JPH0411141Y2 - - Google Patents
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- JPH0411141Y2 JPH0411141Y2 JP13261186U JP13261186U JPH0411141Y2 JP H0411141 Y2 JPH0411141 Y2 JP H0411141Y2 JP 13261186 U JP13261186 U JP 13261186U JP 13261186 U JP13261186 U JP 13261186U JP H0411141 Y2 JPH0411141 Y2 JP H0411141Y2
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- chamber
- main body
- diaphragm
- casing
- measurement
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- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 19
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 5
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 10
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- 238000005452 bending Methods 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
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- 235000012489 doughnuts Nutrition 0.000 description 1
- 229920002545 silicone oil Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は差圧測定装置に関するものである。
更に詳述すれば、本考案は静圧特性あるいは過
大圧特性の改良に関するものである。
大圧特性の改良に関するものである。
(従来の技術)
第3図は従来より一般に使用されている従来例
の構成説明図である。
の構成説明図である。
図において、1はブロツク状の本体、11は本
体1の内部に設けられた室である。21は室11
を第1測定室12と第2測定室13とに分ける測
定ダイアフラムで、移動電極としても機能する。
22,23は測定ダイアフラム2に対向して絶縁
体24,25を介して室1の壁に設けられた固定
電極である。31はリング状のハウジングで、本
体1が挿入固定されている。4は内部空所41に
ハウジング31が配置されたケーシングである。
32は内部空所41にハウジング31が〓間をも
つて配置されるように一端がハウジング31に固
定され、他端がケーシング4に固定された支持ば
ねである。51,52はケーシング4の両外側面
に設けられケーシング4とシール室53,54を
構成するシールダイアフラムである。55,56
はシールダイアフラム51,52に対向して本体
1に構成されたバツクアツプネストである。1
4,15はシール室53,54と第1、第2測定
室12,13とを連通する連通孔である。10
1,102,は第1、第2測定室12,13と内
部空所41とシール室53,54と連通孔14,
15とで構成される二個の室にそれぞれ充填され
た非圧縮性の封入液体である。
体1の内部に設けられた室である。21は室11
を第1測定室12と第2測定室13とに分ける測
定ダイアフラムで、移動電極としても機能する。
22,23は測定ダイアフラム2に対向して絶縁
体24,25を介して室1の壁に設けられた固定
電極である。31はリング状のハウジングで、本
体1が挿入固定されている。4は内部空所41に
ハウジング31が配置されたケーシングである。
32は内部空所41にハウジング31が〓間をも
つて配置されるように一端がハウジング31に固
定され、他端がケーシング4に固定された支持ば
ねである。51,52はケーシング4の両外側面
に設けられケーシング4とシール室53,54を
