JPH04104270A - 電子写真式記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子写真式記録装置に係り、特に、レーザ光
により感光体を照射する電子写真式記録装置に関する。

〔従来の技術］ 従来の電子写真式記録装置においては、例えば次のよう
な電子写真プロセスにより画像を記録する。すなわち、
帯電チャージャにより感光体をマイナスに均一に帯電さ
せ、帯電された感光体にレーザ光源から出射されるレー
ザ光を照射し照射部分の電位を中和する。照射されるレ
ーザ光は記録すべき画像の画情報を有しているので、レ
ーザ光の照射により画像パターン、すなわち静電潜像が
形成される。次いで、現像′ユニットにより静電Ｗ像を
現像、すなわちマイナスに帯電しているトナーを感光体
の電位が中和された部分に付着させてトナー像を形成す
る。次いで、現像化された感光体上のトナー像を転写チ
ャージャにより記録紙に転写する。

また、上述のようにして画像を記録する電子写真式記録
装置においては、感光体を照射するレーザ光の光量によ
って感光体の帯電量が変化するため、感光体に到達する
レーザ光の光量を管理する必要がある。そこで例えば第
４図に示す回Ｐ′ζごよリレーザ光の光量を調節するよ
うにしごし・５゜第４図において、レーザ光源を構成す
る半導体レーザ１はレーザダイオード２およびホトダイ
オード３を有している。レーザダイオード２に供給され
る動作電流をｌｏｐ、ホトダイオード３に生じるモニタ
電流を１ｍとすると、モニタ電流Ｉｍに基づいて動作電
流ｌｏｐを調節してレーザ光の光量、すなわちビームパ
ワーを制御するようにしているが、半導体レーザ１と感
光体（図示しない）間に介装されるレンズやミラー等の
光伝達効率のばらつきおよび半導体レーザ１の１ｍ−１
ｏｐ特性のばらつきにより、同じ１ｍ値での感光体上で
のビームパワー値のばらつきが大きくなり、画像形成に
おいて大きな問題となる。このため、製造工程において
は、半導体レーザ１から出射されたレーザ光のビームパ
ワーを光パワーメータまたはＣＯＤ（Ｃｈａｒｇｅ　Ｃ
ｏｕｐｌｅｄ　Ｄｅｖｉｃｅ）等の光量測定器（図示し
ない）により直接測定しながらモニタ電流Ｉｍに比例す
るＡ　Ｐ　Ｃ（Ａｕｔｏ　Ｐｏｗｅｒ　Ｃｏｎｔｒｏｌ
）電圧をＡＰＣ基準電圧との比較により調整し、さらに
、レンズやミラーを介して感光体のレーザ照射面上に光
量測定器を配設して上述同様に調整する。この２つの調
整作業により、半導体レーザ１を市場、すなわち客先側
に手渡した状態で交換する場合でも互換性を確保するこ
とができる。

（発明が解決しようとする課題〕 しかしながら、このような従来の電子写真式記録装置に
あっては、製造工程で、半導体レーザから出射されたレ
ーザ光の光量を直接測定する調整作業と、レンズやミラ
ーを介して照射されるレーザ光の光量を感光体の照射面
上で測定する調整作業との２度の作業により半導体レー
ザの光量調整をしていたため、半導体レーザ１を市場で
交換する場合には互換性を確保することができるが、市
場でレーザ光路中のレンズやミラーを交換した場合、後
者の感光体表面上での測定による調整作業が再び必要に
なる。したがって、製造工程での２度の調整作業に加え
、市場で再調整作業が必要になり、製造工程および市場
でのレーザ光の光量調整に手間がかかるといった問題点
があった。

〔発明の目的〕

そこで本発明は、感光体のレーザ照射面の延長平面上に
光量測定手段を配設し、光量測定手段の測定結果に基づ
いてレーザ光源から出射されるレーザ光の光量を制御す
ることにより、製造工程および市場でのレーザ光の光Ｗ
ＦＭ整作業を不要にして、光量調整の手間を省くことを
目的としている。

（発明の構成〕 本発明による電子写真式記録装置は、上記目的を達成す
るため、帯電された感光体にレーザ光源から出射された
レーザ光を所定光路を介して照射することによって感光
体の表面上に静電潜像を形成し、該静電潜像を現像して
記録紙に転写する電子写真式記録装置において、前記感
光体のレーザ照射面の延長平面上で、レーザ光源からの
レーザ光を前記所定光路を介して受光することができる
範囲に配設され、受光したレーザ光の光量を測定する光
量測定手段と、感光体に到達するレーザ光の光量が目標
値に一致するように、光量測定手段の測定結果に基づい
てレーザ光源から出射されるレーザ光の光量を制御する
制御手段と、を設けたことを特徴とするものである。

以下、本発明を実施例に基づいて具体的に説明する。

第１〜３図は本発明に係る電子写真式記録装置の一実施
例を示す図である。

まず、構成を説明する。

第１〜３図において、】ｌは感光体であり、感光体１１
には光書き込みユニノ目２によりレーザ光が照射される
。光書き込みユニノ目２は、レーザ光源としての半導体
レーザ】３を有し、他にレーザ光の光路中にレンズおよ
びミラー（何れも図示しない）を有している。また、半
導体レーザ１３はレザダイオード１３ａを有している。

一般に、電子写真式記録装置による電子写真プロセスに
おいては、帯電された感光体１１に半導体レーザ１３が
ら出射されたレーザ光を、上述のレンズやミラー等を有
する所定光路を介して照射することにより、感光体１１
の表面上に静電潜像を形成し、次いで、静電潜像を現像
して記録紙に転写する。このプロセス自体は前述の従来
技術のものと同一であるため、詳細な説明は省略する。

