JPH0515071Y2 - - Google Patents
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- JPH0515071Y2 JPH0515071Y2 JP1615187U JP1615187U JPH0515071Y2 JP H0515071 Y2 JPH0515071 Y2 JP H0515071Y2 JP 1615187 U JP1615187 U JP 1615187U JP 1615187 U JP1615187 U JP 1615187U JP H0515071 Y2 JPH0515071 Y2 JP H0515071Y2
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- chamber
- diaphragm
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Landscapes
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は差圧伝送器に関するものである。
更に詳述すれば、差圧伝送器の検出部構造に関
するものである。
するものである。
(従来の技術)
第8図は従来より一般に使用されている従来例
の要部構成説明図である。
の要部構成説明図である。
図において、1はブロツク状の本体である。1
1は本体1内に設けられた内部室である。12は
内部室11を2つの測定室13,14に分け移動
電極として機能する測定ダイアフラムである。2
は内部空所21を有するハウジングである。22
は内部空所21に本体1を支持するスペーサリン
グである。31,32は測定ダイアフラム12に
対向して内部室11の壁面に設けられた固定電極
である。33,34は固定電極31,32を本体
1から絶縁するブロツク状の絶縁体である。この
場合は、ガラスまたはセラミツクスよりなる。4
1,42は、本体1の両側面を覆い、本体1とそ
れぞれバリア室43,44を構成するバリアダイ
アフラムである。45,46はバリア室43,4
4と測定室13,14とをそれぞれ結ぶ連通孔で
ある。51,52は測定室13,14と連通孔4
5,46とバリア室43,44とで構成される二
つの室に満された非圧縮性の封入液体である。こ
の場合はシリコン液が用いられている。
1は本体1内に設けられた内部室である。12は
内部室11を2つの測定室13,14に分け移動
電極として機能する測定ダイアフラムである。2
は内部空所21を有するハウジングである。22
は内部空所21に本体1を支持するスペーサリン
グである。31,32は測定ダイアフラム12に
対向して内部室11の壁面に設けられた固定電極
である。33,34は固定電極31,32を本体
1から絶縁するブロツク状の絶縁体である。この
場合は、ガラスまたはセラミツクスよりなる。4
1,42は、本体1の両側面を覆い、本体1とそ
れぞれバリア室43,44を構成するバリアダイ
アフラムである。45,46はバリア室43,4
4と測定室13,14とをそれぞれ結ぶ連通孔で
ある。51,52は測定室13,14と連通孔4
5,46とバリア室43,44とで構成される二
つの室に満された非圧縮性の封入液体である。こ
の場合はシリコン液が用いられている。
以上の構成において、バリアダイアフラム4
1,42にそれぞれ測定圧P1,P2が加わると、
封入液体51,52に伝達されて、測定ダイアフ
ラム12が変位し、固定電極31,32との間隙
が変わり、電極間の容量が差動的に変化する。而
して、この容量変化により差圧に関連した電気信
号が得られる。
1,42にそれぞれ測定圧P1,P2が加わると、
封入液体51,52に伝達されて、測定ダイアフ
ラム12が変位し、固定電極31,32との間隙
が変わり、電極間の容量が差動的に変化する。而
して、この容量変化により差圧に関連した電気信
号が得られる。
(考案が解決しようとする問題点)