構成するシールダイアフラムである。55,56
はシールダイアフラム51,52に対向して本体
1に構成されたバツクアツプネストである。1
4,15はシール室53,54と第1、第2測定
室12,13とを連通する連通孔である。10
1,102,は第1、第2測定室12,13と内
部空所41とシール室53,54と連通孔14,
15とで構成される二個の室にそれぞれ充填され
た非圧縮性の封入液体である。
以上の構成において図の左右から測定圧力P1,
P2が加わると、差圧に対応してシールダイアフ
ラム51,52が変位し、封入液体101,10
2を介して測定ダイアフラム21が変位し、固定
電極22,23との間隙が変わり、電極間の容量
が差動的に変化する。この容量変化により差圧に
対応した電気信号出力を得ることができる。
P2が加わると、差圧に対応してシールダイアフ
ラム51,52が変位し、封入液体101,10
2を介して測定ダイアフラム21が変位し、固定
電極22,23との間隙が変わり、電極間の容量
が差動的に変化する。この容量変化により差圧に
対応した電気信号出力を得ることができる。
(考案が解決しようとする問題点)
このようなものにおいては、容量変化を検出す
る部分が、支持ばね32により非圧縮性封入液体
101,102内に吊られた構造となつている。
而して、検出部分は差圧に応動して変位する。
る部分が、支持ばね32により非圧縮性封入液体
101,102内に吊られた構造となつている。
而して、検出部分は差圧に応動して変位する。
したがつて、検出部分からの静電容量変化信号
の取り出しに、特別の配慮が必要で、通常は、ば
ねが用いられており、構造が複雑となり、また、
信頼性に欠ける。
の取り出しに、特別の配慮が必要で、通常は、ば
ねが用いられており、構造が複雑となり、また、
信頼性に欠ける。
本考案はこの問題点を解決するものである。
本考案の目的は、静圧による測定差圧のスパン
変化、過大圧によるヒステリシスが少く、また、
カバーの締付力の変化や温度変化の影響を受けな
い、検出部からのリード取り出しの容易な差圧測
定装置を提供するにある。
変化、過大圧によるヒステリシスが少く、また、
カバーの締付力の変化や温度変化の影響を受けな
い、検出部からのリード取り出しの容易な差圧測
定装置を提供するにある。
(問題点を解決するための手段)
この目的を達成するために、本考案は、ブロツ
ク状のケーシングと、該ケーシングの外側面に設
けられシール室を構成するシールダイアフラム
と、該シールダイアフラムと前記ケーシングとを
覆いカバー室を構成するカバーと、前記ケーシン
グ内に設けられた内部空所と、該内部空所に設け
られた本体と、該本体の外側面を覆いキヤツプ室
を構成するキヤツプと、該キヤツプと前記本体と
を前記内部空所に〓間を保つて支持するように該
キヤツプに一端が接続され他端が前記ケーシング
に接続されたチユーブと、前記本体の内部に設け
られた室と、該室を第1、第2測定室に分け移動
電極としても機能する測定ダイアフラムと、該測
定ダイアフラムに対向して絶縁体を介して前記室
壁に設けられた固定電極と、前記本体の外表面に
設けられオーバーレンジ室を構成するオーバーレ
ンジダイアフラムと、該オーバーレンジダイアフ
ラムに対向して前記本体に設けられたバツクアツ
プネストと、前記オーバーレンジ室と前記第1測
定室あるいは第2測定室とを連通する連通孔と、
該連通孔と前記シール室とを前記チユーブを通つ
て連結する連通孔と、前記キヤツプに設けられ前
記内部空所と前記キヤツプ室とを接続する接続孔
と、前記第1、第2測定室と前記内部空所と前記
オーバーレンジ室と前記キヤツプ室と前記シール
室と前記連結孔と前記連通孔と前記接続孔とで構
成される三個の室にそれぞれ充填された封入液体
とを具備してなる差圧測定装置を構成したもので
ある。
ク状のケーシングと、該ケーシングの外側面に設
けられシール室を構成するシールダイアフラム
と、該シールダイアフラムと前記ケーシングとを
覆いカバー室を構成するカバーと、前記ケーシン
グ内に設けられた内部空所と、該内部空所に設け
られた本体と、該本体の外側面を覆いキヤツプ室
を構成するキヤツプと、該キヤツプと前記本体と
を前記内部空所に〓間を保つて支持するように該
キヤツプに一端が接続され他端が前記ケーシング
に接続されたチユーブと、前記本体の内部に設け
られた室と、該室を第1、第2測定室に分け移動
