 description 1
- QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N aqua regia Chemical compound Cl.O[N+]([O-])=O QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000002932 luster Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、結晶育成容器内で原料を融解し、続いて縦型
成長法により化合物単結晶を育成する■−V族化合物単
結晶の製造方法に関する。
成長法により化合物単結晶を育成する■−V族化合物単
結晶の製造方法に関する。
GaAsなとの化合物単結晶の育成は、これまで引上法
や、横型ポート法により行われてきているが、引上法で
は円形ウェハを得られるが低転位密度化が難しく、横型
ボート法では低転位密度単結晶を得られるが円形ウェハ
を歩留り良く得られないといった問題がある。低転位密
度単結晶が得られ、しかも円形ウェハを歩留り良く得ら
れる方法として、縦型成長法が近年注目され、実用化さ
れつつある。
や、横型ポート法により行われてきているが、引上法で
は円形ウェハを得られるが低転位密度化が難しく、横型
ボート法では低転位密度単結晶を得られるが円形ウェハ
を歩留り良く得られないといった問題がある。低転位密
度単結晶が得られ、しかも円形ウェハを歩留り良く得ら
れる方法として、縦型成長法が近年注目され、実用化さ
れつつある。
ルツボ底に種結晶をおき、下方から上方へ融液を固化さ
せていく縦型成長法には、ルツボを高温部から低温部へ
移動することにより結晶育成がなされる垂直ブリッジマ
ン法と、温度勾配をほぼ一定に保ったまま徐々に降温す
ることにより結晶育成がなされる垂直温度勾配法がある
。これらの縦型成長法では、胴部が円筒形、底部が円錐
形をなし、種結晶を収容するポケットが底部最深部に連
通したルツボが用いられる。
せていく縦型成長法には、ルツボを高温部から低温部へ
移動することにより結晶育成がなされる垂直ブリッジマ
ン法と、温度勾配をほぼ一定に保ったまま徐々に降温す
ることにより結晶育成がなされる垂直温度勾配法がある
。これらの縦型成長法では、胴部が円筒形、底部が円錐
形をなし、種結晶を収容するポケットが底部最深部に連
通したルツボが用いられる。
以下、■−V族化合物の代表的なGaAs単結晶を縦型
成長法により育成する場合を例として説明する。ルツボ
底に連通したポケットに特定の方位をもつ種結晶をおき
、あらかしめ合成しておいたGaAs原料を入れ、As
圧を印加するか、液体封止剤B2O3で上方を覆って炉
内に不活性ガスを封入するかして、GaAs原料を融解
しさらに種結晶上部を融解して種付けを行い、結晶育成
が行われる。この従来の縦型成長法による結晶製造法は
、化合物原料の合成工程と、結晶育成工程の2段階の工
程を経なければならないため、結晶育成炉内で化合物を
合成する直接合成法が可能な液体封止引上法に比べて、
単体原料から化合物単結晶を得るまでに要する時間が長
く、生産性が劣る欠点がある。
成長法により育成する場合を例として説明する。ルツボ
底に連通したポケットに特定の方位をもつ種結晶をおき
、あらかしめ合成しておいたGaAs原料を入れ、As
圧を印加するか、液体封止剤B2O3で上方を覆って炉
内に不活性ガスを封入するかして、GaAs原料を融解
しさらに種結晶上部を融解して種付けを行い、結晶育成
が行われる。この従来の縦型成長法による結晶製造法は
、化合物原料の合成工程と、結晶育成工程の2段階の工
程を経なければならないため、結晶育成炉内で化合物を
合成する直接合成法が可能な液体封止引上法に比べて、
単体原料から化合物単結晶を得るまでに要する時間が長
く、生産性が劣る欠点がある。
縦型成長法で化合物を直接合成し、単結晶を製造する方
法が、特開昭63−270379号公報に提案されてい
る。この方法は、液止め栓を種結晶収容ポケット内の種
結晶の上においた状態でAs圧を制御しつつGaAsを
合成し、その後種結晶を下から押し上げて前記液止め栓
を融液内に放出し、融液面に浮上させることにより融液
と種結晶を接触させて種付けを行い、結晶を育成すると
いうものである。
法が、特開昭63−270379号公報に提案されてい
る。この方法は、液止め栓を種結晶収容ポケット内の種
結晶の上においた状態でAs圧を制御しつつGaAsを
合成し、その後種結晶を下から押し上げて前記液止め栓
を融液内に放出し、融液面に浮上させることにより融液
と種結晶を接触させて種付けを行い、結晶を育成すると
いうものである。
この方法では、種結晶を保護しつつ化合物を直接合成で
きるが、種結晶を押し上げる押し上げ棒や、その駆動軸