しかしながら、このような装置においては、
絶縁体33,34は、ひび割れの起きるおそ
れがあるため、その性質上薄くすることはでき
ない。したがつて、内部室11は比較的大にな
り、第9図に示す如く、静圧印加時に、本体1
の変形により、本体1の中央部分に配置されて
いる測定ダイアフラム12が引張られて、張力
が増し、スパン変動を起す。
れがあるため、その性質上薄くすることはでき
ない。したがつて、内部室11は比較的大にな
り、第9図に示す如く、静圧印加時に、本体1
の変形により、本体1の中央部分に配置されて
いる測定ダイアフラム12が引張られて、張力
が増し、スパン変動を起す。
固定電極31,32はガラスあるいはセラミ
ツクスを本体1の内部室11に鋳込み固定した
上に形成するためコスト高となる。
ツクスを本体1の内部室11に鋳込み固定した
上に形成するためコスト高となる。
絶縁体33,34の熱膨張係数に合わせるた
めに、本体1と測定ダイアフラム12の材料に
制限があり、たとえば、ニツケルスパンC(=
商品名)等の高価な材料に限定され、コスト高
となる。
めに、本体1と測定ダイアフラム12の材料に
制限があり、たとえば、ニツケルスパンC(=
商品名)等の高価な材料に限定され、コスト高
となる。
移動電極(=測定ダイアフラム12)が接地
されているため、ノイズ等拾いやすく、電気回
路(図示せず)の構成が困難になる。
されているため、ノイズ等拾いやすく、電気回
路(図示せず)の構成が困難になる。
本考案は、この問題点を解決するものである。
本考案の目的は、安価で、かつ、静圧スパンシ
フトの生ずるおそれがなく、耐ノイズ性の良好な
差圧伝送器を提供するにある。
フトの生ずるおそれがなく、耐ノイズ性の良好な
差圧伝送器を提供するにある。
(問題点を解決するための手段)
この目的を達成するために、本考案は、ブロツ
ク状の本体と、該本体内部に設けられ対向する球
面よりなる内部室と、該内部室を、測定圧が導入
される二個の測定室に分け移動電極として機能す
る測定ダイアフラムと、前記内部室の壁面に設け
られセラミツクスのプラズマ溶射膜よりなる絶縁
膜と、該絶縁膜の表面上に前記測定ダイアフラム
に対向して設けられた固定電極と、前記本体に設
けられ前記測定室に一端が連通される連通孔と、
内部空所を有するハウジングと、該ハウジングの
両側面に設けられ該ハウジングとバリア室を構成
するバリアダイアフラムと、前記バリア室に連通
し他端が前記連通孔の他端に接続され前記本体を
前記内部空所に隙間をもつて支持する支持パイプ
と、該支持パイプの周囲に設けられ前記本体を前
記ハウジングから絶縁する絶縁部とを具備してな
る差圧伝送器を構成したものである。
ク状の本体と、該本体内部に設けられ対向する球
面よりなる内部室と、該内部室を、測定圧が導入
される二個の測定室に分け移動電極として機能す
る測定ダイアフラムと、前記内部室の壁面に設け
られセラミツクスのプラズマ溶射膜よりなる絶縁
膜と、該絶縁膜の表面上に前記測定ダイアフラム
に対向して設けられた固定電極と、前記本体に設
けられ前記測定室に一端が連通される連通孔と、
内部空所を有するハウジングと、該ハウジングの
両側面に設けられ該ハウジングとバリア室を構成
するバリアダイアフラムと、前記バリア室に連通
し他端が前記連通孔の他端に接続され前記本体を
前記内部空所に隙間をもつて支持する支持パイプ
と、該支持パイプの周囲に設けられ前記本体を前
記ハウジングから絶縁する絶縁部とを具備してな
る差圧伝送器を構成したものである。
(作用)
以上の構成において、二つの測定圧が測定ダイ
アフラムに加わると、これらの圧力の差に応じて
測定ダイアフラムが変位し、固定電極と移動電極
との間隙が変わり、電極間の静電容量が差動的に
変化する。而して、この容量変化により、差圧に
関連した電気信号が得られる。
アフラムに加わると、これらの圧力の差に応じて
測定ダイアフラムが変位し、固定電極と移動電極
との間隙が変わり、電極間の静電容量が差動的に
変化する。而して、この容量変化により、差圧に