電極としても機能する測定ダイアフラムと、該測
定ダイアフラムに対向して絶縁体を介して前記室
壁に設けられた固定電極と、前記本体の外表面に
設けられオーバーレンジ室を構成するオーバーレ
ンジダイアフラムと、該オーバーレンジダイアフ
ラムに対向して前記本体に設けられたバツクアツ
プネストと、前記オーバーレンジ室と前記第1測
定室あるいは第2測定室とを連通する連通孔と、
該連通孔と前記シール室とを前記チユーブを通つ
て連結する連通孔と、前記キヤツプに設けられ前
記内部空所と前記キヤツプ室とを接続する接続孔
と、前記第1、第2測定室と前記内部空所と前記
オーバーレンジ室と前記キヤツプ室と前記シール
室と前記連結孔と前記連通孔と前記接続孔とで構
成される三個の室にそれぞれ充填された封入液体
とを具備してなる差圧測定装置を構成したもので
ある。
(作用)
以上の構成において、シールダイアフラムに測
定圧力が加わると、差圧に対応してシールダイア
フラムが変位し、封入液体を介して測定ダイアフ
ラムが変位し、固定電極との間隙が変わり、電極
間の容量が差動的に変化する。この容量変化によ
り差圧に対応した電気信号出力を得ることができ
る。
定圧力が加わると、差圧に対応してシールダイア
フラムが変位し、封入液体を介して測定ダイアフ
ラムが変位し、固定電極との間隙が変わり、電極
間の容量が差動的に変化する。この容量変化によ
り差圧に対応した電気信号出力を得ることができ
る。
過大圧が加わつた場合には、過大圧の加わつた
側のシールダイアフラムが変位する。シールダイ
アフラムが変位すると封入液が移動する。封入液
の移動量に見合うように測定ダイアフラムとオー
バーレンジダイアフラムが変位する。オーバーレ
ンジダイアフラムと同じ変位が、過大圧の加わつ
た側の反対側のオーバーレンジダイアフラムに生
じ、過大圧の加わつた側の反対側のオーバーレン
ジダイアフラムは最終的にバツクアツプネストに
接触する。以上の如くして、内部空所と本体内部
の室とは、ほぼ過大圧と等しくなる。
側のシールダイアフラムが変位する。シールダイ
アフラムが変位すると封入液が移動する。封入液
の移動量に見合うように測定ダイアフラムとオー
バーレンジダイアフラムが変位する。オーバーレ
ンジダイアフラムと同じ変位が、過大圧の加わつ
た側の反対側のオーバーレンジダイアフラムに生
じ、過大圧の加わつた側の反対側のオーバーレン
ジダイアフラムは最終的にバツクアツプネストに
接触する。以上の如くして、内部空所と本体内部
の室とは、ほぼ過大圧と等しくなる。
高静圧が加わつた場合には、封入液の圧力は全
て同じになり、本体は静圧中にチユーブで支持さ
れている状態にある。
て同じになり、本体は静圧中にチユーブで支持さ
れている状態にある。
組立て時のボルトによるカバーの締付力の影響
は、本体はケーシングにチユーブで支持されてお
り、本体への影響はチユーブにより絶縁される。
は、本体はケーシングにチユーブで支持されてお
り、本体への影響はチユーブにより絶縁される。
ハウジングの過大圧印加時の変形や、ハウジン
グと本体等の熱膨張係数の違いによる熱変形は、
キヤツプの変形について吸収される。
グと本体等の熱膨張係数の違いによる熱変形は、
キヤツプの変形について吸収される。
以下、実施例について詳細に説明する。
(実施例)
第1図は、本考案の一実施例の構成説明図であ
る。
る。
図において、第3図と同一記号は同一機能を示
す。
す。
以下、第3図と相違部分のみ説明する。
61,62は本体1の外側面を覆いキヤツプ室
63,64を構成するキヤツプである。65,6
6はキヤツプ61,62と本体1とを内部空所4
1に〓間を保つて支持するように、キヤツプ6
1,62に一端が接続され、他端がケーシング4
に接続されたチユーブである。71,72は本体
1の外表面に設けられオーバーレンジ室73,7
4を構成するオーバーレンジダイアフラムであ
る。75,76はオーバーレンジダイアフラム7
1,72に、それぞれ対向して本体1に設けられ
たバツクアツプネストである。16,17は第
1、第2測定室12,13とオーバーレンジ室7
3,74とを連通する連通孔である。67,68
は連通孔16,17とシール室53,54とをチ
ユーブ65,66を通つて連結する連結孔であ
る。611,621はキヤツプ61,62に設け
られ内部空所41とキヤツプ63,64とを接続