が必要であり、装置が従来のものより複雑になる。また
、液止め栓が融液上方に浮いているため、上方では単結
晶が得られなくなることが考えられる。
きるが、種結晶を押し上げる押し上げ棒や、その駆動軸
が必要であり、装置が従来のものより複雑になる。また
、液止め栓が融液上方に浮いているため、上方では単結
晶が得られなくなることが考えられる。
縦型成長法で化合物原料を直接合成することにより、生
産性よく単結晶を製造することは容易ではない。また、
既に提案されている上記方法では、装置が従来のものよ
り複雑になり、単結晶化率の低下が予想される。
産性よく単結晶を製造することは容易ではない。また、
既に提案されている上記方法では、装置が従来のものよ
り複雑になり、単結晶化率の低下が予想される。
本発明は、縦型成長法で装置を特に複雑化することなく
、化合物原料の直接合成を行い、生産性良く単結晶を育
成し得る方法を提供するものである。
、化合物原料の直接合成を行い、生産性良く単結晶を育
成し得る方法を提供するものである。
この目的を達成するため本発明の方法は、種結晶として
ルツボ底部に密接する形状の円錐部と、ルツボ底部に連
通したポケットに収容可能な突起部とからなる単結晶を
用い、単結晶育成炉内で化合物を直接合成し、融解した
後、前記種結晶を前記ポケット部上端部まで融解させて
から、単結晶を育成する点に特徴がある。
ルツボ底部に密接する形状の円錐部と、ルツボ底部に連
通したポケットに収容可能な突起部とからなる単結晶を
用い、単結晶育成炉内で化合物を直接合成し、融解した
後、前記種結晶を前記ポケット部上端部まで融解させて
から、単結晶を育成する点に特徴がある。
本発明法を実施するには、第1図に示すように、材質が
石英またはpBNであるルツボ1内に、種結晶2、As
原料3、Ga原料4及び液体封止剤B2O33を順に装
入する。種結晶2の形状は、その上部がルツボ底に密接
する円錐形をなし、その下部にポケットに収容可能な円
柱形または角柱形の突起を有する。このルツボを第2図
に示す如き垂直ブリッジマン炉6内にセットし、不活性
ガスを充てんした後昇温を開始する。
石英またはpBNであるルツボ1内に、種結晶2、As
原料3、Ga原料4及び液体封止剤B2O33を順に装
入する。種結晶2の形状は、その上部がルツボ底に密接
する円錐形をなし、その下部にポケットに収容可能な円
柱形または角柱形の突起を有する。このルツボを第2図
に示す如き垂直ブリッジマン炉6内にセットし、不活性
ガスを充てんした後昇温を開始する。
この垂直ブリッジマン炉6は、前記ルツボ1を収容する
サセプター7と、このサセプター7を回転させつつ昇降
するシャフト8、サセプター7を囲むように配置され、
温度分布を制御するため複数組に分割されたヒーター9
及び該ヒーター9を囲む保温材10とを高圧容器11内
に収納した構造になっている。先ず始めに、ルツボ内部
において第3図(A)に示すようにGa3が融解し、続
いてB20:l 5が軟化する。Ga融液3はルツボと
の濡れ性が悪いが、B2O35はルツボとの濡れ性が良
いため、ルツボ内壁をB2O3が覆い、円錐形のルツボ
底部の種結晶とルツボ内壁の間にもB2O3が入り、G
a融液は入り込まない。約1000°CでGaとAsの
合成反応が起こり、GaAs化合物12が生成し、さら
に昇温すれば全体がGaAs融液となる。この後第4図
(A)に示すように種結晶をポケット部上端部まで融解
し、従来の縦型成長法の種付けと同様の状態とし、結晶
育成を開始する。本発明で用いる種結晶は同じ形状のル
ツボで育成した単結晶から切り出せば繰り返し使用する
ことが可能である。
サセプター7と、このサセプター7を回転させつつ昇降
するシャフト8、サセプター7を囲むように配置され、
温度分布を制御するため複数組に分割されたヒーター9
及び該ヒーター9を囲む保温材10とを高圧容器11内
に収納した構造になっている。先ず始めに、ルツボ内部
において第3図(A)に示すようにGa3が融解し、続
いてB20:l 5が軟化する。Ga融液3はルツボと
の濡れ性が悪いが、B2O35はルツボとの濡れ性が良
いため、ルツボ内壁をB2O3が覆い、円錐形のルツボ
底部の種結晶とルツボ内壁の間にもB2O3が入り、G
a融液は入り込まない。約1000°CでGaとAsの
合成反応が起こり、GaAs化合物12が生成し、さら
に昇温すれば全体がGaAs融液となる。この後第4図
(A)に示すように種結晶をポケット部上端部まで融解
し、従来の縦型成長法の種付けと同様の状態とし、結晶
育成を開始する。本発明で用いる種結晶は同じ形状のル
ツボで育成した単結晶から切り出せば繰り返し使用する
ことが可能である。
また、種結晶上部のルツボ底に密接する円錐形状部は、
ポケットに収容される突起部とは別体としてもよい。こ