関連した電気信号が得られる。
この場合、セラミツクスのプラズマ溶射膜より
なる絶縁膜は、比較的薄くできるので、内部室を
小さくできる。したがつて、静圧印加時の本体の
変形は小さくでき、測定ダイアフラムが引張られ
て、スパン変動を起すおそれがない。
なる絶縁膜は、比較的薄くできるので、内部室を
小さくできる。したがつて、静圧印加時の本体の
変形は小さくでき、測定ダイアフラムが引張られ
て、スパン変動を起すおそれがない。
また、固定電極は本体に絶縁膜を介して取付け
られるので、従来例の如く、ガラスあるいはセラ
ミツクスを本体に鋳込み固定した上に形成する必
要はない。
られるので、従来例の如く、ガラスあるいはセラ
ミツクスを本体に鋳込み固定した上に形成する必
要はない。
また、従来例の如く、絶縁体の熱膨張係数に合
わせるために、本体と測定ダイアフラムの材料に
制限が加えられる必要もない。
わせるために、本体と測定ダイアフラムの材料に
制限が加えられる必要もない。
而して、本体は、内部空所内に支持パイプと絶
縁部とによつてハウジングより浮かし、かつ、電
気的に絶縁されているので、外部より電気的、機
械的ノイズを拾いにくい。
縁部とによつてハウジングより浮かし、かつ、電
気的に絶縁されているので、外部より電気的、機
械的ノイズを拾いにくい。
以下、実施例に基づき詳細に説明する。
(実施例)
第1図は本考案の一実施例の要部構成説明図、
第2図は第1図の要部構成説明図である。
第2図は第1図の要部構成説明図である。
図において、第9図と同一記号は同一機能を示
す。
す。
以下、第9図と相違部分のみ説明する。
61,62は内部室11の壁面に設けられセラ
ミツクスのプラズマ溶射膜よりなる絶縁膜であ
る。この場合は0.2〜0.5mmの厚さをなす。63,
64は絶縁膜61,62の表面上に、測定ダイア
フラム12に対向して設けられた固定電極であ
る。65,66はバリア室43,44に連通し他
端が連通孔45,46に接続され、本体1を内部
空所21に隙間をもつて支持する支持パイプであ
る。67,68は支持パイプの周囲に設けられ本
体1をハウジング2から絶縁する絶縁部である。
この場合は、本体1側に設けられ、ガラス材より
なる。71,72は絶縁部67,68を本体1に
取付けやすくするためのパイプである。73は内
部空所21と本体1との間の空間に充填された充
填体である。この場合は、シリコンゴムやエポキ
シ材が用いられている。
ミツクスのプラズマ溶射膜よりなる絶縁膜であ
る。この場合は0.2〜0.5mmの厚さをなす。63,
64は絶縁膜61,62の表面上に、測定ダイア
フラム12に対向して設けられた固定電極であ
る。65,66はバリア室43,44に連通し他
端が連通孔45,46に接続され、本体1を内部
空所21に隙間をもつて支持する支持パイプであ
る。67,68は支持パイプの周囲に設けられ本
体1をハウジング2から絶縁する絶縁部である。
この場合は、本体1側に設けられ、ガラス材より
なる。71,72は絶縁部67,68を本体1に
取付けやすくするためのパイプである。73は内
部空所21と本体1との間の空間に充填された充
填体である。この場合は、シリコンゴムやエポキ
シ材が用いられている。
以上の構成において、二つの測定圧P1,P2が
測定ダイアフラムに加わると、これらの圧力の差
に応じて測定ダイアフラム12が変位し、固定電
極63,64と移動電極12との間隙が変わり、
電極間の静電容量が差動的に変化する。而して、
この容量変化により、差圧に関連した電気信号が
得られる。
測定ダイアフラムに加わると、これらの圧力の差
に応じて測定ダイアフラム12が変位し、固定電
極63,64と移動電極12との間隙が変わり、
電極間の静電容量が差動的に変化する。而して、
この容量変化により、差圧に関連した電気信号が
得られる。
この場合、
セラミツクスのプラズマ溶射膜よりなる絶縁
膜61,62は、薄くできるので、第3図に示
す如く、内部室11を小さくできる。したがつ