する接続孔である。103はシール室53と連結
孔67と連通孔16とオーバーレンジ室73と第
1測定室12とに充填された封入液体である。1
04は内部空所41と接続孔611,621とキ
ヤツプ室63,64とに充填された封入液体であ
る。105は第2測定室13と連通孔17と連結
孔68とオーバーレンジ室74とシール室54と
に封入された封入液である。封入液103,10
4,105は、この場合はシリコンオイルが用い
られている。81,82はケーシング4とシール
ダイアフラム51,52とを覆い、カバー室81
1,821を構成するカバーである。カバー室8
11,821には、それぞれ、測定圧力P1,P2
が導入される。
63,64を構成するキヤツプである。65,6
6はキヤツプ61,62と本体1とを内部空所4
1に〓間を保つて支持するように、キヤツプ6
1,62に一端が接続され、他端がケーシング4
に接続されたチユーブである。71,72は本体
1の外表面に設けられオーバーレンジ室73,7
4を構成するオーバーレンジダイアフラムであ
る。75,76はオーバーレンジダイアフラム7
1,72に、それぞれ対向して本体1に設けられ
たバツクアツプネストである。16,17は第
1、第2測定室12,13とオーバーレンジ室7
3,74とを連通する連通孔である。67,68
は連通孔16,17とシール室53,54とをチ
ユーブ65,66を通つて連結する連結孔であ
る。611,621はキヤツプ61,62に設け
られ内部空所41とキヤツプ63,64とを接続
する接続孔である。103はシール室53と連結
孔67と連通孔16とオーバーレンジ室73と第
1測定室12とに充填された封入液体である。1
04は内部空所41と接続孔611,621とキ
ヤツプ室63,64とに充填された封入液体であ
る。105は第2測定室13と連通孔17と連結
孔68とオーバーレンジ室74とシール室54と
に封入された封入液である。封入液103,10
4,105は、この場合はシリコンオイルが用い
られている。81,82はケーシング4とシール
ダイアフラム51,52とを覆い、カバー室81
1,821を構成するカバーである。カバー室8
11,821には、それぞれ、測定圧力P1,P2
が導入される。
以上の構成において、第1図に示す如く、図の
左右から測定圧力P1,P2が加わる。測定圧力P1
が測定圧力P2より高圧とすると、シールダイア
フラム52を図の左方に変位させる。これにより
移動する封入液105の容積は、測定ダイアフラ
ム21を図の左方に移動させ、オーバーレンジダ
イアフラム72を図の右方に変位させる。オーバ
ーレンジダイアフラム72の変位によつてオーバ
ーレンジダイアフラム71が同じ量だけ右方に変
位する。これによる封入液体103の移動量と測
定ダイアフラム21の移動量とを合わせた量に見
合うだけシールダイアフラム51が変位する。す
なわち、測定ダイアフラム21は差圧に比例した
変位をする。而して、測定ダイアフラム21と固
定電極22,23との間隙が変わり、電極間の容
量が差動的に変化する。この容量変化により、差
圧に対応した電気信号出力を得ることができる。
左右から測定圧力P1,P2が加わる。測定圧力P1
が測定圧力P2より高圧とすると、シールダイア
フラム52を図の左方に変位させる。これにより
移動する封入液105の容積は、測定ダイアフラ
ム21を図の左方に移動させ、オーバーレンジダ
イアフラム72を図の右方に変位させる。オーバ
ーレンジダイアフラム72の変位によつてオーバ
ーレンジダイアフラム71が同じ量だけ右方に変
位する。これによる封入液体103の移動量と測
定ダイアフラム21の移動量とを合わせた量に見
合うだけシールダイアフラム51が変位する。す
なわち、測定ダイアフラム21は差圧に比例した
変位をする。而して、測定ダイアフラム21と固
定電極22,23との間隙が変わり、電極間の容
量が差動的に変化する。この容量変化により、差
圧に対応した電気信号出力を得ることができる。
次に、過大圧が高圧側から作用した場合につい
て説明する。
て説明する。
シールダイアフラム52が変位し、封入液10
5が移動する。封入液105の移動量に見合うよ
うに、測定ダイアフラム21とオーバーレンジダ
イアフラム72が変位する。オーバーレンジダイ
アフラム72と同じ変位が、オーバーレンジダイ
アフラム71に生じ、オーバーレンジダイアフラ
ム71は、バツクアツプネスト75に接触する。