ここで、１４はホトセンサ回路であり、ホトセンサ回路
１４はホトダイオード１５および可変抵抗１Ｇを有して
いる。ホトセンサ回路１４は感光体１１のレーザ照射面
１１ａの延長平面上で、半導体レーザ１３からのレーザ
光を上記所定光路を介して受光することができる範囲、
すなわち、例えば第１図に示すように、感光体１１の表
面上の有効画像範囲外で感光体１１のレーザ照射面に面
位置を合わせた位置に配設されている。ホトダイオード
１５にレーザ光が照射されると、受光したレーザ光の光
量に対応した電圧がホトセンサ回路１４の出力端子に出
力される。したがって、ホトセンサ回路１４は光量測定
手段を構成する。光量測定手段から出力される電圧のレ
ヘルは可変抵抗１６により任意の値に調整することが可
能である。一方、ホトセンサ回路１４の出力端子は比較
器１７の一方の入力端子に接続され、比較器１７の他方
の入力端子にはＡＰＣのためのＡＰＣ基準電圧を出力す
る基準電圧回路１８が接続されている。また、比較器１
７の出力端子は半導体レーザ１３のレーザダイオード１
３ａに接続されている。

比較器１７は、ホトセンサ回路１４の出力電圧が基準電
圧に一致するように、基準電圧回路１８からの基準電圧
に対するホトセンサ回路１４からの出力電圧の差に応し
た電圧をレーザダイオード１３ａに供給して半導体レー
ザ１３から出射されるレーザ光の光量を調節する。すな
わち、比較器１７および基準電圧回路１８は、ホトセン
サ回路１４からの出力をフィードバンクして半導体レー
ザ１３から出射されるレーザ光の光量を制御して、ホト
センサ回路１４に到達するレーザ光の光量を目標値に自
動的に一致させるものであり、制御手段を構成し、第３
図においてはＡＰＣ回路１９を構成する。一方、ホトセ
ンサ回路１４は、上述したように感光体１１のレーザ照
射面１１ａの延長平面上で、半導体レーザ１３からのレ
ーザ光を前記所定光路を介して受光することができる範
囲に設けられているため、ホトセンサ回路１４により受
光されるレーザ光の光量は感光体１１を照射するレーザ
光の光量と一致するものとみることができる。

上述のような構成によれば、感光体１１のレーザ照射面
１１ａの延長平面上で、半導体レーザ１３からのレーザ
光を上記所定光路を介して受光することができる範囲に
ホトセンサ回路１４を設け、感光体１１に到達するレー
ザ光の光量が目標値に一致するように、ホトセンサ回路
１４の測定結果に基づいて半導体レーザ１３から出射さ
れるレーザ光の光量を制御している。このため、感光体
１１に到達するレーザ光の光量が目標値に一致するよう
に、コ１′導体レーザ１３から出射されるレーザ光の光
量を制御することがてき、ホトセンサ回路１４を単品状
態で、すなわち電子写真式記録装置に組み込まない状態
で、ホトセンサ回路１４に感光体１１が必要とする光量
のレーザ光を照射してその出力電圧のレヘルを可変抵抗
１６により予め調整した後に、記録装置に組み込むだけ
で、半導体レーザ１３の光量を自動的に調節することが
できる。この結果、製造工程におよび市場の両方におい
て、ホトセンサ回路１４単品での調整作業のみで、従来
のような調整作業を一切不要にすることができる。

また、ホトセンサ回路１４により受光されるレーザ光の
光量は感光体１１を照射するレーザ光の光量に一致する
ので、市場でレンズやミラーを交換した場合でも、半導
体レーザ１３から感光体１１の照射面１１ａまでの光路
におけるばらつきを全て吸収することができ、レーザ光
の光量に関する調整作業を一切不要にすることができる
。

したがって、製造工程および市場の両方において光量調
整の手間を省くことができる。

〔効果〕

本発明によれば、感光体と同一条件のレーザ光を受光す
る光量測定手段の測定結果に基づいて、レーザ光源から
出射されるレーザ光の光量を制御しているので、感光体
に到達するレーザ光の光りを自動的に目標値に調整する
ことができ、製造工程および市場の両方において、光量
調整作業を−切不要にすることができる。

また、市場で所定光路中の例えばレンズやミラーを交換
した場合でも、レーザ光源から感光体の照射面までの光
路におけるばらつきを全て吸収することができ、レーザ
光の光量に関する調整作業を一切不要にすることができ
る。

したがって、製造工程および市場の両方において光量調
整の手間を省（ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１〜３図は本発明に係る電子写真式記録装置の一実施
例を示す図であり、第１図はその要部概略構成を示す図
、第２図はその半導体レーザの光量調整回路を示す図、
第３図はその光書き込みユニットのプロ・ツク構成を示
す図、第４図は従来の画像形成装置における半導体レー
ザの光量調整回路を示す図である。 １１・・・・・・感光体、 １１ａ・・・・・・レーザ照射面、

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 帯電された感光体にレーザ光源から出射されたレーザ光
   を所定光路を介して照射することによって、感光体の表
   面上に静電潜像を形成し、該静電潜像を現像して記録紙
   に転写する電子写真式記録装置において、前記感光体の
   レーザ照射面の延長平面上で、レーザ光源からのレーザ
   光を前記所定光路を介して受光することができる範囲に
   配設され、受光したレーザ光の光量を測定する光量測定
   手段と、光量測定手段に到達するレーザ光の光量が目標
   値に一致するように、光量測定手段の測定結果に基づい
   てレーザ光源から出射されるレーザ光の光量を制御する
   制御手段と、を設けたことを特徴とする電子写真式記録
   装置。