て、静圧印加時の本体の変形は小さくでき、測
定ダイアフラム12が引張られて、張力が増
し、スパン変動を起すおそれがない。
膜61,62は、薄くできるので、第3図に示
す如く、内部室11を小さくできる。したがつ
て、静圧印加時の本体の変形は小さくでき、測
定ダイアフラム12が引張られて、張力が増
し、スパン変動を起すおそれがない。
また、固定電極63,64は、本体1に、セ
ラミツクスのプラズマ溶射膜よりなる絶縁膜6
1,62の表面上に取付けられるので、従来例
の如く、ガラスあるいはセラミツクスを、本体
1に鋳込み固定した上に形成する必要はなく、
安価にすることができる。
ラミツクスのプラズマ溶射膜よりなる絶縁膜6
1,62の表面上に取付けられるので、従来例
の如く、ガラスあるいはセラミツクスを、本体
1に鋳込み固定した上に形成する必要はなく、
安価にすることができる。
また、本体1と測定ダイアフラム12の材料
について、従来例の如く、絶縁体33,34の
熱膨張係数に合わせるための制限がなく、本体
1と測定ダイアフラム12との熱膨張係数を合
わせればよく、安価な材料を使用することがで
きる。たとえば、測定ダイアフラム12の材料
をコバルト−ニツケル合金のハーバー(=商品
名)あるいはエルジロイ(=商品名)とし、本
体1の材料を、ほぼ熱膨張係数の近い合金、た
とえば、2相ステンレス鋼やSUS430等にする
ことができる。したがつて、安価に装置を作る
ことができる。
について、従来例の如く、絶縁体33,34の
熱膨張係数に合わせるための制限がなく、本体
1と測定ダイアフラム12との熱膨張係数を合
わせればよく、安価な材料を使用することがで
きる。たとえば、測定ダイアフラム12の材料
をコバルト−ニツケル合金のハーバー(=商品
名)あるいはエルジロイ(=商品名)とし、本
体1の材料を、ほぼ熱膨張係数の近い合金、た
とえば、2相ステンレス鋼やSUS430等にする
ことができる。したがつて、安価に装置を作る
ことができる。
本体1は内部空所21内に支持パイプ65,
66と絶縁部67,68とによつて、ハウジン
グ2より浮かし、かつ、電気的に絶縁されてい
るので、外部より電気的機械的ノイズを拾いに
くい。
66と絶縁部67,68とによつて、ハウジン
グ2より浮かし、かつ、電気的に絶縁されてい
るので、外部より電気的機械的ノイズを拾いに
くい。
また、充填体73は、本体1を支持パイプ6
5,66で内部空所21に保持するのを補強して
いる。
5,66で内部空所21に保持するのを補強して
いる。
第4図は本考案の他の実施例の要部構成説明図
である。
である。
本実施例においては、絶縁部67,68とパイ
プ71,72をハウジング2側に取付けたもので
ある。
プ71,72をハウジング2側に取付けたもので
ある。
第5図は本考案の他の実施例の構成説明図であ
る。
る。
本実施例においては、本体1の側面に、セラミ
ツクスのプラズマ溶射膜よりなる絶縁膜74,7
5を設け、ハウジング2に直接又は押えスプリン
グ76を介して固定するようにしたものである。
ツクスのプラズマ溶射膜よりなる絶縁膜74,7
5を設け、ハウジング2に直接又は押えスプリン
グ76を介して固定するようにしたものである。
過大圧が加わつた場合に、支持パイプ65,6
6のみでなく、絶縁膜74,75や押えスプリン
グ76にも過大圧による力を分担して受け持つよ
うにしたものである。
6のみでなく、絶縁膜74,75や押えスプリン
グ76にも過大圧による力を分担して受け持つよ
うにしたものである。
第6図は本考案の別の実施例の構成説明図であ
る。
る。
本実施例においては、内部空所21の壁面にス
ペーサ77を設けたものである。第7図に示す如
く、押えスプリング76がある程度以上たわんだ
場合には本体1が絶縁膜75を介して内部空所2
1の壁面に接触するようにして、押えスプリング
76の補強をしたものである。
ペーサ77を設けたものである。第7図に示す如
く、押えスプリング76がある程度以上たわんだ