測定ダイアフラム21が第1測定室12の壁に接
触すると同時に、オーバーレンジダイアフラム7
1がバツクアツプネスト75に接触するように設
計されるのが理想的であるが、実際上は、測定ダ
イアフラム21とオーバーレンジダイアフラム7
1のいずれが先に接触しても問題にはならない。
その理由を説明する。オーバーレンジダイアフラ
ムの特性がバラついて、接触する圧力の上限、下
限がそれぞれ最大測定圧力の2倍、1倍程度にな
るとする。一方、測定ダイアフラム21が第1測
定室12の壁に接触する圧力は、最大測定圧力の
1.5倍程度に設計される。そうすると、両ダイア
フラムの接触圧力に差が生じてもその差は最大で
も最大測定圧力の1/2程度であり、この圧力によ
る本体の曲げ変形は十分に許容できる範囲内であ
る。いずれにしても、本体1の内外の圧力は、ほ
ぼ過大圧と等しくなり、測定室12,13の球面
状の室壁に過大圧が作用することによる曲げ変形
は小さくできる。
5が移動する。封入液105の移動量に見合うよ
うに、測定ダイアフラム21とオーバーレンジダ
イアフラム72が変位する。オーバーレンジダイ
アフラム72と同じ変位が、オーバーレンジダイ
アフラム71に生じ、オーバーレンジダイアフラ
ム71は、バツクアツプネスト75に接触する。
測定ダイアフラム21が第1測定室12の壁に接
触すると同時に、オーバーレンジダイアフラム7
1がバツクアツプネスト75に接触するように設
計されるのが理想的であるが、実際上は、測定ダ
イアフラム21とオーバーレンジダイアフラム7
1のいずれが先に接触しても問題にはならない。
その理由を説明する。オーバーレンジダイアフラ
ムの特性がバラついて、接触する圧力の上限、下
限がそれぞれ最大測定圧力の2倍、1倍程度にな
るとする。一方、測定ダイアフラム21が第1測
定室12の壁に接触する圧力は、最大測定圧力の
1.5倍程度に設計される。そうすると、両ダイア
フラムの接触圧力に差が生じてもその差は最大で
も最大測定圧力の1/2程度であり、この圧力によ
る本体の曲げ変形は十分に許容できる範囲内であ
る。いずれにしても、本体1の内外の圧力は、ほ
ぼ過大圧と等しくなり、測定室12,13の球面
状の室壁に過大圧が作用することによる曲げ変形
は小さくできる。
また、オーバーレンジダイアフラム71,72
の容積変化率を、シールダイアフラム51,52
の容積変化率の100分の1程度になるようにすれ
ば、オーバーレンジダイアフラム71,72に過
大圧に基づくヒステリシスが生じても、測定ダイ
アフラム21はシールダイアフラム51,52に
比して容積変化率は非常に小さいので、測定ダイ
アフラム21を変位させるほどの内圧の上昇を生
じさせない。シールダイアフラム51,52が、
変位することにより吸収されるからである。した
がつて、オーバーレンジダイアフラム71,72
は、設計の自由度の高いものが得られる。
の容積変化率を、シールダイアフラム51,52
の容積変化率の100分の1程度になるようにすれ
ば、オーバーレンジダイアフラム71,72に過
大圧に基づくヒステリシスが生じても、測定ダイ
アフラム21はシールダイアフラム51,52に
比して容積変化率は非常に小さいので、測定ダイ
アフラム21を変位させるほどの内圧の上昇を生
じさせない。シールダイアフラム51,52が、
変位することにより吸収されるからである。した
がつて、オーバーレンジダイアフラム71,72
は、設計の自由度の高いものが得られる。
次に、静圧が加わつた場合について説明する。
静圧が加わると、すべての内部室が、ほぼ同じ圧
力になる。本体1に注目すると、本体1は静圧の
中に吊られた格好になるので、測定ダイアフラム
21には、測定差圧スパンを変化させるような張
力の変化は生じない。
静圧が加わると、すべての内部室が、ほぼ同じ圧
力になる。本体1に注目すると、本体1は静圧の
中に吊られた格好になるので、測定ダイアフラム
21には、測定差圧スパンを変化させるような張
力の変化は生じない。
而して、本体1をチユーブ65,66で支持す
る構造となつているので、ケーシング4のカバー
81,82の締付力が変化することによる影響、
あるいは、周囲温度変化に基づくケーシング4の
変形の影響は、すべてチユーブ61,62によつ
て吸収されるので、本体1には、上記変形の影響
は伝わらない。
る構造となつているので、ケーシング4のカバー