の場合、円錐形状部は多結晶体であっても良(、同形状
のルツボ内で単に熔融固化させた結晶を切り出したもの
を使用できる。
ポケットに収容される突起部とは別体としてもよい。こ
の場合、円錐形状部は多結晶体であっても良(、同形状
のルツボ内で単に熔融固化させた結晶を切り出したもの
を使用できる。
従来の縦型成長法で、化合物原料の直接合成を行おうと
すると、昇温過程で最初にGaが融解し、Ga融液が種
結晶と接触する。さらに昇温が進むとGa融液が種結晶
から構成元素であるAsを奪い、種結晶が劣化する。従
って、単結晶が得られなくなる。
すると、昇温過程で最初にGaが融解し、Ga融液が種
結晶と接触する。さらに昇温が進むとGa融液が種結晶
から構成元素であるAsを奪い、種結晶が劣化する。従
って、単結晶が得られなくなる。
本発明によれば、種結晶上部がルツボ底と密接する円錐
形をなし、ルツボ内壁との隙間が小さいため、GaAs
合成前にルツボと濡れ性の悪いGaがまわりこんで下部
のポケット内の種結晶と接触することはない。種結晶上
部は上記従来の場合と同様にAsがGaに奪われて劣化
するが、劣化した種結晶上部は、GaAs原料を直接合
成した後、結晶育成開始前に、融解させてしまうので、
化合物原料の直接合成による種結晶の劣化の問題はなく
、単結晶の育成が行える。
形をなし、ルツボ内壁との隙間が小さいため、GaAs
合成前にルツボと濡れ性の悪いGaがまわりこんで下部
のポケット内の種結晶と接触することはない。種結晶上
部は上記従来の場合と同様にAsがGaに奪われて劣化
するが、劣化した種結晶上部は、GaAs原料を直接合
成した後、結晶育成開始前に、融解させてしまうので、
化合物原料の直接合成による種結晶の劣化の問題はなく
、単結晶の育成が行える。
第1図≠衾手に示したような形状のpBNルツボにGa
As種結晶、As380 g+ Ga350 g、 B
z0350gの順に装入し、垂直ブリッジマン炉にセッ
トした。用いた種結晶は同じルツボで育成した単結晶か
ら切り出し、王水でエツチングしたものである。ポケッ
トから上のルツボ底に密接する種結晶上部の厚さは約2
0mmである。第3図(B)の温度分布となるように昇
温を行い、GaAsを直接合成した。その後、ルツボを
3mm/時の速度で上昇させて種結晶上部をポケット内
深さ約5mmの位置まで融解し、種付けを行った。この
時の温度分布は第4図(B)に示すとおりである。この
後は通常の垂直ブリッジマン法と同様であリルッポを3
mm/hの速度で下降させることにより結晶育成を行っ
た。
As種結晶、As380 g+ Ga350 g、 B
z0350gの順に装入し、垂直ブリッジマン炉にセッ
トした。用いた種結晶は同じルツボで育成した単結晶か
ら切り出し、王水でエツチングしたものである。ポケッ
トから上のルツボ底に密接する種結晶上部の厚さは約2
0mmである。第3図(B)の温度分布となるように昇
温を行い、GaAsを直接合成した。その後、ルツボを
3mm/時の速度で上昇させて種結晶上部をポケット内
深さ約5mmの位置まで融解し、種付けを行った。この
時の温度分布は第4図(B)に示すとおりである。この
後は通常の垂直ブリッジマン法と同様であリルッポを3
mm/hの速度で下降させることにより結晶育成を行っ
た。
得られた結晶は、単結晶であり、ポケット内の種結晶は
金属光沢をし、特に劣化は認められず、従来のあらかじ
め合成した原料を用いた場合と同様であった。
金属光沢をし、特に劣化は認められず、従来のあらかじ
め合成した原料を用いた場合と同様であった。
本発明により、縦型成長法により装置を特に複雑なもの
にしなくても結晶育成炉内で化合物の直接合成を行って
、単結晶が得られるようになり、生産性が向上した。
にしなくても結晶育成炉内で化合物の直接合成を行って
、単結晶が得られるようになり、生産性が向上した。
縦型成長法で育成した結晶のルツボ底の円錐形状部は、
所望の径を有するウェハを得られないため従来はスクラ
ップとなっていたが、本発明によりルツボ底の円錐形状
部までを種結晶として繰り返し使用することになったた
め、使用原料重量に対する製品重量の割合が高くなり、
歩留りも向上した。
所望の径を有するウェハを得られないため従来はスクラ
ップとなっていたが、本発明によりルツボ底の円錐形状
部までを種結晶として繰り返し使用することになったた
め、使用原料重量に対する製品重量の割合が高くなり、
歩留りも向上した。
なお、本発明の方法は、化合物原料を結晶育成容器内で
直接合成する場合にのみならず、あらかじめ合成してお
いた化合物原料を用いる場合にも適用し得ることは言う
までもない。
直接合成する場合にのみならず、あらかじめ合成してお
いた化合物原料を用いる場合にも適用し得ることは言う
までもない。
第1図は、本発明におけるルツボに種結晶原料B20.