場合には本体1が絶縁膜75を介して内部空所2
1の壁面に接触するようにして、押えスプリング
76の補強をしたものである。
(考案の効果)
以上説明したように、本考案は、ブロツク状の
本体と、該本体内部に設けられ対向する球面より
なる内部室と、該内部室を、測定圧が導入される
二個の測定室に分け移動電極として機能する測定
ダイアフラムと、前記内部室の壁面に設けられセ
ラミツクスのプラズマ溶射膜よりなる絶縁膜と、
該絶縁膜の表面上に前記測定ダイアフラムに対向
して設けられた固定電極と、前記本体に設けられ
前記測定室に一端が連通される連通孔と、内部空
所を有するハウジングと、該ハウジングの両側面
に設けられ該ハウジングとバリア室を構成するバ
リアダイアフラムと、前記バリア室に連通し他端
が前記連通孔の他端に接続され前記本体を前記内
部空所に隙間をもつて支持する支持パイプと、該
支持パイプの周囲に設けられ前記本体を前記ハウ
ジングから絶縁する絶縁部とを具備してなる差圧
伝送器を構成したので、セラミツクスのプラズマ
溶射膜よりなる絶縁膜は薄くできるので、内部室
を小さくできる。したがつて、静圧印加時の本体
の変形は小さくできるので、測定ダイアフラムの
張力が増し、スパン変動を起すおそれがないもの
が得られる。固定電極は本体にセラミツクスのプ
ラズマ溶射膜よりなる絶縁膜の表面上に取付けら
れるので、製作が容易となり、安価にすることが
できる。温度変化に対して、本体と測定ダイアフ
ラムの熱膨張係数を合わせればよいので、安価な
材料を使用することができ、装置を安価に作るこ
とができる。また、本体は、内部空所内に支持パ
イプと絶縁部とによつて、ハウジングより浮か
し、かつ、電気的に絶縁されているので、外部よ
り電気的、機械的ノイズを拾いにくい。
本体と、該本体内部に設けられ対向する球面より
なる内部室と、該内部室を、測定圧が導入される
二個の測定室に分け移動電極として機能する測定
ダイアフラムと、前記内部室の壁面に設けられセ
ラミツクスのプラズマ溶射膜よりなる絶縁膜と、
該絶縁膜の表面上に前記測定ダイアフラムに対向
して設けられた固定電極と、前記本体に設けられ
前記測定室に一端が連通される連通孔と、内部空
所を有するハウジングと、該ハウジングの両側面
に設けられ該ハウジングとバリア室を構成するバ
リアダイアフラムと、前記バリア室に連通し他端
が前記連通孔の他端に接続され前記本体を前記内
部空所に隙間をもつて支持する支持パイプと、該
支持パイプの周囲に設けられ前記本体を前記ハウ
ジングから絶縁する絶縁部とを具備してなる差圧
伝送器を構成したので、セラミツクスのプラズマ
溶射膜よりなる絶縁膜は薄くできるので、内部室
を小さくできる。したがつて、静圧印加時の本体
の変形は小さくできるので、測定ダイアフラムの
張力が増し、スパン変動を起すおそれがないもの
が得られる。固定電極は本体にセラミツクスのプ
ラズマ溶射膜よりなる絶縁膜の表面上に取付けら
れるので、製作が容易となり、安価にすることが
できる。温度変化に対して、本体と測定ダイアフ
ラムの熱膨張係数を合わせればよいので、安価な
材料を使用することができ、装置を安価に作るこ
とができる。また、本体は、内部空所内に支持パ
イプと絶縁部とによつて、ハウジングより浮か
し、かつ、電気的に絶縁されているので、外部よ
り電気的、機械的ノイズを拾いにくい。
したがつて、本考案によれば、製造コストと材
料コストが安く、かつ、静圧スパンシフトの生ず
るおそれがなく、耐ノイズ性の良好な差圧伝送器
を実現することができる。
料コストが安く、かつ、静圧スパンシフトの生ず
るおそれがなく、耐ノイズ性の良好な差圧伝送器
を実現することができる。
第1図は本考案の一実施例の要部構成説明図、
第2図は第1図の要部構成説明図、第3図は第1
図の動作説明図、第4図は本考案の別の実施例の
要部構成説明図、第5図は本考案の別の実施例の
構成説明図、第6図は本考案の他の実施例の構成
説明図、第7図は第6図の動作説明図、第8図は
従来より一般に使用されている従来例の構成説明