81,82の締付力が変化することによる影響、
あるいは、周囲温度変化に基づくケーシング4の
変形の影響は、すべてチユーブ61,62によつ
て吸収されるので、本体1には、上記変形の影響
は伝わらない。
キヤツプ61,62は、ケーシング4の過大圧
印加時の変形や、本体1とケーシング4の熱膨張
係数の違いに起因する熱変形に対して、第2図に
示す如く変形して、本体1に、これらの影響を伝
達しない。即ち、第2図に示す如く、キヤツプ6
1,62のプレート部612,622は、ケーシ
ング4に引張られて変形する。あるいは、本体1
との溶接部分近くが矢印Aで示す如く開くからで
ある。但し、ケーシング4が図の右方に変形する
場合には、溶接部分近くの開き(矢印A部分)は
ないので、プレート部612,622の、変形の
みとなる。また、キヤツプ61,62を使用する
事により、ドーナツ板状でなく、円板状のオーバ
ーレンジダイアフラム71,72が使用できる。
印加時の変形や、本体1とケーシング4の熱膨張
係数の違いに起因する熱変形に対して、第2図に
示す如く変形して、本体1に、これらの影響を伝
達しない。即ち、第2図に示す如く、キヤツプ6
1,62のプレート部612,622は、ケーシ
ング4に引張られて変形する。あるいは、本体1
との溶接部分近くが矢印Aで示す如く開くからで
ある。但し、ケーシング4が図の右方に変形する
場合には、溶接部分近くの開き(矢印A部分)は
ないので、プレート部612,622の、変形の
みとなる。また、キヤツプ61,62を使用する
事により、ドーナツ板状でなく、円板状のオーバ
ーレンジダイアフラム71,72が使用できる。
この結果
静圧による測定差のスパン変化が生じない。
過大圧による本体1の曲げ変形が少いので、
過大圧によるヒステリシスが小さく、検出部の
信頼性が向上する。
過大圧によるヒステリシスが小さく、検出部の
信頼性が向上する。
チユーブ65,66により、本体1は機械的
に絶縁された形となつているので、ケーシング
4の締付けの影響、温度膨張係数の相違等によ
り、本体1に加わる機械的外乱が少い。即ち、
ケーシング4の半径方向の機械的変形の吸収が
できる。
に絶縁された形となつているので、ケーシング
4の締付けの影響、温度膨張係数の相違等によ
り、本体1に加わる機械的外乱が少い。即ち、
ケーシング4の半径方向の機械的変形の吸収が
できる。
キヤツプ61,62により、本体1にケーシ
ング4の過大圧印加時の変形や、本体1とケー
シング4の熱膨張係数の違いに起因する熱変形
の影響が伝達されるのを防止することができ
る。即ち、ケーシング4の軸方向の機械的変形
の吸収ができる。
ング4の過大圧印加時の変形や、本体1とケー
シング4の熱膨張係数の違いに起因する熱変形
の影響が伝達されるのを防止することができ
る。即ち、ケーシング4の軸方向の機械的変形
の吸収ができる。
本体1が第3図従来例の如く、差圧に応じて
移動しないので、検出部から電気信号の取り出
し構造が簡素化できる。
移動しないので、検出部から電気信号の取り出
し構造が簡素化できる。
(考案の効果)
以上説明したように、本考案は、ブロツク状の
ケーシングと、該ケーシングの外側面に設けられ
シール室を構成するシールダイアフラムと、該シ
ールダイアフラムと前記ケーシングとを覆いカバ
ー室を構成するカバーと、前記ケーシング内に設
けられた内部空所と、該内部空所に設けられた本
体と、該本体の外側面を覆いキヤツプ室を構成す
るキヤツプと、該キヤツプと前記本体とを前記内
部空所に隙間を保つて支持するように該キヤツプ
に一端が接続され他端が前記ケーシングに接続さ
れたチユーブと、前記本体の内部に設けられた室
と、該室を第1、第2測定室に分け移動電極とし
ても機能する測定ダイアフラムと、該測定ダイア
フラムに対向して絶縁体を介して前記室壁に設け
られた固定電極と、前記本体の外表面に設けられ
オーバーレンジ室を構成するオーバーレンジダイ
アフラムと、該オーバーレンジダイアフラムに対
向して前記本体に設けられたバツクアツプネスト
と、前記オーバーレンジ室と前記第1測定室ある
いは第2測定室とを連通する連通孔と、該連通孔
と前記シール室とを前記チユーブを通つて連結す
る連通孔と、前記キヤツプに設けられ前記内部空
所と前記キヤツプ室とを接続する接続孔と、前記
第1、第2測定室と前記内部空所と前記オーバー
レンジ室と前記キヤツプ室と前記シール室と前記