を装入した状態、第2図は垂直ブリッジマン炉の概念図
、第3図(A)はGaAs原料の直接合成が開始した状
態、第3図(B)はその時の温度分布、第4図(A)は
結晶育成を開始する状態、第4図(B)はその時の温度
分布を示す。 1・・・ルツボ、2・・・種結晶、3・・・As原料、
4・・・Ga原料、訃・・B2O3,6・・・ブリッジ
マン炉、7・・・サセプター、8・・・シャフト、9・
・・ヒーター 10・・・保温材、11・・・高圧容器
、12・・・GaAs化合物。
を装入した状態、第2図は垂直ブリッジマン炉の概念図
、第3図(A)はGaAs原料の直接合成が開始した状
態、第3図(B)はその時の温度分布、第4図(A)は
結晶育成を開始する状態、第4図(B)はその時の温度
分布を示す。 1・・・ルツボ、2・・・種結晶、3・・・As原料、
4・・・Ga原料、訃・・B2O3,6・・・ブリッジ
マン炉、7・・・サセプター、8・・・シャフト、9・
・・ヒーター 10・・・保温材、11・・・高圧容器
、12・・・GaAs化合物。
Claims (1)
- 逆円錐形の底部を有し、該底部最深部に種結晶を収容
するポケットを有するルツボ内で、原料を融解させた後
、下方から徐々に冷却して化合物単結晶を育成する縦型
成長法において、前記底部に密接する形状の円錐部と前
記ポケットに収納可能な突起部とからなる単結晶を種結
晶とし、単結晶育成炉内で化合物を合成し、融解した後
、前記種結晶を前記ポケット部上端部まで融解させてか
ら、単結晶を育成することを特徴とするIII−V族化合
物単結晶の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11024090A JPH0412081A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 3―v族化合物単結晶の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11024090A JPH0412081A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 3―v族化合物単結晶の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0412081A true JPH0412081A (ja) | 1992-01-16 |
Family
ID=14530662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11024090A Pending JPH0412081A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 3―v族化合物単結晶の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0412081A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1013801A1 (en) * | 1998-12-21 | 2000-06-28 | PIRELLI CAVI E SISTEMI S.p.A. | Process and apparatus for synthesizing and growing crystals |
-
1990
- 1990-04-27 JP JP11024090A patent/JPH0412081A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1013801A1 (en) * | 1998-12-21 | 2000-06-28 | PIRELLI CAVI E SISTEMI S.p.A. | Process and apparatus for synthesizing and growing crystals |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4904336A (en) | Method of manufacturing a single crystal of compound semiconductor and apparatus for the same | |
JP4966007B2 (ja) | InP単結晶ウェハ及びInP単結晶の製造方法 | |
GB1353917A (en) | Method and apparatus for forming crystalline bodies of a semicon ductor material | |
JPH0412081A (ja) | 3―v族化合物単結晶の製造方法 | |
JP2542434B2 (ja) | 化合物半導体結晶の製造方法および製造装置 | |
JP2531875B2 (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPH11302094A (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPS606918B2 (ja) | 3−5族化合物単結晶の製造方法 | |
JP2733898B2 (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JP2781856B2 (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JP2585415B2 (ja) | 単結晶の製造装置 | |
JP2700145B2 (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JP3684446B2 (ja) | 半絶縁性GaAs単結晶の製造方法および装置 | |
JPH0222200A (ja) | 3−5族化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPH0764671B2 (ja) | 化合物半導体単結晶育成方法 | |
JP2004250297A (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPS5841796A (ja) | 半導体単結晶の製造装置 | |
JPS60122791A (ja) | 液体封止結晶引上方法 | |
JPH06219885A (ja) | 化合物半導体結晶の成長方法 | |
JPH06107416A (ja) | 化合物半導体単結晶の成長方法 | |
JPH02229790A (ja) | 化合物半導体単結晶製造装置 | |
JPH01208396A (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPH02233588A (ja) | 単結晶成長方法 | |
JPH02167888A (ja) | 3―v族化合物半導体の結晶製造方法 | |
JPH01290587A (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 |