図、第9図は第8図の動作説明図である。 1……本体、11……内部室、12……測定ダ
イアフラム、13,14……測定室、2……ハウ
ジング、21……内部空所、41,42……バリ
アダイアフラム、43,44……バリア室、4
5,46……連通孔、51,52……封入液体、
61,62……絶縁膜、63,64……固定電
極、65,66……支持パイプ、67,68……
絶縁部、71,72……パイプ、73……充填
体、74,75……絶縁膜、76……押えスプリ
ング、77……スペーサ。
第2図は第1図の要部構成説明図、第3図は第1
図の動作説明図、第4図は本考案の別の実施例の
要部構成説明図、第5図は本考案の別の実施例の
構成説明図、第6図は本考案の他の実施例の構成
説明図、第7図は第6図の動作説明図、第8図は
従来より一般に使用されている従来例の構成説明
図、第9図は第8図の動作説明図である。 1……本体、11……内部室、12……測定ダ
イアフラム、13,14……測定室、2……ハウ
ジング、21……内部空所、41,42……バリ
アダイアフラム、43,44……バリア室、4
5,46……連通孔、51,52……封入液体、
61,62……絶縁膜、63,64……固定電
極、65,66……支持パイプ、67,68……
絶縁部、71,72……パイプ、73……充填
体、74,75……絶縁膜、76……押えスプリ
ング、77……スペーサ。
Claims (1)
- ブロツク状の本体と、該本体内部に設けられ対
向する球面よりなる内部室と、該内部室を、測定
圧が導入される二個の測定室に分け移動電極とし
て機能する測定ダイアフラムと、前記内部室の壁
面に設けられセラミツクスのプラズマ溶射膜より
なる絶縁膜と、該絶縁膜の表面上に前記測定ダイ
アフラムに対向して設けられた固定電極と、前記
本体に設けられ前記測定室に一端が連通される連
通孔と、内部空所を有するハウジングと、該ハウ
ジングの両側面に設けられ該ハウジングとバリア
室を構成するバリアダイアフラムと、前記バリア
室に連通し他端が前記連通孔の他端に接続され前
記本体を前記内部空所に隙間をもつて支持する支
持パイプと、該支持パイプの周囲に設けられ前記
本体を前記ハウジングから絶縁する絶縁部とを具
備してなる差圧伝送器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1615187U JPH0515071Y2 (ja) | 1987-02-06 | 1987-02-06 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1615187U JPH0515071Y2 (ja) | 1987-02-06 | 1987-02-06 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63124639U JPS63124639U (ja) | 1988-08-15 |
JPH0515071Y2 true JPH0515071Y2 (ja) | 1993-04-21 |
Family
ID=30807749
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1615187U Expired - Lifetime JPH0515071Y2 (ja) | 1987-02-06 | 1987-02-06 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0515071Y2 (ja) |
-
1987
- 1987-02-06 JP JP1615187U patent/JPH0515071Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63124639U (ja) | 1988-08-15 |
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