連通孔と前記連結孔と前記接続孔とで構成される
三個の室にそれぞれ充填された封入液体とを具備
してなる差圧測定装置を構成したので、静圧によ
る測定差のスパン変化が生じない。過大圧による
本体1の曲げ変形が少いので、過大圧によるヒス
テリシスが小さく、検出部の信頼性が向上する。
チユーブ65,66により、本体1は機械的に絶
縁された形となつているので、ケーシング4の締
付けの影響、温度膨張係数の相違等により、本体
1に加わる機械的外乱が少ない。即ち、ケーシン
グ4の半径方向の機械的変形の吸収ができる。キ
ヤツプ61,62により、本体1に、ケーシング
4の過大圧印加時の変形や、本体1とケーシング
4の熱膨張係数の違いに起因する熱変形の影響が
伝達されるのを防止することができる。即ち、ケ
ーシング4の軸方向の機械的変形の吸収ができ
る。本体1が第3図従来例の如く、差圧に応じて
移動しないので、検出部から電気信号の取り出し
構造が簡素化できるものが得られる。
ケーシングと、該ケーシングの外側面に設けられ
シール室を構成するシールダイアフラムと、該シ
ールダイアフラムと前記ケーシングとを覆いカバ
ー室を構成するカバーと、前記ケーシング内に設
けられた内部空所と、該内部空所に設けられた本
体と、該本体の外側面を覆いキヤツプ室を構成す
るキヤツプと、該キヤツプと前記本体とを前記内
部空所に隙間を保つて支持するように該キヤツプ
に一端が接続され他端が前記ケーシングに接続さ
れたチユーブと、前記本体の内部に設けられた室
と、該室を第1、第2測定室に分け移動電極とし
ても機能する測定ダイアフラムと、該測定ダイア
フラムに対向して絶縁体を介して前記室壁に設け
られた固定電極と、前記本体の外表面に設けられ
オーバーレンジ室を構成するオーバーレンジダイ
アフラムと、該オーバーレンジダイアフラムに対
向して前記本体に設けられたバツクアツプネスト
と、前記オーバーレンジ室と前記第1測定室ある
いは第2測定室とを連通する連通孔と、該連通孔
と前記シール室とを前記チユーブを通つて連結す
る連通孔と、前記キヤツプに設けられ前記内部空
所と前記キヤツプ室とを接続する接続孔と、前記
第1、第2測定室と前記内部空所と前記オーバー
レンジ室と前記キヤツプ室と前記シール室と前記
連通孔と前記連結孔と前記接続孔とで構成される
三個の室にそれぞれ充填された封入液体とを具備
してなる差圧測定装置を構成したので、静圧によ
る測定差のスパン変化が生じない。過大圧による
本体1の曲げ変形が少いので、過大圧によるヒス
テリシスが小さく、検出部の信頼性が向上する。
チユーブ65,66により、本体1は機械的に絶
縁された形となつているので、ケーシング4の締
付けの影響、温度膨張係数の相違等により、本体
1に加わる機械的外乱が少ない。即ち、ケーシン
グ4の半径方向の機械的変形の吸収ができる。キ
ヤツプ61,62により、本体1に、ケーシング
4の過大圧印加時の変形や、本体1とケーシング
4の熱膨張係数の違いに起因する熱変形の影響が
伝達されるのを防止することができる。即ち、ケ
ーシング4の軸方向の機械的変形の吸収ができ
る。本体1が第3図従来例の如く、差圧に応じて
移動しないので、検出部から電気信号の取り出し
構造が簡素化できるものが得られる。
したがつて、本考案によれば、静圧による測定
差圧のスパン変化、過大圧によるヒステリシスが
少く、また、カバーの締付力の変化や温度変化の
影響を受けない、検出部からのリード取り出しの
容易な差圧測定装置を実現することができる。
差圧のスパン変化、過大圧によるヒステリシスが
少く、また、カバーの締付力の変化や温度変化の
影響を受けない、検出部からのリード取り出しの
容易な差圧測定装置を実現することができる。
第1図は本考案の一実施例の構成説明図、第2
図は第1図の要部動作説明図、第3図は従来より
一般に使用されている従来例の構成説明図。 1……本体、103,104,105……封入
液体、11……室、12……第1測定室、13…
…第2測定室、16,17……連通孔、21……
測定ダイアフラム、22,23……固定電極、2
4,25……絶縁体、4……ケーシング、41…
…内部空所、51,52……シールダイアフラ
ム、53,54……シール室、61,62……キ
ヤツプ、611,621……接続孔、621,6
22……プレート部、63,64……キヤツプ
室、65,66……チユーブ、67,68……連
結孔、71,72……オーバーレンジダイアフラ
ム、73,74……オーバーレンジ室、75,7
6……バツクアツプネスト、81,82……カバ
ー、811,812……カバー室。
図は第1図の要部動作説明図、第3図は従来より
一般に使用されている従来例の構成説明図。 1……本体、103,104,105……封入
液体、11……室、12……第1測定室、13…
…第2測定室、16,17……連通孔、21……
測定ダイアフラム、22,23……固定電極、2
4,25……絶縁体、4……ケーシング、41…
…内部空所、51,52……シールダイアフラ
ム、53,54……シール室、61,62……キ
ヤツプ、611,621……接続孔、621,6
22……プレート部、63,64……キヤツプ
室、65,66……チユーブ、67,68……連
結孔、71,72……オーバーレンジダイアフラ
ム、73,74……オーバーレンジ室、75,7
6……バツクアツプネスト、81,82……カバ
ー、811,812……カバー室。
Claims (1)
- ブロツク状のケーシングと、該ケーシングの外
側面に設けられシール室を構成するシールダイア
フラムと、該シールダイアフラムと前記ケーシン
グとを覆いカバー室を構成するカバーと、前記ケ
ーシング内に設けられた内部空所と、該内部空所
に設けられた本体と、該本体の外側面を覆いキヤ
ツプ室を構成するキヤツプと、前記キヤツプと前
記本体とを前記内部空所に隙間を保つて支持する
ように該キヤツプに一端が接続され他端が前記ケ
ーシングに接続されたチユーブと、前記本体の内
部に設けられた室と、該室を第1,第2測定室に
分け移動電極としても機能する測定ダイアフラム
と、該測定ダイアフラムに対向して絶縁体を介し
て前記室壁に設けられた固定電極と、前記本体の
外表面に設けられオーバーレンジ室を構成するオ
ーバーレンジダイアフラムと、該オーバーレンジ
ダイアフラムに対向して前記本体に設けられたバ
ツクアツプネストと、前記オーバーレンジ室と前
記第1測定室あるいは第2測定室とを連通する連
通孔と、該連通孔と前記シール室とを前記チユー
ブを通つて連結する連通孔と、前記キヤツプに設
けられ前記内部空所と前記キヤツプ室とを接続す
る接続孔と、前記第1,第2測定室と前記内部空
所と前記オーバーレンジ室と前記キヤツプ室と前
記シール室と前記連通孔と前記連結孔と前記接続
孔とで構成される三個の室にそれぞれ充填された
封入液体とを具備してなる差圧測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13261186U JPH0411141Y2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13261186U JPH0411141Y2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6339653U JPS6339653U (ja) | 1988-03-15 |
JPH0411141Y2 true JPH0411141Y2 (ja) | 1992-03-19 |
Family
ID=31032160
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13261186U Expired JPH0411141Y2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0411141Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6883380B2 (en) * | 2003-05-16 | 2005-04-26 | Rosemount Inc | Pressure sensor capsule |
JP6058986B2 (ja) * | 2012-11-29 | 2017-01-11 | アズビル株式会社 | 差圧センサ |
-
1986
- 1986-08-29 JP JP13261186U patent/JPH0411141Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6339653U (ja) | 1988-03-15 |
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